JPS637603B2 - - Google Patents
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- JPS637603B2 JPS637603B2 JP56115550A JP11555081A JPS637603B2 JP S637603 B2 JPS637603 B2 JP S637603B2 JP 56115550 A JP56115550 A JP 56115550A JP 11555081 A JP11555081 A JP 11555081A JP S637603 B2 JPS637603 B2 JP S637603B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 64
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 26
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/28—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas
- G01B11/285—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas using photoelectric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はオフセツト印刷に使用される刷版や、
印刷前に刷られる校正刷り、清刷り等の印刷部と
非印刷部との比率を測定して、印刷に必要な適正
インキ供給量を出力するインキ供給量測定装置に
関する。
印刷前に刷られる校正刷り、清刷り等の印刷部と
非印刷部との比率を測定して、印刷に必要な適正
インキ供給量を出力するインキ供給量測定装置に
関する。
従来より刷版や、校正刷り、清刷り等の印刷部
と非印刷部の比率を測定する場合、区画領域毎ま
たは全面に対して光源より刷版等の被測定物に光
を当ててその反射光量を測定することで行い、こ
れに基いてインキ供給量を決定している。しかし
光源の輝度が全体的に変化したり、輝度分布が変
化すると、それが測定誤差の大きな要因とな。こ
の対策として一般に定期的に輝度のキヤリブレー
シヨンを行うことが必要である。また、輝度変化
検出器を設けて輝度変化を検出し、これに基いて
測定結果を自動的に補正しようとする場合、輝度
変化検出器の設置場所や、特性がインキ供給量測
定器と一致しないと正確な補正が出来ない。さら
に、光源の輝度分布が変化した場合には当然なが
ら被測定全領域の反射状態も変るので、その場合
は測定領域全体に互つてきめ細い補正が必要とな
る。被測定領域周囲の印刷部および非印刷部の比
率の大小により周囲の反射状態も変化するので、
測定装置への不要な反射光の変化となつて測定誤
差を生じることになる。被測定領域周囲の反射影
響を除くには測定器に指向性を持たせることで可
能となる。マスク板やレンズを使用して指向性を
持たせることが可能であるが、レンズを使用する
とレンズの光軸からレンズの周辺へ近づくに従つ
て入光量が減じ、この結果としてレンズの中央と
周辺との測定値に誤差を生じることになる等の多
くの問題があつた。
と非印刷部の比率を測定する場合、区画領域毎ま
たは全面に対して光源より刷版等の被測定物に光
を当ててその反射光量を測定することで行い、こ
れに基いてインキ供給量を決定している。しかし
光源の輝度が全体的に変化したり、輝度分布が変
化すると、それが測定誤差の大きな要因とな。こ
の対策として一般に定期的に輝度のキヤリブレー
シヨンを行うことが必要である。また、輝度変化
検出器を設けて輝度変化を検出し、これに基いて
測定結果を自動的に補正しようとする場合、輝度
変化検出器の設置場所や、特性がインキ供給量測
定器と一致しないと正確な補正が出来ない。さら
に、光源の輝度分布が変化した場合には当然なが
ら被測定全領域の反射状態も変るので、その場合
は測定領域全体に互つてきめ細い補正が必要とな
る。被測定領域周囲の印刷部および非印刷部の比
率の大小により周囲の反射状態も変化するので、
測定装置への不要な反射光の変化となつて測定誤
差を生じることになる。被測定領域周囲の反射影
響を除くには測定器に指向性を持たせることで可
能となる。マスク板やレンズを使用して指向性を
持たせることが可能であるが、レンズを使用する
とレンズの光軸からレンズの周辺へ近づくに従つ
て入光量が減じ、この結果としてレンズの中央と
周辺との測定値に誤差を生じることになる等の多
くの問題があつた。
本発明の目的はこれらの問題点を解決した刷版
や校正刷り、清刷り等の印刷部と非印刷部の比率
測定に基づいてインキ供給量を決定する測定装置
を提供することである。
や校正刷り、清刷り等の印刷部と非印刷部の比率
測定に基づいてインキ供給量を決定する測定装置
を提供することである。
このために本発明のインキ供給量測定装置は、
測定領域以外からの光を遮光するように測定器の
前にマスクケースを設けて常に同様な状態での測
定領域に関する測定を可能にし、この測定器とし
てレンズおよび複数の光電変換素子アレーを有す
るものとを使用し、該測定器の出力信号として各
素子の連続的な信号列として取り出すとともにこ
れをアナログ波形に変換し、このアナログ波形を
積分することで印刷部と非印刷部との面積比率を
定め、これに基いてインキ供給量を測定するよう
に構成されており、しかも予め被測定物の印刷部
および非印刷部とそれぞれ同じ色を別々に有する
校正板を測定することによつて光電変換素子アレ
ー素子ごとの補正定数を等出することによつて被
測定物測定結果を補正するようにしたことを特徴
とする。
測定領域以外からの光を遮光するように測定器の
前にマスクケースを設けて常に同様な状態での測
定領域に関する測定を可能にし、この測定器とし
てレンズおよび複数の光電変換素子アレーを有す
るものとを使用し、該測定器の出力信号として各
素子の連続的な信号列として取り出すとともにこ
れをアナログ波形に変換し、このアナログ波形を
積分することで印刷部と非印刷部との面積比率を
定め、これに基いてインキ供給量を測定するよう
に構成されており、しかも予め被測定物の印刷部
および非印刷部とそれぞれ同じ色を別々に有する
校正板を測定することによつて光電変換素子アレ
ー素子ごとの補正定数を等出することによつて被
測定物測定結果を補正するようにしたことを特徴
とする。
以下に本発明の実施例につき図面を参照して説
明する。
明する。
第１図および第２図に示す装置は、測定部をな
す暗箱１と、操作、制御、演算、記憶を行つてい
るコンソール２と出力装置であるプリンター３と
から成る。測定部の暗箱１はその内面が無反射状
態とされている。暗箱１の底部に被測定物４およ
び測定値と補正するための校正板５を測定面と同
じレベルに配置するようになつている。被測定物
４の装脱はそれを取付ける被測定物セツト台６の
出し入れによつて行うようになつている。暗箱１
の上方には走行ガイド７が備えられ、この走行ガ
イド７に沿つて測定器８、光源箱９およびマスク
ケース１０が一体となつた検出ヘツド１１が走行
駆動用パルスモータ１２により走行するようにな
つている。
す暗箱１と、操作、制御、演算、記憶を行つてい
るコンソール２と出力装置であるプリンター３と
から成る。測定部の暗箱１はその内面が無反射状
態とされている。暗箱１の底部に被測定物４およ
び測定値と補正するための校正板５を測定面と同
じレベルに配置するようになつている。被測定物
４の装脱はそれを取付ける被測定物セツト台６の
出し入れによつて行うようになつている。暗箱１
の上方には走行ガイド７が備えられ、この走行ガ
イド７に沿つて測定器８、光源箱９およびマスク
ケース１０が一体となつた検出ヘツド１１が走行
駆動用パルスモータ１２により走行するようにな
つている。
第２図は第１図のコンソール側から見た検出ヘ
ツド１１を示し、測定器８の両側にて光源箱９が
傾斜してマスクケース１０に取付けられ、各光源
箱９内に光源１３が備えられている。光源箱９を
備えたマスクケース１０は第３図に示す如く、底
板１０Ａに長方形の測定窓１０Ｂを有しており、
この測定窓１０Ｂが第４図に示す如き測定領域Ｓ
（ａ×ｌ）を定めるようになつている。
ツド１１を示し、測定器８の両側にて光源箱９が
傾斜してマスクケース１０に取付けられ、各光源
箱９内に光源１３が備えられている。光源箱９を
備えたマスクケース１０は第３図に示す如く、底
板１０Ａに長方形の測定窓１０Ｂを有しており、
この測定窓１０Ｂが第４図に示す如き測定領域Ｓ
（ａ×ｌ）を定めるようになつている。
このような検出ヘツド１１は、パルスモータ１
２によりステツプ状に走行ガイド７に沿つて駆動
され、各測定領域Ｓ毎に測定器８が光源１３から
測定窓１０Ｂ内の被測定物４の表面で反射された
光を受けて測定するようにされる。この測定動作
をさらに詳しく説明すれば、まず校正板５を測定
してその測定領域Ｓの反射輝度分布を測定し、こ
れを補正情報としてコンソール２において記憶す
る。そして検出ヘツド１１はパルスモータ１２に
より走行し、被測定物４の上まで移動されて停止
する。次に被測定物４に対して同様に測定を開始
し、測定器８からの出力を補正情報とつき合せな
がら測定する。その結果を１回の測定値として記
憶し、検出ヘツド１１を第４図におけるａの距離
だけ走行させた後次の測定を行う。このようにし
て次々と被測定物４に対して測定を行い、被測定
物全域に互つて行う。ここで注意すべきこととし
て、印刷装置（図示せず）におけるインキバルブ
の受け持つ区画領域は測定領域Ｓとは一致せず、
従つてインキ供給量の決定は区画領域毎に行わね
ばならない。このために、第４図に示す如く区画
領域の幅がＣであるとするならば、幅ａの測定領
域Ｓを連続して測定し、幅Ｃの区画領域を網羅し
た時点で当該インキバルブに対するインキ供給量
が決定される。すなわちインキ供給量の出力は第
４図におけるc/a回につき測定したものになる。
検出ヘツド１１はマスクケース１０、光源１３お
よび測定器８が一体となつて走行するので、校正
板５を測定する時も被測定物４を測定する時も測
定領域の輝度分布状態に変化がなく安定した測定
結果が得られる。
２によりステツプ状に走行ガイド７に沿つて駆動
され、各測定領域Ｓ毎に測定器８が光源１３から
測定窓１０Ｂ内の被測定物４の表面で反射された
光を受けて測定するようにされる。この測定動作
をさらに詳しく説明すれば、まず校正板５を測定
してその測定領域Ｓの反射輝度分布を測定し、こ
れを補正情報としてコンソール２において記憶す
る。そして検出ヘツド１１はパルスモータ１２に
より走行し、被測定物４の上まで移動されて停止
する。次に被測定物４に対して同様に測定を開始
し、測定器８からの出力を補正情報とつき合せな
がら測定する。その結果を１回の測定値として記
憶し、検出ヘツド１１を第４図におけるａの距離
だけ走行させた後次の測定を行う。このようにし
て次々と被測定物４に対して測定を行い、被測定
物全域に互つて行う。ここで注意すべきこととし
て、印刷装置（図示せず）におけるインキバルブ
の受け持つ区画領域は測定領域Ｓとは一致せず、
従つてインキ供給量の決定は区画領域毎に行わね
ばならない。このために、第４図に示す如く区画
領域の幅がＣであるとするならば、幅ａの測定領
域Ｓを連続して測定し、幅Ｃの区画領域を網羅し
た時点で当該インキバルブに対するインキ供給量
が決定される。すなわちインキ供給量の出力は第
４図におけるc/a回につき測定したものになる。
検出ヘツド１１はマスクケース１０、光源１３お
よび測定器８が一体となつて走行するので、校正
板５を測定する時も被測定物４を測定する時も測
定領域の輝度分布状態に変化がなく安定した測定
結果が得られる。
第５図にこの測定方法の動作ブロツク図を示し
てある。測定器８はレンズ２０と、光電変換素子
１Ｓ〜nSが多数並んだ光電変換素子アレー２１
と、個々の光電変換素子出力信号を取り出すアナ
ログスイツチ２２と、アナログスイツチ２２を選
択するシフトレジスター２３と、そしてシフトレ
ジスターを制御する回路２４とより成る。コンソ
ール２に内蔵された中央制御部２５より測定器コ
ントロール２６へ測定開始指令が出されると、光
電変換素子アレー２１の素子１Ｓ，２Ｓ…nSが
順次選択されて個々の光電変換素子の入光量に応
じた光電変換信号を連続的に得られる。このよう
にして第５図のラインl1に生じる光電変換信号の
出力波形は第６図に示す様になる。ここで第４図
の測定領域の測定ポイント１Ｐ，２Ｐ…nPは光
電変換素子１Ｓ，２Ｓ…nSに対応する箇所とし
て示してあり第６図に示される個々の波高値が第
４図の１Ｐ，２Ｐ…nPの反射光量値となるわけ
である。
てある。測定器８はレンズ２０と、光電変換素子
１Ｓ〜nSが多数並んだ光電変換素子アレー２１
と、個々の光電変換素子出力信号を取り出すアナ
ログスイツチ２２と、アナログスイツチ２２を選
択するシフトレジスター２３と、そしてシフトレ
ジスターを制御する回路２４とより成る。コンソ
ール２に内蔵された中央制御部２５より測定器コ
ントロール２６へ測定開始指令が出されると、光
電変換素子アレー２１の素子１Ｓ，２Ｓ…nSが
順次選択されて個々の光電変換素子の入光量に応
じた光電変換信号を連続的に得られる。このよう
にして第５図のラインl1に生じる光電変換信号の
出力波形は第６図に示す様になる。ここで第４図
の測定領域の測定ポイント１Ｐ，２Ｐ…nPは光
電変換素子１Ｓ，２Ｓ…nSに対応する箇所とし
て示してあり第６図に示される個々の波高値が第
４図の１Ｐ，２Ｐ…nPの反射光量値となるわけ
である。
第６図の信号は、第５図に示すアナログ波形変
換(1)３０に入力され、その出力波形は第７図に示
す如くなる。すなわち第７図の波形は第６図の波
高値を連続したアナログ波形にしたものである。
この波形を積分器３１で(1)式に示すようにt1から
toまでの時間で積分することで第４図の測定領域
Ｓの全域における反射光量値を得る。
換(1)３０に入力され、その出力波形は第７図に示
す如くなる。すなわち第７図の波形は第６図の波
高値を連続したアナログ波形にしたものである。
この波形を積分器３１で(1)式に示すようにt1から
toまでの時間で積分することで第４図の測定領域
Ｓの全域における反射光量値を得る。
Ａ＝∫tn t1ｆ（ｔ）dt …………………(1)
Ａ：測定領域全反射光量値
ｆ（ｔ）：第７図におけるt1からto迄の波形
t1，to：全光電変換素子のスキヤン時間
ここで問題となるのは前述したように測定領域
Ｓの輝度変化分布状態のむらによる測定領域面か
らの反射光量のむらが測定誤差となること、レン
ズ２０を使用しているためにその光軸からレンズ
周辺へ近づくにつれて入光量が減り、同一の反射
量を持つた被測定物４をレンズ２０の光軸部で測
定したものとその周辺部で測定したものとで誤差
が生じることである。そこで測定領域Ｓの１Ｐ，
２Ｐ…nP（第４図）の反射光量が測定器８の光電
変換素子１Ｓ，２Ｓ…nSにいかなる入光状態で
分布しているかをあらかじめ測定しておき、これ
を補正定数として演算して記憶し、そして第７図
の波形を積分器３１で積分する前に補正器３２に
おいて補正定数による補正を行う。
Ｓの輝度変化分布状態のむらによる測定領域面か
らの反射光量のむらが測定誤差となること、レン
ズ２０を使用しているためにその光軸からレンズ
周辺へ近づくにつれて入光量が減り、同一の反射
量を持つた被測定物４をレンズ２０の光軸部で測
定したものとその周辺部で測定したものとで誤差
が生じることである。そこで測定領域Ｓの１Ｐ，
２Ｐ…nP（第４図）の反射光量が測定器８の光電
変換素子１Ｓ，２Ｓ…nSにいかなる入光状態で
分布しているかをあらかじめ測定しておき、これ
を補正定数として演算して記憶し、そして第７図
の波形を積分器３１で積分する前に補正器３２に
おいて補正定数による補正を行う。
このような補正を行うために校正５が配置され
るのであり、被測定物４を測定する前にまず校正
板５を測定して光電変換素子１Ｓ，２Ｓ…nSの
出力状態を調べる。このための校正板５は測定器
８の測定領域Ｓと同一長さおよび同一幅で、被測
定物４の印刷部および非印刷部とそれぞれ同じ色
調の２色の面積部分５Ａ，５Ｂが印刷されてお
り、第８図に示す如きものとされる。それ故、校
正板５の測定は印刷部の面積部分５Ａと非印刷部
の面積部分５Ｂとの２回の測定となる。その出力
波形を第９図および第１０図に示す。ここで校正
板５の印刷部の色調が明るい色調とするならば、
その出力波形は第９の如くなり、非印刷部が暗い
色調とするならばその出力波形は第１０図の如く
なる。第９図および第１０図に示した校正板５に
おける２つの測定値は第５図のサンプル・ホール
ド３３を通して中央制御部２５に与えられ、それ
ぞれの光電変換素子１Ｓ，２Ｓ…nSにつき記憶
される。ここでサンプル・ホールド３３および積
分器３１からの出力信号は信号選択３４により切
換えられ、アナログ／デジタル変換器３５により
変換されて中央制御部２５に入力される。
るのであり、被測定物４を測定する前にまず校正
板５を測定して光電変換素子１Ｓ，２Ｓ…nSの
出力状態を調べる。このための校正板５は測定器
８の測定領域Ｓと同一長さおよび同一幅で、被測
定物４の印刷部および非印刷部とそれぞれ同じ色
調の２色の面積部分５Ａ，５Ｂが印刷されてお
り、第８図に示す如きものとされる。それ故、校
正板５の測定は印刷部の面積部分５Ａと非印刷部
の面積部分５Ｂとの２回の測定となる。その出力
波形を第９図および第１０図に示す。ここで校正
板５の印刷部の色調が明るい色調とするならば、
その出力波形は第９の如くなり、非印刷部が暗い
色調とするならばその出力波形は第１０図の如く
なる。第９図および第１０図に示した校正板５に
おける２つの測定値は第５図のサンプル・ホール
ド３３を通して中央制御部２５に与えられ、それ
ぞれの光電変換素子１Ｓ，２Ｓ…nSにつき記憶
される。ここでサンプル・ホールド３３および積
分器３１からの出力信号は信号選択３４により切
換えられ、アナログ／デジタル変換器３５により
変換されて中央制御部２５に入力される。
第９図に示した印刷部の面積部分５Ａにおける
測定で得た光電変換素子１Ｓ〜nSの出力VS1〜
VSnから第１０図におけるVT1〜VTnをそれぞ
れ差し引く減算を行うことによつて(2)、(3)式を得
る。
測定で得た光電変換素子１Ｓ〜nSの出力VS1〜
VSnから第１０図におけるVT1〜VTnをそれぞ
れ差し引く減算を行うことによつて(2)、(3)式を得
る。
VS1〜o−VT1〜o
Va／VV1〜o×β＝α1〜o ………(2)
α1〜o×（S1〜o−VT1〜o）＝R1〜o …(3)
R1〜o：補正器３２による補正結果
S1〜o：第６図に示す被測定物５の測定出力
α1〜o：補正定数
β：スパン補正定数
V0：測定スパンとして必要な値
Va：VV1〜oの中で最大の値
ここで第９図の波形Vs〜oおよび第１０図の波
形VT1〜oは測定した校正板５が単一色であるか
ら、波高値が平坦となるべきである。そこで(2)式
を使用して光電変換素子１Ｓ〜nSに係るそれぞ
れの補正定数を中央制御部２５において算出す
る。
形VT1〜oは測定した校正板５が単一色であるか
ら、波高値が平坦となるべきである。そこで(2)式
を使用して光電変換素子１Ｓ〜nSに係るそれぞ
れの補正定数を中央制御部２５において算出す
る。
スパン補正定数βは測定スパンを調整するもの
で、光電の輝度が落ちた場合の第９図および第１
０図の波高値全体の変動に対する補正定数であ
る。
で、光電の輝度が落ちた場合の第９図および第１
０図の波高値全体の変動に対する補正定数であ
る。
Va／VV1〜oは個々の光電素子出力のバラツキ
を補正するためのもので、当然ながら測定領域Ｓ
における照射輝度むらの補正も出来る。
を補正するためのもので、当然ながら測定領域Ｓ
における照射輝度むらの補正も出来る。
補正定数α1〜oは第１１図の様なパターンにな
る。そして中央制御部２５内に記憶される。
る。そして中央制御部２５内に記憶される。
このようにして校正板５を測定することで第１
１図の如き補正定数α1〜oを得た後検出ヘツド１１
を走行させて被測定物４に関する測定を開始する
のである。
１図の如き補正定数α1〜oを得た後検出ヘツド１１
を走行させて被測定物４に関する測定を開始する
のである。
この測定においてラインl2には第７図に示した
如き測定信号が時間t1からtoまで順次あらわれ
る。一方時間t1からtoまで同期しててラインl3に
は中央制御部２５からデジタル／アナログコンバ
ータ３６を介して補正定数波形（第１１図に示
す）が与えられ、アナログ波形変換(2)３７により
ラインl4にはその波高値の連続したアナログ波形
があらわれる。また、同時に第１０図に示した校
正板５の非印刷部における測定結果がデジタル／
アナログコンバータ３８を介してラインl5に与え
られ、アナログ波形変換(3)３９によりラインl6に
はその波高値の連続したアナログ波形があらわれ
る。そしてこれらはラインl2により与えられる測
定値とともに補正器３２により(3)式の演算が行な
われ、測定波形が補正される。この出力信号をt1
からtoの走査時間で積分器３１により積分し、to
までの積分値を中央制御部２５において記憶す
る。これにより１回すなわち１つの測定領域に関
する測定が終了するのであり、検出ヘツド１１は
第４図に示した距離ａだけ走行して、同様に次の
測定を行う。このような測定を被測定物４の全面
にわたり繰返す。この測定におけるタイム・チヤ
ートを第１２図に示す。
如き測定信号が時間t1からtoまで順次あらわれ
る。一方時間t1からtoまで同期しててラインl3に
は中央制御部２５からデジタル／アナログコンバ
ータ３６を介して補正定数波形（第１１図に示
す）が与えられ、アナログ波形変換(2)３７により
ラインl4にはその波高値の連続したアナログ波形
があらわれる。また、同時に第１０図に示した校
正板５の非印刷部における測定結果がデジタル／
アナログコンバータ３８を介してラインl5に与え
られ、アナログ波形変換(3)３９によりラインl6に
はその波高値の連続したアナログ波形があらわれ
る。そしてこれらはラインl2により与えられる測
定値とともに補正器３２により(3)式の演算が行な
われ、測定波形が補正される。この出力信号をt1
からtoの走査時間で積分器３１により積分し、to
までの積分値を中央制御部２５において記憶す
る。これにより１回すなわち１つの測定領域に関
する測定が終了するのであり、検出ヘツド１１は
第４図に示した距離ａだけ走行して、同様に次の
測定を行う。このような測定を被測定物４の全面
にわたり繰返す。この測定におけるタイム・チヤ
ートを第１２図に示す。
このような本発明によるインキ供給量測定装置
による効果を説明すれば次の通りである。すなわ
ち、従来インキ供給量が適切であるか否かを作業
者が刷り上りを見ながらインキバルブを調整して
いたので適正なインキ量を調整するまでに多くの
損紙を発生していたうえ、この作業はかなりの熟
練を要していたのに対し、本発明の装置を使用す
ることにより熟練作業者でなくとも簡単に適正な
インキ供給量をセツト出来、しかも印刷開始前に
この測定結果でインキバルブをセツトしておけば
損紙をかなり少くさせることが出来る。それは従
来より問題となつていた光源の輝度変化に対する
測定誤差や光電変換素子特性のバラツキ、測定領
域の輝度むらによる測定誤差を、測定開始前に校
正板を測定して適正な補正定数を算出し、補正し
ながら被測定物を測定してゆくいわゆる自動キヤ
ブレーシヨン方式としたことで解決したためであ
り、これにより精度の良い安定した結果が得られ
るためである。
による効果を説明すれば次の通りである。すなわ
ち、従来インキ供給量が適切であるか否かを作業
者が刷り上りを見ながらインキバルブを調整して
いたので適正なインキ量を調整するまでに多くの
損紙を発生していたうえ、この作業はかなりの熟
練を要していたのに対し、本発明の装置を使用す
ることにより熟練作業者でなくとも簡単に適正な
インキ供給量をセツト出来、しかも印刷開始前に
この測定結果でインキバルブをセツトしておけば
損紙をかなり少くさせることが出来る。それは従
来より問題となつていた光源の輝度変化に対する
測定誤差や光電変換素子特性のバラツキ、測定領
域の輝度むらによる測定誤差を、測定開始前に校
正板を測定して適正な補正定数を算出し、補正し
ながら被測定物を測定してゆくいわゆる自動キヤ
ブレーシヨン方式としたことで解決したためであ
り、これにより精度の良い安定した結果が得られ
るためである。
また測定器の個々の光電変換素子出力をデジタ
ル化して測定すると多大なメモリーを必要とし、
また補正や積算等演算時間が多くかかることにな
るが、本発明のものでは測定器の光電変換出力を
アナログ波形として積分する方法を使用している
のでメモリーも少なく演算時間も少なくて済む利
点がある。
ル化して測定すると多大なメモリーを必要とし、
また補正や積算等演算時間が多くかかることにな
るが、本発明のものでは測定器の光電変換出力を
アナログ波形として積分する方法を使用している
のでメモリーも少なく演算時間も少なくて済む利
点がある。
尚、２色の印刷物でその互いの面積比を反射光
量で測定するものであれば、校正板の色をその２
色にすることで測定出来るのであり、前述した装
置以外に多くの適用が出来ることは勿論である。
量で測定するものであれば、校正板の色をその２
色にすることで測定出来るのであり、前述した装
置以外に多くの適用が出来ることは勿論である。
第１図および第２図は本発明の一実施例である
インキ供給量測定装置の立面図および端面図。第
３図はマスクケースの斜視図。第４図は測定器に
よる測定領域を示す斜視図。第５図は第１図およ
び第２図に示した装置のブロツク図。第６図、第
７図および第９図〜第１１図は波形を示す説明
図。第８図は校正板を示す斜視図。第１２図は測
定を示すタイムチヤート図。 １…暗箱、２…コンソール、４…被測定物、５
…校正板、８…測定器、９…光源箱、１０…マス
クケース、１１…検出ヘツド、１２…パルスモー
タ、１３…光源、２０…レンズ、２１…光電変換
素子アレー、２２…アナログスイツチ、２３…シ
フトレジスター、２４…シフトレジスター制御回
路、２５…中央制御部、２６…測定器コントロー
ル、３０，３７，３９…アナログ波形変換、３１
…積分器、３５，３６，３８…コンバータ。
インキ供給量測定装置の立面図および端面図。第
３図はマスクケースの斜視図。第４図は測定器に
よる測定領域を示す斜視図。第５図は第１図およ
び第２図に示した装置のブロツク図。第６図、第
７図および第９図〜第１１図は波形を示す説明
図。第８図は校正板を示す斜視図。第１２図は測
定を示すタイムチヤート図。 １…暗箱、２…コンソール、４…被測定物、５
…校正板、８…測定器、９…光源箱、１０…マス
クケース、１１…検出ヘツド、１２…パルスモー
タ、１３…光源、２０…レンズ、２１…光電変換
素子アレー、２２…アナログスイツチ、２３…シ
フトレジスター、２４…シフトレジスター制御回
路、２５…中央制御部、２６…測定器コントロー
ル、３０，３７，３９…アナログ波形変換、３１
…積分器、３５，３６，３８…コンバータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定物の測定領域を定める開口を有し且つ
測定領域以外からの光を遮光するマスクケース、
該マスクケースに取付けられて被測定物の測定領
域を照明する光源、および被測定物の測定領域か
らの反射光をレンズを通して内蔵せる複数の光電
変換素子からなるアレー上に導びく測定器を有し
てなる検出ヘツドと、 暗箱に沿つて検出ヘツドをステツプ状に移動さ
せ、順次に測定領域を移動させることで被測定物
の全面にわたる走査が行えるようになすための駆
動装置と、 被測定物の印刷部および非印刷部と同じ色を
別々に印刷されて個々に測定領域に対置できるよ
うに被測定物と同一レベルにて暗箱に配置された
校正板と、 前記測定器による測定領域に関する個々の光電
変換素子の出力信号を連続的な信号列として検出
した後この波高値を連続するアナログ波形に変換
するための回路と、 前記校正板に関する測定に基いて光電変換素子
アレーにおけるそれぞれの素子に関する補正定数
を求めて記憶する回路と、 前記補正定数に基いて前記測定器の出力信号を
補正する補正回路と、 前記補正の行われた前部アナログ波形を積分し
て印刷部と被印刷部との面積比率を測定する回路
と、 前記測定領域における印刷部と非印刷部との面
積比率に基いてインキ供給量を決定するための回
路と、 を含んでなるインキ供給量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56115550A JPS5817308A (ja) | 1981-07-23 | 1981-07-23 | インキ供給量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56115550A JPS5817308A (ja) | 1981-07-23 | 1981-07-23 | インキ供給量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5817308A JPS5817308A (ja) | 1983-02-01 |
| JPS637603B2 true JPS637603B2 (ja) | 1988-02-17 |
Family
ID=14665310
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56115550A Granted JPS5817308A (ja) | 1981-07-23 | 1981-07-23 | インキ供給量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5817308A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2527939B2 (ja) * | 1986-07-17 | 1996-08-28 | 東芝精機株式会社 | 印刷版の絵柄面積率測定方法 |
| JPH0280942A (ja) * | 1988-09-17 | 1990-03-22 | Topcon Corp | 表面検査用装置 |
| US5387976A (en) * | 1993-10-29 | 1995-02-07 | Hewlett-Packard Company | Method and system for measuring drop-volume in ink-jet printers |
| CA2545118C (en) * | 2006-04-28 | 2011-07-05 | Global Sensor Systems Inc. | Device for measuring package size |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3754822A (en) * | 1971-02-26 | 1973-08-28 | Xerox Corp | Scanning system |
| JPS5444914A (en) * | 1977-09-14 | 1979-04-09 | Mitsuo Tanaka | Method of easily adjusting ink in flat plate printing |
| JPS5654309A (en) * | 1979-10-11 | 1981-05-14 | Dainippon Printing Co Ltd | Device for measurement of pattern area from printed board for offset print |
-
1981
- 1981-07-23 JP JP56115550A patent/JPS5817308A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5817308A (ja) | 1983-02-01 |
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