JPS63863A - 光デイスク記録方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、トランク内を複数のブロックに分割して所
要情報を記９する光ディスク記録方法に関し、特に記録
媒体上に製作時の記録不良領域を持つ光ディスクの記録
方法に関する６ ［従来の技術］ 第４図は例えば特開昭５９−１６５２０７号公報に示さ
れた従来のこの種の光ディスク記録方法についての１本
のトラック内の記録フォーマット例を示している。この
図において、各トラックはセクタに相当するｍ個のブロ
ックＢｏ−Ｂｍ−］からなり、各ブロックはＩＤ部とデ
ータ部とからなっている。ＩＤ部には主としてブロック
の物理的位置（トランク番号やブロック番号）を示す情
報が記録され、データ部には１例えば５１２バイト分の
データとエラー回復記号等の信号情報が記録される。第
４図の例では、ブロックｎｏからＢ　＋ｎ　−４までが
通常のユーザー・データを記録するオリジナルな記録領
域となっており、以下、この領域のブロックを総称して
通常ブロックＮＢと呼ぶことにする。ブロックＢｍ−４
に続くブロックＢｒｎ−３からＢｍ−１までの３ブロツ
クは、当該トラックのいずれかの通常ブロックＮＢにお
いて書込み不良が発生したとき、これに代わるブロック
として用いられる交替領域であり、以下、この領域のブ
ロックを交替ブロックＡＢと呼ぶことにする。

第５図は上述した通常ブロックＮＢおよび交替ブロック
ＡＢへの情報の書込みと再生の制御を行なう光ディスク
制御装置の構成図であり、この第５図において、］−は
上位装置（ＣＰＵチャネル）との間での信号授受を制御
するインターフェースコントローラ、２は上位装置から
の指令に応じて光ディスク制御装置の各構成要素を所定
の手順で動作させるマイクロプロセッサ、３はマイクロ
プロセッサ２による制御動作を規定するマイクロ命令を
格納するためのプログラムメモリ、４は少なくとも光デ
ィスクの１トラック分のデータ記憶容量をもつバッファ
メモリ、５はバッファメモリ４から取り出されたデータ
を変調して誤り訂正符号等の付随情報を付加して光ヘツ
ド回路１０に出力する書込み回路、６は光ヘツド回路１
０からの出力信号、Ｓ１０を復調し、さらにはシンドロ
ームを計算し必要に応じてデータにＥＣＣ修正を加えて
バッファメモリ４に転送する読取り回路を示す。

また読取り回路６は第４図で説明した１ブロツク分のデ
ータ８旦のバッファをそなえ、このバッファによりデー
タへのＥＣＣ修正を加えるが、ＦＣＣでは修正しきれな
い大きなエラーが検出された場合は、信号線２４により
マイクロプロセッサ２にその結果を知らせる。なお、７
はバッファメモリ４の入出力バスを選択するためのセレ
クタであり、このセレクタ７はマイクロプロセッサ２か
ら双方向信号線２．３　ｆ！：介し与えられるマイクロ
命令に応じて、インターフェースバス２０．プロセッサ
バス２１およびＲ／Ｗ　（リード／ライト）回路バス２
２を選択的にバッファメモリ４に接続する。

次に第５図の光ディスク制御装置の書込み動作について
順に説明する。

（１）まず上位装置から受信したデータはインターフェ
ースコントローラ１を介して１トランク分のデータがバ
ッファメモリ４にバッファされる（ステップａｌ）。

（２）バッファメモリ４にストアされた１トランク分の
データを１ブロツク分ずつ書込み回路５を介して光ヘツ
ド回路１０に供給し、光ディスク上の所定のトランクの
通常ブロックＮＢに順次書込む（ステップａ２）。

（３）ステップａ２で書込んだ通常ブロックＮＢのデー
タを順次読取り、ＥＣＣ修正を加える。この時ＥＣＣ修
正不可能なブロックを検出した時点で信号線２４を介し
マイクロプロセッサ２にＦＣＣエラーを通知する（ステ
ップａ３）。

（４）マイクロプロセッサ２は書込み不良のあったブロ
ックを検知すると、これらのブロックに対応するデータ
をバッファメモリ４より書込み回路５に供給し、光ディ
スク上の交替領域のブロックＡＢに順次書込む（ステッ
プａ４）。

（５）ステップａ４で書込んだ交替ブロックＡＢのデー
タを順次読取り、ＥＣＣ修正を加える（ステップａ５）
。

（６）ステップａ５において、エラーブロックが検出さ
れた場合、マイクロプロセッサ２はステップａ４．ａ５
を繰返し、これらに代わる交替ブロックＡＢを交替領域
の空きエリアの書き直す（ステップａ６）。

以上の手順により、１トラック分の正常なデータが通常
ブロックＮＢまたは交替ブロックＡＢに書込まれる。

そしてこれらのトランクを読取る時は、（１）光ディス
ク上のトランクから光ヘツド回路１０を通し読取り回路
６でＥＣＣ修正を加えながらデータを読取り、バッファ
メモリ４へ１トランク分のデータを格納する（ステップ
ｂｌ）。

（２）上記ステップｂ１でＥＣＣ修正不可能なブロック
については、バッファメモリ４の中から対応する交替ブ
ロックＡＢをサーチし、不良ブロックに置き換えて上位
装置に転送する（ステップｂ２）。

次に上記書込み動作で、書込み不能ブロックが１つ存在
した場合の１トラック分データの書込みについて第６図
を用いて時間の経過に従い説明する。

第６図（ａ）〜（ｄ）でブロックＢｏからＢｍ−４まで
は通常ブロックＮＢ、Ｂｍ−３からＢｍ−１までは交替
ブロックＡＢ、Ｂｎが書込み不能ブロック、Ｗｕ（Ｑ＝
０．１．−・ｍ−４）ｌ土弟Ｑブロック目の書込み、Ｒ
Ｑ　　（Ｑ　＝　０　、１　、　・・”　ｍ−４）は第
ｎブロック目のデータ読出しおよびＦＣＣ修正、Ｗ’ｎ
は第ｎブロック目と同じデータの交替ブロックＡＢへの
書込み、Ｒ’ｎは交替ブロックＡＢの読取りおよびＦＣ
Ｃ修正であることを表している。

まず、光ヘッドが所定のトラック上にシークされて、第
１回転目にＯからｍ−４番目のブロックへ順次データを
書込む［第６図（ｂ）のＷＯ〜Ｗｍ−４参照］。第２回
転目で、第１回転目に書込んだ０〜ｍ−４番目のブロッ
クを順次読出し、ブロック単位でＦＣＣ修正を加える［
第６図（ｃ）のＲｏ”Ｒｍ−４参照コ。このとき、ｎ番
目のブロックの読出しが終了した時に、ＦＣＣエラーが
検出されるので、同じ第２回転目で最後の交替ブロック
Ｂｍ−１にｎ番目のブロックと同じデータを書込む［第
６図ＣＣ）のＷ’ｎ参照参照上して第３回転目で、第２
回転目で書込んだ交替ブロックＢｎ−１のデータの読取
りおよびＥ　ＣＣ修正を行なう［第６図（ｄ）のＲ’ｎ
参照コ。

［発明が解決しようとする問題点コ しかしながら、このような従来の光ディスク記録方法は
、以上のような手順をとるために、１１−ランク分のデ
ータを書込む際に、１ブロツクの書込み不能ブロックが
存在すると、書込みが完了するまでにディスクは最低３
回転する必要があり、これにより書込み速度が低下する
という問題点が。

ある。

この発明は上記のような問題点を解））ゴするためにな
されたもので、製作時に書込み不能ブロックが存在する
場合に、予めその旨を光ディスク媒体上に記録しておく
ことにより、１トランクのデータ書込みを最低２回転で
完了させることができるようにして、書込み時間の短縮
化をはかった、光ディスク記録方法を得ることを目的と
する。

［問題点を解決するための手段］ この発明に係る光ディスク記録方法は、書込み不能ブロ
ックの中で原因が原盤やスタンパにある製作時の不良ブ
ロック情報について、この情報が識別できるよう予め光
ディスク媒体に記録したものである。

［作　用コ この発明における光ディスク記録方法では、製作時に生
じた不良ブロックについての識別情報が予め光ディスク
媒体に記録されており、したがって、この不良ブロック
は最初にデータを書込む際に検出され、これにより、次
に読出してＦＣＣ修正を行なうまでもなく、同一回転中
で交替ブロックにデータを書込むことができる。

［発明の実施例コ 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図は光ディスク媒体のｆＲＲｆ工程と不良ブロック情報
の書込み処理とを同時に示した模式図であり、図におい
て、ＤＯＲは光ディスク原盤であり、この光ディスク原
盤ＤＯＲはガラス原盤に案内溝やアドレスなどのヘッダ
情報がレーザ光でカッティングされたものである。ＳＴ
はＮｌスタンパで原盤ＤＯＲのフォトレジストパターン
を転写したものである。ｒｌ、ｒ２．・・・・、ｒｎは
スタンパＳＴより複数作成されるレプリカであり、これ
らのレプリカは光ディスク装首上で記録媒体となる。各
レプリカｒｌ、ｒ２．・・・・、ｒｎは。

スタンパＳＴ上にニトロセルロース、紫外光硬化樹脂を
塗布し、ガラス基盤を付けた後、紫外光を照射し樹脂を
硬化させ、更にスタンパＳＴをはがした後に、記録膜を
蒸着させることにより、作成される。

次に、このような工程で作成された０枚のレプリカの中
から例えば２枚のレプリカｒｌ、ｒ２を任意に選び出し
、全面に特定パターンを記録した後、全面のデータを読
出し、不良ブロックの有無を検出する。そしてこれら２
枚のレプリカｒ・１゜ｒ２に共通な不良ブロックとなる
ブロックのアドレスを検出する。ここで検出さ才した共
通の不良ブロックは、原盤ＤＯＲおよびスタンパＳＴの
作成時に発生する欠陥が原因であるので、残りのレプリ
カｒ３〜ｒｎにも、この共通不良ブロックと同−アドレ
スのブロックが書込み不能ブロックとなる確率は非常に
高い。

そこで、１トラツク内の記録フォーマットを第２図に示
すような構成とし、この第２図に示すようブロック内に
、ＩＤ部とデータ部のほかに、書込み不能ブロックであ
ることを示す不良ブロックフラグ部ｆを設ける。なお、
この第２図において、第４図と同一記号、同−名称部は
従来例と同じ機能をなす。

そして、前Ｒｆｌりのレプリカｒ３〜ｒｎすべてに対し
て、共通不良ブロックと同一アドレスのブロックの不良
ブロックフラグ部ｆに不良ブロックであることを示すフ
ラグを記録する。

また、第２図の各ブロックへのデータの書込みおよび読
出しの制御を行なう光ディスク制御装置は第５図に示す
従来例と同じである。

次にこの発明の一実施例としての光ディスク記録方法を
実施するための光ディスク制御装置（第５図に示すもの
の構成と同じ）の動作について説明する。

まず、書込み動作について説明する。

（１）上位装置から受信したデータはインターフェース
コントローラ１を介して１トラック分のデータがバッフ
ァメモリ４にストアされる（ステップＡｌ）。

（２）バッファメモリ４にストアされた１トランク分の
データを１ブロツクずつ書込み回路５を介して光ヘツド
回路１ｏに供給し、光ディスク上の所定のトラックの通
常ブロックＮＢのデータ部に順次書込むわけであるが、
この時同時に読取り回路６は各ブロックの不良ブロック
フラグ部ｆを監視し、不良ブロックを検出した場合、信
号線２４でマイクロプロセッサ２に通知する（ステップ
Ａ２）。

（３）ステップＡ２で通常ブロックＮＢをすべて記録し
終わった時点で、不良ブロックフラグにより不良ブロッ
クが検出されていれば、対応するブロックのデータをバ
ッファメモリ４より書込み回路５に供給し、引き続きデ
ィスク上の交替領域のブロックＡＢに書込む（ステップ
Ａ３）。

（４）ステップＡ２で書込んだ通常ブロックＮＢおよび
ステップＡ３で書込んだ交替ブロックＡＢのデータを順
次読取りＥＣＣ修正を加える。この時、不良ブロックフ
ラグの書込まれていないブロックでＥＣＣ修正不可能な
ブロックを検出した時点で、信号線２４でマイクロプロ
セッサ２にＦＣＣエラーを通知する（ステップＡ４）。

（５）ステップＡ４で書込みエラーブロックが検出され
た場合は従来例の書込み動作のステップａ４゜ａ５を繰
返し、これらに代わる交替ブロックＡＢを交替領域の空
きエリアに書き直す（ステップＡ５）。

なお、読取り動作については、従来例と全く同じ動作で
読出される。

次に、従来例と同様に上記書込み動作において。

不良ブロックが１つ存在した場合の１トラック分データ
の書込みについて第３図（ａ）〜（ｃ）を用いて説明す
る。

この第３図（ａ）〜（ｃ）でＢｏからＢｍ−４までは通
常ブロックＮＢ、Ｂｍ−３からＢｍ−１までは交替ブロ
ックＡＢ、Ｂｎが不良ブロックフラグが有意である不良
ブロック、ＷＱ　　ＣＱ＝０．１・・・・。

ｍ−４）は第ｎブロック目の書込み、Ｒｆｌ　　（Ｑ＝
０゜１・・・・、　ｍ−４）は第ｎブロック目のデータ
読出しおよびＥＣＣ修正、Ｗ’ｎは第ｎブロック目のデ
ータと同じデータの交替ブロックへの書込み。

Ｒ’ｎは交替ブロックの読取りおよびＥＣＣ修正である
ことを示す。

まず、目的のトラック上に光ヘッドがシークされて第１
回転目にＯからｎ−］番目のブロックへ順次データを書
込む。ｎ番目のブロックを書込む時に不良ブロックフラ
グを検出し、マイクロプロセッサ２は第ｎブロックが不
良ブロックであることを知る。そして続いてｎ＋１から
ｍ−４番目のブロックのデータを順次書込み、その後引
き続いてｍ−３呑目の交替ブロックに第ｎ番目のブロッ
クと同じデータを書込む。

第２回転目では、第１回転目に書込んだ０〜ｍ−４番目
の通常ブロックとｍ−３番目の交替ブロックのデータの
読取りおよびＥＣＣ修正を行なう。

ここでｎ　’Ｗｉ目のブロックでＥＣＣ修正不可能が検
出されても無視する。

なお上記実施例では不良ブロック情報を各ブロックのフ
ラグの有無で検出したが、不良ブロックのアドレスをデ
ィスク上の特定の領域に書込み、ディスク媒体が光ディ
スク制御装置に装着された時に不良ブロックアドレスを
光ディスク制御装置が読出しメモリ上に記憶していても
上記実施例と同様の効果を奏する。

［発明の効果］ 以上のようにこの発明によれば、不良ブロックの検出が
データの書込み時に行なわれるので、１トラツク分のデ
ータを書込むのに必要なディスク回転数が少なくなり、
書込み速度の高速化に寄与する効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１〜３図はこの発明の一実施例としての光ディスク記
録方法を示すもので、第１図は本方法を説明するために
ディスク媒体への不良ブロック情報の書込みの様子をデ
ィスク媒体の製造工程とともに示す模式図、第２図はそ
の不良ブロック情報を書込む位置を示した１トラツクの
記録フォーマット図、第３図（ａ）〜（ｃ）はその１ト
ランクに１つの書込み不能ブロックがある場合の書込み
シーケンスを説明するための図であり、第７１〜６図は
従来の光ディスク記録方法を示すもので、第４図は従来
の光ディスク記録方法における１トラツクの記録フォー
マット図、第５図は光ディスク制御装置のブロック図、
第６図（ａ）〜（ｄ）は従来の手段による１トラツクに
１つの書込み不能ブロックがある場合の書込みシーケン
スを説明するための図である。 図において、ＤＯＲ−原盤、ｆ・・・不良ブロックフラ
グ部、ＳＴ−スタンパ、ｒＬ〜ｒｎ・・−記録媒体とし
てのレプリカ。 なお、図中、同一符号は同一、又は和尚部分を示す。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）トラック内を複数のブロックに分割して所要情報
   を記録する光ディスク記録方法において、製造時に生じ
   た不良ブロックについての識別情報を、スタンパにより
   作成された光ディスク媒体に予め記録しておくことを特
   徴とする光ディスク記録方法。
2. （２）上記不良ブロックについての識別情報を各ブロッ
   ク内の特定領域にフラグとして記録することを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載の光ディスク記録方法。
3. （３）上記不良ブロックについての識別情報を上記光デ
   ィスク媒体上の特定領域に不良ブロックアドレスとして
   記録することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
   光ディスク記録方法。