JPS63867B2 - - Google Patents

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JPS63867B2
JPS63867B2 JP55120732A JP12073280A JPS63867B2 JP S63867 B2 JPS63867 B2 JP S63867B2 JP 55120732 A JP55120732 A JP 55120732A JP 12073280 A JP12073280 A JP 12073280A JP S63867 B2 JPS63867 B2 JP S63867B2
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JP
Japan
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head
velocity
adl
track
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JP55120732A
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English (en)
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JPS5674869A (en
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Moori Kurisuchan
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SEE II II HANEUERU BURU
Original Assignee
SEE II II HANEUERU BURU
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Publication date
Application filed by SEE II II HANEUERU BURU filed Critical SEE II II HANEUERU BURU
Publication of JPS5674869A publication Critical patent/JPS5674869A/ja
Publication of JPS63867B2 publication Critical patent/JPS63867B2/ja
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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
    • G11B5/54—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head into or out of its operative position or across tracks
    • G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
    • G11B5/5521—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
    • G11B5/5526—Control therefor; circuits, track configurations or relative disposition of servo-information transducers and servo-information tracks for control thereof
    • G11B5/553—Details
    • G11B5/5547—"Seek" control and circuits therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
    • G01P3/42—Devices characterised by the use of electric or magnetic means
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Program-control systems
    • G05B19/02—Program-control systems electric
    • G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form
    • G05B19/19—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path
    • G05B19/21—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path using an incremental digital measuring device
    • G05B19/23—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path using an incremental digital measuring device for point-to-point control
    • G05B19/231—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path using an incremental digital measuring device for point-to-point control the positional error is used to control continuously the servomotor according to its magnitude
    • G05B19/232—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path using an incremental digital measuring device for point-to-point control the positional error is used to control continuously the servomotor according to its magnitude with speed feedback only

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
  • Control Of Velocity Or Acceleration (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、データ担体に対し可動系の速度を
測定するための装置に関する。特に本発明は、デ
ータ処理方式で用いられるデイスク・メモリの読
取り／書込みヘツドの変位を行なう装置に適用可
能である。
このようなデータ処理方式においては、記憶容
量の点ならびに情報アクセス命令を受けた時点か
らデイスク上の任意個所に格納されているデータ
項目に磁気読取り／書込みヘツドがアクセスする
のに要する時間が比較的短いと言う理由から、磁
気デイスク・メモリが増々多用される傾向にあ
る。
磁気デイスクは同心の円形記録トラツク上に符
号化された形態でデータを担持しており、そして
このトラツクの幅は１mmの数百分の１を超えるも
のではなく、そして記録トラツクはデイスクの両
面に設けられていることは周知である。最も頻繁
に用いられる符号は２進符号もしくは２進コード
である。
トラツクは連続番号ｊを割当てることによつて
識別されており、ｊは０からＮ―１までの範囲の
整数であり、Ｎは記録トラツクの総数である。
トラツクの連続番号ｊの符号化された表現がア
ドレスと呼ばれる。
データの読取りまたは書込みを可能にするため
に、磁気ヘツドはデイスクから１ミクロンの数拾
分の１の距離でデイスクの両側に配設されてい
る。
磁気デイスクは一定の回転速度で電動機によつ
て駆動される。
現在の慣行によれば、特に（一般には４または
５よりも小さい）限定された数のデイスクしか有
しないメモリ、即ち記憶装置の場合にはデータは
次のような仕方でデイスク面の各々に記録され
る。これらメモリが所属するデータ処理システム
によつて処理するよう企図されている情報または
データの記録に対して最大のスペースが割当てら
れる。なお、このデータは便宜上「被処理デー
タ」と称する。他方トラツクのアドレスの記録な
らびにデイスク面と関連して設けられた磁気ヘツ
ド（単数でも複数でもよい）のトラツク上の位置
を制御するのに必要なデータを記録するために、
最小のスペースが割当てられる。なお以下の説明
においては、トラツクのアドレスならびに位置の
サーボ制御用データをトラツク識別データと称す
ることにする。
説明の便宜上デイスクの一面だけについて考察
し、そしてこの面と関連してただ１つの磁気ヘツ
ドが設けられているものと仮定する。該磁気ヘツ
ドは、被処理データならびにトラツクのアドレス
およびサーボ制御位置データを読取る（および／
または書込む）。
現在の慣行においては、例えば特開昭52−
119913号公報に開示されているように、デイスク
の各面に格納されているデータは等分された隣接
の円形セクタS0，S1，…Si，…So01にわたつて分
布するのが好ましいとされている。一般にデイス
クの１つの面は数拾のセクタ（最も一般には40な
いし50個のセクタ）に分割されている。
磁気デイスクの面が該面と関連の磁気ヘツドの
前部を通過することによりセクタS0がセクタS1よ
り以前にヘツドによつて読取られ、セクタS1はセ
クタS2より前に読取られ、以下同様の順序で読取
りが行わる。したがつてセクタS0はセクタS1に先
行し、セクタS1はセクタS2に先行し、そして一般
的には、SiはセクタSi+1に先行すると言うことが
できる。
より一般的には、該デイスク面の連続番号ｊの
同じトラツク上で互いに相続くデータIk-1および
Ikの２つのデータ項目を考えた場合、データ項目
Ik-1はヘツドによつて読取られる際にデータ項目
Ikに先行すると言うことができ、また別の表現を
すればデータ項目Ikはデータ項目Ik-1に後続する
と言うことができる。同じことがいくつかのデー
タ群GkおよびGk-1にも当嵌まる。
各セクタSiは２つの不等分領域に分割されてい
る。大きい方の領域は被処理データを格納し、他
方小さい方の領域はトラツク識別用情報を格納す
る。各セクタにおいて、小さい方の領域はトラツ
ク数に等しい数の基準ゾーンと称するいくつかの
ゾーンに分割されており、そして各トラツクには
同一のゾーンが相関されている。
術語「ビツト」とは磁気記録形態にあれ、アナ
ログまたは論理電気信号形態にあれ、２進法の
「１」または「０」を表わすものであり、そして
論理信号は「論理０」または「論理１」と称する
２つの値しかとることができず、他方アナログ信
号は、その電圧もしくは振幅が２つの正または
（および）負の限界値間で連続的に変動し得る信
号と定義されるものであることは言うまでもな
い。説明の便宜上、デイスクに記憶もしくは格納
されている任意のデータ項目は以下「ビツト」と
称することにする。特に、トラツク識別用データ
項目もトラツク基準ビツトと称することにする。
ヘツドが「任意の被処理データ項目にアクセス
するのに要する時間を短かくするためには、原則
としてヘツドが１つのトラツクから他のトラツク
へ最小時間内に移動することができ、かつ後者の
トラツクに対し正確に位置付けできることが必要
である。
上記のような要件を満たすために、ヘツドの変
位および位置決めを行なう装置が知られている。
これら装置のうちの或るものは、「バング―バン
グ（bang―bang）」と称され、円筒形の永久磁石
内で直線形に変位するコイルを有する「ボイス・
コイル」型の電動機を使用している。このコイル
はサスペンシヨン・アームによつて磁気ヘツドを
担持するキヤリツジに機械的に接続されている。
２つの相、即ち加速相と減速相とを有する運動
がヘツドの変位および位置決め用装置に加えられ
る。第１の運動相においては、モータのコイルに
は一定の電流（例えば正の電流）が供給される。
この場合、キヤリツジ（したがつてまたヘツド）
の速度はヘツドの変位時間の増加線形関数に擬似
することができる。
キヤリツジの瞬時位置の関数として速度を表わ
す曲線は、放物線の上向きの円弧であり、速度は
位置の関数として増大する。
減速相である運動の第２相においては、反対極
性の電流（例えば負の電流）がモータに供給され
る。したがつて、キヤリツジの速度は時間の減少
線形関数であり、キヤリツジが占める位置の関数
として速度を表わす曲線は放物線の下向きの円弧
の形をとり、速度は位置の関数として減少する。
第２の相の終時には、キヤリツジの速度ならびに
キヤリツジが移動する残りのスペースは、選択さ
れたトラツク上でヘツドを停止できるように充分
に小さくなければならない。
磁気ヘツドが最小の時間内に選ばれたトラツク
に対向位置できるような仕方で可動系の運動を制
御するためには、各時点において移動可能なキヤ
リツジ、ヘツドおよびそのサスペンシヨン・アー
ムによつて構成される可動系の速度を知ることが
重要である。
現在の慣行によれば、可動系の速度は、該速度
に比例する振幅を有するアナログ信号を発生する
電気機械的変換器によつて測定されている。これ
ら変換器は例えば、ダイナミツク・リニヤ・モー
タの軸によつて担持され、かつ本質的にアナログ
回路と接続されているコイルにより構成されてい
る。
電気機械的変換器ならびにそれに関連のアナロ
グ回路によつて構成される装置は、極めて正確で
なければならず、したがつて費用が嵩まり複雑で
あると言う不利点を免れない。
本発明は、このような不利点を除去しようとす
るものである。本発明は、完全に画定された時点
でデータ担体と関連の読取りヘツドによつて読取
られるアドレスから速度が決定されるようにした
データ担体に対する可動系の速度を測定するため
の装置に関する。本発明によるこの装置は、構造
が単純で動作が容易であつて主として論理回路が
用いられる。したがつて信頼性は極めて高く、上
に述べたような型の電気機械的変換器の使用は省
略することができる。
本発明による速度測定装置は、本願と同日付け
の本出願人の特許明細書に開示されているような
データ担体に関する可動系の変位を行なう方法を
実施する装置に特に有利に適用可能である。
各トラツクに少なくとも１つのゾーンが割当て
られるようにして該トラツクの数に少なくとも等
しい担体上の複数個の基準ゾーンに書込まれてい
るアドレスを有する複数個のトラツクに記録され
ているデータを有するデータ担体に対し可動系の
変位を行なう上記特許願明細書に開示されている
方法は、電動機が設けられ、少なくとも１つのデ
ータ読取りヘツドを備えておつて該ヘツドは出発
トラツクからアドレス指定された到達もしくは目
標トラツクADfに変位されるものであり、該ヘツ
ドにより読取られたトラツクのアドレスは、
ADLjによつて表わされるものであつて、この方
法は次のような特長を有している。
可動系の運動は、非線形微分式、 ｆ（ε1）＋dε1／dt＋１／C2d2ε1／dt2＝０ …(1) に従つてサーボ制御される。ここでε1＝ADf−
ADLjであり、C2は定数でｆ（ε1）はε1の非線形増
加関数である。上記のヘツド変位方法には次のよ
うな動作段階が含まれる。
１ 偏差ε1を定められた標本化時点で計算する。
２ 対応の関数ｆ（ε1）を定める。
３ 同じ時点で速度−ｖ＝dε1／dtが予め定められた 持続期間の時間々隔によつて分離されている標本
化時点で読取られたアドレスにおける差の関数と
して計算される。
４ 次式で表わされる加速度命令が計算される。
γc＝−C2｛ｆ（ε1）＋dε1／dt ５ 加速度γ〓を測定する。
６ 差（γc−γ〓）を計算し、電動機の電流および
（または）電圧をこの差の関数として制御する。
本発明による速度測定装置では、上述の方法の
第３項に述べた原理が用いられる。
本発明によれば、各トラツクに少なくとも１つ
の基準ゾーンが割当てられるようにして、該トラ
ツクの数に少なくとも等しい数の複数の基準ゾー
ンにアドレスが書込まれている複数個のトラツク
上に記録されているデータを有する担体に対して
少なくとも１つのデータ読取りヘツドを含む可動
系の速度を測定するための装置において、完全に
画定された標本化時点でヘツドによつて読取られ
るアドレスを決定するための手段と、所定の持続
期間を有する時間々隔によつて分離された前記標
本化時点で読取られたアドレスにおける差の関数
として上記可動系と速度ｖを上記標本化時点で計
算するための手段とを有すことを特徴とする。
可動系の速度ｖを計算するための手段は次のよ
うなデバイスを含む。標本化時点to＝nTおよび
tkp＝nT＋k0T（k0およびｎは正数でＴは標本化時
点間の秒で表わした時間間隔）で読取られたアド
レスADL（nT＋k0T）およびADL（nT）におけ
る差の関数として可動系の測定速度vnを計算す
るためのデバイスと、 可動系の速度ｖに対し測定速度vnの予測平均
遅延θを補償し（vn＋γF）が多少の程度こそあれ
速度ｖに等しくなるような信号γFを発生するデバ
イス（ここで実際上時点tkpにおける測定速度vn
はこの時点tkpにおけるヘツドの実際の速度には
等しくなく、時点（tkp−θ）における実際の速
度に等しいことが判つた）と、 測定速度vnおよび補償信号γFを加算するための
デバイスである。
本発明の他の特徴や利点は添付図面を参照して
の非限定的な具体例に関する以下の説明から明ら
かとなろう。
本発明によるデータ担体に対し可動系を変位す
るための装置の構造および動作原理に関し深い理
解を得るために好ましくは磁気デイスクである磁
気記録担体の表面にデータがどのように分布され
るかを示す第１ａ図ないし第１ｅ図ならびにこの
磁気デイスクの基準ゾーン内へのデータの好まし
い書込み方法を示す第２ａ図ないし第２ｃ図を参
照し、いくつかの事柄に関し説明しておくのが有
用であろうと考えられる。
第１ａ図には矢印ｆの方向に回転する磁気デイ
スクの１面が示されており、該面の有効な記録表
面は円d1およびd2によつて画定されている。また
この面にはそれと関連して単一の磁気書込み／読
取りヘツドTELが設けられているものと仮定す
る。このデイスク上にはn0個の等分の円形セクタ
S0，S1，…Si…So0-1が画定されている。第１ｂ
図に明示してあるように、各セクタSiは２つの部
分SADiおよびSDOiに分割されており、これら部
分にはそれぞれトラツクのアドレスならびに磁気
デイスクＤを有するデイスク・メモリが属するデ
ータ処理システムより処理される「被処理デー
タ」が記録されている。
部分SADiの表面は部分SDOiの表面積よりも非
常に小さい。
第１ｃ図および第１ｄ図はセクタSiの部分
SADiをどのように形成するかを詳細に示してい
る。なお第１ｃ図および第１ｄ図は円Ｃ内に含ま
れるセクタSiの部分SADの拡大図である。
セクタSiの各部分SADiはＮ個のゾーンZRPi0，
…ZRPij，…ZRPiN-1に分割されている（ここで
Ｎは磁気デイスクＤの磁気トラツクの数である）。
第１ｃ図および第１ｄ図には図示を簡略にする
ために、最初から５つのゾーンZRPi0ないし
ZRPi4だけしか示されていない。
異なつたゾーンZRPij間の境界は磁気記録トラ
ツクの円形の軸線Axｊである。軸線Axjの連続
番号ｊである各磁気トラツクにはゾーンZRPijが
割当てられている。従つて基準ゾーンZRPi0には
連続番号０のトラツクが割り当てられ、基準トラ
ツクZRPi1には連続番号１のトラツクが割り当て
られ、以下同様の相関が与えられている。
周知のように、磁気読取り／書込みヘツドは周
りに巻線が設けられている磁気回路とエア・ギヤ
ツプを有している。軸線Axjの連続番号ｊのトラ
ツクの「被処理データ」は最大の精度で磁気読取
りヘツドTELにより読取られ、該ヘツドはこの
データの読取りに必要な時間中、上記トラツクに
対し静止するようにするためには、エア・ギヤツ
プを２つの基準ゾーンZRPijとZRPi(j+1)間の境界
である軸線Axjに完全に心出しする必要がある。
従つて磁気読取り／書込みヘツドTELはこれら
２つのゾーンにまたがつて配置される必要がある
と言うことができる。
第１ｄ図には図示を簡略にするために基準ゾー
ンZRPijは矩形で表わされている。これらゾーン
の各々はそれと相関されたトラツクのアドレスを
格納している。第１ｄ図に見られるように、ゾー
ンZRPi0は連続番号０のアドレスを格納してお
り、連続番号１のトラツクのアドレスはゾーン
ZRPi1に格納されそして連続番号２のトラツクの
アドレスはゾーンZRPi2に格納され、以下同様に
してトラツクのアドレスが関連のゾーンに記憶さ
れている。
トラツクのアドレスはGRAYコードと称する
交番２進コードに従つて書込まれている。この種
のコードの説明は、例えばEDITIONS DUNOD
社により1961年に発行されたH.SOUBIES−
CAMY著の文献第253ページないし254ページに
あるので必要ならば参照されたい。第１ｅ図には
トラツク１２４および１２５の２つの相続くトラ
ツクのアドレスのGRAYコードでの書込み例が
示されている。
この例から明らかなように、GRAYコードに
は次のような主たる特徴がある。即ち、２つの相
続くアドレスがこれらアドレス間におけるただ１
つのビツトの変化によつて識別されると言う点で
ある。従つてGRAYコードで書き込まれた２つ
のアドレス１２４および１２５は最後のビツトだ
けが異なる。即ちトラツク１２４の場合には最後
のビツトは「０」であり、トラツク１２５の場合
には最後のビツトは「１」に等しい。
第２ａ図にはセクタSiの基準ゾーンZRPijが示
されており、デイスクＤの運動方向は矢印Ｆで示
されている。本出願人の特開昭55−55483号公報
に開示されているように、トラツクのアドレスは
部分PADに格納されており、このゾーンの残り
の部分には主として連続番号ｊのトラツクの軸線
Axj上のヘツドTELの位置のサーボ制御用データ
が格納されている。
基準ゾーンZRPijには「ホワイト・ゾーン」と
称するゾーンZBijが先行しておつて、該ホワイ
ト・ゾーンは基準ゾーンを被処理データを格納し
ているセクタSiの部分SDOiから分離している。
磁気誘導はゾーンZBijでは均等で、例えば第２ａ
図に示すように負である。
周知のように、磁気デイスクにデータを記録す
るためには、一連の小さな磁気バリヤ（障壁）
（このバリヤの寸法は２―3μ台である）がデイス
クの各トラツク上に発生されて、要素領域を画定
する。これら要素領域は可変の長さを有しておつ
て、トラツクの全長に亘たり分布され、そして同
じ大きさでしかも反対の極性の交番磁気誘導を有
している。なおこの磁気誘導の方向はデイスクの
表面に平行である。
基準ゾーンZRPijの出発点はDZijにより表示さ
れている。このDZijは誘導が負であるゾーンZBij
と、磁気誘導が正であるゾーンZRPijの第１の磁
気領域DM1との間における磁気誘導の極性の変
化に対応する。
以下の説明において、磁気誘導の極性もしくは
方向における変化は磁気遷移とも称することにす
る。
磁気遷移には２つの異なつた種類がある。即
ち、 デイスクの面が磁気ヘツドＴの前部を横切り、
そしてヘツドＴから見た場合に、負の磁気誘導の
要素磁気領域が通過し、それに続いて正の磁気誘
導の要素領域が通過した場合に対応の磁気遷移は
正であると称し、 反対に磁気ヘツドＴから見た場合に正の磁気誘
導の要素領域が通過し、それに続いて負の磁気誘
導の要素領域が通つた場合に磁気遷移は負である
と言う。
アドレスを格納している部分PADはＭ個の長
さＬの同じ要素セル（第２ａ図に示した例では12
個のセル）即ち、セルC0，C1，…Ck，…C11から
構成されており、各セルはアドレスの１ビツトを
格納する。１つのセルに格納されているアドレス
の任意ビツトBkは２つの磁気遷移が存在するか、
あるいは存在しないかによつて定められ、この場
合第１番目の磁気遷移T1kは第２の遷移T2kに対
し反対の記号である。例えば第１番目の遷移T1k
が正であるとすると（第２ｂ図参照）、第２の遷
移T2kは負である。基準ゾーンZRPijに格納され
ている連続番号ｊのトラツクのアドレス・ビツト
ADEjの符号化は例えばビツトBkが２つの磁気遷
移が存在する場合１に等しくなり、そして２つの
磁気遷移が存在しない場合には０に等しくなるよ
うに選択される。なお、この不在は零値のこのビ
ツトを格納しているセルにおける例えば負の均等
な磁気誘導によつて表わされる。
説明の便宜上、以下の叙述においては、２つの
磁気遷移の不在または存在をデイビツトと称する
ことにする。
ビツトBkが１に等しい場合には、ヘツドTEL
によつて発生される信号は絶対値においてAMP
に等しい振幅を有する反対の記号の２つのアナロ
グ・パルスから構成される。ビツトBkが０に等
しい時には、ヘツドTELによつて発生される信
号の電圧は零である。本発明によるデータ担体に
対し可動系の変位方法を実施するための装置を示
す第３図に見られるように、変位される可動系
SYSMOBはキヤリツジCHARに機械的に取付け
られている磁気読取り／書込みヘツドTELによ
つて構成されている。データ担体はデイスクＤで
ある。
本発明による速度測定装置は、出発トラツクＡ
からアドレスADfの到達トラツクＢへ単一の行程
で可能な限り最少の時間内に磁気書込み／読取り
ヘツドTELを変位することを目的とするデイス
クＤに対する上記ヘツドを含む可動系SISMOB
を変位するための方法を実施するのに用いられる
装置に含まれるものである。ヘツドTELの運動
は先に定義した非線形二次微分方程式(1)、ならび
に量ｆ（ε1）、ε1およびC2によつて制御される。
ここでε2＝dε1／dt＝−ｖでｖはヘツドTELの速 度、そしてε3＝d2ε1／dt2＝−γで、γはヘツドTEL の加速度を表わすものとする。
デイスクＤの面に関し可動系SISMOBを変位
する方法は次の段階を含む。
１ アドレスADLjを求めて規則的に離間した所
定の標本化時点で偏差ε1を計算する。これら標
本化時点を分かつ期間はＴに等しい。
２ 同じ標本化時点で対応の関数ｆ（ε1）を求め
る。この関数ｆ（ε1）は前もつて定めることが
できる既知の関数である。
３ 標本化時点to＝nTおよびtkp＝nT＋k0Tで読
取られたアドレスADL（nT＋k0T）−ADL
（nT）の差の関数として速度ｖを計算する。
４ γc／C2＝｛ｆ（ε1）−ｖ｝＝ｆ（ε1）＋（ε2）
を計
算する。
５ C2で割つた加速度γ〓を測定する。
６ 差（γ〓−γc／C2＝△（ε3）／C2＝△（γ／C2）
を計算する。
７ モータMLのコイルに上記差に依存する記号
の電圧を供給する。
本発明による速度測定装置を備えた可動系
SISMOBを変位するための装置の本質的な回路
要素としては、次のものがある（第３図参照）。
即ち、 ダイナミツク・モータML、 アドレスGESTADを制御してアドレスADfを
供給する回路、 量ε1を測定する減算器SOUS、 関数ｆ（ε1）の関数発生器GF、 本発明により速度を測定し、量ε2＝−ｖを決定
するための装置MESVIT、 加速度命令γcと測定加速度γ〓との間の比較を行
なうための加算―比較器ADCOMP。なお、測定
加速度γ〓は、ダイナミツク・モータMLのコイル
を流れる電流の強さｉに比例する。
モータ・コイルMLの給電発電装置ALIM。
本発明による速度測定装置MESVITは次の要
素を含む。
読取りアドレスADLjを決定する回路
CIRCAD、 測定速度Vnを決定する計算回路CALVIT、 ヘツドTELの実際の速度ｖに対する測定速度
Vnの予測平均遅延θを補償するための遅延補償
装置COMPRET、および、 加算器ADDVである。
回路CIRCADの機能は次の通りである。
(a) ゾーンZRPijの部分PADに格納されているデ
ータのデイビツトがヘツドTELの前部を通過
する時に磁気読取り／書込みヘツドTELから
供給されるアナログ信号STを受ける。ここで
信号STは１群のアナログ・パルスからなつて
いる。
(b) 信号STを基準ゾーンZRPijに関連の連続番号
ｊが割当てられているトラツクのアドレス
ADGj（GRAYコードで符号化されている）を
形成する１群の論理パルスに変換する。
(c) 上記アドレスDGjを重み付け２進コードで表
わされたアドレスADLjにコード変換する。こ
のような重み付け２進コードは先に引用した文
献に記述されている。
(d) 減算器SOUSおよび速度計算回路CALVIT
にＦ＝１／Ｔの標本化周波数でアドレスADLj
を供給する。ここで標本化周期Ｔは連続番号ｊ
の同じトラツクに関連の２つの基準ゾーン
ZRPijとZRP(i+1)jの２つの部分PADの通過を分
つ時間に等しい。言い換えるならば、アドレス
ADLjがＴ秒毎に回路CIRCADから供給される
と言うことができる。
計算回路CALVITは次のような仕方で測定速
度Vnを決定する。
ADL（nT）およびADL（nT＋k0T）は、時点to
＝nTおよびtk0＝nT＋k0T）に回路CIRCADから
供給される読取りアドレスADLjであるとする。
ADL（nT＋k0T）−ADL（nT）＝lqとする。ここ
でｌは整数であり、ｑはトラツク幅の真分数値に
等しい距離である。デイスクの全べてのトラツク
は多少の程度の差こそあれ同じ幅lpを有している
ので（第１ｄ図および第７図参照）、ｑ＝ｆ×lp
となり、０＜ｆ＜１。ここでｑはアドレスが定め
られる精度を表わす。従つて、ここで述べている
具体例の場合には、ｑはトラツク幅の1/2に等し
い。即ち0.5lpに等しい。換言するならば、連続番
号ｊのトラツクに対応するアドレスADLjが読出
される場合には、ヘツドTELはほぼトラツク幅
の1/2の精度で連続番号ｊのトラツクに対向位置
すると言える。
従つて量lqは（k0×Ｔ）秒に等しい時間中、ヘ
ツドTELが移動する距離を表わす。
計算回路CALVITは式vn＝lq／k0Tに従つて測
定速度vnを決定する。速度vnは反転された記号
でアナログ形態で加算器ADDVに伝送される。
追つて詳述する理由から、時点（nT＋k0T）
で計算された測定速度は、この時点における磁気
ヘツドTELの実際の速度ｖに等しくはなく、時
点（nT＋k0T）−θにおけるこのヘツドの速度に
等しい。ここでθは（k0＋１）Ｔ／２に等しく、
平均予測遅延量と称される。
予測平均遅延量θを補償する装置COMPRET
の目的は、速度vnの測定値に対する該遅延量の
影響を補償することにあり、信号γ〓を受けて補償
信号γFを供給する。
量（vn＋γF）＝ｖ〓を予測速度と称し、△ｖを速
度差とすると、ｖ−ｖ〓＝ｖ−vn−γFとなり、遅延
補償装置COMPRETの特性は速度差△ｖが最小、
即ち零となるように設定される。従つて予測速度
ｖ〓は実際上磁読取り／書込みヘツドTELの実際
の速度ｖに等しいと言うことができよう。
この結果はγF＝γ〓×Ｇの値に対しても得られる
ことが判つた。ここでＧはフイルタである装置
COMPRETの伝達関数である。
信号γFはアナログ信号であつて、その記号を反
転され加算器ADDVに伝送される。該加算器
ADDVの出力端には、アナログ信号−（vn＋γF）
＝ｖ〓が発生され、この信号は加算―比較器
ADCOMPに供給される。
減算器SOUSは、アドレスADLjおよびトラツ
クＢのアドレスADf受ける。アドレスADfは、デ
イスクＤを有するデイスク・メモリが所属するデ
ータ処理方式のアドレス制御回路GESTADによ
つて発生され、アドレスADLjと同じ重み付け２
進コードで表わされている。
減算器SOUSは、アドレス偏差ε1＝ADf−
ADLjを計算する。自明なように、減算器SOUS
はＴ秒毎に新しいアドレスADLjを受けてＴ秒毎
にε1の新しい値を計算する。アドレス偏差ε1は関
数発生器GFに伝送され、該関数発生器GFは、そ
れに伝送された値ε1に対応する非線形関数ｆ（ε1）
の値を加算―比較器ADCOMPに供給する。ｆ
（ε1）の値はアナログ信号の形態で出力される。
第４図は、アドレス偏差ε1の関数として関数ｆ
（ε1）の変化曲線の一例を示す。図から明らかな
ように、関数ｆ（ε1）の変化はε1の値が小さい場
合（微分df（ε1）／ｄ／〜ε1が大きい場合）には非常
に大き く、そしてε1の値が大きい場合（上記微分が小さ
い場合）には非常に小さい。
加算―比較器ADCOMPは信号−（vn＋γF）お
よびｆ（ε1）、実際には、ｆ（ε1）−（vn＋γF）＝
ｆ
（ε1）−ｖ＝ｆ（ε1）＋ε2＝−ε3／C2およびγc／C
2で
あるから、加速度命令γcを受けると共に測定速度
γ〓＝−ε〓3、即ち、モータMLのコイルを循環する
電流Ｉに比例する量から得られる信号ε〓2／C2を受
ける。γ〓を測定するには、本出願人の同日付けの
特許願明細書に記述されているように、コイルに
流れる電流を測定するだけで充分である。加算―
比較器ADCOMPの出力端には信号（γc−γ〓）／
C2＝（ε〓3−ε3）／C2＝△（ε3／C2）が発生されて
、
この信号が給電発電装置ALIMを制御する。
△（ε3／C2）が正である場合には、給電発電装
置ALIMは電圧＋U0をリニヤ・モータMLのコイ
ルに供給する。△（ε3／C2）が負である場合に
は、給電発電装置ALIMは電圧−U1をダイナミ
ツク・リニヤ・モータMLのコイルに供給する。
第５図はトラツクＡおよびＢ間における変位
中、可動系SISMOBの速度がどのように変化す
るかを示す。第５図から明らかなように、（トラ
ツクＡおよびＢに対応する）点ＡおよびＢとの
間、言い換えるならば時点TAおよびtBとの間で
速度変化曲線Γ1はほぼ指数関数形態をとり、速
度は速度vnよりも小さい。実際上ε1が充分に大き
い値の場合には、各横座標点ε1i（第４図をも参
照）について次式が得られる。
ｆ（ε1）＝ａ＋αε1 …(2) 但し、α＝df（ε1）／dε1で、αは非常に小さい。
可 動系の運動は次の微分方程式によつて制御される
ものであることが判る。
ε2＋１／C2・dε2／dt＝一定 …(3) 上の微分方程式の解は次のようになる。
ε2＝B1（１−e-C 2 t） …(4) 換言するならば、トラツクＡおよびＣとの間で
可動系SYSMOBの運動は速度制御されると言う
ことができる。
ヘツドTELがトラツクＢに接近する（アドレ
スε1の偏差がより小さくなる）と、方程式(2)によ
つて与えられる近似はもはや妥当しなくなり、可
動系SYSMOBの運動は上述の非線形二次微分方
程式(1)によつて定められる制御を受ける。
可動系SYSMOBの速度曲線は従つて点Ｃ（時
点tC）から出発する曲線Γ2である。従つて系
SYSMOBは非線形二次方程式(1)に対応の軌跡に
従つて摺動せしめられると言うことができる。
第５図はまたヘツドTELがトラツクA′とトラ
ツクB′との間で変位される場合に、時間の関数
として速度変化曲線を示すものである。なおトラ
ツクA′とＢとの間の距離はトラツクＡとＢとの
間の距離よりも大きい。速度変化は（点A′およ
びC′との間では）曲線Γ1′によつて与えられ、そ
して（点C′とＢとの間では）曲線Γ2′によつて与
えられる。
アドレス決定回路CIRCADは第６図に示すよ
うに構成されておつて、閾値回路GS、レジス
タ・コード変換器TRANSCOD、Ｔ秒毎に標本
化パルスを発生する標本化発生器ECHANTを備
えている。
閾値回路GSは信号STを受けて、この信号ST
を構成するアナログ・パルス群を２つの閾値S1お
よびS2により論理パルス群に変換する。１に等し
いビツト（第２図において二重の遷移の存在を表
わす）に対応するヘツドTELより発生される信
号の平均振幅の絶対値がAMPに等しいと仮定す
ると、本発明の好ましい具体例においては、 S1＝0.25×AMP …(5) および S2＝0.75×AMP …(5)′ となる。次いで行なわれる回路GSによるビツト
の値の決定は次のようにして行なわれる（第７図
参照）。
２つの隣接する基準ゾーンZRPijおよび
ZRPi(j+1)について考察すると、これらゾーンの部
分PADに書込まれている対応のトラツク・アド
レスはそれぞれADEjおよびADEj+1であり、そし
てこれら２つのゾーン内の同系列の２つのセルは
CkjおよびCk(j+1)である。これら２つのセルに対応
するビツトはそれぞれBkjおよびBk(j+1)である。
アドレスADEjおよびADEj+1がGRAYコードで
書込まれているので、次のような３つのケースが
起り得る。
ケース１：２つのビツトBkjおよびBk(j+1)が零。
信号STの電圧は零で、従つて閾値S1よりも小さ
い。その場合回路GSは「論理０」に等しい信号
を供給する。この信号は、エア・ギヤツプがゾー
ンZRPijに対向位置している位置POS1（第７図で
は、エア・ギヤツプは長さが幅よりも非常に大き
い矩形で示されている）から該エア・ギヤツプが
ゾーンZRPi(j+1)上に位置する位置POS3に読取
り／書込みヘツドTELが移動する際に、該ヘツ
ドが連続番号ｊのトラツクの軸線Axj上にエア・
ギヤツプが心出しされる位置POS2を通る際にも
「論理０」である。
ケース２：２つのビツトBkjおよびBk(j+1)は
「１」に等しい。信号STの電圧は正の振幅および
負の振幅を有し、その絶対値はAMPに等しい。
言い換えるならばS2よりも大きい。そこで回路
GSは位置POS1とPOS3（第７図をも参照）との間
で読取りヘツドTELが占める位置に関係なく
「論理１」に等しい信号を供給する。
ケース３：Bkjが「０」に等しくそしてBk(j+1)
が「１」に等しいと仮定する。単一ビツトだけ異
なる２つのアドレスADjおよびADj+1は従つて２
つの隣接する基準ゾーンに対し同じ種類の単一の
ビツトに対して発生される。そこで信号STの振
幅の絶対値の変化（第８図参照）を考察する。位
置POS1およびPOS3間の距離はゾーンZRPijの幅、
従つてまた１つのトラツクの幅lpに等しい。この
距離lpはまたトラツク間のピツチとも呼ばれる。
ヘツドTELが位置POS1および位置POS3間で連
続的に変位される場合には、信号振幅の絶対値は
AMPの０％から100％まで連続的に変化する。こ
の第３番目のケースでは、信号STは一義的では
なく、多義性（anbiguity）のビツトに対応し、
このアンビギユイテイ・ビツトの大きさは位置
POS1とPOS3間でヘツドが占める位置ｘの関数と
して変動する。ここでＡ（ｘ）をこの大きさ即ち
振幅とする。ｘがlp／４よりも小さい時にはＡ
（ｘ）は0.25AMP＝S1よりも小さいことが判る。
他方ｘが3lp／４よりも大きい場合には、Ａ
（ｘ）は0.75AMP＝S2よりも大きいことが判る。
最後にＡ（ｘ）がS1およびS2との間にある場合、
言換えるならば、0.25AMPと0.75AMPとの間に
ある場合にlp／４＜ｘ＜3lp／４となる。
閾値回路GSはGRAYコードで読取られたアド
レス、即ちアドレスADGjまたはADGi+1を発生
し、コード変換レジスタTRANSCODは、閾値
回路GSから、発生器GENによつて発生される標
本パルスの周波数に等しい周波数1/Tに従つて
GRAYコードで読取られたアドレスADGjを受け
て、これらアドレスを重み付け２進コードにコー
ド変換する。従つて標本化発生器ECHANTによ
つて制御されるレジスタTRANSCODは並列ト
ラツクでＴ秒毎に重み付け２進コードで表わされ
たアドレスADLjを発生して、それを減算器
SOUSおよび速度計算器CALVITに供給する。
GRAYコードで読取られたアドレスADGjの重み
付け２進コード・アドレスADLjへのコード変換
に際して２進重みa-1（ｊ）を次のように定義して
おくのが便利であろう。
および 関連のデイスク面に対置するヘツドTELの位
置を半ステツプ（トラツク幅の1/2）で量子化さ
れたアドレスで表わすことは知られている。例え
ば連続番号ｊが１２４に等しい（従つてヘツドは
１２４からトラツク１２５に変位される）ものと
すると、ｘ＜lp／４であるならば、即ちＡ（ｘ）
がS1よりも小さい場合には、ヘツドTELは位置
124を占めているとみなされる。
ｘ＞3lp／４、即ちＡ（ｘ）がS2よりも大きい場
合には、ヘツドTELは位置125を占める。
lp／４が、3lp／４よりも小さいｘよりも小さい
場合には、ヘツドは位置124＋1/2を占めると言う
ことができる。
このような条件下でデイスク上のヘツドTEL
の位置はアドレスADLjにより次のように表わさ
れる。
ADLj＝a-1（ｊ）2-1＋a0（ｊ）Z0 ＋ａ（ｊ）21＋…an（ｊ）2n で、a1（ｊ）、a2（ｊ）…ao（ｊ）ε｛0.1｝ …(7) 但し重み2-1＝lp／２ 既に述べたように、ヘツドTELが占める最終
位置がアドレス・トラツクADfの磁気軸線Axfを
またがるような位置である場合にはADfは次のよ
うに表わされる。
ADf＝1.2-1＋a2（ｆ）20＋…ao（ｆ）2nで a0（ｆ）、ａ、（ｆ）… ao（ｆ）は｛0.1｝に属する …(8) 半ステツプとして表わされる分離量（離間距
離）ε1＝ADf−ADLjは、次のようにして２進形
態で計算できる。
ε1＝ε1-1（ｊ）2-1＋ε10（ｊ）20 ＋ε11（ｊ）21＋…ε1o（ｊ）2n 但し、ε1i（ｊ）ε｛0.1｝ …(9) ヘツド位置ならびに分離量ε1の精度はlp／２＝
ｑに等しい。
速度計算器CALVITは（第６図に示すように）
循環メモリMEMOCIRC、減算―割算器
SUBDIV、阻止もしくは禁止回路BLOCおよび
デイジタル・アナログ変換器CDANを備えてい
る。
循環メモリMEMOIRCはＴ秒毎にアドレス
ADL（nT＋k0T）を受けて、アドレスADL（nT）
を減算―割算器SUBDIVに供給する。後者はア
ドレスADL（nT＋k0T）をも受ける。循環メモリ
は時点（nT）と（nT＋k0T）との間に読出され
たアドレスの値の全べて、言い換えるならば、ア
ドレスADL（nT）、ADL（nT＋Ｔ）、ADL（nT＋
2T）、…、ADL（nT＋k0T）の値の全べてを保持
する。
減算―割算器SUBDIVは差ADL（nT＋k0T）−
ADL（nT）を求めて、それを量k0Tで割つて、速
度vnを計算する（この演算は各標本化時点、言
い換えるならばＴ秒おきに行なわれる）。
阻止回路BLOCはＴ秒に等しい期間中、vn＝
ADL（nT＋k0T）−ADL（nT）／k0Tの値を阻止
する。
第８図に示した予測平均遅延θの決定は次のよ
うな原理に基ずいて行なわれる。時点nTおよび
nT＋k0Tを分つ時間間隔、即ちk0Tに等しい時
間間隔がこの時間中に考慮されるヘツドTELの
実際の速度ｖにおける変化に対して充分に小さい
（数ミリ秒）場合には、平均遅延量θは時間の線
形関数である。対応の変化曲線Γ4が第８図に示
されている。記号t0、t1、t2、t3、t4、t5、t6等々
は、それぞれ時点nT、nT＋Ｔ、nT＋2T、nT＋
3T、nT＋4T、nT＋5T、nT＋6T等々を表わし、
k0は４に等しいとしている。
時点t4に減算―割算器SUBDIVは値vn1＝
｛ADL（nT＋4T）−ADL（nT）｝／4Tを計算する。
この値はＴ秒の間、即ち時点t4およびt5の間で阻
止回路BLOCによつて阻止される。時点t5におい
て、値ADL｛（nT＋5T）−ADL（nT＋Ｔ）｝／4T
＝vn2が計算で求められて、この値は時点t5とt6と
の間のＴ秒間禁止される。同様にして時点t6にお
いては、値vn3＝｛ADL（nT＋6T）−ADL（nT＋
2T）｝／4Tが計算で求められて、この値は時点t5
とt6との間のＴ秒間禁止される。従つて値vn1、
vn2、vn3は時点t4、t5、t6における測定速度を表
わす。測定速度vn求める過程は時点t4よりも前の
時点、ならびに時点t6よりも後の時点に関しても
上述の場合と同じであることは理解されるであろ
う。時間の関数として測定速度vnの変化を表わ
す曲線は曲線Γ5である。平均速度ｖ nの変化は曲
線Γ6で表わされている。
実際の速度v〓は時間の関数として線形的に変化
するために、時点t1、t2、t3、t4、t5等々で上記の
仕方で測定した速度vnは時点（nT＋k0T／２）
で測定した実際の速度ｖに等しい（第８図を参照
し曲線Γ4およびΓ5を比較されたい）。従つて時点
t4で測定した速度は時点t2における実際の速度に
等しく、ここで時点t2は次式で表わされる。
t2＝（t4＋t0）／２＝t0＋（t4−t0）／２ ＝t0＋k0T／２＝t0＋2T 速度が上記のように時間の関数として線形的に
変化する場合には、２つの定められた時点間にお
ける平均速度自体はこれら２つの時点を分つ期間
の中心点で測定した速度に等しいと言うことがで
きる。平均速度ｖ nの値はＴ秒間阻止されるので、
第８図から明らかなように、予測平均遅延θは
k0T／２＋Ｔ／２＝（k0＋１）Ｔ／２に等しくな
る。
k0の最適値は次のように求められた。
vn＝lq／k0Tで、しかも量lqの決定精度はｑに
等しいことは知られている。従つてｑ／k0Tに等
しい測定速度vnの決定においては「量子化誤差」
εqと称する誤差が存在する。予測平均遅延θ＝
（k0＋１）Ｔ／２であるので、この量子化誤差に
は誤差εθを加算しなければならない。かくして｜
εθ｜＝｜γ｜θが得られる（実際にはγ＝dv／dt、 即ちdv＝γdtである）。
「cost関数」と称する関数ＱをＱ＝εq＋ε〓とな
るように定義すると、この関数の微分からcost関
数Ｑを減少する値 k0＝１／Ｔ×√2 …(10) が存在する。上述の具体例ではk0＝４であること
が判る。
一群の論理信号によつて２進形態で表わされる
測定信号vnは、デイジタル―アナログ変換器
CDANによつてアナログ信号に変換される。こ
のアナログ信号は、その記号を変換されて加算器
ADDVに伝送される。この伝送される信号もvn
と称される。
【図面の簡単な説明】
第１ａ図ないし第１ｅ図は磁気デイスクのよう
な磁気記録担体の１つの面におけるデータ分布の
好ましい例を示し、第２ａ図、第２ｂ図および第
２ｃ図は磁気デイスクの一面上に基準ゾーン内に
該面のトラツクのアドレスを書込む好ましい方法
を図解し、第３図は本出願人の同日付けの特許願
明細書に記述されているようなデータ担体に対す
る可動系の変位を行なうための装置に含まれる本
発明による速度測定装置のブロツク・ダイヤグラ
ム、第４図はアドレス分離もしくは偏差ε1の関数
として関数ｆ（ε1）の変化を示す曲線、第５図は
時間の関数として可動系の速度の変化を示す曲線
を図示し、第６図は本発明による速度測定装置の
より詳細なブロツク・ダイヤグラム、第７図は連
続番号ｊのトラツクのアドレスADLjが決定され
る精度を図解し、そして第８図は可動系の実際の
速度に対する平均測定速度を予測遅延θを考慮し
て予測する仕方を図解するグラフである。 COMPRET…遅延補償装置、ALIM…給電発
電装置、ADCOMP…加算―比較器、ML…リニ
ヤ・モータ、CHAR…キヤリツジ、CALVIT…
計算回路、CIRCAD…アドレス決定回路、
ADDV…加算器、GF…関数発生器、SOUS…減
算器、GESTAD…アドレス制御回路、
MEMOCIRC…循環メモリ、BLOC…阻止回路、
CDAN…デイジタル―アナログ変換器、
SUBDIV…減算―割算器、MESVIT…速度測定
装置、TRANSCOD…レジスタ・コード変換器、
GS…閾値回路、ECHANT…標本化発生器、
CALVIT…速度計算器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 複数個のトラツク上に記録されるデータ担体
    に関して可動にされた装置の速度の測定装置であ
    つて、当該トラツクのアドレスは、該担体上で、
    該トラツクと少なくとも同数にされた複数個の基
    準ゾーン内に書き込まれており、各トラツクは少
    なくとも１個のゾーンと関連されており、該可動
    装置は少なくとも１個のデータ読み取りヘツドを
    含んでおり、前記装置には： 該ヘツドによつて読み取られるアドレスの所定
    の標本化時点における決定のための手段
    CIRCAD、および 同一時点において、所定の持続時間の時間イン
    タバルによつて分離された標本化時点においてヘ
    ツドにより読み取られたアドレスの間の差の関数
    として、該可動装置の速度ｖを計算するための手
    段MESVITが含まれており、また、 該可動装置の速度ｖを計算するための前記手段
    MESVITには、 標本化時点tko＝nT＋kotおよびtn＝nTにおい
    てヘツドによつて読み取られたアドレスADL
    （nT＋koT）およびADL（nT）の差の関数とし
    て該可動装置の測定された速度vmを計算するた
    めの手段CALVITであつて、ここに、ｎおよび
    koは整数であり、前記標本化時点はＴ秒に等し
    い時間インタバルによつて分離されているもの、 該可動装置の速度ｖに関して、測定された速度
    vmの平均的な予測遅れθの補償をするための手
    段COMPRETであつて、補償信号γfを供給する
    ようにされているもの、 測定された速度vmおよび補償信号γfを受け入
    れ、前記測定された速度および補償信号を加算す
    るための手段ADDVであつて、その和（vm＋
    γf）は該可動装置の速度ｖに実質的に等しくされ
    ているもの、 が含まれている前記装置。 ２ 前記計算手段CALVITには、 アドレスADL（nT＋k0T）およびADL（nT）
    を記憶するための手段MEMOCIRC、 前記アドレス間の差を計算し、k0Tなる量で除
    して、該測定速度vmを得るための手段
    SUBDIV、 が含まれている特許請求の範囲第１項記載の装
    置。 ３ 前記測定加速度γ〓を受け入れる補償手段
    COMPRETは、γ〓xG＝γFであるような伝達関数
    Ｇのフイルタからなる特許請求の範囲第１項また
    は第２項記載の装置。 ４ トラツクのアドレスが第１の２進コードでデ
    ータ担体上に書き込まれているとき、ヘツドによ
    つて読み取られるアドレスを決定するための手段
    CIRCADには、 該読み取りヘツドによつて供給された一連のア
    ナログ・パルスを、前記第１のコードで表すアド
    レスADGjを構成する一連の論理パルスに変換す
    る閾値回路GS、 該アドレスADGjを第２のコードで表すアドレ
    スADLjに変換するコード変換レジスタ
    TRANSCOD、 前記標本化時点の決定を許容する標本化パルス
    を供給し、該レジスタTRANSCODを制御して、
    該測定速度vmの計算手段CALVITと同時点にお
    いて、該レジスタTRANSCODにアドレスADLj
    を生成させる標本化パルス発生器、 が含まれている特許請求の範囲第１項ないし第３
    項のいずれか１項に記載の装置。 ５ 該手段CALVITにより一連の論理信号の形
    式で表す測定速度は、アナログ信号に変換されて
    該手段ADDVに伝送される特許請求の範囲第４
    項記載の装置。
JP12073280A 1979-09-21 1980-09-02 Speed measuring device for measuring speed of movinggsystem relative to data carrier Granted JPS5674869A (en)

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