JPS5817308A - インキ供給量測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はオフセット印刷［ｔＩ！用される刷版中、印刷
前に刷られる校正刷夛、情態）勢の印刷部と非印刷部と
の比率を測定して、印刷に必ｌ！な適正インキ供給量を
出力するインキ供給量調定装置に関する。

従来よシ刷版や、校正刷）、情態）等の印刷部と非印刷
部の比率を測定する場合、区画領域毎または全面に対し
て光源Ｌ〕刷版等の被測定物に党を尚ててその反射光量
を測定することで行い、ζ光ｇｏｓ度が全体的に変化し
九食、輝度分布が変化すると、それが測定誤差の大きな
要因となる。

この対策として一般に定期的に輝度のキャリブレーショ
ンを行うことが必要である。ｔ−＃：、、輝度変化検出
器を設けて輝度変化を検出し、これに基すて測定結果を
自動的に補正しようとする場合、輝度変化検出器の設置
場所や、特性がインキ供給量調定装置と一致しないと正
確な補正が出来ない。

さらに、光源の輝度分布が変化し九場合には当然ながら
＊ｍｍ全全領域反射状態も変るので、その場合は調定領
域全体に互ってきめ細い補正が必要となる。被糊定領域
周囲の印刷部および非印刷部の比率の大小にょ）周囲の
反射状態も変化するので、調定装置への不要な反射光の
変化となって測定誤差を生じることになる。皺測定領域
周囲の反射影響を除くには測定器に指向性を持たせるこ
とで可能となる。マスク板やレンズを使用して指向性を
持九せることが可能であるが、レンズを使用するとレン
ズの光軸からレンズの周辺へ近づくに従って入光量が減
じ、この結果としてレンズの中央と周辺との測定値に誤
差を生じることＫなる等の多くの問題があつ九。

本発明の目的はこれら問題点を解決した刷版中校正刷シ
、情態シ等の印刷部と非印刷部の比率測定に基づいてイ
ンキ供給量を決定する調定装置を提供することである。

このために本発明のインキ供給量測定装置嬬、測定領域
以外からの光を遮光するＬ５にマスクケースを設けて測
定器による常に同様＆状態での測定領域に関する測定を
可能にし、この測定器としてし７ズ訃よび複数の光電変
換素子アレーを有すｂものとを使用し、該測定器の出方
信号として各素子の連続的な信号別として取）出すとと
もにこれをアナログ波形に変換し、このアナログ波形を
積分する仁とで印刷部と非印刷部との面積比率を定め、
これに基いてインキ供給量を測定するように構成されて
お）、しかも予め被測定物の印刷部および非印刷部とそ
れぞれ同じ色を別々に有する校正板を測定すること罠よ
って光電変換素子アレーに関しての補正定数によって補
正するようにしたことを特徴とする。

以下に本発明の実施例につき図面を参照して説明する。

第１図お工び第２図に示す装−は、測定部をなす暗箱１
と、操作、制御、演算、記憶を行っているコンソール２
と出方装置であるプリンター３とから成る。測定部Ｏ１
１！１１　ａそ０内１［が無反射状態とされている。暗
箱ｌｏ底部に被測定物４および測定値と補正するための
校正１［５を測定画と同じレベルに配置するようＫｔｋ
ってｉる。被測定物４０装脱はそれを取付ける被測定物
七ット台６０出し入れＫよって行うようＫなっている。

暗箱１の上方には走行ガイド７が備えられ、この＊行ガ
イド７Ｋｔ’Ｅ）って測定器８、光源箱９およびマスタ
ケースｌＯが一体となっ九検出ヘッド１１が走行駆動用
パルスモータ１２にょ）走行するようＫｎりている。

第２図はｊｌ！１図のコンソール備から見た検出ヘッド
１１を示し、測定器８の両備にて光ｍ−９が傾斜してマ
スクケース１０に堆付けられ、各光源箱９内に光源１３
が備えられている。光源箱９を備えたマスクケースＲｏ
ｄ第３図に示す如く、底板１ＯＡＫ長方形の測定窓１ｏ
ｌｌを有してお）、この測定１！ＩＯＢが第４図に示す
如き測定領域５（ａＸＡ）を定めるよう帆なっている。

このような検出ヘッド１１は、パルスモータルに工〉ス
テップ状に走行ガイド７に沿って枢動され、各測定領域
８毎に測定器８が光源１３から測定窓１０Ｂ内Ｏ被欄定
物４の表面で反射され走光を受けて測定するようＫなさ
れる。この測定動作をさらに詳しく説明すれば、まず校
正板５を測定してそＯｓ定領域Ｓの反射輝度分布を測定
し、これを補正情報としてコンソール２において記憶す
る。そして検出ヘッド１１はパルスセータ１２によ〉走
行し、被測定物４０上まで移動されて停止する。次に被
測定物４に対して同様に測定を開始し、測定器８からの
出力を補正情報とつき合せながら測定する。その結果を
１回Ｏ橢定値として記憶し、検出へラド１１を第４図Ｋ
ｊｉＰｆｆる＆Ｏ距−だ妙走行させ良後次の測定を行う
、このようにして次々と被測定物４に対して測定を行−
１被測定物全域に互って行う。ζこで注意すべＩｉこと
として、印刷装置（図示せず）Ｋおけるインキ／パ々プ
の受は持つ区画領域は測定領域Ｓと紘一致せず、従って
インキ供給量の決定性区画領域毎に行わねばならない、
このために、第４図に示す如く区画領域の幅がＣである
とするならと１１ａＯ橢定領域Ｓを連続して測定し、幅
Ｃの区画領域を網−した時点で轟誼イン中パルプに対す
るインキ供給量が決定される。すなわちインキ供給量の
出方は第４図におりる一回につ′＃ｉ測定したものにな
る。検出ヘッドｌｌａマスクケース１０．光１１１３お
よび測定器８が一体となって走行するので、校正板５を
測定する時も被測定物４を測定する時も測定領域の輝度
分布状態に変化がなく安定し良測定結果が得られる。

第５図にこの測定方法の動作ブロック図を示しである。

測定ＳＳａレンズ２ｏと、光電変換素子（Ｉｓ−ｎＳ）
が多数並んだ光電変換素子アレー２１と、個々Ｏ光電変
換素子出カ信号を取〕出すアナログスイッチ２２と、ア
ナログスイッチ２２を選択するシフトレジスター２３と
、そし”（ｙフトレジスメーを制御する回路２４と１）
成る。コンソール２に内蔵された中央制御ＳＺＳよシ澗
定器コントロール２６へＩＩ定開始指令が出されると、
光電変換素子アレー２１の素子１５．２８−ｎｇが順次
選択されて個々の光電変換素子の入光量に応じた充電変
換信号を連続的に得られる。このようにして第５図のラ
インＬ１に生じる光電変換信号の出力波形は第６図に示
す様になる。ζζで第４図の測定領域の測定ポイン）Ｉ
Ｐ、２Ｐ−ｎＰは光電変換素子１８．！８−ｎ８に対応
する筒所として示してあシ第６図に示される個々の波高
値が第４図のＩＰ、２Ｐ−ｎｐの反射光量値となるわけ
である。

第６図の信号は、第５図に示すアナログｔＩＩＬ形変換
（υ３０に入力され、その出力波形はｊＩ７図に示す如
くなる。すなわち第７図の波形は１１６図の皺高値を連
続したアナログ波形にした４の−ｅある。

このｆＩＬ形を積分器３１で（υ弐に示すようにｔｌか
らｔｎまでの時間で積分することで第４図の測定領域Ｓ
の全域における反射光量値を得る。

ム　ｓｉ定領領域全反射光量 値（ｔ）　　：第７図におけるｔｌからｔシＯ波形ｔｈ
”ｎ：全光電変換素子のス中ヤン時間とζで問題となる
の紘前述したように測定領域Ｓの輝度分布状態のむらに
ぶる測定領域面からの反射光量のむもが測定誤差となる
こと、レンズ２０を使用している丸めにその光軸からレ
ンズ周辺へ近づくにりれて入光量が滅）、同一の反射量
を持った被測定物４をレンズ２００光軸部で測定したも
のとその周辺部で調定し九もＯとで誤差が生じることで
ある。そζで測定領域ＳのＩＰ、２Ｐ−・ｎＰ（第４図
）の反射光量が測定器８０党電変換素子ＩＳ、ｌＳ・・
・ｎｇにいかなる入党状態て分布しているかをあらかじ
め測定しておき、これを補正定数として演算して記憶し
、セして菖７図の波形を積分１１３１で積分する前ＫＩ
Ｉ正器Ｒ雪に＆いて補正定数による補正を行う。

このような補正を行うために校正１［ｚが配置されるの
であシ、被測定物４を測定する前にまず校正板５を測定
して光電変換素子１ｇ、！８−ａｌｌの出力状態をラベ
る。ζＯための校正１［ｓ社測定器８の測定領域Ｓと同
一長さをＬび同一幅で、被測定物番の印ふ５１部および
非印刷部とそれぞれ同じ色調の２色の面積部分５ム、５
Ｂが印刷されておシ、第８図にカニす如きものとされる
。それ故、校正板５の測定は印刷部の面積部分５ムと非
印刷部の面積部分５凰と０２回の測定となる。その出力
波形を第９図訃よび第１０図に示す、ζζで校正板５の
印刷部の色調が明るい色調とするならば、その出力波形
社用９の如くな夛、非印刷部が暗い色調とするならばそ
の出力波形は第１０図の如くなる。第９図および第１Ｏ
図に示し九校正板５にシける２つＯｓ定値は第５図のテ
ンプル・ホールド３３を通して中央制御部２５に与えら
れ、それぞれの充電変換素子１８．２８・・・ｎｇにつ
き記憶される。ここでテンプルｅホールド３３お工ヒ積
分！３１からの出力信号は信号選択３４にょシ切換えら
れ、アナ薗グ／デジタル変換器３５にニジ変換されて中
央制御部２５に入力される。

ｊ１１９図に示した印刷部の面積部分５ムにおける測定
で得た光電変換素子１Ｓ−ｎ８０出力ｖ８ｉ〜ｖＳｎ　
から第１θ図におけるＶＴｔ〜ＶＴ、　　をそれぞれ差
し引く減算を行うととによって←）　Ｉ　（３）式を得
る。

Ｖ８　ｓ　”＋’ｎ　　ｖ’ｒ　ｓ　、１１ｍＶＶ　ｔ
　〜ｎｖｖ１〜鳳 ａｘ　〜ｎＸ（ａｔ　〜ｒｓ　ＶＴ１〜ｎ）−Ｒｔ〜ｎ
−＜３）Ｒｓ−ａ　：　１１４正器３２による補正結果
Ｓ１〜ｎ　：　１ｌＦＧＳ図に示す被測定物５の測定出
力ｌ１１１−、ｌｌ：補正定数 β：７、パン補正定数 Ｖ・：測定スパンとして必要な値 Ｖ＆：ＶＶｔ〜ｎの中で最大の値 ｅこでｇｓ図ｏ波形ｖ、〜、お！び第１０１１０＊形Ｖ
Ｔ１〜ｎＦｉ測定し九校正板５が単一色であるから、波
高値が平坦となるべきである。そζで（２）式を使用し
て光電変換素子ｌ５−ｎ８に係るそれぞれの補正定数を
中央制御部２５において算出する。

スパン補正定数−＃ｉ測定スパンを調整する−ので、光
電の輝度が落ちた場合の第９図および第１０図の波高値
全体の変動に対する補正定数である。

Ｖａ／ＶＶｉ−ｎｔｊ個々の光電素子出力のバラツキを
補正するためのもので、当然ながら測定領域８における
照射輝度むらの補正も出来る。

補正定数ａ１〜ｎは第１１図の様なパターンになる。そ
して中央制御部２５内に記憶される。

この工うにして校正板５を測定することで第１１□ 図の如き補正定数４１３〜ｎを得九後検出ヘッド１１を
走行させて被測定物４に関する測定を開始するのである
。

この測定においてラインを寓に社第７図に示し九如き測
定信号が時間１ｍからｔｎｔ″″Ｃ願次あられれる。一
方時間ｔｌからｔｎ４で同期してラインを魯には中央制
御部２５からデジタル／アナログコンバータ３６を介し
て補正定数波形（第１１１１に示す）が与えられ、アナ
ログ波形変換（２）　３７によ）ラインｔ４にはその波
高値の連続し九アナログＩＩ形があられれを、また、同
時に第１０図に示し九校正板５の非印刷部における測定
結果がデジタル／アナログコンバータ３８を介して２イ
ン１．に与えられ、アナログ波形変換（３）　３９によ
）ラインＬ＠にはその波高値の連続したアナログ波形が
あられれる。そしてこれらはライン１．に１〕与えられ
ゐ測定値とともに補正器３２に！　Ｊ）　（３）式０演
算が行なわれ、測定ａｍが補正される。、この出力信号
をｔｌからｔｎの走査時間で積分器３１により積分し、
ｔｎｔでの積分値を中央制御部２５において記憶する。

これＫよ〉１回すなわち１つの測定領域に関する測定が
終了するＯであ）、検出ヘッド１１は第４図に示した距
離亀だけ走行して、同様に次の測定を行う。この工うな
測定を被測定物４の全面にゎた夛繰返す、ζ０橢定にお
けるタイム・チャートを第１２図に示す。

このような本発明によるインキ供給量測定装置による効
果を説明すれば次の通）である。すなわち、従来インキ
供給量が適切であるか否かを作業者が刷夛上〉を見なが
らイン中パルプを調整していたので適正なイン中量を調
整するまでに多くの損紙を発生していたうえ、この作業
線かなりの熟練を要していたのに対し、本発明の装置を
使用することに１シ熟練作東者でなくとも簡単に適正な
イン中供給量をセット出来、しかも印刷開始前にこの調
定結果でイｙｄＦパルプをセットしておけは損紙をかな
り少くさせることが出来る。それ社従米工〉問題となっ
ていた光ＩＩＯ輝度変化に対する測定誤差や充電変換素
子特性のバッフ中、測定領域の輝度むらによる測定誤差
を、調定Ｗｓ＃Ｉ前に校正板を測定して適正な補正定数
を算出し、補正しながら被測定物を測定してゆくいわゆ
る自動キャリブレーション方式としたことで解決した九
めであ夛、これに、ニジ精度の良い安定した結果が得ら
れるためである。

また糊定器の個々Ｏ光電変換素子出力をデジタル化して
測定すると多大なメモリーを必要とし、るが、本発明Ｏ
ものでは測定器の光電変換出力をアナログ液形として積
分する方法を使用しているＯでメモリーも少なく演算時
間も少なくて済む利点がある。

同、２色Ｏ印刷物でその互いの面積比を反射光量で測定
するもＯであれば、校正板の色をその２色にすることで
測定出来るのであ）、前述した装置以外に多くの適用が
出来ることは勿論である。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は本発明の一実施例であるインキ供
給量測定装置の立面図訃よび端面図。 第３図社マスクケースの斜視図。 第４図社欄定器にぶる測定領域を示す斜視図。 第５図は第１図および第２図に示した装置Ｏブロック図
。 第６図、第７図お工び第９図〜第１１０！ｌＩは波形を
示す説明図。 第８図拡校正板を示す斜視図。 第１２図は測定を示すタイムチャート図。 ！・・・・−・・・暗箱 ２・−・・・・・・コンソール ４−・・・・・・被測定物 ５・−・・・・・・校正板 ８・・・・・・・−Ｉｌｌ定器 ９・・・・・・−光源箱 １０・・・・・・・・・マスクケース １１・・・・・・・・・検出ヘッド １２・−・・・・・・パルスモータ １３・・・・・・・・・光源 ２０−ｍ−レンズ ２１−−−一党電変換素子アレー ２１−−−アナログスイッチ ２３−−−−−シフトレジスター ２４−−・−−シフトレジスター制御回路２トーーー中
央制御部 ２６−−−−−欄定器コントロール ３０　、３７　、３９　＋＋＋アナログ波形変換３１−
−−−−−−積分器 ３５．３６．３８−−コンバータ 特許出願人　　　　日本レギュレーター株式会社代理人
　弁理士　　　　　小　　野　　　栄手続補正書（自発
） １８和５６年７月、２７日 特許庁長官島田春樹殿 り事件の表示　　４Ｉ劇昭５６−１１５５５０２発明の
名称　　　インキ供給量測定装置ａ補正をする者 事件との関係　　特許出願人 氏　名　　日本レギュレーター株式会社也代　理　人　
〒１７７ 住　所　　東京都練馬区谷ｊ１１５−８−ロ電話９９６
−１６５９氏名　弁理士（６５８ｇ）小野　栄ψ ＆葡正命令の日付　（自発） ａ補正の内容 明細書第４頁第９行中「測定装置」とある會「測定器」
に、＠Ｓ頁第１４行中、「遮光するようｋ」の次にｒ　
Ｉｌｌ定器の前に」を挿入し、同じく第１５行中「測定
器による」とあるを削減。第６頁第１１行中「に開して
の補正定数によって補正する」とあるを「素子ごとの補
正定数を等比する仁とによって被測定物測定結果を補正
する」と訂正する。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 被測定物Ｏ測定領域を定める開口を有し且り測定領域以
   外からの光を線光するマスクケース、鋏！スクケースＫ
   ｊｌｊ付けられて被測定物Ｏ橢定領域を照明する光源、
   シエび被橢定物ＯＩｌ定領域からの反射光をレンズを通
   して自薦せる複数０党電変換素子からなるアレー上に導
   びく測定器を有してなる検出ヘッドを、 暗箱に沿りて検出ヘッドをステップ状に＄動させ、順次
   Ｋ１ｍ定領域を移動させる仁とで＊ｓｍ定物の全面にわ
   たる走査が行えるようになす九めＯ駆動装置と、 被橢定物Ｏ印刷Ｓ訃よび非印刷部と同じ色を別々に印刷
   されて情々に測定領域に対置できるように被測定物と同
   一レベルにて暗１１に配置され九校正板と、 前記測定Ｉ）Ｋよる測定領域に関する個ＡＱ光電変換素
   子Ｏ出力信奇を連続的な信号列として検出した後ζＯｗ
   ｔ高値を連続するアナログ波形に変換する丸めｏｎ路と
   、 前記校正板に関する測定に基いて光電置換素子アレーに
   おけるそれぞれの素子に関する補正定数を求めて記憶す
   る回路と、 前記補正定数に基いて前記測定器の出力信号を補正する
   補正ｎ路と、 前記補正の行われ九ｔ１１部アナログ液形を積分して印
   刷部と被印刷部との面積比率を測定する回路と、 前記測定領域にシける印刷部と非印刷部との面積比率に
   基いてインキ供給量を決定する丸めの回路と、 を含んでなるインキ供給量調定装置。