JPS6376185A - デユアルポ−ト半導体メモリ - Google Patents
デユアルポ−ト半導体メモリInfo
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- JPS6376185A JPS6376185A JP61219383A JP21938386A JPS6376185A JP S6376185 A JPS6376185 A JP S6376185A JP 61219383 A JP61219383 A JP 61219383A JP 21938386 A JP21938386 A JP 21938386A JP S6376185 A JPS6376185 A JP S6376185A
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- serial
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメモリ装置に係り、特に、ランダムアクセスと
シリアルアクセスが可能なデュアルポート半導体メモリ
に関する。
シリアルアクセスが可能なデュアルポート半導体メモリ
に関する。
ランダムアクセスとシリアルアクセスが可能な半導体メ
モリの従来例として、例えば特公昭59−26031号
公報に記載されているように、うンダムデータ入力端子
、ランダムデータ出力端子、シリアルデータ入力端子、
シリアルデータ出力端子と4種類のデータ入出力端子を
備えた半導体メモリがある。しかし、この例では、前記
4種類のデータ入出力端子とメモリセルアレイとのデー
タ授受のタイミングについては何ら配慮されておらず、
機能的にはすぐれているものの実現性に欠けるものであ
った。
モリの従来例として、例えば特公昭59−26031号
公報に記載されているように、うンダムデータ入力端子
、ランダムデータ出力端子、シリアルデータ入力端子、
シリアルデータ出力端子と4種類のデータ入出力端子を
備えた半導体メモリがある。しかし、この例では、前記
4種類のデータ入出力端子とメモリセルアレイとのデー
タ授受のタイミングについては何ら配慮されておらず、
機能的にはすぐれているものの実現性に欠けるものであ
った。
また、特開昭59−131979号公報に記載されたデ
ュアルポート半導体メモリでも、シリアルデータ入力と
シリアルデータ出力とのタイミングが示されているもの
の、シリアルデータ入力とシリアルデータ出力とを同時
に連続的に実施した場合のタイミングについては配慮さ
れていなかった。
ュアルポート半導体メモリでも、シリアルデータ入力と
シリアルデータ出力とのタイミングが示されているもの
の、シリアルデータ入力とシリアルデータ出力とを同時
に連続的に実施した場合のタイミングについては配慮さ
れていなかった。
こうしたデュアルポート半導体メモリの応用分野は、デ
ィスプレイに表示する文字図形データを蓄積する表示メ
モリや、ディジタルテレビやディジタルVTRといった
画像メモリにあると考えられ、シリアルデータを連続的
に入力または出力する事は重要な必要機能となる。この
点、実際に製品化されたデュアルポート半導体メモリで
は、例えば(株)日立製作所製半導体メモリHM534
61、HM53462のようにシリアル出力が連続的に
実施できるまで進んだものの、シリアルデータの連続入
力は依然不可能な状況にある。
ィスプレイに表示する文字図形データを蓄積する表示メ
モリや、ディジタルテレビやディジタルVTRといった
画像メモリにあると考えられ、シリアルデータを連続的
に入力または出力する事は重要な必要機能となる。この
点、実際に製品化されたデュアルポート半導体メモリで
は、例えば(株)日立製作所製半導体メモリHM534
61、HM53462のようにシリアル出力が連続的に
実施できるまで進んだものの、シリアルデータの連続入
力は依然不可能な状況にある。
上記従来技術においては、シリアルデータの連続入出力
に対する配慮が十分でなく、たとえば画像の記憶などと
言った画像メモリとしての応用には前記のような問題が
あった。
に対する配慮が十分でなく、たとえば画像の記憶などと
言った画像メモリとしての応用には前記のような問題が
あった。
本発明は、こうした従来技術の欠点をなくし、表示メモ
リと画像メモリの両方の応用分野に適用可能なデュアル
ポート半導体メモリを提供することを目的とする。
リと画像メモリの両方の応用分野に適用可能なデュアル
ポート半導体メモリを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、行と列とのマト
リクス状のメモリセルアレイと、前記メモリセルアレイ
の任意のアドレスとデータを入出力するための第1の入
出力端子と、前記メモリセルアレイの複数のアドレスの
データをシリアルに入出力するための第2の入出力端子
とを備えたデュアルポート半導体メモリにおいて、第1
の入出力端子よりデータを入力して上記メモリセルアレ
イへ並列データとして出力するシリアルパラレル変換手
段と、入力データを前記シリアルパラレル変換手段へ入
力するためのシリアル人力クロック信号を入力するクロ
ック入力手段と、上記メモリセルアレイの任意のアドレ
スとデータ授受を行うがシリアルパラレル変換手段から
並列データを入力するかを選択する選択信号を入力する
選択信号入力手段と、上記シリアル人力クロック信号と
上記選択信号とを入力して上記シリアルパラレル変換手
段の変換動作を実施するための制御信号と前記変換動作
の周期に応じて上記メモリセルアレイへの並列データの
書き込みを行わせるための制御信号とを発生するデータ
入出力制御手段とを設け、上記第1の入出力端子から連
続的なシリアルデータの入力を可能とする構成によって
達成される。
リクス状のメモリセルアレイと、前記メモリセルアレイ
の任意のアドレスとデータを入出力するための第1の入
出力端子と、前記メモリセルアレイの複数のアドレスの
データをシリアルに入出力するための第2の入出力端子
とを備えたデュアルポート半導体メモリにおいて、第1
の入出力端子よりデータを入力して上記メモリセルアレ
イへ並列データとして出力するシリアルパラレル変換手
段と、入力データを前記シリアルパラレル変換手段へ入
力するためのシリアル人力クロック信号を入力するクロ
ック入力手段と、上記メモリセルアレイの任意のアドレ
スとデータ授受を行うがシリアルパラレル変換手段から
並列データを入力するかを選択する選択信号を入力する
選択信号入力手段と、上記シリアル人力クロック信号と
上記選択信号とを入力して上記シリアルパラレル変換手
段の変換動作を実施するための制御信号と前記変換動作
の周期に応じて上記メモリセルアレイへの並列データの
書き込みを行わせるための制御信号とを発生するデータ
入出力制御手段とを設け、上記第1の入出力端子から連
続的なシリアルデータの入力を可能とする構成によって
達成される。
これにより従来のランダムアクセス入出力端子からシリ
アルデータの入力も可能となり、一方の入出力端子から
シリアルデータ入力を、もう一方の端子からシリアルデ
ータ出力を連続的に実施することが可能となり、従来の
表示用メモリとしての使い方のほかに画像メモリとして
の用途にも対応できるデュアルポート半導体メモリを提
供できる。
アルデータの入力も可能となり、一方の入出力端子から
シリアルデータ入力を、もう一方の端子からシリアルデ
ータ出力を連続的に実施することが可能となり、従来の
表示用メモリとしての使い方のほかに画像メモリとして
の用途にも対応できるデュアルポート半導体メモリを提
供できる。
シリアルデータの入力時には、第1のデータ入出力端子
からのデータ入力をシリアルパラレル変換手段に記憶す
るようにする。さらに、上記シリアルパラレル変換手段
での変換動作が完了するとメモリセルアレイへの並列デ
ータの書き込みを実施し、その書き込み動作の間に入力
されるシリアルデータも記憶するためにシリアルデータ
の連続入力が可能となる。また1選択信号によって、メ
モリセルアレイと第1の入出力端子が直接データを授受
するか、または、メモリセルアレイがシリアルパラレル
変換手段からデータを転送するかを制御できるので1表
示メモリとしてランダムアクセスポートとシリアルアク
セスポートとを組合わせて使うことも、画像メモリとし
てシリアルアクセス入力ポートとシリアクセル出力ポー
トとの組み合わせで使うこともできる。
からのデータ入力をシリアルパラレル変換手段に記憶す
るようにする。さらに、上記シリアルパラレル変換手段
での変換動作が完了するとメモリセルアレイへの並列デ
ータの書き込みを実施し、その書き込み動作の間に入力
されるシリアルデータも記憶するためにシリアルデータ
の連続入力が可能となる。また1選択信号によって、メ
モリセルアレイと第1の入出力端子が直接データを授受
するか、または、メモリセルアレイがシリアルパラレル
変換手段からデータを転送するかを制御できるので1表
示メモリとしてランダムアクセスポートとシリアルアク
セスポートとを組合わせて使うことも、画像メモリとし
てシリアルアクセス入力ポートとシリアクセル出力ポー
トとの組み合わせで使うこともできる。
以下、本発明の実施例を図面を用いて説明する。
第1図は本発明によるデュアルポート半導体メモリの一
実施例を示すブロック図、第2図は第1図に示すデュア
ルポート半導体メモリの主要な動作モードの説明図であ
る。
実施例を示すブロック図、第2図は第1図に示すデュア
ルポート半導体メモリの主要な動作モードの説明図であ
る。
第1図において、1は1チツプ化したデュアルポート半
導体メモリ、2はデータ入出力(D、〜o 3 )端子
、3はシリアルデータ出力端子3の出力状態をハイイン
ピーダンス状態にするためのシリアル出力イネーブル(
SOE)端子、5はデータ入出力端子2からシリアルデ
ータを入力するための入力クロック(SIC:)端子、
6はシリアルデータを出力するための出力クロック(S
C)端子、7はアドレス入力(A、〜A、)端子、8は
ロウ(行)アドレスストローブ(RAS)端子、9はコ
ラム(列)アドレスストローブ(CAS)端子、10は
後述するメモリセルアレイとのデータ転送を選択するた
めの選択入力(SEL)端子、11はデータ入出力端子
からの出力をイネーブルにしたりシリアルデータの入力
をイネーブルにするデータイネーブル(DE)端子、1
2はランダムデータの入出力やシリアルデータの入出力
のためのデータ転送の入出力を制御するライトイネーブ
ル(WE)端子、13はシリアルデータの入出力のため
のデータ転送を外部回路に知らせるリクエスト(REQ
)端子である。また、14はダイナミック形のメモリセ
ルアレイ、15はシリアルパラレル変換回路、16はシ
リアルパラレル変換回路で変換された並列データを一時
記憶する入力バッファレジスタ回路、17はメモリセル
アレイ14の列方向の任意の位置とデータ入出力端子2
とのデータ授受のための入出力選択バッファ回路、18
はメモリセルアレイ14から読み出された並列データを
一時記憶する出力バッファレジスタ回路、19はパラレ
ルシリアル変換回路、20はデータ入出力制御回路、2
1はメモリセルアレイ14のデコーダ回路である。
導体メモリ、2はデータ入出力(D、〜o 3 )端子
、3はシリアルデータ出力端子3の出力状態をハイイン
ピーダンス状態にするためのシリアル出力イネーブル(
SOE)端子、5はデータ入出力端子2からシリアルデ
ータを入力するための入力クロック(SIC:)端子、
6はシリアルデータを出力するための出力クロック(S
C)端子、7はアドレス入力(A、〜A、)端子、8は
ロウ(行)アドレスストローブ(RAS)端子、9はコ
ラム(列)アドレスストローブ(CAS)端子、10は
後述するメモリセルアレイとのデータ転送を選択するた
めの選択入力(SEL)端子、11はデータ入出力端子
からの出力をイネーブルにしたりシリアルデータの入力
をイネーブルにするデータイネーブル(DE)端子、1
2はランダムデータの入出力やシリアルデータの入出力
のためのデータ転送の入出力を制御するライトイネーブ
ル(WE)端子、13はシリアルデータの入出力のため
のデータ転送を外部回路に知らせるリクエスト(REQ
)端子である。また、14はダイナミック形のメモリセ
ルアレイ、15はシリアルパラレル変換回路、16はシ
リアルパラレル変換回路で変換された並列データを一時
記憶する入力バッファレジスタ回路、17はメモリセル
アレイ14の列方向の任意の位置とデータ入出力端子2
とのデータ授受のための入出力選択バッファ回路、18
はメモリセルアレイ14から読み出された並列データを
一時記憶する出力バッファレジスタ回路、19はパラレ
ルシリアル変換回路、20はデータ入出力制御回路、2
1はメモリセルアレイ14のデコーダ回路である。
メモリセルアレイ14は、n行と4mXK列(K、m、
nは自然数)の構成のセルアレイ配置を持つ。第2図の
動作モードに従って第1図の各動作モードの概要を説明
する。
nは自然数)の構成のセルアレイ配置を持つ。第2図の
動作モードに従って第1図の各動作モードの概要を説明
する。
また、第7図、第8図、第9図、第10図、第11図お
よび第12図は本発明の実施例の主要モードの信号タイ
ミング図である。
よび第12図は本発明の実施例の主要モードの信号タイ
ミング図である。
なお、説明の簡単化のために、一部の端子名を記号名で
代表させる。
代表させる。
ランダム入力動作時には、アドレス入力端子7からのア
ドレス入力とRAS8及びCAS9によってアドレスを
指定し、データ入出力端子2から入力されるデータを入
出力選択バッファ回路17を経てメモリセルアレイ14
の指定されたアドレスに記憶する。データ入出力制御回
路20は、アドレス入力、RAS、CASのほか、SE
LやW正を入力し、デコーダ回路21にメモリセルアレ
イ21を選択するための信号や入出力選択バッファ回路
17を選択するための信号を出力する。
ドレス入力とRAS8及びCAS9によってアドレスを
指定し、データ入出力端子2から入力されるデータを入
出力選択バッファ回路17を経てメモリセルアレイ14
の指定されたアドレスに記憶する。データ入出力制御回
路20は、アドレス入力、RAS、CASのほか、SE
LやW正を入力し、デコーダ回路21にメモリセルアレ
イ21を選択するための信号や入出力選択バッファ回路
17を選択するための信号を出力する。
ランダム出力動作時には、第7図(1)〜(3)に示す
ように、アドレス入力端子7からのアドレス入力へ〇〜
A、とRAS及びζ1によってアドレスに行Ω列を指定
し、メモリセルアレイ14の指定されたアドレスから読
み出されたデータを入出力選択バッファ回路17を経て
データ入出力端子2に出力する。
ように、アドレス入力端子7からのアドレス入力へ〇〜
A、とRAS及びζ1によってアドレスに行Ω列を指定
し、メモリセルアレイ14の指定されたアドレスから読
み出されたデータを入出力選択バッファ回路17を経て
データ入出力端子2に出力する。
ランダム入力動作時と同様に、データ入呂力制御回路2
0は、前記アドレス入力、RAS、CA丁のほか、第7
図の(4)、(5)に示すSELやマEを入力し、デコ
ーダ回路21にメモリセルアレイ21を選択するための
信号や入出力選択バッファ回路17を選択するための信
号を出力する。
0は、前記アドレス入力、RAS、CA丁のほか、第7
図の(4)、(5)に示すSELやマEを入力し、デコ
ーダ回路21にメモリセルアレイ21を選択するための
信号や入出力選択バッファ回路17を選択するための信
号を出力する。
また、第7図(6)、(7)に示すように、DEの入力
によって、入出力選択バッファ回路17からの出力をハ
イインピーダンス状態に設定することも可能である。
によって、入出力選択バッファ回路17からの出力をハ
イインピーダンス状態に設定することも可能である。
入出力選択バッファ回路17は、データ入出力端子2が
4ビット並列であることから、4mビットの中から4ビ
ツトを選択する機能を持っている。
4ビット並列であることから、4mビットの中から4ビ
ツトを選択する機能を持っている。
また、デコーダ回路21はメモリセルアレイ14の列方
向の選択する機能を持っている。
向の選択する機能を持っている。
また、デコーダ回路21はメモリセルアレイ14の列方
向の選択と、列方向に対するブロック指定をするための
選択信号を出力する。アドレス入力端子7が9ビツトの
入力であるから、RAS及びビτ1で指定できるアドレ
スは2”’(= 262144)種類となる。このアド
レスもしくはこれ以下のアドレスがメモリセルアレイ1
4の行列構成n X m X Kに相当する。
向の選択と、列方向に対するブロック指定をするための
選択信号を出力する。アドレス入力端子7が9ビツトの
入力であるから、RAS及びビτ1で指定できるアドレ
スは2”’(= 262144)種類となる。このアド
レスもしくはこれ以下のアドレスがメモリセルアレイ1
4の行列構成n X m X Kに相当する。
シリアル出力動作時には、第9図に示すようにパラレル
シリアル変換回路19で同図(2)、(4)に示すよう
にSC端子6から入力されるSCによって並列データを
シリアルデータに変換してデータ出力端子3に出力する
。データ出力端子3の出力は、(3)、(4)に示すよ
うにSOE端子4に入力するSOEによって、データ出
力状態がハイインピーダンス状態かを指定できる。パラ
レルシリアル変換回路19にて並列データの変換動作が
完了すると、データ入出力制御回路20からの制御信号
によって、出力バッファレジスタ回路18に格納されて
いた新しい並列データをパラレルシリアル変換回路19
に転送する。
シリアル変換回路19で同図(2)、(4)に示すよう
にSC端子6から入力されるSCによって並列データを
シリアルデータに変換してデータ出力端子3に出力する
。データ出力端子3の出力は、(3)、(4)に示すよ
うにSOE端子4に入力するSOEによって、データ出
力状態がハイインピーダンス状態かを指定できる。パラ
レルシリアル変換回路19にて並列データの変換動作が
完了すると、データ入出力制御回路20からの制御信号
によって、出力バッファレジスタ回路18に格納されて
いた新しい並列データをパラレルシリアル変換回路19
に転送する。
この結果、出力バッファレジスタ回路19は空データの
状態となり、メモリセルアレイ14からの並列データを
要求する状態、すなわちREQ端子13に転送要求信号
を出力する。この様子を第9図(1)に示す、すなわち
、データ出力端子3から列の最後のデータ(m)が出力
されると、次には出力バッファレジスタ18から新しい
行の並列データのうち列の最初のデータ(1)が出力さ
れる。
状態となり、メモリセルアレイ14からの並列データを
要求する状態、すなわちREQ端子13に転送要求信号
を出力する。この様子を第9図(1)に示す、すなわち
、データ出力端子3から列の最後のデータ(m)が出力
されると、次には出力バッファレジスタ18から新しい
行の並列データのうち列の最初のデータ(1)が出力さ
れる。
この時点で、REQ端子13に転送要求信号を出力する
。
。
メモリセルアレイ14から、出カバソファレジスタ回路
18とパラレルシリアル変換回路19とデータ転送する
転送動作時の信号タイミング図を第8図に示す。同動作
モードは、ランダム出力動作モード時と比べて同図(4
)に示したSELのレベルが異なることと、データ入出
力端子2が関係しない点が異っている。
18とパラレルシリアル変換回路19とデータ転送する
転送動作時の信号タイミング図を第8図に示す。同動作
モードは、ランダム出力動作モード時と比べて同図(4
)に示したSELのレベルが異なることと、データ入出
力端子2が関係しない点が異っている。
第8図(1)〜(5)に示すように、アドレス入力、可
AS、ビAS、SEL、そしてWlをデータ入出力制御
回路2oに入力することでシリアルデータ出力のための
並列データ転送動作を制御する。
AS、ビAS、SEL、そしてWlをデータ入出力制御
回路2oに入力することでシリアルデータ出力のための
並列データ転送動作を制御する。
k行α列のアドレスを入力すると1行アドレスkを取り
込むためのRASが入力されてメモリセルアレイ14か
らデータが読み出された時点で、出力バッファレジスタ
回路1−8への転送要求が(6)の点線のようにクリア
される。また、読み出されたデータは、(4)に示す様
にRASが立ち上がる前にSELを立ち上げる事によっ
て、パラレルシリアル変換回路19に転送することがで
き、同図(7)、(9)に示すように、続くSCによっ
て列アドレスで指定したアドレスQのデータからシリア
ルに出力することができる。
込むためのRASが入力されてメモリセルアレイ14か
らデータが読み出された時点で、出力バッファレジスタ
回路1−8への転送要求が(6)の点線のようにクリア
される。また、読み出されたデータは、(4)に示す様
にRASが立ち上がる前にSELを立ち上げる事によっ
て、パラレルシリアル変換回路19に転送することがで
き、同図(7)、(9)に示すように、続くSCによっ
て列アドレスで指定したアドレスQのデータからシリア
ルに出力することができる。
以上述べた4つの動作モードは、SELとREQに関す
る点を除くと、従来例である前記半導体メモリHM53
461とよく一致した動作である。
る点を除くと、従来例である前記半導体メモリHM53
461とよく一致した動作である。
もちろん、第1図に示す端子構成で従来例と同様シリア
ルデータ出力端子3をシリアルデータ入力端子として機
能させることも可能である。この時の具体的な構成につ
いては、本発明の本質ではないため省略するが、後述す
るシリアルパラレル変換回路15と入力バッファレジス
タ回路16の構成から容易に類推できるであろう。
ルデータ出力端子3をシリアルデータ入力端子として機
能させることも可能である。この時の具体的な構成につ
いては、本発明の本質ではないため省略するが、後述す
るシリアルパラレル変換回路15と入力バッファレジス
タ回路16の構成から容易に類推できるであろう。
次に、本発明の特徴であるデータ入出力端子2からのシ
リアルデータ入力について説明する。
リアルデータ入力について説明する。
シリアル入力動作時には、第2図に示すように。
データ入出力端子2から入力されるシリアルデータをS
IC端子に入力するSICによって取り込む。この時、
万1の入力によって、シリアルデータの入力、を禁止す
ることも可能である。この動作モード時のタイミング図
を第10図に示す。
IC端子に入力するSICによって取り込む。この時、
万1の入力によって、シリアルデータの入力、を禁止す
ることも可能である。この動作モード時のタイミング図
を第10図に示す。
同図(4)のようにデータ入出力端子2に入力されるシ
リアルデータは、(2)のSICによってシリアルパラ
レル変換回路15では、シリアルデータを並列データに
変換を完了した時点、すなわち、列の最後に対応するデ
ータ(m)が入力されると。
リアルデータは、(2)のSICによってシリアルパラ
レル変換回路15では、シリアルデータを並列データに
変換を完了した時点、すなわち、列の最後に対応するデ
ータ(m)が入力されると。
データ入出力制御回路20からの制御信号によつて、並
列データを入力バッファレジスタ回路16に転送する。
列データを入力バッファレジスタ回路16に転送する。
この結果、シリアルパラレル変換回路15は空データの
状態となり、次のSICで新しい行の並列データのうち
列の最初のデータ(1)を入力することができる。逆に
、転送された側の入力バッファレジスタ回路16では、
メモリセルアレイ14への並列データを転送できる状態
となり、データ入出力制御回路20によって、第10図
(1)のようにREQ端子13に転送要求信号を出力す
る。
状態となり、次のSICで新しい行の並列データのうち
列の最初のデータ(1)を入力することができる。逆に
、転送された側の入力バッファレジスタ回路16では、
メモリセルアレイ14への並列データを転送できる状態
となり、データ入出力制御回路20によって、第10図
(1)のようにREQ端子13に転送要求信号を出力す
る。
また、同図(3)のように下1によってデータ(m−2
)を入力禁止の状態にすることもできる。
)を入力禁止の状態にすることもできる。
シリアル入力されたデータの転送動作は、第2図に示す
ようにシリアル出力のデータ転送動作とWEの入力が異
なるだけである。第11図にこの時の信号タイミング図
を示すが、前述の第8図と同様に、データ入出力制御回
路20が、シリアルパラレル変換回路15.入力バッフ
ァレジスタ回路16.メモリセルアレイ14と転送動作
を制御して、新しい行列アドレスからのシリアルデータ
の入力を可能とする。この場合にも、(4)に示すよう
にRASが立ち上がる前にSELを立ち上げることによ
って、(8)の列データ(1)までを直前の行アドレス
に転送することができ、続<SICによって列アドレス
で指定したアドレス2のデータからシリアルに入力する
ことができる。
ようにシリアル出力のデータ転送動作とWEの入力が異
なるだけである。第11図にこの時の信号タイミング図
を示すが、前述の第8図と同様に、データ入出力制御回
路20が、シリアルパラレル変換回路15.入力バッフ
ァレジスタ回路16.メモリセルアレイ14と転送動作
を制御して、新しい行列アドレスからのシリアルデータ
の入力を可能とする。この場合にも、(4)に示すよう
にRASが立ち上がる前にSELを立ち上げることによ
って、(8)の列データ(1)までを直前の行アドレス
に転送することができ、続<SICによって列アドレス
で指定したアドレス2のデータからシリアルに入力する
ことができる。
第2図で示した動作モードのうち最後となった連続転送
モードについての信号タイミング図を第12図に示す。
モードについての信号タイミング図を第12図に示す。
この動作時は、メモリセルアレイ14と入力バッファレ
ジスタ回路16または出力バッファレジスタ回路18と
のデータ転送が行なわれ、データ入出力制御回路20か
ら出力される行アドレスは内部ラッチされた値が次々と
更新して使用され。
ジスタ回路16または出力バッファレジスタ回路18と
のデータ転送が行なわれ、データ入出力制御回路20か
ら出力される行アドレスは内部ラッチされた値が次々と
更新して使用され。
RASとCASとSELだけで実施できる。同図(9)
のSICによって1列データ(m)が入力されると、(
6)のREQが出力される。この状態でSELとGAS
をローレベルにしてRASを下げると、入力バッファレ
ジスタ回路16に入力された並列データがメモリセルア
レイ14へ転送される。
のSICによって1列データ(m)が入力されると、(
6)のREQが出力される。この状態でSELとGAS
をローレベルにしてRASを下げると、入力バッファレ
ジスタ回路16に入力された並列データがメモリセルア
レイ14へ転送される。
また、同図(7)に示すScによって、(8)に示すシ
リアルデータ出力端子3に列データ(1)が出力される
と、(6)に示すようにREQが出力される。この状態
でSELとてASをローレベルにしてRASを下げると
、メモリセルアレイ14がら並列データが読み出され出
力バッファレジスタ回路18に転送される。こうしてR
EQが出方されたらSELとCASをローレベルにして
RASを下げると行アドレスを更新しながら次々とシリ
アルデータを入出力することができ、連続的なシリアル
データの入力と出力とを同時に動作させることができる
。
リアルデータ出力端子3に列データ(1)が出力される
と、(6)に示すようにREQが出力される。この状態
でSELとてASをローレベルにしてRASを下げると
、メモリセルアレイ14がら並列データが読み出され出
力バッファレジスタ回路18に転送される。こうしてR
EQが出方されたらSELとCASをローレベルにして
RASを下げると行アドレスを更新しながら次々とシリ
アルデータを入出力することができ、連続的なシリアル
データの入力と出力とを同時に動作させることができる
。
メモリセルアレイ14は、スタティック形のメモリセル
でも良いが、少ないチップ面積で大容量を実現するため
ダイナミック形のメモリセルを用いたとして構成するダ
イナミック形のメモリセルを用いると、記憶内容を定期
的に再書き込みする。
でも良いが、少ないチップ面積で大容量を実現するため
ダイナミック形のメモリセルを用いたとして構成するダ
イナミック形のメモリセルを用いると、記憶内容を定期
的に再書き込みする。
いわゆるリフレッシュ動作が必要であるが、リフレッシ
ュのためのリフレッシュアドレスもデータ入出力制御回
路20が発生する。−例として。
ュのためのリフレッシュアドレスもデータ入出力制御回
路20が発生する。−例として。
REQが出力されていない状態で、SELとCASとを
ローレベルにしてRASを下げるとリフレッシュ動作と
することができ、この場合も行アドレスの更新は自動的
に内部で実施される。また、アドレスを与えてRASの
み与える。いわゆるRASオンリイリフレッシュ動作も
、第2図の各入力端子条件と競合しないため実施できる
ことも自明である。
ローレベルにしてRASを下げるとリフレッシュ動作と
することができ、この場合も行アドレスの更新は自動的
に内部で実施される。また、アドレスを与えてRASの
み与える。いわゆるRASオンリイリフレッシュ動作も
、第2図の各入力端子条件と競合しないため実施できる
ことも自明である。
さらに、ランダムアクセスポートについては。
従来のダイナミックRAMが持っているようなページモ
ード入出力やスタテックカラム入出力などの高速アクセ
スモードを実現可能とすることもできることは言うまで
もない。
ード入出力やスタテックカラム入出力などの高速アクセ
スモードを実現可能とすることもできることは言うまで
もない。
さらにまた、第1図のシリアルパラレル変換回路15と
入力バッファレジスタ回路16とは、連続的なシリアル
データを並列データに変換するためのパイプライン構成
の変換回路となっているが。
入力バッファレジスタ回路16とは、連続的なシリアル
データを並列データに変換するためのパイプライン構成
の変換回路となっているが。
とくにこの構成に限った訳ではなく、シリアルパラレル
変換回路15に相当する回路を2系統持って交互にメモ
リセルアレイ14へのデータ転送を実施するようにして
も良い、また、シリアルデータの出力側も同様である。
変換回路15に相当する回路を2系統持って交互にメモ
リセルアレイ14へのデータ転送を実施するようにして
も良い、また、シリアルデータの出力側も同様である。
このように、第1図の構成とすることによって、デュア
ルポート半導体メモリ1がランダムアクセスポートとシ
リアルアクセスポートの組み合わせと、シリアルアクセ
ス入力ポートとシリアルアクセス出力ポートとの組み合
わせを同時に兼ね備えた新しい機能を備えることとなり
1表示用のメモリとしてまた画像処理用のメモリとして
種々の技術分野に広く応用できる。
ルポート半導体メモリ1がランダムアクセスポートとシ
リアルアクセスポートの組み合わせと、シリアルアクセ
ス入力ポートとシリアルアクセス出力ポートとの組み合
わせを同時に兼ね備えた新しい機能を備えることとなり
1表示用のメモリとしてまた画像処理用のメモリとして
種々の技術分野に広く応用できる。
次に、第1図のデュアルポート半導体メモリ1における
データ入出力制御回路をさらに詳細に説明する。
データ入出力制御回路をさらに詳細に説明する。
第3図はデータ入出力制御回路の詳細ブロック図、第4
図は第3図の一部詳細ブロック図である。
図は第3図の一部詳細ブロック図である。
第3図において、第1図と同一機能の回路ブロックには
同一記号を記しである。また同図において、22はRA
SまたはCASを基準としてタイミング信号を発生する
タイミング発生回路、23はランダムアクセス時のアド
レス入力をRAS及びτπ1で記憶するアドレスラッチ
回路、24はリフレッシュアドレスを記憶するリフレッ
シュアドレスカウンタ、25はシリアルデータ入力のた
めのアドレスを記憶するライトアドレスカウンタ、26
はシリアルデータ出力のためのアドレスを記憶するリー
ドアドレスカウンタ、27はデコーダ回路21へ供給す
るアドレスを選択するアドレスセレクタ、28はライト
アドレスカウンタ25及びリードアドレスカウンタ26
が発生する転送パルスによって転送要求信号を発生する
リクエスト制御回路、29はランダムアクセスデータ出
力時の出力バッファを制御するための信号を発生する出
力バッファ制御回路である。
同一記号を記しである。また同図において、22はRA
SまたはCASを基準としてタイミング信号を発生する
タイミング発生回路、23はランダムアクセス時のアド
レス入力をRAS及びτπ1で記憶するアドレスラッチ
回路、24はリフレッシュアドレスを記憶するリフレッ
シュアドレスカウンタ、25はシリアルデータ入力のた
めのアドレスを記憶するライトアドレスカウンタ、26
はシリアルデータ出力のためのアドレスを記憶するリー
ドアドレスカウンタ、27はデコーダ回路21へ供給す
るアドレスを選択するアドレスセレクタ、28はライト
アドレスカウンタ25及びリードアドレスカウンタ26
が発生する転送パルスによって転送要求信号を発生する
リクエスト制御回路、29はランダムアクセスデータ出
力時の出力バッファを制御するための信号を発生する出
力バッファ制御回路である。
第3図において、タイミング発生回路22、アドレスラ
ッチ回路23.リフレッシュアドレスカウンタ24、ア
ドレスセレクタ27、及び、出力バッファ制御回路29
については、従来のデュアルポート半導体メモリでも類
似の構成を持っているため当該技術者にとって自明であ
ろう。そこでこれら以外のブロックについて1構成例を
第4図を用いて説明する。なお、タイミング発生回路2
2は回路ブロックと制御信号が増加した分だけ回路規模
が大きくなることになるが、基本的にはRASを基準と
したパルス信号発生回路とCASを基準としたパルス信
号発生回路であることには変わりない。
ッチ回路23.リフレッシュアドレスカウンタ24、ア
ドレスセレクタ27、及び、出力バッファ制御回路29
については、従来のデュアルポート半導体メモリでも類
似の構成を持っているため当該技術者にとって自明であ
ろう。そこでこれら以外のブロックについて1構成例を
第4図を用いて説明する。なお、タイミング発生回路2
2は回路ブロックと制御信号が増加した分だけ回路規模
が大きくなることになるが、基本的にはRASを基準と
したパルス信号発生回路とCASを基準としたパルス信
号発生回路であることには変わりない。
また、第6図はシリアル連続入出力時のタイミングの一
例を示すタイミング図である。
例を示すタイミング図である。
第4図において、第3図と同一機能の回路ブロックには
同一記号を記しである。また、タイミング発生回路22
からのRASを基準としたパルス信号をR1−R4,C
ASを基準としたパルス信号をC1〜C1とし、逆にタ
イミング発生回路22に入力するパルスを81〜S、と
する。同図において、ライトアドレスカウンタ25は、
パルス信号R工(第6図T3)の入力時のアドレス入力
を初期値とするカウンタ30と、続くパルス信号C工の
入力時のアドレス入力を初期値とするカウンタ31゜3
2と、これらのカウンタの出力値を記憶するためのアド
レスラッチ33と、アドレスラッチ33へのアドレス記
憶をシリアルパラレル変換動作の毎に行う場合と新しい
データ転送アドレスが入力された場合との両方で行なわ
せるためのOR回路34から構成される。カウンタ31
はSICのm分周のカウンタであり、頂度、第1図のシ
リアルパラレル変換回路15の変換動作が完了する度毎
(第6図T、、T1.)にパルス信号S1をタイミング
発生回路22に出力し、第1図の入カバソファレジスタ
回路16への並列データ転送を行う。アドレスラッチ3
3は、シリアルデータ入力の転送サイクルでメモリセル
アレイ14が指定された行アドレスへ並列データを書き
込む場合に、シリアルパラレル変換回路15で次の周期
まで書き込みが遅れるのをアドレス側で補正するための
ものであり、この(第6図(3)RK、RK◆1.・・
・)アドレスは連続転送モード時用いられる。
同一記号を記しである。また、タイミング発生回路22
からのRASを基準としたパルス信号をR1−R4,C
ASを基準としたパルス信号をC1〜C1とし、逆にタ
イミング発生回路22に入力するパルスを81〜S、と
する。同図において、ライトアドレスカウンタ25は、
パルス信号R工(第6図T3)の入力時のアドレス入力
を初期値とするカウンタ30と、続くパルス信号C工の
入力時のアドレス入力を初期値とするカウンタ31゜3
2と、これらのカウンタの出力値を記憶するためのアド
レスラッチ33と、アドレスラッチ33へのアドレス記
憶をシリアルパラレル変換動作の毎に行う場合と新しい
データ転送アドレスが入力された場合との両方で行なわ
せるためのOR回路34から構成される。カウンタ31
はSICのm分周のカウンタであり、頂度、第1図のシ
リアルパラレル変換回路15の変換動作が完了する度毎
(第6図T、、T1.)にパルス信号S1をタイミング
発生回路22に出力し、第1図の入カバソファレジスタ
回路16への並列データ転送を行う。アドレスラッチ3
3は、シリアルデータ入力の転送サイクルでメモリセル
アレイ14が指定された行アドレスへ並列データを書き
込む場合に、シリアルパラレル変換回路15で次の周期
まで書き込みが遅れるのをアドレス側で補正するための
ものであり、この(第6図(3)RK、RK◆1.・・
・)アドレスは連続転送モード時用いられる。
また、リードアドレスカウンタ26は、パルス信号R,
(第6図T、)の入力時のアドレス入力を初期値とする
カウンタ35と、続くパルス信号C2の入力時のアドレ
ス入力を特徴とする特許ンタ36,37から構成される
。カウンタ36はSCのm分周のカウンタであり、頂底
、第1図のパラレルシリアル変換回路19の変換動作が
完了する度毎(第6図T11.)に、パルス信号S2を
タイミング回路22に出力し、第1図の出力バッファレ
ジスタ回路18からパラレル変換回路19への並列デー
タ転送を行う、カウンタ35とカウンタ37の出力は第
3図のアドレスセレクタ27へ入力され、第2図の連続
転送モードでシリアルにデータ出力する場合のアドレス
(第6図(10)Rjs RA÷、、 RA+2t・・
・)として用いられる。
(第6図T、)の入力時のアドレス入力を初期値とする
カウンタ35と、続くパルス信号C2の入力時のアドレ
ス入力を特徴とする特許ンタ36,37から構成される
。カウンタ36はSCのm分周のカウンタであり、頂底
、第1図のパラレルシリアル変換回路19の変換動作が
完了する度毎(第6図T11.)に、パルス信号S2を
タイミング回路22に出力し、第1図の出力バッファレ
ジスタ回路18からパラレル変換回路19への並列デー
タ転送を行う、カウンタ35とカウンタ37の出力は第
3図のアドレスセレクタ27へ入力され、第2図の連続
転送モードでシリアルにデータ出力する場合のアドレス
(第6図(10)Rjs RA÷、、 RA+2t・・
・)として用いられる。
リクエスト制御回路28では、ライトアドレスカウンタ
25から発生するシリアルパラレル変換動作の完了した
時点を示すパルス信号S工(第6図T11T1゜)によ
ってセットされるセットリセット形フリップフロップ3
8と、リードアドレスカウンタ26から同様の時点で発
生するパルス信号S2(第6図Tよ。)とリードアドレ
スカウンタ26の初期化時に発生するパルス信号C2と
をOR回路39で合成し、このOR回路39の出力でセ
ットされるセットリセット(SR)形フリップフロップ
40とが、メモリセルアレイ14に対する転送要求信号
を記憶する。記憶された転送要求信号は、OR回路41
によって合成され、RASがローレベル期間出力しない
ようにパルス信号R3(第6図(4)のRAS)でゲー
トするAND回路42を経て第6図(9)に示すように
REQ端子13に出力される。
25から発生するシリアルパラレル変換動作の完了した
時点を示すパルス信号S工(第6図T11T1゜)によ
ってセットされるセットリセット形フリップフロップ3
8と、リードアドレスカウンタ26から同様の時点で発
生するパルス信号S2(第6図Tよ。)とリードアドレ
スカウンタ26の初期化時に発生するパルス信号C2と
をOR回路39で合成し、このOR回路39の出力でセ
ットされるセットリセット(SR)形フリップフロップ
40とが、メモリセルアレイ14に対する転送要求信号
を記憶する。記憶された転送要求信号は、OR回路41
によって合成され、RASがローレベル期間出力しない
ようにパルス信号R3(第6図(4)のRAS)でゲー
トするAND回路42を経て第6図(9)に示すように
REQ端子13に出力される。
こうして記憶された転送要求信号は、第2図の動作モー
ドのうち連続転送で示した動作時のみ発生するパルス信
号C2に同期して、それぞれD形フリップフロップ43
.44に記憶され、続くπASの動作を確定すべくパル
ス信号S3.S4としてタイミング発生回路22に供給
される。パルス信号S、、S、に従ってπア〕によって
実行されるメモリセルアレイ14への動作は以下の通り
である。
ドのうち連続転送で示した動作時のみ発生するパルス信
号C2に同期して、それぞれD形フリップフロップ43
.44に記憶され、続くπASの動作を確定すべくパル
ス信号S3.S4としてタイミング発生回路22に供給
される。パルス信号S、、S、に従ってπア〕によって
実行されるメモリセルアレイ14への動作は以下の通り
である。
(1) Ts ” O、T4 ” O・・・リフレッ
シュ動作(第6図T、) (2) T3=1.T、=O・・・ライト連続転送動
作(第6図T −= T s 、T 1a )(3)
T3=O,T、=1 リード連続転送動作(4)
T、=1.T、=1 (第6図T、、T□□)この
時のRAS入力に応じてパルス信号R4が発生し、AN
D回路46によってリード連続転送動作が、AND回路
48によってライト連続転送動作が実施されたことを判
断して、それぞれの転送要求信号を記憶しているR3形
フリップフロップ40.38をリセットすることとなる
。これら連続転送以外でも、メモリセルアレイ14と並
列データを授受する時に発生する上述のパルス信号R1
,R,によっても転送要求信号が解消されるように、O
R回路47でパルス信号R□をOR回路49でパルス信
号R2をそれぞれ合成してR5形フリップフロップ38
.40のリセット端子に供給する。
シュ動作(第6図T、) (2) T3=1.T、=O・・・ライト連続転送動
作(第6図T −= T s 、T 1a )(3)
T3=O,T、=1 リード連続転送動作(4)
T、=1.T、=1 (第6図T、、T□□)この
時のRAS入力に応じてパルス信号R4が発生し、AN
D回路46によってリード連続転送動作が、AND回路
48によってライト連続転送動作が実施されたことを判
断して、それぞれの転送要求信号を記憶しているR3形
フリップフロップ40.38をリセットすることとなる
。これら連続転送以外でも、メモリセルアレイ14と並
列データを授受する時に発生する上述のパルス信号R1
,R,によっても転送要求信号が解消されるように、O
R回路47でパルス信号R□をOR回路49でパルス信
号R2をそれぞれ合成してR5形フリップフロップ38
.40のリセット端子に供給する。
以上、第3図、第4図を用いて、特にシリアルデータの
連続入力と連続出力時の動作を重点的に説明したように
、データ入出力制御回路20は問題なく動作する。
連続入力と連続出力時の動作を重点的に説明したように
、データ入出力制御回路20は問題なく動作する。
次に、第1図のシリアルパラレル変換回路15、入力バ
ッファレジスタ回路16.入出力選択バッファ回路17
の4mビット幅の並列データ処理のうちの1ビツトに関
する詳細な回路構成の一例を説明する。
ッファレジスタ回路16.入出力選択バッファ回路17
の4mビット幅の並列データ処理のうちの1ビツトに関
する詳細な回路構成の一例を説明する。
第5図はデータ入出力部の詳細な回路構成図であって、
50はデータ入出力制御回路20より供給されるアドレ
スをデコードするデコーダ、51゜52.53は1ビツ
トラツチ、54は1ビツトシフトレジスタ、55〜60
はトランファゲート、61〜63はNOR回路である。
50はデータ入出力制御回路20より供給されるアドレ
スをデコードするデコーダ、51゜52.53は1ビツ
トラツチ、54は1ビツトシフトレジスタ、55〜60
はトランファゲート、61〜63はNOR回路である。
また、トランスファゲート55〜60とNOR回路回路
61〜63を共通に制御する信号をφ、〜φ5とし、外
部端子から入力される信号への論理処理の少ないものに
は、外部端子そのままの記号、SIC,DE。
61〜63を共通に制御する信号をφ、〜φ5とし、外
部端子から入力される信号への論理処理の少ないものに
は、外部端子そのままの記号、SIC,DE。
D0〜D、を記しである。
第5図の動作を第6図のタイミング図を参照して説明す
る。デコーダ50は前記第1図の入出力選択バッファ回
路17におけるmビットの選択デコーダと、シリアルパ
ラレル変換回路15の変換動作の初期値を与えるデコー
ダを兼ねている。
る。デコーダ50は前記第1図の入出力選択バッファ回
路17におけるmビットの選択デコーダと、シリアルパ
ラレル変換回路15の変換動作の初期値を与えるデコー
ダを兼ねている。
例えば、第7図に示したようなランダムアクセスを実施
した場合で、デコーダ50にτπ]によって入力された
アドレスの一部が供給され、第5図に示すように2なる
端子にデコーダ出力が呪われたとする。この時、φ、が
CASによってローレベルになり、NOR回路61の出
力がハイレベルとなってトランスファゲート60が閉じ
られる。
した場合で、デコーダ50にτπ]によって入力された
アドレスの一部が供給され、第5図に示すように2なる
端子にデコーダ出力が呪われたとする。この時、φ、が
CASによってローレベルになり、NOR回路61の出
力がハイレベルとなってトランスファゲート60が閉じ
られる。
この時、φ2はローレベル、φ6はハイレベルのままで
、SICも入力されることが無いため、シリアルパラレ
ル変換回路15と入力バッファレジスタ回路16は非動
作状態とされる。トランスファゲート60の一方はメモ
リセルアレイ14に含まれるセンスアンプ回路に接続さ
れ、もう1方はDoに接続されているため、トランスフ
ァゲート60と同列の8個のトランスファゲートも閉じ
られ、メモリセルアレイ14の指定された行列アドレス
とD0〜D3間でデータ授受可能な状態となる。
、SICも入力されることが無いため、シリアルパラレ
ル変換回路15と入力バッファレジスタ回路16は非動
作状態とされる。トランスファゲート60の一方はメモ
リセルアレイ14に含まれるセンスアンプ回路に接続さ
れ、もう1方はDoに接続されているため、トランスフ
ァゲート60と同列の8個のトランスファゲートも閉じ
られ、メモリセルアレイ14の指定された行列アドレス
とD0〜D3間でデータ授受可能な状態となる。
D、D0間には差動のレベルセンス回路と差動の駆動回
路が接続されてデータ入出力端子と結合されており、デ
ータ読み出し時にはメモリセルアレイ14のセンスアン
プ回路からり、D、を経由して差動のレベルセンス回路
へ、またデータ書き込み時には駆動回路からり、 D、
を経由してメモリセルアレイ14のセンスアンプ回路お
よびメモリセルにそれぞれデータを転送する。同じQビ
ットに対応する他のD□〜D、についても同様の動作と
なる。
路が接続されてデータ入出力端子と結合されており、デ
ータ読み出し時にはメモリセルアレイ14のセンスアン
プ回路からり、D、を経由して差動のレベルセンス回路
へ、またデータ書き込み時には駆動回路からり、 D、
を経由してメモリセルアレイ14のセンスアンプ回路お
よびメモリセルにそれぞれデータを転送する。同じQビ
ットに対応する他のD□〜D、についても同様の動作と
なる。
もちろん、この時Qビットを除いたデコーダ50に接続
された他のトランスファゲートは開状態のままである。
された他のトランスファゲートは開状態のままである。
次に、第6図(2)のようにSICが入力されている場
合には、1ビツトシフトレジスタ54がmビット配置さ
れている内の唯1ビットのみがハイレベルとなりそれを
伝達する。シフトレジスタとなり、SICに同期してロ
ーレベルとなるφ、によってアクティブ状態(ローレベ
ル)がNOR回路62によってトランスファゲート57
に伝達される。NOR回路62によってり、とDllの
データは1ビツトラツチ52に伝達される。同列の5ビ
ツトのラッチもNOR回路62によってデータ転送され
、こうして、5mビットの同列配置の1ビツトラツチの
うち指定された5ビツトのみにデータ転送が実施され、
シフトレジスタとラッチ回路とによってシリアルパラレ
ル変換が実現される。
合には、1ビツトシフトレジスタ54がmビット配置さ
れている内の唯1ビットのみがハイレベルとなりそれを
伝達する。シフトレジスタとなり、SICに同期してロ
ーレベルとなるφ、によってアクティブ状態(ローレベ
ル)がNOR回路62によってトランスファゲート57
に伝達される。NOR回路62によってり、とDllの
データは1ビツトラツチ52に伝達される。同列の5ビ
ツトのラッチもNOR回路62によってデータ転送され
、こうして、5mビットの同列配置の1ビツトラツチの
うち指定された5ビツトのみにデータ転送が実施され、
シフトレジスタとラッチ回路とによってシリアルパラレ
ル変換が実現される。
こうして記録されたシリアルデータは、例えば第6図T
、で示されるSEL信号の立ち上がりや第6図Ts、T
12で示されるシリアルパラレル変換の終3時にハイレ
ベルとなるφ、によってトランスファゲート58を経て
入力バッファレジスタ回路16内の1ビツトラツチ53
へ転送される。
、で示されるSEL信号の立ち上がりや第6図Ts、T
12で示されるシリアルパラレル変換の終3時にハイレ
ベルとなるφ、によってトランスファゲート58を経て
入力バッファレジスタ回路16内の1ビツトラツチ53
へ転送される。
さらに、メモリセルアレイ14へのデータ転送時(第6
図T、、 T、、 T、、 T工、)には、NOR回路
63によって入力データD0〜D3に対応した下Eの値
を記憶した1ビツトレジスタからの出力とφ6とのNO
Rがとられ、DEがアクティブだった時のみトランスフ
ァゲート59が閉状態となって、1ビツトラツチ53の
記憶されたデータがメモリセルアレイ14へ転送される
。
図T、、 T、、 T、、 T工、)には、NOR回路
63によって入力データD0〜D3に対応した下Eの値
を記憶した1ビツトレジスタからの出力とφ6とのNO
Rがとられ、DEがアクティブだった時のみトランスフ
ァゲート59が閉状態となって、1ビツトラツチ53の
記憶されたデータがメモリセルアレイ14へ転送される
。
この時、トランスファゲート59と同列にある8m個の
トランスファゲートはDEに対応して8偏量時に開また
は閉状態となるため、第10図(3)で示したように特
定のビットのみ入力を禁止することができる。
トランスファゲートはDEに対応して8偏量時に開また
は閉状態となるため、第10図(3)で示したように特
定のビットのみ入力を禁止することができる。
φ□はT、に続<CASによってタイミング発生回路2
2で発生するパルスでデコーダ50の出力をトランスフ
ァゲート55によって1ビツトラツチ51へ転送する。
2で発生するパルスでデコーダ50の出力をトランスフ
ァゲート55によって1ビツトラツチ51へ転送する。
また、φ3は第6図(7)のSELの立ち上がりT4で
発生するパルスでシリアルデータ入力のための新しいア
ドレスをシリアルパラレル変換のシフトレジスタ回路(
第5図シフトレジスタ54相当回路m個で構成される)
に、トランスファゲート56を経て設定する機能を持つ
。
発生するパルスでシリアルデータ入力のための新しいア
ドレスをシリアルパラレル変換のシフトレジスタ回路(
第5図シフトレジスタ54相当回路m個で構成される)
に、トランスファゲート56を経て設定する機能を持つ
。
以上、第5図、第6図を用いて詳細に述べたように、デ
ータ入出力端子2からメモリセルアレイ14に連続的な
データ入力を実施することができる。
ータ入出力端子2からメモリセルアレイ14に連続的な
データ入力を実施することができる。
なお、第5図ではシフトレジスタ回路とラッチ回路とで
シリアルパラレル変換を実現したが、本発明は前記した
ように連続的なシリアルデータの入力および出力が実現
できるため、特にmビットの途中のデータから入出力す
る必要が無い場合には、単純シフトレジスタでシリアル
パラレル変換を実施させても良い。
シリアルパラレル変換を実現したが、本発明は前記した
ように連続的なシリアルデータの入力および出力が実現
できるため、特にmビットの途中のデータから入出力す
る必要が無い場合には、単純シフトレジスタでシリアル
パラレル変換を実施させても良い。
次に、アドレス入力A0〜A8の場合の具体的なmの値
について考察する。
について考察する。
前述のデュアルポート半導体メモリHM53461では
、シリアルデータ出力部のパラレルシリアル変換部の容
量は4X256ビツトである。
、シリアルデータ出力部のパラレルシリアル変換部の容
量は4X256ビツトである。
このHM53461はメモリ容量が256にビットであ
り、これがアドレス入力9本すなわち1Mビット容量の
場合、行と列がそれぞれ倍の容量になり、パラレルシリ
アル変換部の容量は4×512ビツトとなる。本発明で
は、シリアル入力部に2重のデータラッチ回路を、また
シリアル出力部に2重のデータラッチ回路を持っている
ため、データラッチ回路のmは128 (512÷4)
ビットとなる。この場合、たとえ、シリアルデータを2
0nSで入力または出力しても、メモリセルアレイ14
へのアクセスは128tL3あたり1回の頻度となり実
用上全く問題ない、また、mを128ビツト以下の64
ビツトにしても動作可能であり、この場合パラレルシリ
アル変換部に要するチップ面積を小さくできる。
り、これがアドレス入力9本すなわち1Mビット容量の
場合、行と列がそれぞれ倍の容量になり、パラレルシリ
アル変換部の容量は4×512ビツトとなる。本発明で
は、シリアル入力部に2重のデータラッチ回路を、また
シリアル出力部に2重のデータラッチ回路を持っている
ため、データラッチ回路のmは128 (512÷4)
ビットとなる。この場合、たとえ、シリアルデータを2
0nSで入力または出力しても、メモリセルアレイ14
へのアクセスは128tL3あたり1回の頻度となり実
用上全く問題ない、また、mを128ビツト以下の64
ビツトにしても動作可能であり、この場合パラレルシリ
アル変換部に要するチップ面積を小さくできる。
また、メモリ容量として1Mビットを例示したが、これ
に限るものではない。
に限るものではない。
以上説明したように、本発明によれば、ランダムアクセ
スポートとシリアルアクセスポートとの組み合わせ、ま
たは、シリアルデータの入力および出力の可能な2組の
シリアルアクセスポートの組み合わせとの新しい機能が
実現できるので、表示メモリとしての応用と画像メモリ
としての応用の両分野に適用できる新規かつ優れた機能
のデュアルポート半導体メモリを提供することができる
。
スポートとシリアルアクセスポートとの組み合わせ、ま
たは、シリアルデータの入力および出力の可能な2組の
シリアルアクセスポートの組み合わせとの新しい機能が
実現できるので、表示メモリとしての応用と画像メモリ
としての応用の両分野に適用できる新規かつ優れた機能
のデュアルポート半導体メモリを提供することができる
。
第1図は本発明によるデュアルポート半導体メモリの一
実施例を示すブロック図、第2図は第1図の主要な動作
モードの説明図、第3図はデータ入出力制御回路の詳細
ブロック図、第4図は第3図の一部詳細ブロック図、第
5図はデータ入出力部の詳細な回路構成図、第6図はシ
リアル連続入力時のタイミングの一例を示すタイミング
図、第7図、第8図、第9図、第10図、第11図およ
び第12図は本発明の実施例の主要モードの信号タイミ
ング図である。 1・・・デュアルポート半導体メモリ、14・・・メモ
リセルアレイ、15・・・シリアルパラレル変換回路、
16・・・入力バッファレジスタ回路、17・・・入出
力選択バッファ回路、18・・・出カバソファレジスタ
回路、19・・・パラレルシリアル変換回路。 20・・・データ入出力制御回路、21・・・デコーダ
回路。 −−−−,−−−j 第 3 図 第 5(2] −〜 −三 日 三 E 2
二 ュ ミ な第 7図 第 8閉 第9図 ′m−lQ 図 第71図 +++ ’? D、 a ン l (1ン
/、 (7! ン 、・ (]噌°f) /−
へへ+′−cmcr2
実施例を示すブロック図、第2図は第1図の主要な動作
モードの説明図、第3図はデータ入出力制御回路の詳細
ブロック図、第4図は第3図の一部詳細ブロック図、第
5図はデータ入出力部の詳細な回路構成図、第6図はシ
リアル連続入力時のタイミングの一例を示すタイミング
図、第7図、第8図、第9図、第10図、第11図およ
び第12図は本発明の実施例の主要モードの信号タイミ
ング図である。 1・・・デュアルポート半導体メモリ、14・・・メモ
リセルアレイ、15・・・シリアルパラレル変換回路、
16・・・入力バッファレジスタ回路、17・・・入出
力選択バッファ回路、18・・・出カバソファレジスタ
回路、19・・・パラレルシリアル変換回路。 20・・・データ入出力制御回路、21・・・デコーダ
回路。 −−−−,−−−j 第 3 図 第 5(2] −〜 −三 日 三 E 2
二 ュ ミ な第 7図 第 8閉 第9図 ′m−lQ 図 第71図 +++ ’? D、 a ン l (1ン
/、 (7! ン 、・ (]噌°f) /−
へへ+′−cmcr2
Claims (1)
- 1、データを記憶保持するメモリセルアレイと、該メモ
リセルアレイの任意のアドレスとデータを入出力するた
めの第1の入出力端子と、該メモリセルアレイの複数の
アドレスのデータをシリアルに入出力するための第2の
入出力端子とを備えたデュアルポート半導体メモリにお
いて、前記第1の入出力端子と接続され、シリアルに入
力するデータを記憶し前記メモリセルアレイへ周期的に
並列データを出力するシリアルパラレル変換手段と、前
記第1の入出力端子からの入力データを前記シリアルパ
ラレル変換手段へ入力するためのシリアル入力クロック
信号を入力するクロック入力手段と、上記メモリセルア
レイと上記第1の入出力端子とのデータ授受を行うか、
上記シリアルパラレル変換手段からの並列データを上記
メモリセルアレイへ記憶するかを選択するための選択信
号を入力する選択信号入力手段と、上記クロック入力手
段からのシリアル入力クロック信号と前記選択信号入力
手段からの選択信号とを入力し前記シリアルパラレル変
換手段の変換動作を実施するための制御信号と前記変換
動作の周期に応じて上記メモリセルアレイへの並列デー
タの書き込みを行わせるための制御信号とを発生するデ
ータ入出力制御手段とを設け、上記第1の入出力端子か
ら連続的なシリアルデータの入力を可能としたことを特
徴とするデュアルポート半導体メモリ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61219383A JPH0711916B2 (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | デユアルポ−ト半導体メモリ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61219383A JPH0711916B2 (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | デユアルポ−ト半導体メモリ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6376185A true JPS6376185A (ja) | 1988-04-06 |
| JPH0711916B2 JPH0711916B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=16734556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61219383A Expired - Fee Related JPH0711916B2 (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | デユアルポ−ト半導体メモリ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0711916B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02168496A (ja) * | 1988-09-14 | 1990-06-28 | Kawasaki Steel Corp | 半導体メモリ回路 |
-
1986
- 1986-09-19 JP JP61219383A patent/JPH0711916B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02168496A (ja) * | 1988-09-14 | 1990-06-28 | Kawasaki Steel Corp | 半導体メモリ回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0711916B2 (ja) | 1995-02-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |