JPS6388513A - 焦点検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の利用分野） 本発明は、二次結像レンズの近傍に配置され、対物レン
ズにより結像された物体像を前記二次結像レンズを介し
て焦点検出用センサへ導く絞り開口部材を備え、前記焦
点検出用セ〉・すよりの出力に基づいて焦点状態を検出
する焦点検出装置に関するものである。

（発明のｆ＋ｆ景） 従来、例えばカメラに配置された位相差検出方式の焦点
検出装置においては、被写体の一方向のみの輝度分布か
ら撮影レンズのデフォーカス量を検出するように構成さ
れていることから、その方向に輝度分布を持たない被写
体に対しては焦点検出不能となるといった欠点を有して
いた。この点に鑑み、本願出願人は特開昭６０−２３５
８２２号（未公開）により、例えば縦方向対の焦点検出
用ラインセンサと横方向対の焦点検出用ラインセンサ及
びこれらに二次像を形成する対のレンズ部を有する二次
結像レンズ等を配置して撮影画面の横力向及び縦方向の
輝度分布を検出し、それぞれのセンサ出力より撮影レン
ズのデフォーカス９を検出することを可能とした装置を
提案している。

これにより、その時の被写体の外観、パターンによって
一方のデフォーカス量が演算不能に落ちいることがあっ
ても、他方の輝度分布からデフォーカス賃を得ることが
可能な為、焦点検出が不能になるといったことがなくな
り、非常に有効な装置と言゛える。

ところで、例えば前述の様な実施例装置において１通常
それぞれの方向に配置される２対のラインセンサの直交
度は高精度に仕−Ｅげることが可能であるが、対となる
二次結像レンズのレンズ部をそれに対応させて高精度に
仕上げることはかなり難しく、この為二次結像レンズに
製造誤差を生じている様な場合においては、対となるべ
きラインセンサと二次結像レンズのレンズ部との相対位
置関係が異なり、正確な焦点検出を行えない危険性があ
る。被写体の一方向のみの輝度分布から撮影レンズのデ
フォーカス量を検出するように構成されている装置にお
いても、同様である。

（発明の目的） 本発明の目的は、焦点検出用センサと二次結像レンズの
相対位置関係を調整することのできる焦点検出装置を提
供することである。

（発明の特徴） 上記［１的を達成するために、本発明は、焦点検出用セ
ンサを、二次結像レンズによる二次像結像面より対物レ
ンズの光軸方向に変位させた位置に配置し、絞り開口部
材を、二次結像レンズの光軸に対して垂直方向に変位さ
せる調整丁段を設け、以て、前記調整手段により絞り開
口部材を前記二次結像レンズの光軸に対して垂直方向に
変位させることによって、前記焦点検出用センサ上の二
次像の形成位置を変化させるようにしたことを特徴とす
る。

（発明の実施例） 以ド、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。

第１〜３図は本発明をカメラに適用した場合の−・実施
例を示すものであり、第１図はストロボが装着された状
態での断面図である。第１図において、１はカメラボデ
ィ、２は撮影レンズ３を光軸４の方向に移動可能に保持
するレンズ鏡筒、５はサブミラー６と共に前記撮影レン
ズ３を透過した被写体光をファイング−系とＡＦ−測光
系に分離する主ミラー、７はペンタプリズム８及び接眼
レンズ９と共にファインダー系を構成するピントグラス
、１０は、フィルードレンズ１１．二次結像レンズ１２
．ＡＦ用テラインセンサＡＥ用センサとが配置（詳細は
後述）されるセンサ部１３ａ等を有するＡＦ−ＡＥ用セ
ンサ１３．センサ部１４ａ等を有するＴＴＬストロボ調
光用センサ１４とを有するＡＦ−測光系（ここではＴＴ
Ｌストロボ調光系とＡＥ系の両方の系を測光系と称して
いる）を成すＡＦ・測光ユニット、１５はシャッタ、１
６はストロボ、１７は閃光発光部、１８はＡＦ用近赤外
線補助光発光部である。

第２，３図は第１図にて示したＡＦ−測光ユニット１０
の主要部のみの詳細図であり、第２図はその断面図であ
り、第３図はその展開斜視図である。

本体ブロック１９の上面側には、視野マスク２０、透過
率の異なる領域２１ａ、２１ｂを有する赤外カットフィ
ルタ２１、フィールドレンズ１１の順番でそれぞれが取
り付けられ、また下面側には、絞り２２、二次結像レン
ズ１２、押えばね２３、センサブロック２４、センサホ
ルダ２５、ＡＦ・ＡＥ用センサ１３の順番でそれぞれが
取り付けられる。更に本体ブロック１９には、フィルム
面よりの反射光を前記フィールドレンズ１１を介して受
光する事のできる位置にＴＴＬストロボ調光用センサ１
４が取り付けられる。

前記絞り２２は第３図に示す様に直交して設けられた対
の開口部２２ａ、２２ｂと２２ｃ　、２２ｄを有すると
共に、これら開口部の中心Ａと一致した点を寥径とする
弧を持つ位置決め部２２ｅ。

２２ｆ及びばね部２２ｇ、長穴２２ｈとを有している。

レンズ部１２ａ〜１２ｄを有する二次結像レンズ１２は
前述の様な各部を有する絞り２２を本体ブロック１９と
の間に挟み込んだ状態でピン１２ｅ　、１２ｆによって
位置決めされ、押えばね２３によって固定される（第２
図参照）、この様な状態において、前記二次結像レンズ
１２のレンズ部１２ａ−１２ｄは前記開口部２２ａ　〜
２２ｄと対応した位置関係にあり（詳細は後述）、また
前記位置決め部２２ｅ　、２２ｆには二次結像レンズ１
２のビン１２ｇ、１２ｈが、ばね部２２ｇにはビン１２
ｉが、それぞれ挿入される。前記ばね部２２ｇにビン１
２ｉが挿入されることにより、該ばね部２２ｇは第２図
の様に変形し、絞り２２を位置決め部２２ｅ　、２２ｆ
の方向に付勢する力を生じる。したがって、偏心ビン２
６を絞り２２の長穴２２ｈを介して本体ブロック１９の
穴に差し込み、これを回転させることによって絞り２２
の各開口部の中心Ａを軸とした該絞り２２の微小角回転
（第２図矢印Ｂ方向）が可能となる。

前記二次結像レンズ１２の下部には前述した様にセンサ
ブロック２４、センサホルダ２５が配置されるが、これ
らは取付はビス２７．ワッシャ２８、偏心ビン２９と共
にさらにその下部に配置されるＡＦ−ＡＥ用センサ１３
の傾き調整機構を成している。前記ＡＦ−ＡＥ用センサ
１３はセンサホルダ２５の取付は面２５ａに接着され、
このセンサホルダ２５は取付は穴２４ａ、２４ｂを有す
るセンサブロック２４の円弧状取付は面２４ｃに前記取
付は穴２４ａを介して取付はビス２７゜ワッシャ２８に
よって固定される。

ここで、前記円弧状取付は面２４ｃのＲ中心は第２図に
想定して描いた軸Ｃであり、またセンサブロック２４の
取付は穴２４ａは長穴になっている為、第２図矢印り方
向の傾斜調整が可能である。さらにセンサホルダ２５は
前記取付は穴２４ａと同様長穴となっている取付は穴２
４ｂを介して偏心ビン２９によってもセンサブロック２
４に固定され、又センサホルダ２５の屈曲部２５ｂの肉
厚を１分に薄くして可撓性を持たせである為。

前記偏心ビン２９を回転させることによって第２図に想
定して描いた軸Ｅをほぼ中心として第２図矢印Ｆ方向の
傾斜調整が可能である。

以上の様な構成より成るＡＦ・測光ユニット１０におい
て、以下にＴＴＬストロボ調光系、ＡＦ系、ＡＥ系のそ
れぞれについて説明する。

まずＴＴＬストロボ調光系（以下の実施例においては調
光系と略記する）について述べる。調光系は、ストロボ
撮影時のフィルム面の反射光をフィールドレンズ１１に
より調光用センサ１４のセンサ部ＩＡａに取り込み、そ
の受光量によってストロボ１６の発光な停止させる為の
ものである。つまり、主ミラー５．サブミラー６が上昇
し、シャッタ１５の先幕が走行しフィルムが露出した状
態でストロボ１６が発光すると、被写体像がフィルム上
に結像し、その反射光が生じる。その一部の反射光が第
２図に示したＡＦ・測光ユニット１０の視野マスク２０
．赤外カットフィルタ２１及びフィールドレンズ１１を
通過して調光用センサ１４のセンサ部１４ａに入射し１
例えば受光される受光量が後述するスボ°ット測光を行
うＡＥ用センサによって予め求められている測光級に達
したことが後述するマイクロコンピュータによって検知
されると、ストロボ１６側へ発光停止信号が出力され、
発光が停ローする。

尚前述からもわかる様に、ＡＦ系、ＡＥ系に使用される
フィールドレンズ１１をＴＴＬ調光系に共用している為
、カメラのコンパクト化、低コスト化を実現した状態で
フィルム感度分布を良好なものにすることができる。

次にＡＦ系について述べる。第４図及び第５図はＡＦ系
の光路展開図である。二次結像レンズ１２には第３図に
示した様に直交して配置された対ルンズ部１２ａ、１２
ｂ、！−１２ｅ、１２ｄを有しており、このうちのレン
ズ部１２ａ、１２ｂの光軸を含む断面を表したものが第
４図であり、レンズ部１２ｃ　、１２ｄの光軸を含む断
面を表したものが第５図である。尚ここでは図の簡略化
の為に絞り２２の各開口部の開口中心を通過する一次結
像面での物品がＯの光線のみを描いており、口中矢印Ｇ
の位置が一次結像面、矢印ＨがＡＦ−ＡＦ用センサ１３
のセンサ面である。二次結像レンズ１２のレンズ部１２
ａ〜１２ｄには前述した様に絞り２２の開［１部２２ａ
〜２２ｄがそれぞれ対応しており、これによりセンサ部
１３ａ上には４つの二次像が形成され、これらの二次像
の境界は視野マスク２０の開口像によって分離されてい
る。絞り２２の同一形状をした対となる開口部２２ａと
２２’：ｌの間隔は開口部２２ｅと２２ｄの間隔よりも
狭くなっており、これらの開口部はフィールドレンズ１
１によってｔｉｔレンズ３の瞳Ｉ−に投影されている。

この様子を示したのが第６図である３図中３０は撮影レ
ンズ３の射出瞳。

３１ａ〜３１ｄはそれぞれ絞り２２の開口部２２ａ〜２
２ｄに対応する瞳面−ヒでの領域である。

一般的なカメラ用撮影レンズの場合にはＭ、Ｎの領域を
それぞれＦ４　、Ｆ８程度に選べばよい。

ＡＦφＡＥ用センサ１３のセンサ部１３ａ−ヒでの二次
像の様子を示したのが第７図である。センサ１３ａ上に
は縦方向測距と横方向測距を行うＡＦ用のラインセンサ
ＳＡＡ　、ＳＡＢとＳＡＣ、ＳＡＤと、前記ラインセン
サＳＡＡ　、ＳＡＢに隣接（測距エリアを挟む様に）し
て２つのＡＦ用のセンサＳＡＥ　、ＳＡＦが配置され、
この上に二次像３２ａ〜３２ｄが二次結像レンズ１２に
よって投影される。前記二次像３２ａ、３２ｂは撮影レ
ンズ３の謹上に領域３１ａ、３１ｂを通過した光束によ
る被写体像であり、二次像３２ｃ、３２ｄはは領域３１
ｃ、３１ｄを通過した光束による被写体像である。尚破
線部３２ｅ　、３２ｆはサブミラー６によって欠られて
しまう像領域である。またセンサ部１３ａ−）−に配置
されている３３ａ〜３３ｄは前記ラインセンサ５ＡＡ−
３ＡＢのセンサ駆動回路で、この部分への光の入射がセ
ンサ出力に対して影響しないように遮光用アルミ層がこ
の上に形成されている。

第８図はデフォーカス量演算の説明図であり、ラインセ
ンサ５ＡＡ−５ＡＤの各出力をそれぞれＡ像〜Ｄ像とし
て表している。第６図で説明した様に、Ａ、Ｂ像は謹上
の領域、３１ａ、３１ｂを通過した光束によって形成さ
れ、一方Ｃ，Ｄ像はより外側の領域３１ｅ、３１ｄを通
過した光束によって形成されている為、撮影レンズ３の
デフォーカスに対する像ずれ量はＣ，Ｄ像の方がＡ、Ｂ
像よりも大きい、つまり第８図において、位相差ｘｌよ
りもｘ２の方が大きい、この位相差Ｘ、、Ｘ２情報が前
記センサ駆動回路３３ａ〜３３ｄを介して後述するマイ
クロコンピュータへ伝達され、ここでデフォーカス量の
演算が行われて撮影レンズ３の焦点制御が実行されるわ
けであるが、ラインセンサＳＡＡ　、ＳＡＢとＳＡＣ、
ＳＡＤの両方にて測距を行う場合においては、Ｃ，Ｄ像
からの演算結果の方が像゛ずれ量が大きい為、こちらの
結果を使用した方が焦点検出精度が高いものとなる。

第９図はカメラのファインダ視野内の測距エリアを示す
図である０図中３４はカメラのファインダ視野、３５は
前記ファインダ視野３４内における測距エリアを想定し
て描いたものであり、横方向の測距エリアがラインセン
サＳＡＡ　、５ＡＢ（７）逆投影像、縦方向の測距エリ
アがラインセンサＳＡＣ、ＳＡＤの逆投影像に一致して
いる。

第１Ｏ図は二次結像レンズ１２に製造誤差を生じている
場合におけるＡＦ−ＡＥ用センサ１３のセンサｊ　３　
ａ　Ｕ：での様子を示したものである。つまり、第１１
図（ａ）に示す様に理想とする二次結像レンズ１２内の
各レンズ部の位置関係が、第１１図（ｂ）の様に誤差（
絞り２２の各開口部２２ａ〜２２ｄに対して）を生じて
いる場合を想定している。この様にレンズ部１２ａ、１
２ｂと１２Ｃ１１２ｄの直角度が出ていない時は第１０
図のようニ二次像３２ａ、３２ｂと３２ｅ、３２ｄの直
角度も悪くなる。したがって、二次像３２ａ、３２ｂに
対してラインセンサＳＡＡ、ＳＡＢの位置を合わせると
１一方で二次像３２ｃ　、３２ｄに対するラインセンサ
ＳＡＣ、ＳＡＤの位置合わせは不ｉ＋）能となる。その
結果、ラインセンサＳＡＣ、ＳＡＤ上へは被写体の異な
る部分が投影されることになり、該測距エリアに対して
第１２図に示す様に斜め線をもつ輝度パターンの被写体
像が入射した時（製造誤差がない場合には同一の画素１
−に斜め線をもつ輝度パターンの被写体像が入射する）
には合焦エラーを生じ、このままでは不都合である。そ
こで、この様な場合には絞り２２を第３図矢印Ｂ方向に
回転し、ラインセンサＳＡＣ，ＳＡＤに対する二次像３
２ｃ　、３２ｄの位置合わせを行う。

第１３図は先の説明（位置合わせ）を助ける為の図で、
核間は第５図において二次結像レンズｌ２を矢印工方向
から見たものである０図中Ｊはレンズ部１２ｅ、１２ｄ
の二次結像面であり、この様にレンズ部１２ｅ　、１２
ｄの結像面はＡＦ−ＡＥ用センサ１３のセンサ面Ｈより
後方に位置し、センサ面ＨＦにはデフォーカスした像が
投影される。一方レンズ部１２ａ、１２ｂの結像面はセ
ンサ面Ｈと一致し、ピントの合った像がラインセンサＳ
ＡＡ　、ＳＡＢに投影される。換言すれば、二次特電レ
ンズ１２の製造誤差に伴う補正を行える様に、レンズ部
１２ａ、１２ｂの結像面はセンサ面Ｈに一致させ、レン
ズ部１２ｃ、１２ｄの結像面は後方（前方であってもよ
い）に位置、すなわちセンサ面Ｈ上にはデフォーカスし
た像が投影されるように構成している。尚核間において
、Ｋはレンズ部１２ａとレンズ部１２ｂによって決定さ
れた軸、Ｌはレンズ部１２ｃの軸、Ｕは絞り２２の位置
からセンサ面Ｈまでの距離、■はセンサ面Ｈから二次結
像面Ｊまでの距離である。

ここでレンズ部１２ｃの軸りがδだけ偏心している時、
ニ次結像面Ｊ上での像位置のずれがεだけ生じたとする
と、二次結像倍率をβとして（＝６（１＋β）（１） なる関係が成る立つ。この時、センサ面Ｈ上での像位置
のずれはα（＝ε−ｕ／（ｕ＋ｖ））である、このずれ
αは像がデフォーカスしている為、絞り２２の開「】部
２２ｅ　、２２ｄの位置を移動することで変化させるこ
とができる。よって、二次結像面Ｊでεだけ４Ｑ、７１
ずれを生じた像をセンサ面Ｈ、、ｌｚで軸にと交差する
ように調整すれば、第１２図で示した斜め線をもつ被写
体像が入射したとしても合焦エラーはなくなるわけで、
その為には絞り２２の開口部２２ｅをＣだけ移動すれば
よく、この移動、ｌｅは以下なる式により求めることが
できる。つまり、移動＠Ｃを前記距離Ｕ　、　Ｖ　、偏
心：、１δ、−二次結像倍率βで表すと Ｇ　／　Ｖ　＝　Ｃ／　ｕ ｅ＝ｕ−ε／　Ｖ　　　　　　　　　　（２）前記（１
）、（２）式より Ｃ＝ｕδ（１＋β）／ｖ　　　　　　（３）となる。前
記式より得られる移！！ｌ１ｆｉ１ｃだけ絞り２２（開
口部２２ｃ、２２ｄ）を移動させるのは。

第２，３図に示した偏心ビン２６を回転することによっ
て可能である。この時他方の二次像３２ａ、３２ｂにつ
いてはピントの合った像がセンサ面ＨＦに形成されてい
る為、絞り２２の回転によって影響を与えることはない
。仮に、製造誤差によってＡＦ−ＡＥ用センサ１３の光
軸方向位置がずれていたとしても、二次像３２ａ、３２
ｂを形成する絞り２２の開口部２２ａ、２２ｂは内側に
位置している為（開口部２２ｅ　、２２ｄに対して）、
絞り２２の回転に伴う前記開口部の移動は比較的小さく
、それによる像位置のずれも微小昂となる。

次にＡＥ系について述べる。ＡＥ用のセンサＳＡＥ　、
ＳＡＦは第７図により説明した様に、ラインセンサＳＡ
Ａ　、ＳＡＢに隣接した位置に配ａされ、絞り２２の開
口部２２ａ、２２ｂを通過した光束、すなわち第６図に
示した射出１１１１の領域３１ａ、３１ｂを通過した光
束によって視野マスク２０の開口Ｒ（開口形状内を通過
した被写体像）が投影されている。したがって、ＡＥ用
のセンサＳＡＥ　、ＳＡＦの合成された測光エリアは第
１４図に示すスポット状、厳密に言うとファインダ視野
３４内において、視野マスク２０の開口像からラインセ
ンサＳＡＡ　、ＳＡＢに対応する長方形状エリア３５ｃ
を除いたもの（第１４図の３５ａ。

３５ｂで示したエリア）となる、前記長方形状エリア３
５ｃの面積はかなり小さい為、測光感度性ｌＩｉとして
はほとんど視野マスク２０の開［１形状と見なすことが
でき、よってスポット測光撮影に際してはこの測光エリ
アにより測光された値に基づいて露出時間制御、つまり
は後述するマイクｃ１コンピュータによりシャッタ１５
及び不図示の絞り制御が行われる。

ところで本実施例において、調光系、ＡＦ系。

ＡＥ系はその光路を共有しているが、前述した様にそれ
ぞれのセンサに入射する光の波長域はそれらの系毎に制
限する必要がある。つまり、調光系どＡＥ系はその分光
感度特性をフィルムの分光感度特性に合致させることが
望ましく、一方ＡＦ系は低輝度被写体に対し、て例えば
近赤外補助光が用いられることから、近赤外光まで感度
を有さなければならない。なお近赤外補助光が用いられ
ない場合であっても、できるだけ多くの光は取り込みた
い（測距精度を高める）と言う理由から、近赤外光まで
感度を有することが望ましい。一般にセンサは１１００
０ｎ以上の波長の光に対しても感度がある為、赤外光は
光学的フィルタによってカットする必要がある。

第１５図は前記要求を達成することを可能とした赤外カ
ットフィルタ２１を示す図であり、核間に示した３６ａ
、３６ｂがＡＥ系°における有効部、３７が調光系にお
ける有効部である。この赤外カットフィルタ２１は分光
透過率特性の異なる２つの領域２１ａ、２１ｂから成り
、領域２１ａは例えば第１６図の如き特性を有し、領域
２１ｂは第１７図の如き特性を有している。すなわち領
域・２１ａの赤外線カー、ト波長は７００ｎｍ、領域２
１ｂの赤外線カット波長は７４０ｎｍとなっている。第
１５図に示す様に調光系とＡＥ系の有効部は２つの領域
にまたがって位置しているが、いずれにおいても領域２
１ａの占る割合が領域２１ｂに対して小さい為、フィル
ムの分光感度特性（４００〜７００ｎｍ）に近い特性で
測光を行うことが可能である。これに対し、ＡＦ、ｖ−
の有効部は領域２１ａの形状からもわかるように該領域
２１ａに完全に含まれるように構成され、ラインセンサ
面一にでの照度むらのないように配慮されている。

第１８図は前記構成から成るー・眼レフレックスカメラ
の主要部の概略を示すブロック図である。

１０１はカメラの各種動作を制御する制御回路で、例え
ば内部にＣＰＵ（中央演算処理部）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、
ＥＥＰＲＯＭ及び入出力ポート等が配置された１チツプ
マイクロコンピユータであり、前記ＲＯＭ′ｉびにＥＥ
ＰＲＯＭ内にはＡＦ争測光制御を含む一連の制御用ソフ
トウェア及びパラメータが格納されている。１０２はデ
ータバス、１０３は前記制御１０１より制御信号１０４
が入力１−でいる間データバス１０２を介して入力する
データを受は付け、該データに基づいて前記シャッタ１
５の先幕及び後幕の走行制御を行うシャッタ制御回路、
１０５は制御信号１０６が入力している間データバス１
０２を介して入力するデータを受は付け、該データに基
づいて不図示の絞り機構を制御する絞り制御回路、１０
７は制御信号１０８が入力している間データバス１０２
を介して入力するデータを受は付け、該データに基づい
て前記撮影レンズ３の光軸４方向の位置制御を行うレン
ズ制御回路である。１０９は前記調光用センサ１４等か
ら成るＴＴＬストロボ調光回路、又１１０は前記ＡＥ用
センサＳＡＥ　、ＳＡＦ等から成るＡＥ用の測光回路で
あり、これらにて光゛電変換された測光信号は前記制御
回路１０１へ送られ、該回路にて前述のシャ−２夕制御
回路１０３及び絞り制御回路１０５並びにストロボ１６
を制御する為のデータとして用いられる。

また、３３は前記制御回路ｌＯ１より入力する各信号に
従っＴＴＣＯＤから成る前記２組のラインセンサＳＡＡ
　、ＳＡＢとＳＡＣ、ＳＡＤを制御する、第７図にて説
明したセンサ駆動回路である。

次に一連の撮影動作について簡単に説明する。

不図示のレリーズ釦の第１ストロークが行われると、撮
影レンズ３．主ミラー５．サブミラー６゜フィールドレ
ンズ１１．二次結像レンズ１２等を通過した光束がＡＥ
用センサＳＡＥ　、ＳＡＦに入射し、測光回路１１０か
ら光電変換された測光信号−が、すなわち被写体輝度情
報が制御回路１０１へ送られる。

またこれとほぼ同時に制御回路１０１はＡ像とＢ像、Ｃ
像とＤ像の位相差Ｘ、、Ｘ２を得る為に（尚ここでは絞
りとしてはＦ４以−Ｆが選択されている場合を想定して
いる）センサ駆動回路３３を介して、同様の光路を通っ
て被写体像が入射しているラインセンサＳＡを駆動する
。この時の制す１回路１０１、センサ駆動回路３３．ラ
インセンサＳＡの各動作を簡単に説明すると、制御回路
１０１に蓄積開始信号ＳＴＲが発生すると、センサ駆動
回路３３はクリア信号ＣＬをラインセンサＳＡヘ出力し
、ラインセンサＳＡＡ　、ＳＡＢ及びＳＡＣ，ＳＡＤの
各光電変換部の電荷をクリアする。

するどラインセンサＳＡは前段に配置されている二次結
像レンズ１２によって投影されている像の充電変換及び
電荷蓄積動作を開始する。前記動作が開始してから所定
時間が経過すると、センサ駆動回路３３は転送信号ＳＨ
をラインセンサＳＡへ出力し、光電変換部に蓄積された
電荷をＣＯＤ！へ転送する。同時に前記センサ駆動回路
３３は蓄積終了信号ＥＮＤを制御回路１０１へ出力し、
該制御回路１０１よりＣＣＤ駆動クロウクＣＫが入力す
るのを待つ、ＣＯＤ駆動クロりクＣＫが入力すると、セ
ンサ駆動回路３３はＣＣＤ駆動信号φ２　、φ２を生成
し、該信号をラインセンサＳＡへ出力する。ＣＯＤ駆動
信号φ工　、φ２が入力すると、ラインセンサＳＡはこ
の信号に従ってアナログ像信号ＳＳＡを制御回路１０１
−＼出力する。

これにより制御回路１０１はＣＣＤＣＤ駆動グログＣＫ
に同期してアナログ像信号をＡ　／　Ｄ変換し、像信号
Ａ（ｉ）〜Ｄ　（ｉ）を得て公知の演算方式により位相
差Ｘ、、Ｘ２を、すなわぢ焦点検出信号を算出し、レン
ズ制御口回路１０７−ヘ４１，１歳Ｆ−タを出力する。

レンズ制御回路１０７はこれを受けて公知の駆動力式に
より撮影レンズ３の制御を行う。

次にレリーズ釦の第２ストロークが行われると、主ミラ
ー５．サブミラー６がに）ｔし、シャッタ１５の先ｇが
走行すると共にストロボ１６の発光が開始される。これ
によりストロボ光が被写体面で反射し、この反射光が撮
影レンズ３を透過してフィルムに入射し、該フィルム−
にへの被写体像の写し込みが開始される。又この様にフ
ィルムに入用した光束の−・部は該フィルム面で反射し
。

フィールドレ：／ズ１１を介して調光用センサ１４へ入
射し、ここで受光され光電変換された測光信号がＴＴＬ
ストロボ調光回路１０９より制御回路１０１へ出力され
る。すると前記制御回路１０１は先のＡＩ−光回路工ｌ
Ｏよりの測光情報と前記Ｔ　ＴＬストロボ調光回路１０
９よりの測光情報とを比較し、一致したことを検知、す
なわち適ｒＥ露尤に達した事を検知するどジャシタ制御
回路１０３を介してシャッタ１５の後幕を走行させる。

どの後前記フィルムの巻上げが行われ、一連の撮影動作
が終ｒする。

本実施例によれば、ラインセンサＳＡＡ、ＳＡＢ上には
二次像を結像させ、ラインセンサＳＡＣ，ＳＡＤ、、１
ｍにはデフォーカスした二次像を形成させ、また絞り２
２を光軸４と垂直（略垂直であっても良い）方向に移動
させることを可能とした９とにより、以下の効果がある
。

ｌ）対となるラインセンサの一次結像面上投影位置が一
致するように調整することが可能、すなわちラインセン
サと二次結像レンズの相対位置関係を調整することが可
能となり、被写体【−斜め線を含む場合であっても正確
な焦点検出を行うことができる。

２）２方向測距の場合でも、それぞれの方向に対し２て
上記調整が可能である。

３）二次像をデフォーカスさせることにより、ローパス
効果を生じ、被写体の空間周波数に高周波成分な含む場
合でも誤測距がない。

（変形例） 本実施例では、複数の方向にラインセンサが配置された
場合について述べたが、一方向にのみラインセンサが配
置された装置であっても同様の効果を得ることができる
。但し、本実施例の如き構成にした方がより正確な焦点
検出が可能である。

また、直交して対のラインセンサを配置１．たが、これ
に限定されるものではない。さらに、第１３図番ご示す
如くセンサ面Ｈを二次像結像面Ｊの１ｉ１段に配置した
が、後段に配置しても良い。

（発明の効果） 以−Ｌ説明したように、本発明によれば、焦点検出用セ
ンサを、二次結像レンズによる二次像結像面より対物レ
ンズの光軸方向に変位させた位置に配置し、絞り開口部
材を、二次結像レンズの光軸に対して垂直方向に変位さ
せる調整１段を設け、以て、前記調整１段により絞り開
口部材を前記二次結像１／ンズの光軸に対して垂直方向
に変位、きせることによって、前記焦点検出用センナ上
の二次像の形成位置を変化させるよ５４ご１．たから、
焦点検出用センサと二次結像レンズの相対位置関係を調
整することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明をカメラに適用した場合の一実施例を示
す断面図、第２図は第１図図示のＡＦ−測光ユニットの
断面図、第３図は同じ＜ＡＦ−測光ユニットの構造を説
明する展開斜視図、第４図は同じ＜ＡＦ−測光ユニー２
ト内におけるＡＦ系の一方の光路展開図、第５図は同じ
く他方の光路展開図、第６図は瞳φ域分割の説明図、第
７図は第１図図示のＡＦψＡＥ用センサと二次像との関
係を説明する図、第８図はデフォーカス量演算時に使用
される像信号を説明する図、第９図はファインダ視野内
における測距エリアを示す図、第１Ｏ図は第１図図示の
二次結像レンズに製造誤差がある場合のＡＦ−ＡＥ用セ
ンサと二次像との関係を説明する図、第１１図（δ）は
製造誤差のない理想的な二次結像レンズを示す平面図、
第１１図（ｂ）は製造誤差のある二次結像レンズを示す
平面図。 第１２図は第１１図（ｂ）の二次結像レンズを使用した
時の石畳りな被写体像を説明する図、第１３図は第１１
図（ｂ）の二次結像レンズが使用された場合における二
次像とティンセンサとの位置調整埴を説明する図、第１
４［Δはファインダ視野内における測光エリアを示す図
、第１５図は第２図図示の赤外カットフィルタの各領域
を示すＬ面図、第１６図及び第１７図は赤外カットフィ
ルタの各領域での分光透過特性図、’５ｔ、　Ｉ　６図
は本発明の一実施例の概略を示すブロック図である。 ３・・・・・・カメラ、５・・・・・・主ミラー、６・
・・・・・サブミラー、１０・・・・・・ＡＦ＠測光ユ
ニット、１１・・・・・・フィールドレンズ、１２・・
・・・・二次結像レンズ、１３・・・・・・ＡＦ−ＡＥ
用センサ、１４・・・・・・Ｔ　Ｔ　Ｌストロボ調光用
センサ、３３・・・・・・センサ駆動回路、１０１・・
・・・・制御回路、１０９・・・・・・ＴＴＬスＩ・ロ
ポ調光回路、１１０・・・・・・測光回路、５ＡＡ−３
ＡＤ・・・・・・ティンセンサ、ＳＡＥ　、ＳＡＦ・・
・・・・ＡＥ用センサ。 特許出願人　　キャノン株式会社 代　　理　　人　　　中　　　村　　　　　稔第２図 第１０図 第１１図 第１６図 第１７図 波長（ｎｍ） 波長（ｎｍ）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）対物レンズと、焦点検出用センサと、該焦点検出
   用センサ上に二次像を形成する二次結像レンズと、該二
   次結像レンズの近傍に配置され、前記対物レンズにより
   結像された物体像を前記二次結像レンズへ導く絞り開口
   部材とを備えた焦点検出装置において、前記焦点検出用
   センサを、前記二次結像レンズによる二次像結像面より
   前記対物レンズの光軸方向に変位させた位置に配置し、
   前記絞り開口部材を、二次結像レンズの光軸に対して垂
   直方向に変位させる調整手段を設けたことを特徴とする
   焦点検出装置。