JPS6388466A - 半導体測定用ソケツト - Google Patents
半導体測定用ソケツトInfo
- Publication number
- JPS6388466A JPS6388466A JP23504686A JP23504686A JPS6388466A JP S6388466 A JPS6388466 A JP S6388466A JP 23504686 A JP23504686 A JP 23504686A JP 23504686 A JP23504686 A JP 23504686A JP S6388466 A JPS6388466 A JP S6388466A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lid
- measured
- socket
- engaging jig
- main body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体素子（ＩＣ）を半導体測定装置によ
り測定するとき用いる半寡体測定用ソケットの改良に関
するものである。
り測定するとき用いる半寡体測定用ソケットの改良に関
するものである。
第２図（′ｂ）は該蓋部を開いた状態を示し、図におい
て、４は被測定物（半導体素子）、２は被測定物４を装
着するソケット本体、５は被測定物４と半導体測定装置
とを接続するための接触部、１は装着された被測定物４
上に被せてこれを固定する蓋部であり、これはソケット
本体２に連結部６により開閉自在に連結されている。ま
た３は上記ソケット本体２に回動自在に取り付けられ、
被測定物４を上記ソケット本体２に装着した後蓋部１を
ソケット本体２に係止する係止具である。
て、４は被測定物（半導体素子）、２は被測定物４を装
着するソケット本体、５は被測定物４と半導体測定装置
とを接続するための接触部、１は装着された被測定物４
上に被せてこれを固定する蓋部であり、これはソケット
本体２に連結部６により開閉自在に連結されている。ま
た３は上記ソケット本体２に回動自在に取り付けられ、
被測定物４を上記ソケット本体２に装着した後蓋部１を
ソケット本体２に係止する係止具である。
このようなＩＣソケットでは、被測定物４をソケット本
体２の接触部５に装着し、上記蓋部ｌを被測定物４の上
に被せ、この状態で係止具３により蓋部１をソケット本
体２に係止する。その後上記被測定物４の測定が行なわ
れる。
体２の接触部５に装着し、上記蓋部ｌを被測定物４の上
に被せ、この状態で係止具３により蓋部１をソケット本
体２に係止する。その後上記被測定物４の測定が行なわ
れる。
従来の半導体測定用ＩＣソケットは、以上のように構成
されているので、蓋部を被測定物上に被せた時に生ずる
衝撃が直接被測定物に加わり、その反動で被測定物が動
きそのリードの曲りなどの原因となる等の問題点があっ
た。
されているので、蓋部を被測定物上に被せた時に生ずる
衝撃が直接被測定物に加わり、その反動で被測定物が動
きそのリードの曲りなどの原因となる等の問題点があっ
た。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、蓋部を閉じた時の衝撃が直接被測定物に加わ
るのを防止でき、これにより被測定物の足曲りなどの外
観不良を防止できる半導体測定用ソケットを得ることを
目的とする。
たもので、蓋部を閉じた時の衝撃が直接被測定物に加わ
るのを防止でき、これにより被測定物の足曲りなどの外
観不良を防止できる半導体測定用ソケットを得ることを
目的とする。
この発明に係る半導体測定用ソケットは、係止具を操作
刃と衝撃吸収部とからなるへの字形杵の中央をソケット
本体に軸支して構成し、さらに上記操作刃の基部近傍下
面に該操作刃をソケット載置面から浮かせて保持するた
めの突部を設けたものである。
刃と衝撃吸収部とからなるへの字形杵の中央をソケット
本体に軸支して構成し、さらに上記操作刃の基部近傍下
面に該操作刃をソケット載置面から浮かせて保持するた
めの突部を設けたものである。
この発明においては、上記衝撃吸収部により、蓋部が閉
じるご、きの被測定物への直接の衝撃が吸収され、足曲
りなどの外観不良を防止でき、さらに上記操作刃の基部
近傍下面に設けた突部により作業性が改善される。
じるご、きの被測定物への直接の衝撃が吸収され、足曲
りなどの外観不良を防止でき、さらに上記操作刃の基部
近傍下面に設けた突部により作業性が改善される。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図は本発明の一実施例による半導体測定用ソケット
を示し、図において１．２．４〜６は第２図と同一のも
のを示し、３０は操作刃３ａと衝撃吸収部７とからなる
への字形杵の中央をソケット本体２に軸支してなる係止
具、８は上記操作刃３ａの基部近傍下面に設けられ該操
作刃３ａを基準面（ソケ７）載置面）９から浮かせて保
持するための突部である。
を示し、図において１．２．４〜６は第２図と同一のも
のを示し、３０は操作刃３ａと衝撃吸収部７とからなる
への字形杵の中央をソケット本体２に軸支してなる係止
具、８は上記操作刃３ａの基部近傍下面に設けられ該操
作刃３ａを基準面（ソケ７）載置面）９から浮かせて保
持するための突部である。
このようなソケットでは、被測定物４をソケット本体２
に装着した時点では係止具３０は開状態となっており、
蓋部１を被測定物４の上に被せた時該蓋部１は係止具３
０の衝撃吸収部７に当たり、これにより衝撃はすべて係
止具３０に吸収され、それと同時に係止具３０が回動し
てこれにより蓋部１がソケット本体２に係止される。
に装着した時点では係止具３０は開状態となっており、
蓋部１を被測定物４の上に被せた時該蓋部１は係止具３
０の衝撃吸収部７に当たり、これにより衝撃はすべて係
止具３０に吸収され、それと同時に係止具３０が回動し
てこれにより蓋部１がソケット本体２に係止される。
また、上記蓋１が開状態では、上記係止具３０は突部８
により基準面（ソケット載置面）９より持ち上げられて
いる為、これを持ち上げ易く作業しやすい。
により基準面（ソケット載置面）９より持ち上げられて
いる為、これを持ち上げ易く作業しやすい。
以上のように、この発明にかかる半導体測定用ソケット
によれば、係止具を操作刃と衝撃吸収部とからなるへの
字形杵の中央をソケット本体に軸支して構成し、さらに
上記操作刃の基部近傍下面に該操作刃をソケット載置面
から浮かせて保持するための突部を設けたので、ＩＣの
足曲り等の被測定物の破壊や外観不良を防止でき、さら
に作業性を改善できる効果がある。
によれば、係止具を操作刃と衝撃吸収部とからなるへの
字形杵の中央をソケット本体に軸支して構成し、さらに
上記操作刃の基部近傍下面に該操作刃をソケット載置面
から浮かせて保持するための突部を設けたので、ＩＣの
足曲り等の被測定物の破壊や外観不良を防止でき、さら
に作業性を改善できる効果がある。
第１図は本発明の一実施例による半導体測定用ソケット
を示す図、第２図は従来の半導体測定用ソケットを示す
図である。 図において、１は蓋部、２はソケット本体、３は係止具
、４は被測定物（半導体素子）、５は接触部、６は連結
部、７ａは操作刃、７ｂは衝撃吸収部、８は突部、９は
基準面（ソケット載面面）である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
を示す図、第２図は従来の半導体測定用ソケットを示す
図である。 図において、１は蓋部、２はソケット本体、３は係止具
、４は被測定物（半導体素子）、５は接触部、６は連結
部、７ａは操作刃、７ｂは衝撃吸収部、８は突部、９は
基準面（ソケット載面面）である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- （１）半導体素子を半導体測定装置により測定するとき
用いる半導体測定用ソケットにおいて、半導体素子を装
着するためのソケット本体と、該ソケット本体に回動自
在に設けられた蓋部と、上記ソケット本体に回動自在に
設けられ上記蓋部をソケット本体に止める係止具とを備
え、上記係止具は操作辺と衝撃吸収辺とからなるへの字
形杵の中央を上記ソケット本体に軸支してなるものであ
り、上記操作辺はその基部近傍下面に該操作辺をソケッ
ト載置面から浮かせて保持するための突部を有すること
を特徴とする半導体測定用ソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23504686A JPS6388466A (ja) | 1986-10-01 | 1986-10-01 | 半導体測定用ソケツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23504686A JPS6388466A (ja) | 1986-10-01 | 1986-10-01 | 半導体測定用ソケツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6388466A true JPS6388466A (ja) | 1988-04-19 |
Family
ID=16980282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23504686A Pending JPS6388466A (ja) | 1986-10-01 | 1986-10-01 | 半導体測定用ソケツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6388466A (ja) |
-
1986
- 1986-10-01 JP JP23504686A patent/JPS6388466A/ja active Pending
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