JPS63848B2 - - Google Patents
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- JPS63848B2 JPS63848B2 JP11470681A JP11470681A JPS63848B2 JP S63848 B2 JPS63848 B2 JP S63848B2 JP 11470681 A JP11470681 A JP 11470681A JP 11470681 A JP11470681 A JP 11470681A JP S63848 B2 JPS63848 B2 JP S63848B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/005—Reproducing
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は安定で正確な情報記録を行い得る光情
報記録方式に関する。
報記録方式に関する。
近時、光デイスクを情報記録媒体とした大容量
メモリ装置が注目されている。例えばアクリル盤
やガラス盤上に光記録材料としてTeやBi等の金
属薄膜を形成してなる光記録媒体に、記録信号に
応じてパルス変調した1μmφ程度のレーザ光を照
射し、このレーザ光によるジユール熱で上記金属
薄膜を溶解してピツトを形成して情報記録が行わ
れる。この場合、記録信号のビツトデータ“0”
あるいは“1”に対応させてビツトデータ“1”
のときにのみピツトを形成したり、あるいは記録
容量の増大を図る為に上記信号をMFMや3PM等
の変調を施し、この変調信号のビツトデータに対
応してピツト形成する等して情報記録が行われ
る。
メモリ装置が注目されている。例えばアクリル盤
やガラス盤上に光記録材料としてTeやBi等の金
属薄膜を形成してなる光記録媒体に、記録信号に
応じてパルス変調した1μmφ程度のレーザ光を照
射し、このレーザ光によるジユール熱で上記金属
薄膜を溶解してピツトを形成して情報記録が行わ
れる。この場合、記録信号のビツトデータ“0”
あるいは“1”に対応させてビツトデータ“1”
のときにのみピツトを形成したり、あるいは記録
容量の増大を図る為に上記信号をMFMや3PM等
の変調を施し、この変調信号のビツトデータに対
応してピツト形成する等して情報記録が行われ
る。
第1図a〜gはその一例を示すもので、aに示
す記録情報データを同図bに示すようにMFM変
調し、この変調信号に応じてレーザ光出力を同図
cに示すように変調して光デイスクに照射する。
この変調レーザ光によつて光デイスク上には第1
図dに示すようにビツトデータ長に応じた長さの
ピツトが形成され、ここに情報記録が行われる。
ところが上記ピツトを形成するレーザ光の一部は
光デイスクの基板を伝達してピツト位置周囲を予
熱する為、ビツトデータ長が長く、この結果レー
ザ光照射時間が長い場合には第1図dに示すよう
に一定の照射エネルギに比してピツト長が長くな
ると云う不具合がある。この為、上記ピツトに読
出し用レーザ光を照射して第1図eに示すように
情報を読出し、その信号を同図fに示す如く波形
整形して再生したとき、第1図gに示すように信
号のずれを招来する。この信号の立上りおよび立
下り点におけるずれは読出しデータの誤りの原因
となるもので、誤り率の増大を招いた。
す記録情報データを同図bに示すようにMFM変
調し、この変調信号に応じてレーザ光出力を同図
cに示すように変調して光デイスクに照射する。
この変調レーザ光によつて光デイスク上には第1
図dに示すようにビツトデータ長に応じた長さの
ピツトが形成され、ここに情報記録が行われる。
ところが上記ピツトを形成するレーザ光の一部は
光デイスクの基板を伝達してピツト位置周囲を予
熱する為、ビツトデータ長が長く、この結果レー
ザ光照射時間が長い場合には第1図dに示すよう
に一定の照射エネルギに比してピツト長が長くな
ると云う不具合がある。この為、上記ピツトに読
出し用レーザ光を照射して第1図eに示すように
情報を読出し、その信号を同図fに示す如く波形
整形して再生したとき、第1図gに示すように信
号のずれを招来する。この信号の立上りおよび立
下り点におけるずれは読出しデータの誤りの原因
となるもので、誤り率の増大を招いた。
本発明はこのような事情を考慮してなされたも
ので、その目的とするところは、ピツト長の変化
によるデータ誤りを招く虞れがなく、常に簡易に
して安定で、且つ正確な情報記録を行い得る光情
報記録方式を提供することにある。
ので、その目的とするところは、ピツト長の変化
によるデータ誤りを招く虞れがなく、常に簡易に
して安定で、且つ正確な情報記録を行い得る光情
報記録方式を提供することにある。
本発明の概要はビツトデータの“0”または
“1”に対応したピツト形成期間に所定寸法のピ
ツトを所定間隔で複数個形成して上記データをピ
ツトの列で示すことにより、常に安定で正確な情
報記録を可能として、上述した目的を効果的に達
成したものである。
“1”に対応したピツト形成期間に所定寸法のピ
ツトを所定間隔で複数個形成して上記データをピ
ツトの列で示すことにより、常に安定で正確な情
報記録を可能として、上述した目的を効果的に達
成したものである。
以下、図面を参照して本発明の一実施例につき
説明する。
説明する。
第2図a〜jは一実施例方式による信号記録形
態とその読出し形態を示す図である。今、第2図
aに示す如きデータ列の信号を光情報記録せんと
するとき、同信号は先ず第2図bに示すように
MFM変調される。しかしてこのMFM変調され
た信号は、例えばその最小ピツト長Tの1/2の周
期長を有する第2図cに示す書込みクロツク信号
によりサンプリングされ、所定寸法径の例えばレ
ーザ光スポツトの変調に供される。この変調によ
つて上記レーザ光はその出力を第2図dに示す如
く変調されて光デイスクに照射される。しかして
光デイスクでは上レーザ光を受けて第2図eに示
す如く所定寸法のピツトを形成する。尚、ここで
は変調信号のビツトデータ“1”に対応し、デー
タの最小ビツト長Tで2個のピツトを形成する例
が示されている。そして、このMFM変調された
信号のビツトデータ“1”の信号幅がT、3/
2T、2Tの3種からなることから、2個、3個、
4個のピツト列が上記ビツトデータ長に対応して
形成されるものとなつている。
態とその読出し形態を示す図である。今、第2図
aに示す如きデータ列の信号を光情報記録せんと
するとき、同信号は先ず第2図bに示すように
MFM変調される。しかしてこのMFM変調され
た信号は、例えばその最小ピツト長Tの1/2の周
期長を有する第2図cに示す書込みクロツク信号
によりサンプリングされ、所定寸法径の例えばレ
ーザ光スポツトの変調に供される。この変調によ
つて上記レーザ光はその出力を第2図dに示す如
く変調されて光デイスクに照射される。しかして
光デイスクでは上レーザ光を受けて第2図eに示
す如く所定寸法のピツトを形成する。尚、ここで
は変調信号のビツトデータ“1”に対応し、デー
タの最小ビツト長Tで2個のピツトを形成する例
が示されている。そして、このMFM変調された
信号のビツトデータ“1”の信号幅がT、3/
2T、2Tの3種からなることから、2個、3個、
4個のピツト列が上記ビツトデータ長に対応して
形成されるものとなつている。
しかして、このようなピツト列を形成してなる
光デイスクを読出し用レーザ光を用いて走査し、
その反射光情報を取出せば、その読出し信号波形
は第2図fに示すようになる。この読出し信号波
形を第2図gに示す読出しクロツク信号によりサ
ンプリングし、同図hに示すゲート信号を受けて
データを抽出すれば、その再生情報は同図iに示
すようになる。尚、上記読出しクロツク信号は前
記書込みクロツク信号に比して、その位相が90゜
遅れたものとなつており、これによつてビツトデ
ータ中央部の波形安定した情報成分が抽出される
ようになつている。かくしてこのように再生され
た信号を復調すれば第2図jに示す如きデータ列
を得ることができ、信号エツジのずれに起因する
データ誤りが生じることがない。
光デイスクを読出し用レーザ光を用いて走査し、
その反射光情報を取出せば、その読出し信号波形
は第2図fに示すようになる。この読出し信号波
形を第2図gに示す読出しクロツク信号によりサ
ンプリングし、同図hに示すゲート信号を受けて
データを抽出すれば、その再生情報は同図iに示
すようになる。尚、上記読出しクロツク信号は前
記書込みクロツク信号に比して、その位相が90゜
遅れたものとなつており、これによつてビツトデ
ータ中央部の波形安定した情報成分が抽出される
ようになつている。かくしてこのように再生され
た信号を復調すれば第2図jに示す如きデータ列
を得ることができ、信号エツジのずれに起因する
データ誤りが生じることがない。
つまり、光デイスク上に、記録信号のビツトデ
ータ長に対応して所定寸法のピツトを所定間隔で
複数個形成して情報記録がなされているので、こ
の情報を読出した際の信号波形の幅(長さ)が正
確に定められる。従つて信号波形エツジのずれが
生じることがなく、このエツジのずれに起因する
データ誤りを招く虞れがなくなる。
ータ長に対応して所定寸法のピツトを所定間隔で
複数個形成して情報記録がなされているので、こ
の情報を読出した際の信号波形の幅(長さ)が正
確に定められる。従つて信号波形エツジのずれが
生じることがなく、このエツジのずれに起因する
データ誤りを招く虞れがなくなる。
さて、本方式を採用して実現される光情報記録
再生装置は、例えば第3図に示すように構成され
る。即ち、光情報記録再生装置は、光デイスクA
の記録面に対向配置され、相対的に移動自在に設
けられたヘツドB、このヘツドBに記録制御信号
を与える情報記録部C、そして上記ヘツドBを介
して光デイスクAから読出された情報を再生する
情報再生部Dとによつて構成される。
再生装置は、例えば第3図に示すように構成され
る。即ち、光情報記録再生装置は、光デイスクA
の記録面に対向配置され、相対的に移動自在に設
けられたヘツドB、このヘツドBに記録制御信号
を与える情報記録部C、そして上記ヘツドBを介
して光デイスクAから読出された情報を再生する
情報再生部Dとによつて構成される。
記録に供される情報データは情報記録部Cに導
びかれて、そのバツフアメモリ1に一時記憶され
る。このバツフアメモリ1に格納されたデータは
記録クロツク発生部2が出力する書込みクロツク
信号に同期して読出され、変調回路3にて例えば
MFM変調される。この変調回路3は上記記録デ
ータのMFM変調を行うだけでなく、定められた
記録フオーマツトに従つてアドレス情報信号、同
期信号、頭出しコード信号等を発生して上記変調
データに挿入している。しかして駆動回路4は、
前記記録クロツク発生部2からの書込みクロツク
に同期して上記MFM変調データ列のビツトデー
タ“0”、“1”に対応して、例えばビツトデータ
“1”であるときにパルス信号を生成してこれを
ヘツドBに与えている。このパルス信号はビツト
データ“1”の最小期間がTであるとき、T/2
なる時間間隔で2個のパルスを発するものであ
り、またビツトデータ“1”の期間が3/2T、
2Tの場合にはそれぞれ3個、4個のパルスを
T/2なる間隔で発生するものとなつている。従
つて、このように構成された情報記録部Cでは、
光情報記録するビツトデータ“1”の長さに対応
して、所定間隔(T/2)で複数のパルス信号が
生成されており、このパルス信号をヘツドBに供
給して、ヘツドBの光スポツト発生光源を駆動す
るようになつている。
びかれて、そのバツフアメモリ1に一時記憶され
る。このバツフアメモリ1に格納されたデータは
記録クロツク発生部2が出力する書込みクロツク
信号に同期して読出され、変調回路3にて例えば
MFM変調される。この変調回路3は上記記録デ
ータのMFM変調を行うだけでなく、定められた
記録フオーマツトに従つてアドレス情報信号、同
期信号、頭出しコード信号等を発生して上記変調
データに挿入している。しかして駆動回路4は、
前記記録クロツク発生部2からの書込みクロツク
に同期して上記MFM変調データ列のビツトデー
タ“0”、“1”に対応して、例えばビツトデータ
“1”であるときにパルス信号を生成してこれを
ヘツドBに与えている。このパルス信号はビツト
データ“1”の最小期間がTであるとき、T/2
なる時間間隔で2個のパルスを発するものであ
り、またビツトデータ“1”の期間が3/2T、
2Tの場合にはそれぞれ3個、4個のパルスを
T/2なる間隔で発生するものとなつている。従
つて、このように構成された情報記録部Cでは、
光情報記録するビツトデータ“1”の長さに対応
して、所定間隔(T/2)で複数のパルス信号が
生成されており、このパルス信号をヘツドBに供
給して、ヘツドBの光スポツト発生光源を駆動す
るようになつている。
さて、ヘツドBは、光源としての半導体レーザ
素子5を備え、同レーザ素子5から発生出力され
るレーザ光をレンズ6、偏光ビームスプリツタ
7、1/4波長板8を介したのち、対物レンズ9を
介して略1μmφのスポツト径に集束して光デイス
クAに照射する如く構成される。またこの照射レ
ーザの光デイスクAによる反射光は上記対物レン
ズ9から1/4波長板8を介して偏光ビームスプリ
ツタ7に導かれ、同スプリツタ7にて側方向に光
分割して取出されるようになつている。この側方
向に取出された光は受光器10により受光され、
光電変換されたのちバツフアアンプ11を介して
焦点制御部12に与えられる。この焦点制御部1
2は、その入力信号、つまり受光器10による受
光信号に応じて前記対物レンズ9を支持するボイ
スコイル13を駆動し、対物レンズ9の支持位置
を上下するものである。即ち、光デイスクAとヘ
ツドBとの対向距離は、光デイスクAのそり等に
起因して変動し、この結果前記レーザ光の照射ス
ポツト径が焦点位置ずれによつて変化することが
ある。これを防ぐ為、照射レーザ光の反射光を受
光器10で検知し、その状態に応じて焦点制御部
12はボイスコイル13を駆動して、常に略1μm
径のビーム径が得られるべく、自動焦点制御を行
つている。この自動焦点制御の下で、前記半導体
レーザ素子5が情報記録部Cからのパルス信号を
受けて駆動され、その出力を強度変調する。この
結果ヘツドBからは先の第2図dに示す如き変調
されたスポツト光がデイスクAに照射され、光デ
イスクAにピツトの列を形成して情報記録が行わ
れることになる。この照射光の変調は、例えば光
デイスクA上にピツトを形成するに十分な強度
Pwと、ピツト形成に寄与しない低レベルの反射
光を得るだけに十分な強度PRとの2つのレベル
に選択的に切替えることによつて行われる。従つ
てピツトを形成することのない非信号記録時に
も、低レベルのスポツト光が光デイスクAに照射
されており、その反射光から前述した自動焦点制
御が行われるようになつている。かくしてここ
に、所定寸法のピツトの列によつて示される情報
記録が行われる。そして、MFM変調された信号
の時間幅変化は、連続して複数個形成される同一
寸法、所定間隔のピツトの数の変化として記録さ
れることになる。
素子5を備え、同レーザ素子5から発生出力され
るレーザ光をレンズ6、偏光ビームスプリツタ
7、1/4波長板8を介したのち、対物レンズ9を
介して略1μmφのスポツト径に集束して光デイス
クAに照射する如く構成される。またこの照射レ
ーザの光デイスクAによる反射光は上記対物レン
ズ9から1/4波長板8を介して偏光ビームスプリ
ツタ7に導かれ、同スプリツタ7にて側方向に光
分割して取出されるようになつている。この側方
向に取出された光は受光器10により受光され、
光電変換されたのちバツフアアンプ11を介して
焦点制御部12に与えられる。この焦点制御部1
2は、その入力信号、つまり受光器10による受
光信号に応じて前記対物レンズ9を支持するボイ
スコイル13を駆動し、対物レンズ9の支持位置
を上下するものである。即ち、光デイスクAとヘ
ツドBとの対向距離は、光デイスクAのそり等に
起因して変動し、この結果前記レーザ光の照射ス
ポツト径が焦点位置ずれによつて変化することが
ある。これを防ぐ為、照射レーザ光の反射光を受
光器10で検知し、その状態に応じて焦点制御部
12はボイスコイル13を駆動して、常に略1μm
径のビーム径が得られるべく、自動焦点制御を行
つている。この自動焦点制御の下で、前記半導体
レーザ素子5が情報記録部Cからのパルス信号を
受けて駆動され、その出力を強度変調する。この
結果ヘツドBからは先の第2図dに示す如き変調
されたスポツト光がデイスクAに照射され、光デ
イスクAにピツトの列を形成して情報記録が行わ
れることになる。この照射光の変調は、例えば光
デイスクA上にピツトを形成するに十分な強度
Pwと、ピツト形成に寄与しない低レベルの反射
光を得るだけに十分な強度PRとの2つのレベル
に選択的に切替えることによつて行われる。従つ
てピツトを形成することのない非信号記録時に
も、低レベルのスポツト光が光デイスクAに照射
されており、その反射光から前述した自動焦点制
御が行われるようになつている。かくしてここ
に、所定寸法のピツトの列によつて示される情報
記録が行われる。そして、MFM変調された信号
の時間幅変化は、連続して複数個形成される同一
寸法、所定間隔のピツトの数の変化として記録さ
れることになる。
ところで、このようにして記録された光デイス
クA上の情報は次のようにして読出される。この
情報読出し時には、半導体レーザ素子5は情報読
出しに必要な程度の十分低レベルの強度PRのス
ポツト光を照射し、ヘツドBはその反射光を検出
することになる。この反射光検出信号は前記バツ
フアアンプ11を介して所定レベルに増幅された
のち、情報再生部Dに導びかれる。この情報読出
し時においても前述した自動焦点調整がなされる
ことは云うまでもない。またこのときの光スポツ
ト径も略1μmφに定められる。
クA上の情報は次のようにして読出される。この
情報読出し時には、半導体レーザ素子5は情報読
出しに必要な程度の十分低レベルの強度PRのス
ポツト光を照射し、ヘツドBはその反射光を検出
することになる。この反射光検出信号は前記バツ
フアアンプ11を介して所定レベルに増幅された
のち、情報再生部Dに導びかれる。この情報読出
し時においても前述した自動焦点調整がなされる
ことは云うまでもない。またこのときの光スポツ
ト径も略1μmφに定められる。
しかして、読出された信号波形には、ピツトの
間隔に相当する脈動分が重畳されており、その周
期はT/2となつている。このような読出し信号
は、情報再生部Dにおいて、復調回路14と共に
読出しクロツク再生部15にそれぞれ入力され
る。読出しクロツク再生部15は後述するように
読出し信号のデータ変化点を検出して、つまり読
出し信号に含まれる脈動成分から周波数および位
相の制御された周期T/2の読出しクロツクを再
生しており、この読出しクロツク信号を復調回路
14およびバツフアメモリ16に供給している。
復調回路14はこの読出しクロツク信号に従つて
上記読出し信号を波形整形し、データ復調するも
ので、これにより復調された再生データはバツフ
アメモリ16に一時記憶される。このバツフアメ
モリ16に格納されたデータを読出すことによ
り、ここに光デイスク記録情報の再生が行われる
ことになる。尚、この場合、上記データの復調が
従来のように読出し信号の立上りおよび立下りを
検出して行うものとは異なり、上記読出し信号に
含まれる脈動成分として重畳している記録クロツ
ク成分の検出およびこの検出によつて生成された
読出しクロツクに従つて行われるので非常に安定
したものとなる。従つてデータ誤り率の大幅な改
善を図り得る。
間隔に相当する脈動分が重畳されており、その周
期はT/2となつている。このような読出し信号
は、情報再生部Dにおいて、復調回路14と共に
読出しクロツク再生部15にそれぞれ入力され
る。読出しクロツク再生部15は後述するように
読出し信号のデータ変化点を検出して、つまり読
出し信号に含まれる脈動成分から周波数および位
相の制御された周期T/2の読出しクロツクを再
生しており、この読出しクロツク信号を復調回路
14およびバツフアメモリ16に供給している。
復調回路14はこの読出しクロツク信号に従つて
上記読出し信号を波形整形し、データ復調するも
ので、これにより復調された再生データはバツフ
アメモリ16に一時記憶される。このバツフアメ
モリ16に格納されたデータを読出すことによ
り、ここに光デイスク記録情報の再生が行われる
ことになる。尚、この場合、上記データの復調が
従来のように読出し信号の立上りおよび立下りを
検出して行うものとは異なり、上記読出し信号に
含まれる脈動成分として重畳している記録クロツ
ク成分の検出およびこの検出によつて生成された
読出しクロツクに従つて行われるので非常に安定
したものとなる。従つてデータ誤り率の大幅な改
善を図り得る。
以上、本方式による光情報記録と、その情報読
出しにつき説明したが、その重要な事項につき、
更に説明する。
出しにつき説明したが、その重要な事項につき、
更に説明する。
第4図a,bおよび第5図は、読出し信号の脈
動分がピツト間隔とビーム径によつてどのように
変化するかを示すものであり、第4図aはピツト
の径がビーム光の径に等しく、且つピツトの間隔
Δdがビーム径の1/10である場合、また第4図b
はピツト径がビーム径に比して小さくなつてお
り、その間隔Δdが大きくなつた例を示している。
このピツト径が小さくなる原因としては、書込み
条件が同じであつてレーザ光の照射エネルギが減
少したり、あるいは光デイスクの光感度が減少し
たりすること等が挙げられる。そして、このよう
な場合における読出し信号波形は、第5図中、特
性a,bにそれぞれ示すようになり、例えば上記
第4図aに示す条件下で読出し信号の脈動成分は
14%程度となる。
動分がピツト間隔とビーム径によつてどのように
変化するかを示すものであり、第4図aはピツト
の径がビーム光の径に等しく、且つピツトの間隔
Δdがビーム径の1/10である場合、また第4図b
はピツト径がビーム径に比して小さくなつてお
り、その間隔Δdが大きくなつた例を示している。
このピツト径が小さくなる原因としては、書込み
条件が同じであつてレーザ光の照射エネルギが減
少したり、あるいは光デイスクの光感度が減少し
たりすること等が挙げられる。そして、このよう
な場合における読出し信号波形は、第5図中、特
性a,bにそれぞれ示すようになり、例えば上記
第4図aに示す条件下で読出し信号の脈動成分は
14%程度となる。
そこで今、できる限り高密度な記録を行わんと
する場合には、各ピツトの寸法およびその間隔を
できるだけ小さくすればよいことが判る。然し乍
らピツトの寸法は情報の記録時および読出し時に
おける光スポツトの径の制限を受ける。特に読出
し時においては、光スポツトの径に対してピツト
の径が小さくなるに従つてピツト部における読出
し信号の変調度が低下し、そのS/Nが悪くな
る。これ故、光スポツト径が略1μmである場合に
は、ピツト径も略1μm程度とすることが望まし
い。一方、ピツトの間隔は第5図に示す特性から
も明らかなように、その間隔がピツトの径の1/10
程度であつても十分な脈動成分検出が可能であ
る。逆にピツト間隔が長くなるので脈動成分の変
調度が大きくなり、この結果、データ“0”と
“1”との判定との間の区別がつかなくなるので、
データ復調処理等に悪影響を及ぼす。従つて、望
ましくは、ピツト中心部の読出し信号に対して、
ピツトの中間位置の読出し信号のレベル変化を2
値化レベルの1/2以下に抑えるべく、ピツト間隔
を光スポツト径の1/2以下に設定すればよい。
する場合には、各ピツトの寸法およびその間隔を
できるだけ小さくすればよいことが判る。然し乍
らピツトの寸法は情報の記録時および読出し時に
おける光スポツトの径の制限を受ける。特に読出
し時においては、光スポツトの径に対してピツト
の径が小さくなるに従つてピツト部における読出
し信号の変調度が低下し、そのS/Nが悪くな
る。これ故、光スポツト径が略1μmである場合に
は、ピツト径も略1μm程度とすることが望まし
い。一方、ピツトの間隔は第5図に示す特性から
も明らかなように、その間隔がピツトの径の1/10
程度であつても十分な脈動成分検出が可能であ
る。逆にピツト間隔が長くなるので脈動成分の変
調度が大きくなり、この結果、データ“0”と
“1”との判定との間の区別がつかなくなるので、
データ復調処理等に悪影響を及ぼす。従つて、望
ましくは、ピツト中心部の読出し信号に対して、
ピツトの中間位置の読出し信号のレベル変化を2
値化レベルの1/2以下に抑えるべく、ピツト間隔
を光スポツト径の1/2以下に設定すればよい。
また第4図a,bおよび第5図に示されるよう
に、読出し信号の脈動成分のピーク点は、時間軸
上で位置変化することがない。つまり、脈動成分
の周期は、ピツトの形成位置の間隔(中心間距
離)にのみ依存し、ピツト寸法には影響されな
い。しかも、この脈動成分の周期はピツト間隔に
対応してT/2と正確に規定されたものとなつて
いる。従つてこの脈動成分を検出すれば、読出し
信号のデータ復調(MFM復調)に必要な読出し
クロツクを十分正確に再生することが可能であ
る。
に、読出し信号の脈動成分のピーク点は、時間軸
上で位置変化することがない。つまり、脈動成分
の周期は、ピツトの形成位置の間隔(中心間距
離)にのみ依存し、ピツト寸法には影響されな
い。しかも、この脈動成分の周期はピツト間隔に
対応してT/2と正確に規定されたものとなつて
いる。従つてこの脈動成分を検出すれば、読出し
信号のデータ復調(MFM復調)に必要な読出し
クロツクを十分正確に再生することが可能であ
る。
第6図はこの脈動成分から読出しクロツクを再
生する前記読出しクロツク発生部15の一例を示
す構成図であり、第7図a〜dはその動作波形図
である。
生する前記読出しクロツク発生部15の一例を示
す構成図であり、第7図a〜dはその動作波形図
である。
即ち、光デイスクAよりヘツドBを介して読出
された読出し信号は帯域通過フイルタ21に入力
され、読出し信号に含まれるピツト記録周期
(T/2)なる脈動信号成分を得る。またこの読
出し信号は2値化回路22に導かれて2値化さ
れ、位相比較ゲート信号として出力される。一
方、略2f(f=1/T)なる周波数で発振する電圧制 御発振器23の出力信号は帯域通過フイルタ24
を介して位相比較器25に導びかれる。この位相
比較器25は前記ゲート信号が与えられている期
間、各フイルタ21,24を介して与えられる信
号の位相を比較するもので、その位相差信号は低
域通過フイルタ26を介して前記電圧制御発振器
23に与えられている。このフイルタ26を介し
て抽出される位相差成分に応じて電圧制御発振器
23はその発振周波数および信号位相を変え、発
振出力の前記脈動成分に対する同期が確立されて
いる。つまり、読出しクロツク発生部15は
PLL回路によつて実現されており、電圧制御発
振器23の出力が再生読出しクロツク信号として
取出されている。尚、ゲート信号は読出し信号に
脈動成分が存在する期間だけ位相比較を行わしめ
るものであり、これによつて信号位相ずれが生じ
たときにのみ、ループ制御動作が行われるように
なつている。
された読出し信号は帯域通過フイルタ21に入力
され、読出し信号に含まれるピツト記録周期
(T/2)なる脈動信号成分を得る。またこの読
出し信号は2値化回路22に導かれて2値化さ
れ、位相比較ゲート信号として出力される。一
方、略2f(f=1/T)なる周波数で発振する電圧制 御発振器23の出力信号は帯域通過フイルタ24
を介して位相比較器25に導びかれる。この位相
比較器25は前記ゲート信号が与えられている期
間、各フイルタ21,24を介して与えられる信
号の位相を比較するもので、その位相差信号は低
域通過フイルタ26を介して前記電圧制御発振器
23に与えられている。このフイルタ26を介し
て抽出される位相差成分に応じて電圧制御発振器
23はその発振周波数および信号位相を変え、発
振出力の前記脈動成分に対する同期が確立されて
いる。つまり、読出しクロツク発生部15は
PLL回路によつて実現されており、電圧制御発
振器23の出力が再生読出しクロツク信号として
取出されている。尚、ゲート信号は読出し信号に
脈動成分が存在する期間だけ位相比較を行わしめ
るものであり、これによつて信号位相ずれが生じ
たときにのみ、ループ制御動作が行われるように
なつている。
第7図aは読出し信号波形の一例を示すもの
で、帯域通過フイルタ21は同図bに示すように
その脈動成分のみを抽出している。また第7図c
は2値化回路22によつて得られたゲート信号を
示している。しかしてこのような信号を受ける上
記PLL回路(読出しクロツク発生部15)は電
圧制御発振器23から第7図cに示す発振出力を
得て安定動作し、これによつて読出しクロツクが
再生されることになる。
で、帯域通過フイルタ21は同図bに示すように
その脈動成分のみを抽出している。また第7図c
は2値化回路22によつて得られたゲート信号を
示している。しかしてこのような信号を受ける上
記PLL回路(読出しクロツク発生部15)は電
圧制御発振器23から第7図cに示す発振出力を
得て安定動作し、これによつて読出しクロツクが
再生されることになる。
以上のように、ピツトの列として情報記録する
ことによつて、その情報読出しを安定に且つ正確
に行うことが可能となり、データ誤り率の改善を
図ることができる。しかも、従来のように使用環
境やその他に大きな制約を受けることがなく、実
用性に優れる等の絶大なる効果を奏する。
ことによつて、その情報読出しを安定に且つ正確
に行うことが可能となり、データ誤り率の改善を
図ることができる。しかも、従来のように使用環
境やその他に大きな制約を受けることがなく、実
用性に優れる等の絶大なる効果を奏する。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものでは
ない。例えば実施例ではMFM変調した信号デー
タを記録するようにしたが、変調前の情報データ
をそのまま記録してもよく、更には3PM変調等、
他の変調方式を採用して変調されたデータを記録
するようにしてもよい。またピツトの寸法や、そ
の間隔等も光スポツトの径に応じて定めればよ
い。要するに本発明はその要旨を逸脱しない範囲
で種々変調することができる。
ない。例えば実施例ではMFM変調した信号デー
タを記録するようにしたが、変調前の情報データ
をそのまま記録してもよく、更には3PM変調等、
他の変調方式を採用して変調されたデータを記録
するようにしてもよい。またピツトの寸法や、そ
の間隔等も光スポツトの径に応じて定めればよ
い。要するに本発明はその要旨を逸脱しない範囲
で種々変調することができる。
第1図a〜gは従来方式による光情報記録の一
例を示す図、第2図a〜jは本発明の一実施例方
式による光情報記録とその読出しを示す図、第3
図は本方式を適用した光情報記録再生装置の概略
構成図、第4図a,bおよび第5図は本方式にお
ける情報読出し作用を示す図、第6図は読出しク
ロツク発生部の一例を示す構成図、第7図a〜d
は読出しクロツク再生を示す信号波形図である。 A…光デイスク、B…ヘツド、C…情報記録
部、D…情報再生部、1…バツフアメモリ、2…
記録クロツク発生部、3…変調回路、4…駆動回
路、5…半導体レーザ素子、6…レンズ、7…偏
光ビームスプリツタ、8…1/4波長板、9…対物
レンズ、10…受光器、11…バツフアアンプ、
12…焦点制御部、13…ボイスコイル、14…
復調回路、15…読出しクロツク発生部、16…
バツフアメモリ、21…帯域通過フイルタ、22
…2値化回路、23…電圧制御発振器、24…帯
域通過フイルタ、25…位相比較器、26…低域
通過フイルタ。
例を示す図、第2図a〜jは本発明の一実施例方
式による光情報記録とその読出しを示す図、第3
図は本方式を適用した光情報記録再生装置の概略
構成図、第4図a,bおよび第5図は本方式にお
ける情報読出し作用を示す図、第6図は読出しク
ロツク発生部の一例を示す構成図、第7図a〜d
は読出しクロツク再生を示す信号波形図である。 A…光デイスク、B…ヘツド、C…情報記録
部、D…情報再生部、1…バツフアメモリ、2…
記録クロツク発生部、3…変調回路、4…駆動回
路、5…半導体レーザ素子、6…レンズ、7…偏
光ビームスプリツタ、8…1/4波長板、9…対物
レンズ、10…受光器、11…バツフアアンプ、
12…焦点制御部、13…ボイスコイル、14…
復調回路、15…読出しクロツク発生部、16…
バツフアメモリ、21…帯域通過フイルタ、22
…2値化回路、23…電圧制御発振器、24…帯
域通過フイルタ、25…位相比較器、26…低域
通過フイルタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 光記録媒体の光信号照射位置にピツトを形成
して情報記録を行うに際し、所定寸法のピツトを
所定の間隔で記録信号の“0”または“1”のビ
ツトデータ長に応じて複数個形成してピツト列で
示される情報記録を行うことを特徴とする光情報
記録再生方式。 2 光記録媒体の光信号照射位置にピツトを形成
して情報記録を行うに際し、所定寸法のピツトを
所定の間隔で記録信号の“0”または“1”のビ
ツトデータ長に応じて複数個形成してピツト列で
示される情報記録を行い、この記録された情報の
再生時には、ピツトによつて変化する反射光の脈
動成分から読出しクロツクを再生し、この再生さ
れた読出しクロツクに従つて上記反射光レベルを
弁別して情報再生を行うことを特徴とする光情報
記録再生方式。 3 記録信号は情報信号を変調した変調デイジタ
ル信号からなるものである特許請求の範囲第1項
または第2項記載の光情報記録再生方式。 4 所定寸法のピツトは、記録信号ビツトデータ
の整数倍の繰返し周期の情報光パルスを照射して
光記録媒体上に形成されるものである特許請求の
範囲第1項または第2項記載の光情報記録再生方
式。 5 ピツト列を形成する各ピツトの間隔は、情報
読出し用光スポツトの径の1/2以下に設定された
ものである特許請求の範囲第1項または第2項記
載の光情報記録再生方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11470681A JPS5817548A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 光情報記録再生方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11470681A JPS5817548A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 光情報記録再生方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5817548A JPS5817548A (ja) | 1983-02-01 |
| JPS63848B2 true JPS63848B2 (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=14644578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11470681A Granted JPS5817548A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 光情報記録再生方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5817548A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0650567B2 (ja) * | 1984-12-07 | 1994-06-29 | 松下電器産業株式会社 | 信号記録装置 |
| JP2559362B2 (ja) * | 1985-03-22 | 1996-12-04 | 株式会社日立製作所 | 光学的記録方法 |
| JPH0658741B2 (ja) * | 1985-04-15 | 1994-08-03 | 三菱電機株式会社 | 信号記録再生装置 |
| JP2568225B2 (ja) * | 1987-11-18 | 1996-12-25 | シャープ株式会社 | 光メモリ素子用基板 |
| JP2612632B2 (ja) * | 1990-05-24 | 1997-05-21 | 株式会社日立製作所 | 情報記録/再生装置 |
-
1981
- 1981-07-22 JP JP11470681A patent/JPS5817548A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5817548A (ja) | 1983-02-01 |
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