JPS6372123A - マイクロ波プラズマ処理装置 - Google Patents
マイクロ波プラズマ処理装置Info
- Publication number
- JPS6372123A JPS6372123A JP21501686A JP21501686A JPS6372123A JP S6372123 A JPS6372123 A JP S6372123A JP 21501686 A JP21501686 A JP 21501686A JP 21501686 A JP21501686 A JP 21501686A JP S6372123 A JPS6372123 A JP S6372123A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microwave
- metallic piece
- waveguide
- transmission window
- microwaves
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
マイクロ波透過窓をマイクロ波の電場に対して垂直方向
に設けた導波管と、この透過窓により真空封止される真
空容器により構成されるマイクロ波プラズマ処理装置に
おいて、導波管内にマイクロ波を拡散するための金属製
の移相器を設はエネルギー分布の均一化を図ることによ
って処理速度の均一化と向上を図ったものである。
に設けた導波管と、この透過窓により真空封止される真
空容器により構成されるマイクロ波プラズマ処理装置に
おいて、導波管内にマイクロ波を拡散するための金属製
の移相器を設はエネルギー分布の均一化を図ることによ
って処理速度の均一化と向上を図ったものである。
本発明はマイクロ波を用いてプラズマを発生させ被加工
物表面の処理を行なうマイクロ波プラズマ処理装置に関
する。
物表面の処理を行なうマイクロ波プラズマ処理装置に関
する。
第4図は従来のマイクロ波プラズマ処理装置の概略断面
図である。この装置は、半導体集積回路素子の製造にあ
たりドライエツチング技術の一つとして用いられるマイ
クロ波プラズマエツチング法に使用される。第4図にお
いて、10は真空容器、11はマイクロ波12を導く導
波管、13は誘電体として石英又はアルミナで作ったマ
イクロ波透過窓、14は被加工物例えばウェハ、15は
ステージ、16は図示しない公知の排気系に連結された
排気口、17は酸素(0□)ガス等のガス導入口を示す
。図示の如く、被加工物14は真空容器10内のステー
ジ15に載置されている。また、マイクロ波透過窓13
は真空容器10と導波管11の境界にマイクロ波の電場
に対して垂直方向(即ち、マイクロ波の進行方向に対し
て平行)に設けられ、真空容器10はこの透過窓を境界
にして真空封止されている。このように電場に垂直とな
る方向にマイクロ波透過窓を配置してもマイクロ波のモ
ードは乱れることはなく真空容器lo内に効率よく吸収
される。しかも真空容器内は真空からプラズマまでイン
ピーダンスが大きく変化するが、マツチングは容易に取
ることができる。
図である。この装置は、半導体集積回路素子の製造にあ
たりドライエツチング技術の一つとして用いられるマイ
クロ波プラズマエツチング法に使用される。第4図にお
いて、10は真空容器、11はマイクロ波12を導く導
波管、13は誘電体として石英又はアルミナで作ったマ
イクロ波透過窓、14は被加工物例えばウェハ、15は
ステージ、16は図示しない公知の排気系に連結された
排気口、17は酸素(0□)ガス等のガス導入口を示す
。図示の如く、被加工物14は真空容器10内のステー
ジ15に載置されている。また、マイクロ波透過窓13
は真空容器10と導波管11の境界にマイクロ波の電場
に対して垂直方向(即ち、マイクロ波の進行方向に対し
て平行)に設けられ、真空容器10はこの透過窓を境界
にして真空封止されている。このように電場に垂直とな
る方向にマイクロ波透過窓を配置してもマイクロ波のモ
ードは乱れることはなく真空容器lo内に効率よく吸収
される。しかも真空容器内は真空からプラズマまでイン
ピーダンスが大きく変化するが、マツチングは容易に取
ることができる。
この装置において、例えば2.45GHzのマイクロ波
を用いるとき、マイクロ波透過窓13は12mmの厚さ
の石英で作り、ステージ15の表面と透過窓13との間
の距離すは3mm、ステージ表面と導波管11の土壁と
の間の距離Cを50mmに設定することによりマイクロ
波プラズマ装置を小型化している。そして真空容器lO
内に300ccのo2ガスをガス導入口17から注入し
、0.37orrの真空度、1.5 kwのマイクロ波
パワーで発生したOtガスのプラズマによってウェハ1
4上のレジストを剥離する。その結果、Otプラズマに
おいて、ITorrの真空度で、マツチングなしでマイ
クロ波の反射は30%、マツチングをとると反射は5%
とマイクロ波の整合性がすぐれている。
を用いるとき、マイクロ波透過窓13は12mmの厚さ
の石英で作り、ステージ15の表面と透過窓13との間
の距離すは3mm、ステージ表面と導波管11の土壁と
の間の距離Cを50mmに設定することによりマイクロ
波プラズマ装置を小型化している。そして真空容器lO
内に300ccのo2ガスをガス導入口17から注入し
、0.37orrの真空度、1.5 kwのマイクロ波
パワーで発生したOtガスのプラズマによってウェハ1
4上のレジストを剥離する。その結果、Otプラズマに
おいて、ITorrの真空度で、マツチングなしでマイ
クロ波の反射は30%、マツチングをとると反射は5%
とマイクロ波の整合性がすぐれている。
また、ステージ15の内部は真空状態にする必要はない
から、冷却装置を容易に設置することができ、100℃
以下でのプラズマ処理も可能である。
から、冷却装置を容易に設置することができ、100℃
以下でのプラズマ処理も可能である。
上述の従来の装置においては以下のような問題がある。
即ち、ウェハ表面のレジスト剥離等のエツチング処理速
度は、それ以前のマイクロ波の電場に対して透過窓を水
平に設置する形式に比べて大幅に改善されるが、被加工
物全領域から見ると中央附近と周辺附近とで処理速度に
相変らずむらがあり、結局さらに処理速度を向上させる
上では問題を残している。例えば、前述の2.45GH
zのマイクロ波を用いるとき、導波管11の断面積を例
えば55 X 110mm”とすると、被加工物がウェ
ハの場合、直径125mm又は150n+mが一般的で
あるため、ウェハの中央附近の処理が早く、周辺にいく
につれて遅くなる。実際の例として、前述の如く真空容
器10内に300ccの0.ガスを注入し、真空度0、
3 Torr、、マイクロ波のパワーを1.5kw、被
加工物であるウェハの直径を150mm(61nchタ
イプ)、剥離すべきレジストの厚みを1.2μmとした
とき、実測では処理速度の早い個所で剥離に約15秒要
したのに対して、遅い個所では約40秒要する結果とな
り、結局全体の処理速度はこの遅い方に制約されること
となる。
度は、それ以前のマイクロ波の電場に対して透過窓を水
平に設置する形式に比べて大幅に改善されるが、被加工
物全領域から見ると中央附近と周辺附近とで処理速度に
相変らずむらがあり、結局さらに処理速度を向上させる
上では問題を残している。例えば、前述の2.45GH
zのマイクロ波を用いるとき、導波管11の断面積を例
えば55 X 110mm”とすると、被加工物がウェ
ハの場合、直径125mm又は150n+mが一般的で
あるため、ウェハの中央附近の処理が早く、周辺にいく
につれて遅くなる。実際の例として、前述の如く真空容
器10内に300ccの0.ガスを注入し、真空度0、
3 Torr、、マイクロ波のパワーを1.5kw、被
加工物であるウェハの直径を150mm(61nchタ
イプ)、剥離すべきレジストの厚みを1.2μmとした
とき、実測では処理速度の早い個所で剥離に約15秒要
したのに対して、遅い個所では約40秒要する結果とな
り、結局全体の処理速度はこの遅い方に制約されること
となる。
〔問題点を解決するための手段および作用〕本発明は上
述の問題点を解消したマイクロ波プラズマ処理装置を提
供することにあり、その手段は、マイクロ波を導入する
マイクロ波導波管と、該マイクロ波導波管にマイクロ波
の電場に対して垂直方向に設けたマイクロ波透過窓と、
該マイクロ波透過窓によって真空封止されかつ被加工物
を収容する真空容器とを有するマイクロ波プラズマ処理
装置において、該マイクロ波導波管の内部に該マイクロ
波を拡散するための金属製の移相手段を設けたことを特
徴とする。
述の問題点を解消したマイクロ波プラズマ処理装置を提
供することにあり、その手段は、マイクロ波を導入する
マイクロ波導波管と、該マイクロ波導波管にマイクロ波
の電場に対して垂直方向に設けたマイクロ波透過窓と、
該マイクロ波透過窓によって真空封止されかつ被加工物
を収容する真空容器とを有するマイクロ波プラズマ処理
装置において、該マイクロ波導波管の内部に該マイクロ
波を拡散するための金属製の移相手段を設けたことを特
徴とする。
第1図は本発明に係るマイクロ波プラズマ処理装置の概
略断面図である。第1図において従来と同一構成要素に
は同一番号が附与されている。
略断面図である。第1図において従来と同一構成要素に
は同一番号が附与されている。
18は本発明に係る移相器の取付断面図である。
移相器18は第2図に概略上面図、第3図に斜視図で示
す如き構造となっている。即ち、移相器18は、例えば
、アルミニウム等の金属片18aと耐熱性絶縁物として
のテフロンによる支持体18bにより構成される。第3
図に示す如く金属片18aは支持体18bに嵌入され固
定されている。支持体18bは導波管11の内側上面に
例えばネジ止めされる。また、移相器18の位置として
は図示の如く経験的に金属片18aの先端と透過窓13
との面が合うように設けるのがよい。金属片18aの寸
法は61nchのウェハの場合2辺が5cImの2等辺
3角形状のアルミニウム板が適切である。
す如き構造となっている。即ち、移相器18は、例えば
、アルミニウム等の金属片18aと耐熱性絶縁物として
のテフロンによる支持体18bにより構成される。第3
図に示す如く金属片18aは支持体18bに嵌入され固
定されている。支持体18bは導波管11の内側上面に
例えばネジ止めされる。また、移相器18の位置として
は図示の如く経験的に金属片18aの先端と透過窓13
との面が合うように設けるのがよい。金属片18aの寸
法は61nchのウェハの場合2辺が5cImの2等辺
3角形状のアルミニウム板が適切である。
金属片18aは接地せず電位的に浮かせる必要がある。
これは導波管等に接地するとマイクロ波を吸収してしま
うからである。このため支持体18bは電気的vA縁物
で構成されている。この金属片18aの作用は次のよう
に考えられる。即ち、理論的には必ずしも明確ではない
が、この金属片が一種のアンテナとして作用し、マイク
ロ波を反射し、拡散することにより均一なエネルギー分
布が得られるためと考えられ、直接透過窓13を透過す
るマイクロ波と金属片から反射して透過するマイクロ波
との重畳作用によってプラズマを均一に発生させること
ができるものである。
うからである。このため支持体18bは電気的vA縁物
で構成されている。この金属片18aの作用は次のよう
に考えられる。即ち、理論的には必ずしも明確ではない
が、この金属片が一種のアンテナとして作用し、マイク
ロ波を反射し、拡散することにより均一なエネルギー分
布が得られるためと考えられ、直接透過窓13を透過す
るマイクロ波と金属片から反射して透過するマイクロ波
との重畳作用によってプラズマを均一に発生させること
ができるものである。
経験的には前述の如< 2.45G)lzのマイクロ波
を用い、真空容器10内に300ccの02ガスを注入
し、真空度Q、 3 Torr−、マイクロ波のパワー
を1.5kw、被加工物であるウェハの直径を150m
m 、レジストの厚みを1.2μmとしたとき、レジス
ト剥離に要した時間は均一に20〜25秒であり、従来
の最大40秒に比べて全体的に処理速度の向上が顕著で
ある。
を用い、真空容器10内に300ccの02ガスを注入
し、真空度Q、 3 Torr−、マイクロ波のパワー
を1.5kw、被加工物であるウェハの直径を150m
m 、レジストの厚みを1.2μmとしたとき、レジス
ト剥離に要した時間は均一に20〜25秒であり、従来
の最大40秒に比べて全体的に処理速度の向上が顕著で
ある。
以上説明したように、本発明によれば、マイクロ波導波
管を電場に対して垂直方向に設置することによりマイク
ロ波の透過窓に対する反射が減少するので被加工物の処
理速度の向上が図れると共に、移相器によるマイクロ波
の均一なエネルギー分布によって被加工物表面の処理む
らを解消することができ全体としてのレジスト剥離等の
処理速度の向上が図れる。
管を電場に対して垂直方向に設置することによりマイク
ロ波の透過窓に対する反射が減少するので被加工物の処
理速度の向上が図れると共に、移相器によるマイクロ波
の均一なエネルギー分布によって被加工物表面の処理む
らを解消することができ全体としてのレジスト剥離等の
処理速度の向上が図れる。
第1図は本発明に係るマイクロ波プラズマ処理装置の一
実施例概略断面図、 第2図は第1図装置の概略上面図、 第3図は第1図装置の移相器の斜視図、および第4図は
従来のマイクロ波プラズマ処理装置の概略断面図である
。 (符号の説明) 10・・・真空容器、 11・・・マイクロ波導波
管、12・・・マイクロ波、 13・・・マイクロ波透
過窓、14・・・被加工物、 15・・・ステージ
、16・・・排気口、 17・・・ガス導入口、
18・・・移相器、 18a・・・金属片、18b
・・・支持体。
実施例概略断面図、 第2図は第1図装置の概略上面図、 第3図は第1図装置の移相器の斜視図、および第4図は
従来のマイクロ波プラズマ処理装置の概略断面図である
。 (符号の説明) 10・・・真空容器、 11・・・マイクロ波導波
管、12・・・マイクロ波、 13・・・マイクロ波透
過窓、14・・・被加工物、 15・・・ステージ
、16・・・排気口、 17・・・ガス導入口、
18・・・移相器、 18a・・・金属片、18b
・・・支持体。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、マイクロ波を導入するマイクロ波導波管と、該マイ
クロ波導波管にマイクロ波の電場に対して垂直方向に設
けたマイクロ波透過窓と、該マイクロ波透過窓によって
真空封止されかつ被加工物を収容する真空容器とを有す
るマイクロ波プラズマ処理装置において、該マイクロ波
導波管の内部であって、該マイクロ波透過窓の上方に該
マイクロ波を拡散するための金属製の移相手段を設けた
ことを特徴とするマイクロ波プラズマ処理装置。 2、該移相手段が3角形状の金属板から成る特許請求の
範囲第1項記載の装置。 3、該移相手段が電位的に浮いた状態に支持される特許
請求の範囲第1項記載の装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21501686A JPS6372123A (ja) | 1986-09-13 | 1986-09-13 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21501686A JPS6372123A (ja) | 1986-09-13 | 1986-09-13 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6372123A true JPS6372123A (ja) | 1988-04-01 |
Family
ID=16665328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21501686A Pending JPS6372123A (ja) | 1986-09-13 | 1986-09-13 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6372123A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5230740A (en) * | 1991-12-17 | 1993-07-27 | Crystallume | Apparatus for controlling plasma size and position in plasma-activated chemical vapor deposition processes comprising rotating dielectric |
| JPH076895A (ja) * | 1993-12-17 | 1995-01-10 | Hitachi Ltd | マイクロ波プラズマ処理装置 |
-
1986
- 1986-09-13 JP JP21501686A patent/JPS6372123A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5230740A (en) * | 1991-12-17 | 1993-07-27 | Crystallume | Apparatus for controlling plasma size and position in plasma-activated chemical vapor deposition processes comprising rotating dielectric |
| US5449412A (en) * | 1991-12-17 | 1995-09-12 | Crystallume | Apparatus and method for controlling plasma size and position in plasma-activated chemical vapor deposition processes |
| JPH076895A (ja) * | 1993-12-17 | 1995-01-10 | Hitachi Ltd | マイクロ波プラズマ処理装置 |
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