JPS637620B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS637620B2 JPS637620B2 JP55183851A JP18385180A JPS637620B2 JP S637620 B2 JPS637620 B2 JP S637620B2 JP 55183851 A JP55183851 A JP 55183851A JP 18385180 A JP18385180 A JP 18385180A JP S637620 B2 JPS637620 B2 JP S637620B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- echo
- signal
- circuit
- gate
- ultrasonic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 2
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/38—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by time filtering, e.g. using time gates
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波エネルギーを利用して固体の非
破壊試験を行なうための電気回路技術に係り、特
に固体内に近接して存在する欠陥を検出するため
の超音波複数エコーゲート回路に関する。
破壊試験を行なうための電気回路技術に係り、特
に固体内に近接して存在する欠陥を検出するため
の超音波複数エコーゲート回路に関する。
従来、固体の非破壊試験に用いる超音波エネル
ギーを使つたゲート回路は超音波パルスエコー原
理を用いて行なう有孔性試験、材質分類及び一般
的非破壊試験等において利用されており、この回
路は複数の所定パルス幅のタイミングゲートを順
次作動し、所定時間開いているゲートに欠陥を表
わすエコー信号を記録している。したがつてこの
種のゲートでは複数個の欠陥が固体内で接近して
存在するときに１個のゲートに２個の欠陥表示信
号が入力し、１個の欠陥として処理されてしまう
欠点を有する外、該欠陥表示信号がちようどタイ
ミングゲートの過渡時刻に受信されるとこの欠陥
表示信号が処理されない場合も生ずる等の欠点を
有していた。この為従来装置ではこのような問題
を処理するために上記２個のタイミングゲートを
重復して開くように構成し、一般に一致回路を追
加して重復部の信号数を処理決定しており、構造
が複雑になるばかりでなく生産コストが高くなる
ものであつた。
ギーを使つたゲート回路は超音波パルスエコー原
理を用いて行なう有孔性試験、材質分類及び一般
的非破壊試験等において利用されており、この回
路は複数の所定パルス幅のタイミングゲートを順
次作動し、所定時間開いているゲートに欠陥を表
わすエコー信号を記録している。したがつてこの
種のゲートでは複数個の欠陥が固体内で接近して
存在するときに１個のゲートに２個の欠陥表示信
号が入力し、１個の欠陥として処理されてしまう
欠点を有する外、該欠陥表示信号がちようどタイ
ミングゲートの過渡時刻に受信されるとこの欠陥
表示信号が処理されない場合も生ずる等の欠点を
有していた。この為従来装置ではこのような問題
を処理するために上記２個のタイミングゲートを
重復して開くように構成し、一般に一致回路を追
加して重復部の信号数を処理決定しており、構造
が複雑になるばかりでなく生産コストが高くなる
ものであつた。
本発明は上記問題に鑑み、一致回路や高価なタ
イミング回路を用いることなく、確実にエコー信
号を受信すると共に正確な測定結果を得ることの
できる超音波複数エコーゲート回路を提供する目
的でなされたもので、超音波受信エコーに対し、
該エコーの範囲を選択受理する基本ゲートを有す
るとともに、第１のエコーの信号保持を行なうと
同時に上記基本ゲート内に於て、任意のｎ個目の
エコーの立下り検知より任意の遅延を持たせてｎ
＋１個目のエコーの信号保持するようにして複数
エコーの選択及び保持の回路手段を成す超音波複
数エコーゲート回路を提供するものである。
イミング回路を用いることなく、確実にエコー信
号を受信すると共に正確な測定結果を得ることの
できる超音波複数エコーゲート回路を提供する目
的でなされたもので、超音波受信エコーに対し、
該エコーの範囲を選択受理する基本ゲートを有す
るとともに、第１のエコーの信号保持を行なうと
同時に上記基本ゲート内に於て、任意のｎ個目の
エコーの立下り検知より任意の遅延を持たせてｎ
＋１個目のエコーの信号保持するようにして複数
エコーの選択及び保持の回路手段を成す超音波複
数エコーゲート回路を提供するものである。
以下、本発明の構成並に作動を図面に従つて説
明する。図面に於て１は同期回路であり該同期回
路１と導体３１を介して基本ゲート２が接続さ
れ、該基本ゲート２は同期回路１よりタイミング
を得るようになると共に、導体３２を介して接続
した比較器３にストローブ信号１２を印加すると
同時に導体３３を介して接続したフリツプフロツ
プ回路４に対し第１エコーサンプリングスタート
信号を印加する。
明する。図面に於て１は同期回路であり該同期回
路１と導体３１を介して基本ゲート２が接続さ
れ、該基本ゲート２は同期回路１よりタイミング
を得るようになると共に、導体３２を介して接続
した比較器３にストローブ信号１２を印加すると
同時に導体３３を介して接続したフリツプフロツ
プ回路４に対し第１エコーサンプリングスタート
信号を印加する。
一方上記比較器３には検出部（図示せず）から
の受信エコー信号１５及び任意に設定可能になる
基準レベル信号１６が入力され、上記ストローブ
信号１２の入力中のエコーで、該エコーの立下り
時に基準レベル信号を横切つたことを検知したと
き比較器３はエコー立下り検知出力信号１７を出
力し、導体３４を介して接続した上記フリツプフ
ロツプ回路４のリセツト端子に入力して第１エコ
ーサンプリング信号１８をリセツトする。各サン
プル・ピークホールド回路Ｓ／PH1〜Ｓ／PHo７
１、７２…７ｎの入力にはそれぞれ導体３５を介
して上記受信エコー信号１５が接続されており、
第１のサンプル・ピークホールド回路Ｓ／PH1７
１に対して導体３６を介し、フリツプフロツプ回
路４の第１エコーサンプリング信号１８を印加
し、この入力によつてサンプル・ピークホールド
回路Ｓ／PH1７１に第１エコーのピーク値がホー
ルドされる。同時に比較器３のエコー立下り検知
出力信号１７は導体３７を介して遅延及び制御回
路５に入力し、エコーの立下りを検知するごとに
任意に遅延できる遅延制御を得て、ｎ段のリング
カウンタ６にタイミングクロツク信号１９として
導体３８を介して出力する。当該リングカウンタ
６の出力は各々第２エコー、第３エコー、…及び
第ｎ番目エコーに対応するサンプル・ピークホー
ルド回路Ｓ／PH2、Ｓ／PH3、…Ｓ／PHoの７
２，７３，…７ｎに導体３９２，３９３，…３９
ｎを介して接続されており、前記各々のサンプ
ル・ピークホールド回路７２，７３，…７ｎに第
２、第３、…及び第ｎのエコーサンプリング信号
２０を出力し、所望の第ｎエコーのピーク値をホ
ールドする。このサンプル・ピークホールド回路
７２，７３，…７ｎにホールドされた各ピークエ
コー値２１２，２１３，…２１ｎは導体４０２，
４０３，…４０ｎを介してマルチプレクサ８に接
続され外部又は内部よりの切換信号２２により該
マルチプレクサ８によつて順次アナログデジタル
変換器９に導体４１を介して出力され、外部又は
内部の変換指令信号２３によつてアナログデジタ
ルに変換されたデータ信号２４と成る。当該変換
されたデータ信号２４は外部又は内部に設けるこ
とのできるメモリー回路等に転送され、所要のデ
ータ処理を行なうものである。
の受信エコー信号１５及び任意に設定可能になる
基準レベル信号１６が入力され、上記ストローブ
信号１２の入力中のエコーで、該エコーの立下り
時に基準レベル信号を横切つたことを検知したと
き比較器３はエコー立下り検知出力信号１７を出
力し、導体３４を介して接続した上記フリツプフ
ロツプ回路４のリセツト端子に入力して第１エコ
ーサンプリング信号１８をリセツトする。各サン
プル・ピークホールド回路Ｓ／PH1〜Ｓ／PHo７
１、７２…７ｎの入力にはそれぞれ導体３５を介
して上記受信エコー信号１５が接続されており、
第１のサンプル・ピークホールド回路Ｓ／PH1７
１に対して導体３６を介し、フリツプフロツプ回
路４の第１エコーサンプリング信号１８を印加
し、この入力によつてサンプル・ピークホールド
回路Ｓ／PH1７１に第１エコーのピーク値がホー
ルドされる。同時に比較器３のエコー立下り検知
出力信号１７は導体３７を介して遅延及び制御回
路５に入力し、エコーの立下りを検知するごとに
任意に遅延できる遅延制御を得て、ｎ段のリング
カウンタ６にタイミングクロツク信号１９として
導体３８を介して出力する。当該リングカウンタ
６の出力は各々第２エコー、第３エコー、…及び
第ｎ番目エコーに対応するサンプル・ピークホー
ルド回路Ｓ／PH2、Ｓ／PH3、…Ｓ／PHoの７
２，７３，…７ｎに導体３９２，３９３，…３９
ｎを介して接続されており、前記各々のサンプ
ル・ピークホールド回路７２，７３，…７ｎに第
２、第３、…及び第ｎのエコーサンプリング信号
２０を出力し、所望の第ｎエコーのピーク値をホ
ールドする。このサンプル・ピークホールド回路
７２，７３，…７ｎにホールドされた各ピークエ
コー値２１２，２１３，…２１ｎは導体４０２，
４０３，…４０ｎを介してマルチプレクサ８に接
続され外部又は内部よりの切換信号２２により該
マルチプレクサ８によつて順次アナログデジタル
変換器９に導体４１を介して出力され、外部又は
内部の変換指令信号２３によつてアナログデジタ
ルに変換されたデータ信号２４と成る。当該変換
されたデータ信号２４は外部又は内部に設けるこ
とのできるメモリー回路等に転送され、所要のデ
ータ処理を行なうものである。
以上説明したように本発明のエコーゲート回路
の構成によれば基本ゲート２によつて不要の受信
エコー信号１５を除去し、超音波試験の必要範囲
に基本ゲート２をかけると共に、ｎ番目エコーの
立下り検知より任意の遅延を得てｎ＋１番目のエ
コーサンプリング信号２０を得ることによつて複
数エコーの処理ができるように成る。
の構成によれば基本ゲート２によつて不要の受信
エコー信号１５を除去し、超音波試験の必要範囲
に基本ゲート２をかけると共に、ｎ番目エコーの
立下り検知より任意の遅延を得てｎ＋１番目のエ
コーサンプリング信号２０を得ることによつて複
数エコーの処理ができるように成る。
即ち本発明によれば、特殊又は高価な回路を付
加することなく複数エコーの処理ができるだけで
なく、遅延及び制御回路５を操作調整することに
より、任意の遅延値を小さくしてエコーの微細な
起伏データを得ることができると共に、該遅延値
を適当に大きくすることにより、単一欠陥のエコ
ー後端にスロープで見られる微細なエコーに一種
のマスキングを行なうようになり、データ処理に
於ける繁雑さを除去することができる等の特徴を
有する。また本発明エコーゲート回路装置は複数
のエコー処理が特殊な付加回路を用いることなく
行なえるため、生産コストも低く提供できる等の
特徴を有し本発明実施後の非破壊試験技術に及ぼ
す影響は大である。
加することなく複数エコーの処理ができるだけで
なく、遅延及び制御回路５を操作調整することに
より、任意の遅延値を小さくしてエコーの微細な
起伏データを得ることができると共に、該遅延値
を適当に大きくすることにより、単一欠陥のエコ
ー後端にスロープで見られる微細なエコーに一種
のマスキングを行なうようになり、データ処理に
於ける繁雑さを除去することができる等の特徴を
有する。また本発明エコーゲート回路装置は複数
のエコー処理が特殊な付加回路を用いることなく
行なえるため、生産コストも低く提供できる等の
特徴を有し本発明実施後の非破壊試験技術に及ぼ
す影響は大である。
図面は本発明超音波複数エコーゲート回路の一
実施例を示すブロツクダイヤグラムである。 １：同期回路、２：基本ゲート、３：比較器、
４：フリツプフロツプ回路、５：遅延及び制御回
路、６：リングカウンタ、７１，７２，…７ｎ：
サンプル・ピークホールド回路、８：マルチプレ
クサ、９：アナログ・デジタル変換器、１５：受
信エコー信号、１６：基準レベル信号、１７：エ
コー立下り検知出力信号、１８：第１エコーサン
プリング信号、１９：タイミングクロツク信号、
２０：エコーサンプリング信号、２１２，２１
３，…２１ｎ：ピークエコー値、２２：切換信
号、２３：変換指令信号、２４：データ信号。
実施例を示すブロツクダイヤグラムである。 １：同期回路、２：基本ゲート、３：比較器、
４：フリツプフロツプ回路、５：遅延及び制御回
路、６：リングカウンタ、７１，７２，…７ｎ：
サンプル・ピークホールド回路、８：マルチプレ
クサ、９：アナログ・デジタル変換器、１５：受
信エコー信号、１６：基準レベル信号、１７：エ
コー立下り検知出力信号、１８：第１エコーサン
プリング信号、１９：タイミングクロツク信号、
２０：エコーサンプリング信号、２１２，２１
３，…２１ｎ：ピークエコー値、２２：切換信
号、２３：変換指令信号、２４：データ信号。
Claims (1)
- １ 超音波非破壊探傷装置の複数エコー処理に於
て、超音波受信エコー信号に対し、該信号受信範
囲を選択受信する基本ゲートと、該基本ゲートの
出力信号中のエコーと基準レベルとを比較し、エ
コー立下がり時に該基準レベルを横切る時、信号
を出力する比較器を含み、上記基本ゲート出力に
よる第１番目の信号保持を行なうと共にｎ番目の
エコー立下がり検知より、任意の遅延を得てｎ＋
１番目のエコーサンプリングを得るようになる遅
延及び制御回路と、各エコーサンプルのピーク値
をホールドするｎ個のサンプルピークホールド回
路とからなる超音波複数エコーゲート回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55183851A JPS57108658A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Circuit having plurality of ultrasonic wave echo gates |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55183851A JPS57108658A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Circuit having plurality of ultrasonic wave echo gates |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57108658A JPS57108658A (en) | 1982-07-06 |
| JPS637620B2 true JPS637620B2 (ja) | 1988-02-17 |
Family
ID=16142935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55183851A Granted JPS57108658A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Circuit having plurality of ultrasonic wave echo gates |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57108658A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6059152U (ja) * | 1983-09-28 | 1985-04-24 | 三菱電機株式会社 | 超音波探傷装置 |
| JP2526818Y2 (ja) * | 1991-03-27 | 1997-02-26 | 豊田工機株式会社 | スライドカバー装置 |
| JP3042189B2 (ja) * | 1992-06-26 | 2000-05-15 | 九州電力株式会社 | 超音波測定装置 |
-
1980
- 1980-12-26 JP JP55183851A patent/JPS57108658A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57108658A (en) | 1982-07-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3973197A (en) | Peak detector | |
| EP0402134A3 (en) | Delay fault testing apparatus | |
| US3872715A (en) | Ultrasonic pulse-echo gate circuit | |
| RU2150698C1 (ru) | Многоканальное акустико-эмиссионное устройство для контроля изделий | |
| EP0177557A1 (en) | COUNTING APPARATUS AND FREQUENCY SAMPLING METHOD. | |
| JPS637620B2 (ja) | ||
| RU2105301C1 (ru) | Многоканальное акустико-эмиссионное устройство для контроля изделий | |
| GB2148638A (en) | A/D converters | |
| US6378092B1 (en) | Integrated circuit testing | |
| KR940004332A (ko) | 회로 테스트 방법 및 지연 결함 검출장치 | |
| JPS58151556A (ja) | 超音波欠陥検出装置の信号分析装置 | |
| SU1589204A1 (ru) | Многоканальное акустико-эмиссионное устройство дл контрол изделий | |
| US3643169A (en) | Waveform sensing and tracking system | |
| US5457637A (en) | Flash waveform analyzer method and device | |
| SU1171707A1 (ru) | Устройство дл контрол качества изделий | |
| JPS57169683A (en) | Measuring device for electric current consumption | |
| SU968744A1 (ru) | Устройство дл контрол материалов по сигналам акустической эмиссии | |
| JPS63209099A (ja) | ピ−ク値検出回路 | |
| JPH0243139B2 (ja) | ||
| SU1298719A1 (ru) | Устройство сбора дефектоскопической информации | |
| SU864191A1 (ru) | Устройство дл индикации времени задержки переключающих элементов | |
| JPS6081633A (ja) | デ−タ収集装置 | |
| JPH0142038Y2 (ja) | ||
| SU1345222A1 (ru) | Устройство дл контрол работы транспортного средства | |
| SU658509A1 (ru) | Устройство дл контрол логических блоков |