JPS637330B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS637330B2
JPS637330B2 JP54023019A JP2301979A JPS637330B2 JP S637330 B2 JPS637330 B2 JP S637330B2 JP 54023019 A JP54023019 A JP 54023019A JP 2301979 A JP2301979 A JP 2301979A JP S637330 B2 JPS637330 B2 JP S637330B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
photometering
outputs
photoelectric
photometric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP54023019A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS55114918A (en
Inventor
Tooru Fukuhara
Takashi Saegusa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nippon Kogaku KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kogaku KK filed Critical Nippon Kogaku KK
Priority to JP2301979A priority Critical patent/JPS55114918A/ja
Priority to DE3007575A priority patent/DE3007575C2/de
Priority to FR8004477A priority patent/FR2462692A1/fr
Priority to GB8006723A priority patent/GB2047415B/en
Publication of JPS55114918A publication Critical patent/JPS55114918A/ja
Priority to US06/391,864 priority patent/US4476383A/en
Publication of JPS637330B2 publication Critical patent/JPS637330B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、被写界を複数の領域に分割して測光
し、該複数の領域に対応した複数の光電出力か
ら、画面全体の適正露出を決定するための適正測
光出力を演算抽出するマルチ測光装置に関する。
従来この種の測光装置として、複数の光電出力
のうち最大値と最小値との相加平均値を適正測光
出力とするもの(実公昭51―9271号)や、該最大
値と最小値との中間値を撮影者が手動によつて抽
出し、この中間値を適正測光出力とするもの(特
開昭53―17725号)がある。
ところが、これら従来装置には次のような欠点
がある。すなわち、前者においては相加平均値に
より露出を決定しているので、例えば逆光状態や
主要被写体が雪上にいる状態のような特殊な被写
界条件のときには主要被写体が露出アンダーある
いはオーバーになつてしまうことがある。また後
者においても前述の特殊な被写界条件のときに中
間値を適正露出となるように設定するには熟練を
要するのみならず、設定操作が手動であるので操
作性の低下を免れない。
本発明の目的は、光電出力に基づいて被写界の
状況を分析し、前述のような特殊な条件下の被写
界に対しても適正測光出力が得られるように成し
たマルチ測光装置を提供することである。
本発明によれば、被写界を複数の領域に分割し
て測光して複数の光電出力を発生し、該複数の光
電出力の平均的出力に基づいて該複数の光電出力
を規格化し、その規格化出力に基づき被写界を類
別し、その類別出力によつて適正測光出力を演算
抽出するマルチ測光装置が提供される。該装置に
よれば複数の光電出力の平均的な値で複数の光電
出力を規格化して、被写界の状況を分析するとい
うことを行つているので、被写界の条件を的確に
検出できるようになり、被写界条件に応じた適正
測光出力が効果的に得られるようになる。以下、
被写界(以下、画面と称す。)を底面とし、画面
の各部の輝度を高さ(縦軸)として、画面と画面
の各部の輝度とを立体図形として表わした第1図
によつて本発明の基本的考え方を述べる。第1a
図において、底面S0に示すような画面を考えたと
き、画面の輝度はひとつの曲面S1を決定する。実
際には、有限個の光電素子で測光するので、捉え
得る曲面は光電素子と同数以下の平面の集合にな
る。例えば、4個の光電素子で画面を上下、左右
に分割した場合、画面の輝度を示す曲面は第1
b,c図に量子化面S2〜S4で示されるように量子
化されて段階状になる。量子化面S2とS4とを比較
した場合、量子化面を構成している輝度の絶対レ
ベルは同一であるがそれらの画面上での位置は異
なるので、どの輝度に対して適正露出を得るかの
判断も異なる。また、量子化面S2とS3とを比較し
た場合、隣り合う輝度間のレベル差は等しいが、
両量子化面間の輝度の絶対値が異なるので、適正
露出を得る判断も異なつてくる。今、あらゆる条
件のもとにおける撮影画面を輝度に関する情報と
位置に関する情報とにより複数のカテゴリーに類
別し、その各々のカテゴリーにおいてどの輝度に
対して露出制御を行えば全体として適正露出が得
られるかの対応をつける。すると、ある条件下の
画面において、露出制御を行うべき輝度を、輝度
に関する情報と位置に関する情報とから得ること
ができるようになる。
事実、種々の条件下の画面について上記対応づ
けを行つた結果、適正露出の写真を得るために露
出制御を行うべき輝度が次のような3つのレベル
に収束するということが判明した。即ち、第1の
輝度レベルは、複数の測光出力のうち最大値と、
これら測光出力の平均的な値との間に存在し、第
2の輝度レベルはこれら測光出力の平均的な値と
ほぼ一致するレベルであり、また第3の輝度レベ
ルはこれらの測光出力の最小値とこれら測光出力
の平均的な値との間に存在することが判明した。
この平均的な値は、平均値、中央値、あるいは最
頻値で近似することができる。
以上のことから、複数の光電出力の平均的な値
と各光電出力とを比較して、各分割された画面に
おける輝度を規格化すれば各画面の位置の情報と
輝度の情報を同時に得ることができるようにな
る。従つて、この規格化出力に基づきパターン分
析して画面の状態を検出し、この検出結果と上記
3つの輝度レベルとを実験的あるいは経験的に対
応させれば種々の条件下の画面に対する露出制御
すべき輝度レベルを選択することができる。
一方、パターン分析とは無関係に露出制御すべ
き輝度レベルが定まることがある。それは最大輝
度と最小輝度との差が所定の範囲内にあつて、画
面内の輝度のバラツキが少なく、かつ最大輝度が
所定の範囲内に存在し、画面内に太陽を含む明る
い光源や、スポツトライトのような人工光源が存
在していないと判断できる場合である。このとき
には上記第2の輝度レベルに対して露出調節を行
うと良好な結果が得られることが判明している。
尚、上述した複数の光電出力の規格化とは、複数
の光電出力の平均的な値に対して、該複数の光電
出力の大小関係を検出し、その大小に応じて各光
電出力を特定の信号に置換することである。
以下、本発明を実施例に基づき説明する。第2
図は本発明の実施例を示すブロツク図である。同
図において;測光回路10は被写界を複数に分割
した各領域を測光するための光電変換素子を含
み、被写界の各領域に対応した独立のアナログ光
電出力P0〜Po-1を出力する。この光電出力P0
Po-1は対数圧縮されているものとし、従つて光電
出力はBV値で表わされる。最大値検出回路11
は光電出力P0〜Po-1を入力とし、これらの中から
最大値Pnaxを検出する。平均的値検出回路12は
光電出力P0〜Po-1を入力とし、これらの平均的
値、例えば平均値Pneaoを検出する。最小値検出
回路13は光電出力P0〜Po-1を入力とし、これら
の中から最小値Pnioを検出する。演算回路14は
最大値Pnaxと平均値Pneaoとを入力として第1の
測光出力PH(BV)、即ち PH=k1Pnax+(1−k1)Pneao …(1) を発生する。演算回路15は第2の測光出力PM
(BV)、即ち PM=Pneao …(2) を発生するが、実際上平均的値検出回路12と兼
用できる。演算回路16は最小値Pnioと平均値
Pneaoとを入力として第3の測光出力PL(BV)、
即ち PL=k2Pnio+(1−k2)Pneao …(3) を発生する。以上に述べた回路11〜16は適正
測光出力発生回路を構成する。
2値化回路17は規格化を行なう部分であり、
光電出力P0〜Po-1と平均値Pneaoとを入力とし、
平均値Pneaoに基づいて発生された基準出力と測
光出力P0〜Po-1とを比較して、各光電出力を論理
出力に変換する。具体的には、実施例においてi
番目の位置の出力Po-1と平均値Pneaoの比較を行
ない、Po-1≧Pneaoであれば1,Po-1<Pneaoであ
れば0としている。規格化出力が1であれば、i
番目の位置が平均より明るい部分であることを示
し、0であれば暗い部分であることを示すことに
なる。すなわち、前述の規格化は2値化の形をと
つている。
又、次のようにすることも出来る。全体の明る
さを、明るい部分、暗い部分、中間の部分に分け
るために平均値Pneaoに基づく基準出力として
Pneao+δH,Pneao−δLを設定し、この2つの基
準レベルに対して、それぞれ2値化を行なう方法
である。すなわち、 Pi>Pneao+δHが成り立つときが1,Pi≦Pneao
+δHが成り立つときが0,またPi≧Pneao−δLの
とき1,Pi<Pneao−δLのとき0とする。この場
合i番目の位置の2値化出力は2つ(2bit)にな
る。Pneao+δH,Pneao−δLの比較の順に出力を
並べたとき、出力が11ならば明るい部分を示し、
00ならば暗い部分を示し、01ならば中間の平均値
に近い部分を示す(10の場合は存在しない)。こ
のようにその位置の明るさを3段階に分けること
により、より高度なパターン分析が可能となる。
もちろん2値化回路を4段階以上に分けるもの
とすることも可能であるし、位置に応じて分け方
を変えてもよい。
次に第1の判定回路18は最大値Pnaxを入力と
して、 Pα≦Pnax≦Pβ …(4) (但し、Pα,Pβは定数) の判定を行い、その判定結果を表す論理出力を発
生する。もちろん、第1の判定回路18はPα,
Pβに対応した基準出力を発生する回路を含む。
この判定動作は最大値Pnaxが太陽を含む明るい光
源あるいはスポツトライトのような人工光源によ
るものかを識別するために行われる。第2の判定
回路19は最大値Pnaxと最小値Pnioを入力とし
て、 ΔP=Pnax−Pnio …(5) の演算を行い、それから α≦ΔP≦β(但し、α,βは定数) …(6) の判定を行い、その判定結果を表わす論理出力を
発生する。もちろん、定数α,βに対応した基準
出力を発生する回路は第2の判定回路19に含ま
れている。この判定動作は、画面内の輝度分布を
判定し、例えば輝度分布が大きいときに低輝度側
に主要被写体があるといつて低輝度側に露出を合
わせると高輝度側がとんだり、またその逆に高輝
度側に主要被写体があるといつて高輝度側に露出
を合わせると低輝度側がつぶれるといつた現象を
防止するために行われる。
類別回路20は、回路17,18,19からの
論理出力を入力として、これら論理出力の組合せ
論理が所定のカテゴリーのいずれに属するかを決
定する、即ち類別する。この所定のカテゴリーは
3つに分けられ、各カテゴリーに対応した制御出
力が選択的に発生される。回路14,15,16
とアペツクス演算回路24との間にそれぞれ接続
されたアナログスイツチ21,22,23は類別
回路20の制御出力によつて、第1ないし第3の
測光出力のうちから、類別されたカテゴリーに対
応した出力を選択し、アペツクス演算回路24に
伝達する。
アペツクス演算回路24は、選択された測光出
力と情報設定部27からの他の露出因子とによつ
て適正露出値(シヤツタ速度や、絞り値)に対応
した出力を発生し、これを公知の露出制御回路2
5及び露出表示回路26に印加する。
次に、動作と共に類別回路20による類別の態
様を、画面を3分割及び5分割して測光した場合
について説明する。第3a,b図は画面の分割状
況と、分割された各領域の光電出力とを示す。
(1) 第3a図において画面は6×6判のカメラを
想定して中央領域Dc、上方領域Du、下方領域
Dlに分割され、各々の光電出力がP0〜P2で表
わされている。
各光電出力P0〜P2は、平均値Pneao(=(P0
P1+P2)/3)と比較され、各領域はP0〜P2
≧Pneaoのときには論理値1で表わされ、また
P0〜P2<Pneaoのときには論理値0で表わされ
る。類別回路20はこの論理値の組合せが、(i)
中央領域Dcが0のとき、又は下方領域Dlが0
のとき(このとき主要被写体は領域Dc又はDl
に存在する可能性が高いので)、アナログスイ
ツチ23をオンにして第3の測光出力Plをアペ
ツクス演算回路24に伝達する。(ii)中央領域
Dcが1のとき(このとき主要被写体は領域Dc
に存在する可能性が高いので)、アナログスイ
ツチ21をオンにして第1の測光出力PHをア
ペツクス演算回路24に伝達する。
一方、第1の判定回路18は Pα≦Pnax≦Pβのときには論理値1の出力を、
またこれ以外のときには論理値0の出力を発生
する。第2の判定回路19はα≦ΔP≦βのと
きには論理値1の出力を、これ以外のときには
論理値0の出力を発生する。そして、第1,第
2の判定回路18,19から論理値1の印加が
あつたときに、類別回路20は画面が上記(i),
(ii)の状態にあつても、これに優先して、アナロ
グスイツチ22をオンにして第2の測光出力
PMをアペツクス演算回路24に伝達する。
(2) 第3b図において、画面はライカ判のカメラ
を想定して、中央領域Dc、右上方領域Dru、
右下方領域Dr、左上方領域Dlu、左下方領域
Dllに分割され、各々の光電出力がP0〜P4で表
わされている。各光電出力P0〜P4は上述同様
に平均値Pneaoと比較され、各領域は論理値1
又は0で表わされる。
類別回路20はこの組合せが、(i)中央領域
Dcが0のとき、又は左右下方領域Dll、及び
Drlが0のとき、又は左上方領域Dluと左下方
領域Dllとが0のとき、又は右上方領域Druと
右下方領域Drlとが0のとき、(これらのとき
主要被写体は0の領域に存在する可能性が高い
ので)アナログスイツチ23をオンにして第3
の測光出力PLをアペツクス演算回路24に伝
達する。これ以外は(1)の項で述べた動作と同じ
である。この5分割の例はライカ判のカメラの
ように縦と横の撮影位置があることを考慮して
いる。
このようにして演算抽出された測光出力はア
ペツクス演算されて露出制御回路25、露出表
示回路26に印加される。尚、本実施例ではア
ペツクス演算を、測光出力抽出後に行つている
が、これに限定されるものではなく、光電出力
を直ちにアペツクス演算して回路11〜13,
17に伝達するようにしてもよい。この時複数
の光電出力をアペツクス演算した後の出力のレ
ベルは変化するが、各レベルの大小関係は変化
しないので、前述同様の動作を行うことができ
る。そして第1〜第3の測光出力はBV値から
TV値あるいはAV値を表わすようになる。
更に、本実施例では第1〜第3の測光出力を
演算し、その演算結果を抽出しているが、例え
ば(1)〜(3)式の演算公式を選択するようにしても
同様のことが達成できる。それは、結果的に第
1〜第3の測光出力のうちいずれかひとつを選
択すればよいからである。
又、規格化は光電出力を2つのレベルに置換
するものに限定されるものではなく、例えば平
均値付近に基準レベルを2つ設け、各光電出力
をそれぞれの基準レベルについて2値化するこ
とにより、平均値近傍の光電出力をもうひとつ
別のレベルに置換してもよい。
以下、各ブロツクの構成について説明する。
第4図は光電素子の一例で、複数個の光電素子
が並んでおり、フオト・ダイオード・アレイある
いはCCD等によつて構成することが出来る。た
だし必ずしもマトリツクス状になつている必要は
ない。この光電素子の出力の合成によつて上述の
分割領域における光電出力が得られる。
第5図は受光光学系の一例である。31は第4
図に示した複数個の光電素子であり、32は撮影
レンズ、33はミラー、34はフイルム面、35
はフアインダースクリーン、36はフアインダ
ー・スクリーンに結像した被写体像を受光素子面
に再結像させるためのレンズである。
以上の構成により、撮影するシーンの各部の明
るさを測定することが出来、独立な複数の測光情
報をとりだせる。
第6a図は最大値検出回路11の回路例を、ま
た第6b図は最小値検出回路13の回路例をそれ
ぞれ示す。これらの回路はOPアンプと理想ダイ
オードとを使用した、それ自体公知の回路であ
る。
第7図は、抵抗γ,γ/nとOPアンプA1とで
平均値検出回路12を構成したもので、OPアン
プの出力として(P1+P2…Po-1)/n=Pneao
る出力が得られる。
第8図は、演算回路14,15,16の回路例
であり、フオロワーA10〜A12と分圧抵抗R1〜R4
とから構成され、第1〜第3の測光出力PH,
PM,PLは分圧比の調整によつて、前記(1),(2),
(3)式を満足すべく得ることができる。
第9図は、2値化回路17、類別回路20の回
路例である。同図は画面を第3b図のように5分
割した場合の実施例である。
コンパレータC1の同相入力端子には定数Pαに
対応する入力が、またコンパレータC2の反転入
力端子には定数Pβに対応する入力がそれぞれ印
加されている。一方、コンパレータC3の同相入
力端子には定数αに対応する入力が、またコンパ
レータC4の反転入力端子には定数βに対応する
入力がそれぞれ印加されている。光電出力P0
P4を同相入力とするコンパレータC7〜C11の反転
入力にはPneao−δL相当の基準入力が印加されて
いる。このδL相当のレベルダウンは光電出力P0
〜P4の低輝度側についての2値化をより確実に
行うためのものである。光電出力P0を同相入力
とするコンパレータC6の反転入力にはPneao+δH
相当の基準入力が印加されている。このδH相当
のレベルアツプは光電出力P0の高輝度側につい
ての2値化をより確実にするためのものである。
最大値PnaxはコンパレータC1の反転入力端子と
コンパレータC2の同相入力端子に入力する。輝
度差ΔPはコンパレータC3の反転入力端子とコン
パレータC4の同相入力端子に入力する。コンパ
レータC1〜C4の出力はアンドゲートAND1に入力
する。アンドゲートAND1の出力が1になるとき
はコンパレータC1〜C4の出力が皆1を示すとき
で Pα≦PnaxPβ……(7)(a)、かつ、α≦ΔP≦β……
(7)(b) が成立つ時である。アンドゲートAND1の出力を
Mフラグとする。Mフラグが1のときオアゲート
OR1の出力は1になり、アナログスイツチ22を
オンして第2の測光出力PMが選択される。とい
うのは(7)b式が成立つことは、ある程度輝度差が
あることを示しているが、(7)a式が成立つ場合、
すなわち最大値がある範囲におさまつているとき
は、逆光状態になく、平均値付近に適正露出レベ
ルが存在するからである。光電出力P0はコンパ
レータC6とC7の同相入力端子に入力し、以下光
電出力P1,P2,P3およびP4はコンパレータC8
C9,C10、およびC11の同相入力端子に入力する。
又コンパレータC6の反転入力端子には平均値を
一定値レベルアツプした出力Pneao+δHが入力す
る。コンパレータC6の出力が1になるのは中央
領域Dcの光電出力P0が平均値Pneaoより識別出来
る位(δHだけ)高い場合で、撮影画面の中央部
が明部になつていることを示している。一方コン
パレータC7〜C11の反転入力端子には平均値を一
定値レベルダウンした出力Pneao−δLが入力して
いる。コンパレータC7〜C11の出力が0になると
きは、光電出力P0〜P4が平均値Pneaoより識別出
来る位(δLだけ)低い場合で、光電出力P0〜P4
の対応する画面が暗部になつていることを示して
いる。
なお、コンパレータC6,C7から明らかなよう
に、P0については平均値付近の2つの基準レベ
ルについて、それぞれ2値化を行なつて規格化を
していることになる。
アンドゲートAND2にはコンパレータC6,C9
C10の出力とMフラグのインバータINV1によつて
反転された出力が入力する。アンドゲートAND2
の出力が1になるのは、 P0>Pneao+δH(中央の領域Dcが明部) P2≧Pneao−δL …(8) P4≧Pneao−δL (下半分の領域Drl,Dllが暗部でない) が成立ち、Mフラグが0のときである。このよう
な状態は、中央領域Dcが明るく、上半分の領域
Dru,Dluが暗い場合で、スポツトライト的な状
態である。それ故、(8)式が主要被写体が明部にあ
ることを判断する条件になる。アンドゲート
AND2の出力をHフラグとする。今、Hフラグが
1のとき、即ちコンパレータC9,C10が1を出力
し、インバータINV1が1を出力しているときに
はアナログスイツチ21がオンされて第1の測光
出力PHが抽出される。
C7の出力はインバータINV3に入る。今、 P0<Pneao−δL(中央領域Dcが暗部) …(9) が成立つ場合、コンパレータC7の出力は0でイ
ンバータINV3の出力は1になる。又、コンパレ
ータC8とC9の出力はノアゲートNOR1に入る。
P1<Pneao−δL(左半分の領域Dlu、 P2< 〃 Dllが暗部) …(10) が成立つ場合、コンパレータC8,C9の出力は共
に0でノアゲートNOR1の出力は1になる。以下
同様に P2<Pneao−δL(下半分の領域Drl P4< 〃 Dllが暗部) …(11) および P3<Pneao−δL(右半分の領域Dru P4< 〃 Drlが暗部) …(12) が成立つ場合、それぞれノアゲートNOR2
NOR3の出力は1になる。インバータINV3およ
びノアゲートNOR1〜NOR3の出力はオアゲート
OR3に入力し、いずれかの出力が1であればオア
ゲートOR3の出力は1となる。すなわち、(9)〜(12)
式のいずれかが成立てばオアゲートOR3の出力は
1になるということである。(9)式が成立つ場合
は、主要被写体がある確率の高い画面中央部が暗
部になつている場合であり、低輝度側に露出を合
せた方がよい。しかし逆に画面中央部が明るくて
も、バツクの明るさによる場合も多く、必らずし
も主要被写体が明部にあるとは判断出来ない。む
しろ逆光のような場合、主要被写体の明るさは画
面下側の部分の明るさに近くなる。よつて(11)式が
成り立つ場合、主要被写体が暗部にあると判断
し、第3の測光出力PLを選択した方がよい。(10),
(12)式が成立つ場合は、カメラを縦位置に構えて撮
影した場合と考えられる。以上のように(9)〜(12)式
のそれぞれが主要被写体が暗部にあることを判断
する条件になる。そしてこのときオアゲートOR3
の出力が1になる。このときアンドゲートAND1
のMフラグが0であれば、即ち、(7)(a),(b)式を満
足しなければインバータINV1は1を出力する。
そのためアンドゲートAND3は1を出力し、アナ
ログスイツチ23をオンにして第3の測光出力
PLを抽出する。
ノアゲートNOR4にはH、Lフラグが入力し、
いずれも0の場合1になる。それは、主要被写体
が明部にあるとも暗部にあるとも判別されなかつ
た場合である。このときオアゲートOR1の出力は
1となり第2の測光出力PMが選択される。
上述の実施例においては、要素10が測光手段
を、Pneao,Pneao−δL,Pneao+δH等を出力する
手段が基準出力発生手段を、要素C6〜C11が検出
手段を、第9図から要素C6〜C11を除いた残余の
要素及び第2図の要素11〜16、21〜24が
露出情報発生手段をそれぞれ構成している。また
要素C6〜C11が2値化回路を、要素11〜16が
適正測光出力発生回路を、第9図からC6〜C11
除いたもの及び第2図の要素21〜23が抽出手
段をそれぞれ構成している。
以上のように本発明は、撮影画面内に設定され
た中央領域とそのまわりの少なくとも2つの周辺
領域とを独立して測光し且つ各光電出力をそれぞ
れ基準出力と比較するものであるから、撮影画面
内がどのような輝度分布状態になつているかを正
確に把握できる。また本発明の基準出力は複数の
光電出力に応じその最大値と最小値の間の出力レ
ベルを有する如く設定されるものであるから、撮
影画面内の各領域の輝度レベルが全体的に高い
(或いは低い)場合であつてもどの領域の輝度が
高くてどの領域の輝度が低いかを必ず判別でき
る。さらに本発明は上述の如くして求めた撮影画
面内の輝度分布状態に基づいて該輝度分布の状態
に応じた適正露出情報を発生するものであるか
ら、どのような輝度分布の被写体に対しても適正
露出となる露出情報を自動的に得ることができ
る。もちろん逆光やスポツトライト照明のような
特殊な被写界条件においても容易に適正露出を得
ることが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は被写界(画面)の各部の輝度とを立体
図形で表わした図、第2図は本発明の実施例を示
すブロツク図、第3図は図面の分割状況の実施例
を示す図、第4図は光電素子アレイの例を示す
図、第5図は受光光学系の例を示す図、第6図は
最大値及び最小値検出回路の例を示す図、第7図
は平均値検出回路の例を示す図、第8図は演算回
路の例を示す図、及び第9図は類別回路の例を示
す図である。 主要部分の符号の説明、10…測光回路、11
〜16…適正測光出力発生回路、17…規格化回
路(2値化回路)、20〜23…類別・抽出回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 撮影画面のほぼ中央付近に位置する中央領域
    と該中央領域のまわりに位置する少なくとも2つ
    の周辺領域とをそれぞれ独立して測光し、該中央
    領域及び各周辺領域の輝度値にそれぞれ対応した
    複数の光電出力を発生する測光手段と、 前記複数の光電出力を入力とし、該複数の光電
    出力の最大値と最小値の間に出力レベルを設定さ
    れた基準出力を発生する基準出力発生手段と、 前記複数の光電出力をそれぞれ前記基準出力と
    比較し、前記中央及び周辺領域の輝度分布状態を
    検出する検出手段と、 該検出手段により検出された輝度分布状態に基
    づき、該輝度分布状態に応じた適正露出情報を発
    生する露出情報発生手段と を備えたことを特徴とするマルチ測光装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載のマルチ測光装
    置において、 前記基準出力発生手段が基準出力として前記複
    数の光電出力の平均的な値を出力することを特徴
    とするマルチ測光装置。 3 特許請求の範囲第2項に記載のマルチ測光装
    置において、 前記検出手段は前記基準出力と前記複数の光電
    出力とを比較して前記各領域の明暗状態を表わす
    2値出力を発生する2値化回路を含み、 前記露出情報発生手段は前記光電出力の最大出
    力と前記基準出力との間の出力レベルを有する第
    1の測光出力と、前記基準出力にほぼ相当する出
    力レベルを有する第2の測光出力と、前記基準出
    力と前記光電出力の最小出力との間に出力レベル
    を有する第3の測光出力とを発生する適正測光出
    力発生回路と、前記2値化回路の2値出力より求
    まる撮影画面内の輝度分布状態に基づいて前記第
    1乃至第3の測光出力を選択的に抽出する抽出手
    段とを含むことを特徴とするマルチ測光装置。 4 特許請求の範囲第3項に記載のマルチ測光装
    置において、 前記測光手段は周辺領域として前記中央領域の
    右上方に位置する右上方領域と、前記中央領域の
    左上方に位置する左上方領域と、前記中央領域の
    左下方に位置する左下方領域と、前記中央領域の
    右下方に位置する右下方領域とを有し、 前記抽出手段は(a)前記中央領域が明部のときに
    前記第1の測光出力を選択し、(b)前記中央領域が
    暗部のとき、或いは前記左右下方領域が暗部のと
    きに前記第3の測光出力を選択し、(c)上記以外の
    ときに前記第2の測光出力を選択可能であること
    を特徴とするマルチ測光装置。 5 特許請求の範囲第4項に記載のマルチ測光装
    置において、 前記抽出手段は前記左上下方領域が暗部のと
    き、或いは前記右上下方領域が暗部のときに前記
    第3の測光出力を選択することを特徴とするマル
    チ測光装置。 6 特許請求の範囲第3項に記載のマルチ測光装
    置において、 前記測光手段は周辺領域として前記中央領域の
    上方に位置する上方領域と、前記中央領域の下方
    に位置する下方領域とを有し、 前記抽出手段は(a)前記中央領域が明部のときに
    前記第1の測光出力を選択し、(b)前記中央領域が
    暗部のとき、或いは前記下方領域が暗部のときに
    前記第3の測光出力を選択し、(c)上記以外のとき
    に第2の測光出力を選択することを特徴とするマ
    ルチ測光装置。 7 特許請求の範囲第2項に記載のマルチ測光装
    置において、 前記平均的な値は前記複数の光電出力の平均
    値、中央値、及び最頻値のいずれかであることを
    特徴とするマルチ測光装置。
JP2301979A 1979-02-28 1979-02-28 Multi-photometry unit Granted JPS55114918A (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2301979A JPS55114918A (en) 1979-02-28 1979-02-28 Multi-photometry unit
DE3007575A DE3007575C2 (de) 1979-02-28 1980-02-28 Berechnungsvorrichtung für einen optimalen Belichtungswert
FR8004477A FR2462692A1 (fr) 1979-02-28 1980-02-28 Dispositif de mesure multiple du champ objet d'un appareil de prise de vues
GB8006723A GB2047415B (en) 1979-02-28 1980-02-28 Photometric multi-metering device
US06/391,864 US4476383A (en) 1979-02-28 1982-06-24 Photometering device for obtaining exposure information

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2301979A JPS55114918A (en) 1979-02-28 1979-02-28 Multi-photometry unit

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19217086A Division JPS6296826A (ja) 1986-08-19 1986-08-19 マルチ測光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS55114918A JPS55114918A (en) 1980-09-04
JPS637330B2 true JPS637330B2 (ja) 1988-02-16

Family

ID=12098766

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2301979A Granted JPS55114918A (en) 1979-02-28 1979-02-28 Multi-photometry unit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS55114918A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62195526A (ja) * 1986-02-21 1987-08-28 Canon Inc 測光装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5223936A (en) * 1975-08-19 1977-02-23 Fuji Photo Film Co Ltd Exposure control process for photography printing

Also Published As

Publication number Publication date
JPS55114918A (en) 1980-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103379281A (zh) 用于进行图像合成的图像处理设备和图像处理方法
US4395099A (en) Scene brightness measuring system
JPH01280737A (ja) カメラ
CN100515041C (zh) 自动曝光控制方法及自动曝光补偿装置
US4412730A (en) Metering device
JPS6031026A (ja) マルチ測光装置
US6944398B2 (en) Photometric device and camera
JPS637330B2 (ja)
JPH0466303B2 (ja)
JPS638413B2 (ja)
JP2007166028A (ja) 露出量制御装置および露出量制御方法
JPS6239366B2 (ja)
JPS637331B2 (ja)
JPS6011475Y2 (ja) マルチ測光装置
JP2004173251A (ja) カメラ
JP4413385B2 (ja) 測光装置
JPH05313224A (ja) カメラ用自動露出決定装置
JPH0310494Y2 (ja)
JPH0428087B2 (ja)
CN111479064A (zh) 一种应用于透雾摄像机的日夜模式切换控制方法及装置
JP3732998B2 (ja) 露出制御装置
JP2002268116A (ja) 自動露出制御装置およびそのプログラムを組み込んだ外部記憶媒体
KR20010026698A (ko) 자동 카메라 시스템의 자동 역광 보정 장치 및 방법
JP3837771B2 (ja) カメラの測光装置
JP2009276560A (ja) 撮像装置および撮像方法