JPS6385877A - X線画像処理装置 - Google Patents

X線画像処理装置

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JPS6385877A
JPS6385877A JP61229688A JP22968886A JPS6385877A JP S6385877 A JPS6385877 A JP S6385877A JP 61229688 A JP61229688 A JP 61229688A JP 22968886 A JP22968886 A JP 22968886A JP S6385877 A JPS6385877 A JP S6385877A
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JP
Japan
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ray
data
subject
image
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Application number
JP61229688A
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English (en)
Inventor
Takehiro Ema
武博 江馬
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Toshiba Corp
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Medical Systems Engineering Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6385877A publication Critical patent/JPS6385877A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野] 本発明はエツジレスポンスを与える被写体にX線を曝射
して収集した画像データを基にぼけ修復フィルタを作成
するX線画像処理装置に関する。
(従来の技術) 一般に被写体にX線を@射して得られるX線画像データ
を処理して表示する装置においては、エツジレスポンス
を与える被写体から得た画像データに対して装置の各種
要因に基因する画像の大小様々のぼけを修復するために
空間デジタルフィルタを作用させることが行われる。
ところで、被写体のX線画像において生じる大小様々の
ぼけとしては、X線管球や焦点サイズあるいは、イメー
ジインテンシファイア(I−1)−TV系を用いる装置
におけるI−I、1@管等装置固有の要因に基づく比較
的小さいぼけと、前記イメージインテンシファイアの最
終段に設けられたガラス部分を光信号に変換された収集
データが通過する際に生じるベーリングレアによる中程
度のぼけと、被写体における散乱X線による比較的大き
いぼけとを挙げることができる。
このような大小様々のぼけを修復するための空間デジタ
ルフィルタを求める方法の一つとして、エツジレスポン
スを与える被写体にX線を曝射して得られる画像データ
を基に理想的な画像を作成し、各画像データと理想的な
画像データとの差の2乗和を指標として勾配法によりぼ
け修復フィルタを求める方法が知られている。この方法
により例えば1次元のぼけ修復フィルタを求める場合に
ついて以下に簡単に説明する。
ぼけが生じた画像データの濃度B;、j、適当な方法で
作成された理想的な画像データの濃度をTi、j 、計
算回路をT回、計算をT回繰返した時点での推定修復フ
ィルタをf k(T)とする。
ここで、i、jは各々の画像データのアドレスを、kは
前記推定修復フィルタの各フィルタ係数における中心の
フィルタ係数からの相対的位置を表す。
したがって、フィルタサイズを2に+1とすると、−に
≦に≦にである。
そして、ぼけを含む画像データに前記推定修復フィルタ
f k(T)を施した画像データの濃度をFi。
j(旬(処理画像データ濃度)は下記(1)式となる。
前記理想画像データIr、jと処理画像データFi、j
(T)との画像データ毎の差(差画像データ)をEi、
j(T)とすれば、この差画像データE i、j(旬は
下記(2)式で表すことができる。
E i、j(T)= F i、j(T) −I i、j
     ・・・(2)そして、理想画像データI i
、jと処理画像データF i、j(旬との一致度を示す
指標■として、被写体のエツジを含むある領域R内にお
ける差画像データの2乗和を用いるものとすれば、この
指[Vは下記(3)で表すことができる。
ここでEi、j(T)をI i、jで除しているのは正
規化を考慮していることによる。
そして、画像データの収束法として勾配法を採用すれば
、前記推定修復フィルタf k(T)の次段の推定修復
フィルタfk(T+1)は下記(4)式で表すことがで
きる。
前記(1)、 (2)、 (3)式を(4)式に代入す
ることにより下記(5)式が得られる。
・・・(5) ここにδは加速計数でめる。
したがって、(5)式を基にぼけ修復フィルタを求める
ことが可能となる。
しかしながら、このような方法でぼけ修復フィルタを作
成する従来装置においては、例えばイメージインテンシ
ファイアに由来するベーリンググレアに基づく中程度の
ぼけが考慮されてあらず、被写体における散乱X線成分
による大きなぼけ成分は除去し得ても残る中程度のぼけ
成分及び比較的小さいぼけ成分を分離し比較的小さいぼ
け成分のみを含むぼけ修復フィルタを作成することがで
きないという問題があった。
(発明が解決しようとする問題点) 上述したように従来装置においては、比較的小さいぼけ
を伴う画像に対するぼけ修復を行うことができず、ぼけ
修復作業の多様性を図ることができないという問題がめ
った。
そこで、本発明は比較的小さいぼけを伴う画像に対する
ぼけ修復が可能でぼけ修復の多様性を図ることができる
X線画像処理装置を提供することを目的とするものであ
る。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明のX線画像処理装置は、エツジレスポンスを与え
る被写体にX線を曝射して収集した画骸データを基に画
像のぼけを修復する空間デジタルフィルタを作成し、該
空間デジタルフィルタをこの装置で収集した別の画像デ
ータに作用させてぼけの除去された画像を得るX線画像
処理装置において、所定の幅及び所定のX線透過率を有
する被写体及び、この被写体にX線を曝射することによ
り得られる画像データに含まれる被写体自体の散乱X線
成分を補正した補正データを求めると共にこの補正デー
タに対し装置における中程度のぼけ成分を加味した所定
の演算処理を実行し装置固有の比較的小さいぼけ成分の
みを含む修正画像データを求めてこの修正画像データを
空間デジタルフィルタの作成に供する演算処理部を有し
て構成される。
(作 用) 次に上記構成の装置の作用を説明する。
まず、この装置により所定の幅、所定のX線透過率を有
し、かつ、エツジレスポンスを与える被写体にX線を曝
射して散乱X線成分、装置固有の比較的小さいぼけ成分
を含む画像データを収集し、この画像データを演算処理
部に送る。このとき、中程度のぼけ成分は所定の幅を有
する被写体により遮断される。
演算処理部は、この画像データに対しまず散乱X線成分
を補正した補正データを求める処理を行い、次いで補正
データに対し所定の演算処理を実行して中程度のぼけ成
分を加味した演算を行い装置固有の比較的小さいぼけ成
分のみを含む修正画像データを作成する。そして、演算
処理部はざらにこの修正画像データを空間デジタルフィ
ルタ作成に供する。
(実施例) 以下に本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図に示す実施例装置は、被写体に向かってX線を曝
射するX線管1と、X線の照射野を決定するX線絞り2
と、後述する被写体やX線遮蔽物質を支持するX線透過
部材3(必要に応じて骨や臓器を有する被検体と置換さ
れる)と、被写体やX線遮蔽物質を透過しあるいは散乱
したX線情報を取込みX線画像を形成するI−1と、こ
のI・Iに形成されるX線画像を搬影し電気信号に変換
するTVカメラ37と、TVカメラ37の出力信号に対
しエリアシング(高周波成分が低周波成分に折り返る現
象)を防止するため所定の周波数(例えば後述するA/
D変換部8のナイキスト周波数(−例として5MHz)
)以下の周波数成分の伝達を低減するフィルタ38と、
フィルタ38の出力信号をディジタル信号に変換するA
/D変換部8と、このA/D変換部8の出力データを記
憶するデータ記憶部40と、このデータ記憶部40から
画像データを取込み、画像濃度の平均値の算出、散乱X
線成分の補正、所定の線形演算、複数の画像データ間の
減算等の各種演算を実行すると共にこれらの演算結果を
基に後に詳述するように比較的小さいぼけを修復するた
めのぼけ修復フィルタを作成する演算処理部100と、
この演算処理部100の出力データをアナログデータに
変換するD/A変換部27と、前記アナログデータを取
込んで表示するCRTのような表示手段28と、CPU
を含んで構成されこの装置全体の制御を行う演算制御部
29と、各種データや制御信号を転送するバス30とを
有して構成されている。
前記データ記憶部40は、第1乃至第6のメモリ9乃至
14により構成され、前記A/D変換部8の出力データ
及び後に詳述するようにイメージインテンシファイアI
−1におけるベージンググレア成分2点像分布関¥l(
P S F : Po1nt 5predFuncti
on)などの測定データを記憶するようになっている。
前記演算処理部100は、第1乃至大5の演算部22乃
至26.第6の演算部35.第7乃至大1゛3のメモリ
15乃至21.第14乃至大17のメモリ31乃至34
.第18のメモリ36を有して構成されている。
そして、前記第1の演算部22は第3乃至第6のメモリ
11乃至14から画像データを取込み、これら各画像デ
ータの特定濃度領域の平均値の算出を行なってその結果
を第7のメモリ15に送出する。ようになっている。
尚、この第7のメモリ15には予め1次元の散乱X線デ
ータ補正用の係数(α、β)等後述する第2の演算部2
3における演算に必要なパラメータも記憶されている。
第2の演算部23は前記第7のメモリ15から係数(α
、β)を取込むと共に第3.第4のメモリ11.12か
ら入力される画像データ(これを「xi jとする。)
に対してαX:十βで表わされる線形演算を実行しその
結果を第8のメモリ16、第12のメモリ20.第16
のメモリ33゜第17のメモリ34に送出するようにな
っている。
第3の演算部24は前記第1のメモリ9又は第2のメモ
リ10から取込んだ画像データと第8のメモリ16から
取込んだ線形演算が施された画像データとを取込み、こ
れらの画像データ間で減算処理を実行してその結果を第
9のメモリ17.第10のメモリ18.第11のメモリ
19のうちいずれかに送出すると共に、第9のメモリ1
7.第10のメモリ18の画像データを取り込むように
なっている。
また、第11のメモリ19の画像データは、前記第の演
算部22.第2の演算部23に取り込まれるようになっ
ている。
第4の演算部25は、第12のメモリ20と第18のメ
モリ36とから画像データを取込みこれに対して後述す
るような所定のデータ処理を実行してぼけ修復フィルタ
を作成し、このぼけ修復フィルタのデータを第13のメ
モリ21に送出し記憶すると共に、第18のメモリ36
から画像データを取込むようになっている。
第5の演算部26は、上述したぼけ修復フィルタ作成用
の画像データとは別に取込まれる入力画像データに対し
て第13のメモリ21に記憶されているぼけ修復フィル
タのデータを用いてフィルタ演算を実行し、その結果を
D/A変換部27に送出すると共に、第15のメモリ3
2に画像データを送出し、また、第14のメモリ31か
ら画像データを取込むようになっている。
第6の演算部35は、第16のメモリ33及び第17の
メモリ34の画像データを取込みこれらを加算処理して
第18のメモリ36に送出するようになっている。
前記D/A変換部27はフィルタ演算が施された前記画
像データをアナログデータに変換し表示手段28に送る
ようになっている。
次に前記X線透過部材3を含む被写体について説明する
この被写体としては第2図(A)に示すようなアルミニ
ウム、銅、鉄等で形成した細い薄板状のX線吸収部材4
.第2図(B)で示すような1次元方向の散乱X線デー
タを得るための細い薄板状の鉛等で形成したX線遮蔽部
材5.第2図(C)に示すような前記散乱X線データを
補正するため微小面積における散乱X線データを得るこ
とができる小片状のX線遮蔽部材6を用いる。
そして、前記X線吸収部材4及びX線遮蔽部材5.6を
前記X線透過部材3の上に第3図(A>乃至(C)、(
E)、(F)に示すように単独或いは複数組合わせるこ
とにより、又は第3図(D)に示すように前記X線透過
部材3のみを用いることによりそれぞれ被写体70a乃
至70c、70e、70f、70dを構成するようにな
っている。
ここで、前記被写体の幅について考察すると、この被写
体の幅はI−1の出力面にδ2けられているガラス板の
存在に基づくベーリングレアの拡がり以上に形成するこ
とが望ましい。これは後に詳述するようにこの装置にお
いては被写体の完全なエツジ像を求めこれを基にシュミ
レーションによりベーリンググレアでぼけた画像を作成
することから、完全なエツジ像はベーリンググレアの影
響を受けないものであることが要請されることによる。
また、被写体のX線透過率について考察すると、このX
線透過率としては骨や臓器等の軟部組織を有する被検体
のX線透過率と近似したのであることが望ましい。すな
わち、骨や軟部組織を有する被検体にX線を曝射した場
合これらの境界においてもそれほど急激なX線透過率の
変化はなく、このような被検体と大幅に異なるX線透過
率を有する被写体を用いることはぼけ修復用の空間ディ
ジタルフィルタを作成する上で適当ではない。
このような被写体の一例を挙げれば、第6図に示すよう
にOレベルと動作レベルとの1/2程度のX線透過を与
えるようなX線透過率を有する被写体を用いることが好
ましい。
次に上記構成の装置の作用を説明する。
まず、前記各被検体70a乃至70fを用いたX線画像
データの収集段階からぼけ修復フィルタを求める前提と
なる補正データを求める段階までを説明する。
まず、第3図(A)乃¥(F)に示す合波写体70a乃
至70fに対してそれぞれX線管1からX線を曝射し、
イメージインテンシファイアI・IによりそのX線画像
を形成し、さらにTVカメラ37でX線画像を蹟影して
電気信号変換した後フィルタ38によるフィルタ処理、
A/D変換部8によるディジタル信号への変換を行って
X線画像データを収集するこのとき、イメージインテン
シファイアI−Iの出力面で生じるベーリングレア成分
は、合波写体70a乃至70fにより遮断される。そし
て、得られた合波写体70a乃至70fのX線画像デー
タをそれぞれ第2のメモ1す10、第4のメモリ12.
第6のメモリ14.第1のメモリ9.第3のメモリ11
.第5のメモリ13に記憶する。
次に第1の演算部22は、演算制御部29の制御の基に
前記第5のメモリ13から被写体70fのX線画像デー
タを取込み、X線遮蔽部材6,6の真影に相当するアド
レスにあける画像データ(これを「散乱X線成分データ
f」とする。)を求め、求めた画像データ及びそのアド
レスを第7のメモリ15に送出して記憶する。
また、第1の演算部22は演算制御部29の制御の基に
前記第6のメモリ14に記憶されている被写体70cの
画像データについても同様な手順で散乱X線成分データ
Cを求め、この散乱X線成分データC及びそのアドレス
を第7のメモリ15に送出して記憶する。
続いて第1の演算部22は、演算制御部29の制御の基
に前記第3のメモリ11の記憶されている第3図(E)
に示す被写体70eの画像データを取込み、画像上にお
けるX線遮蔽部材5の真影である領域より同図に示すX
方向の1ラインe。
−elを選出し、このラインe□−elの中で前記散乱
X線成分データfにおける2個のX線遮蔽部材6,6の
アドレスに最も近いアドレスにおける画像データ(これ
を「散乱X線データe」とする。)をそれぞれ求めてこ
れらを第7のメモリ15に送出して記憶する。
さらに第1の演算部22は、第4のメモリ12に記憶さ
れている第3図(B)に示す被写体70bの画像データ
に対しても前記散乱X線成分データCのアドレスを参照
して散乱X線成分データbを求める。
さて、第3のメモリ11及び第4のメモリ12に記憶さ
れている画像データについて、第3図(E)、(B)の
e□ −el 、 b(1−blの各ラインの画像デー
タのプロフィールを示すと例えば第4図(A>、(B)
に示すようになる。
第4図(A)において、Fo 、Flは散乱X線成分デ
ータfの2つの画像データ(X線強度)でおり、E2 
、E3は散乱X線成分データeの2つの画像データ(X
線強度)である。
同様に第4図(b)において、Co 、C1は散乱X線
成分データCの2つの画像データ(X線強度)でおり、
81 、B2は散乱X線成分データbの2つの画像デー
タ(X線強度)である。
第4図(A>に示すようにFo 、FlのほうがE2.
E3よりも、また、第4図(B)に示すようにGo 、
Oxのほうが81.82よりもそれぞれ大きな値を持っ
ている。
これは、第3図(E)に示す被写体70eについては、
eo−C1上のE2に対応する点において測定されるX
線遮蔽部材5がX線遮蔽部材6よりもX線照射野内にお
いて大きな面積を占めるため本来測定されるべき散乱X
線の一部がカットされることによる。
従って、eo−81の1ラインにおける散乱X線成分デ
ータをそのまま使用することは妥当でなく、その補正が
必要となる。
このような補正は以下の如く行なわれる。
散乱X線成分データfと散乱X線成分データbとの比、
すなわち、第4図(A)、(B)におけるFO/E2 
、 Fl /E3 、 Go /81 、 C1/B2
を計算し、FO/E2とF1/E3の平均値(これを「
補正係数E」とする。)およびGo /B1と01/8
2の平均値(これを「補正係数B」とする。)をそれぞ
れ求めてこれらの値を第7のメモリ15に記憶する。 
゛ そして、第3のメモリ11に記憶されている第3図(E
)に示す被写体70eの画像データを第2の演算部23
に取込み、前記αには前記補正係数Eを、前記βにはO
を与えて、これらの値を基に取込んだ画像データに対し
て線形濃度変換を実行しその結果を第8のメモリ16に
記憶する。
次に、第1のメモリ9に記憶されている第3図(D)に
示す被写体70dの画像データと第8のメモリ16に記
憶されている補正された1ラインの散乱X線成分データ
を第3の演算部24に取込み、ここで両画像データ間の
減算処理を実行してその結果を第9のメモリ17に記憶
する。
同様にして、第4のメモリ12に記憶されている第3図
(B)に示す被写体70bの画像データを第2の演算部
、23に取込み、前記αには前記補正係数Eを、前記β
にはOを与えて、これらの値を基に取込んだ画像データ
に対して線形濃度変換を実行しその結果を第8のメモリ
16に記憶する。
次に、第2のメモリ10に記憶されている第3図(A)
に示す被写体70aの画像データと第8のメモリ16に
記憶されている補正された1ラインの散乱X線成分デー
タを第3の演算部24に取込み、ここで両画像データ間
の減算処理を実行してその結果を第10のメモリ18に
記憶する。
これら一連の操作により、第3図CD)に示す被写体7
0dの画像データから、1ラインの散乱X線成分を除去
した画像データ及び第3図(A)に示す被写体70aの
画像データから、1ラインの散乱X線成分を除去した画
像データが、それぞれ第9.第10のメモリ17.18
に記憶される。
ざらに、第3の演算部24は第9のメモリ17及び第1
0のメモリ18にそれぞれ記憶されている画像データを
取込み、両画像データ間の減算処理を実行してこの結果
を第11のメモリ19に記憶する。この操作によりX線
検出器3における感度の位置依存性が画像データに与え
る影響を除去することができる。
ところで、第11のメモリ19に記憶されている画像デ
ータのうち、有効なものは1ラインに相当するものだけ
である。この有効な1ラインの画像データのプロフィー
ルを第5図(A>に示す。
また、同図(B)に第10のメモリ18に記憶されてい
る画像データのうち、有効な1ラインに相当する画像デ
ータのプロフィールを示す。
ぼけ修復用フィルタを求めるための画像データとして複
数ライン分を使用する場合には、X線遮蔽部材3を前°
記X線遮蔽部材5,6及びX線吸収部材4を固定したま
ま空間的な移動を行う等の方法により再び画像データを
収集し、上)ホした一連の操作を実行することにより、
別の1ラインの有効データを得ることができるので、こ
れを必要回数繰り返して複数ラインの有効な画像データ
を得ればよい。この時、2回目以降の画像データの収束
においては、第3図(A>及び第3図(B)に示す被写
体70a、70bの画像データについては収集の必要が
ない。
次にX線管1に対する印加電圧、電流のゆらぎに基づく
画像濃度の不均一性の補正について説明する。
X線管球条件(電圧、電流)を同一に設定しても、印加
電圧や電流のゆらぎのため被写体に一定量のX線が曝射
されるとは限らず、このため表示画像の全体的な濃度レ
ベルがしばしば不均一となるが、これは画像データを収
集した直後に第1の演算部22を用いて画像データ間に
おける濃度のばらつきが本来起らないと考えられる特定
の濃度領域を検出し、最初に検出した、画像データのう
ち、1枚分から基めたある濃度を基準とし、残りの全て
の画像データに対してはこの基準濃度に合うように第2
の演算部23で濃度変換を実行することで補正すること
ができる。
さて、1本以上の有効なラインを持つ画像データが第1
1のメモリ19に記憶されたところで、次の段階に移る
前記第1の演算部22は第11のメモリ19に記憶され
ている画像データを取込み、第5図(Δ)のR1、R2
、R3で示す各領域のように被写体のエツジの両側にお
ける濃度変化のほとんどない領域における画像濃度を求
める。
すなわち、前記R1,R2、R3に示す領域における濃
度をそれぞれDi 、Dl 、D3とすると、濃度D1
.D3の平均した値と濃度D2との平均値りを求める。
DlとDlとはほとんど等しいの  ′で、濃度D1と
濃度D2との平均値をLとしてもよい。
また、被写体のすべてのエッチが含まれる領域を想定し
、その領域内での直流成分を平均値りとしてもよい。
次に第2の演算部23は第11のメモリ19に記憶され
ている画像データを取込み、これに対してα=1.β=
−1を与えて、各画像データから平均値りだけ減じた画
像データを求め、この結果を補正データとして第12の
メモリ20に記憶する。第12のメモリ20に記憶され
る画像データのうち、有効な1ラインのプロフィールを
示すと第5図(C)に示すようにエツジの上下両側かO
レベルを境として正負の濃度を有するものとなる。
この操作を実行する場合に、前記濃度D1゜D3と濃度
D2とが正負に分れればよく、平均値りの値に厳密さは
あまり要求されない。
以上のような操作により、ぼけ修復フィルタを求める前
提となる補正データが第12のメモリ20に記憶される
次に、この補正データから比較的小さいぼけ成分のみを
含む修正画像データを求める操作について説明する。
まず、前記補正データから被写体の完全なエツジ像デー
タを求める。すなわち、第4の演算部25は、第12の
メモリ20から第5図(C)で示すプロフィールを有す
る画像デ7りを取込み、演算制御部29の制御の下にこ
の画像データのエラ212口部分のアドレスを求めて各
領域R1,R2、R3の平均値を痺出し、この結果を完
全なエツジ像データとして第14のメモリ31に送って
記憶する。この完全なエツジ像データの一ラインのプロ
フィールを第5図(D)に示す。
次に、この完全なエツジ像データを基にベーリンググレ
アでぼけた画像データの作成原理を以下に簡単に説明す
る。
予め、I−Iの出力側におけるベーリング成分中の直接
(プライマリ)成分に対する割合VGと、ベーリンググ
レアのPSF(以下単に「P」とも表す)とを測定して
おき、このデータをデータ記憶部40のいずれかのメモ
リに記憶させておく。
そして、上述した完全なエツジ像データをIEで表わせ
ば、この完全なエツジ像データIEがべ一リンググレア
を起こした画像(これを「理想画像データIvJとする
。)は下記(6)式で表すことができる。
・・・(6) 10し、ここで■はコンボリューション演算を意味する
すなわち、完全なエツジ像データIEに対して、フィル
タとて与えられるベーリングレアのPSFをコンボリュ
ーションし、その結果の画像データに対しVG/1+V
Gを乗算する。また、完全なエツジ像データ■εに1/
1+VGを乗算する。そして、これの演算の結果得られ
る1つの画像データを加算処理することによりベーリン
ググレア成分を考慮し゛  た理想画像データIvを求
めることができる。
この理想画像データIvを求める操作を第1図を参照し
て説明する。
第14のメモリ31に記憶されている完全なエツジ像デ
ータIEを第5の演算部26に取込むと共に、演算制御
部29によりデータ記憶部40からベーリンググレアの
PSFを読み出しこれも第5の演算部26に送る。
そして、両者のコンボリューション演算の結果データを
第15のメモリ32に記憶させる。ざらに、この結果デ
ータと、データ記憶部40に記憶されている前記割合V
Gを第2の演算部23に送り、この第2の演算部23で
前記(P■IE)で表される結果データに対し、VG/
1+VGを乗算する演算を実行し、その結果を第16の
メモリ33に記憶させる。
また、第14のメモリ31に記憶されている完全なエツ
ジ像データIEと、データ記憶部40に記憶されている
前記割合VGとを第2の演算部23に送り、IE/1+
VGなる演算を実行し、その結果を第17のメモリ37
に記憶させる。次に、第16のメモリ33の記憶データ
と第17のメモリ37の記憶データとを第6図の演算部
35に送り、ここで両者の加算演算を実行して、その結
果データを理想画像データIvとして第18のメモリ3
6に記憶させる。
以上の操作によりベーリングレア成分が加味された理想
画像データIvが求まる。
次にこの理想画像データIvy基に比較的小さいぼけを
修復するためのボケ修復フィルタを求める操作について
説明する。
第4図の演算部25は、第18のメモリ36から理想画
像データIvを取込み、これに対して例えば勾配法等に
よる演算処理を実行して、ベーリングレア成分が加味さ
れた理想画像データIvからこのベーリングレア成分が
除去され装置固有の小さいぼけ成分のみを含む修正画像
データのみによるぼけ修復フィルタを作成し、この結果
を第3のメモリ21に送出する。このぼけ修復フィルタ
は、演算制御部29の制御のもとに第13のメモリ21
に記憶される。
このようにして得られたぼけ修復フィルタは、この装置
で収集される画像データ全般に対して使用される。すな
わち、対象となる一般の画像データと前記はけ修1!フ
ィルタとを第5の演算部26に取込み、ここでフィルタ
処理が実行されてその結果がD/A変換部27に送出さ
れ、アナログ信号に変換された後、表示手段28に送ら
れ表示に供される。これにより、ぼけのない良質の画像
を得ることができる。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなく、そ
の要旨の範囲内で種々の変形が可能である。
例えば、演算処理部100の各メモリは、画像データの
うち有効なものは1ライン分であるので、1ライン分の
記憶容量をもつメモリに置換えて実施できる。
また、上述した実施例では装置固有の小さいぼけ成分の
みを含むぼけ修正フィルタを作成する場合について説明
したが、第12のメモリ20に記憶される前記補正デー
タを基に散乱X線成分が除去されたぼけ修復フィルタを
作成することももちろん可能である。
[発明の効果] 以上詳述した本発明によれば、散乱X線及びベーリング
レア成分による影響が除去され、装置固有の小さいぼけ
成分のみを含む修正画像データによるぼけ修復フィルタ
を作成することができ、ぼけ修復のきめの細かさや多様
性を図ることができるX線画像処理装置を提供すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例装置を示すブロック図、第2図
(A>、(B)、(C)はそれぞれ同装置に用いる被写
体を構成するX線吸収部材、X線遮蔽部材を示す斜視図
、第3図(A)〜(F)はそれぞれ同装置における被写
体の構成を示す平面図、第4図(A)は第3図(E)に
示す被写体から求めたX線強度プロフィール、第4図(
B)は第3図(B)に示す被写体から求めたX線強度プ
ロフィール、第5図(A>、(B)はそれぞれ同装置の
減算処理部に送られる画像データの濃度プロフィール、
第5図(C)は同装置の演算処理部で得られる補正デー
タの濃度プロフィール、第5図(D)は同装置の演算処
理部で得れる完全なエツジ像データの濃度プロフィール
、第6図は被写体に対するX線の透過状態を示す説明図
である。 40・・・データ記憶部、 70a乃至70f・・・被写体、 100・・・演算処理部。 代理人 弁理士 則  近  恵  缶周     大
   胡   典   夫(A) (B) 第2図 (A) 第4図 CB) (C) 第5図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)エッジレスポンスを与える被写体にX線を曝射し
    て収束した画像データを基に画像のぼけを修復する空間
    デジタルフィルタを作成し、該空間デジタルフィルタを
    この装置で収集した別の画像データに作用させてぼけの
    除去された画像を得るX線画像処理装置において、所定
    の幅及び所定のX線透過率を有する被写体と、この被写
    体にX線を曝射することにより得られる画像データに含
    まれる被写体自体の散乱X線成分を補正した補正データ
    を求めると共にこの補正データに対し装置における中程
    度のぼけ成分を加味した所定の演算処理を実行し装置固
    有の比較的小さいぼけ成分のみを含む修正画像データを
    求めてこの修正画像データを空間デジタルフィルタの作
    成に供する演算処理部とを有することを特徴とするX線
    画像処理装置。
  2. (2)前記被写体の幅は、この装置における中程度のぼ
    けを生じさせるベーリンググレアの拡がり以上のもので
    ある特許請求の範囲第1項記載のX線画像処理装置。
  3. (3)前記被写体のX線透過率は、前記別の画像データ
    を与える被検体組織のX線透過率に近似したものである
    特許請求の範囲第1項記載のX線画像処理装置。
  4. (4)前記演算処理部の所定の演算処理、前記母性デー
    タを基に被写体の完全なエッジ像データを求める演算処
    理とこの完全なエッジ像データを基に中程度のぼけ成分
    を加味した理想画像データを求める演算処理と、この理
    想画像データを基に装置こゆの比較的小さいぼけ成分の
    みを含む修正画像データを求める演算処理を包含するも
    のである特許請求の範囲第1項記載のX線画像処理装置
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008073208A (ja) * 2006-09-21 2008-04-03 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 画像処理装置及び画像処理方法

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JP2008073208A (ja) * 2006-09-21 2008-04-03 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 画像処理装置及び画像処理方法

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