JPS641730B2 - - Google Patents
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- JPS641730B2 JPS641730B2 JP16633082A JP16633082A JPS641730B2 JP S641730 B2 JPS641730 B2 JP S641730B2 JP 16633082 A JP16633082 A JP 16633082A JP 16633082 A JP16633082 A JP 16633082A JP S641730 B2 JPS641730 B2 JP S641730B2
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- Japan
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- value
- weighing
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- measurement
- correction value
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G13/00—Weighing apparatus with automatic feed or discharge for weighing-out batches of material
- G01G13/24—Weighing mechanism control arrangements for automatic feed or discharge
- G01G13/28—Weighing mechanism control arrangements for automatic feed or discharge involving variation of an electrical variable which is used to control loading or discharge of the receptacle
- G01G13/29—Weighing mechanism control arrangements for automatic feed or discharge involving variation of an electrical variable which is used to control loading or discharge of the receptacle involving digital counting
- G01G13/2906—Weighing mechanism control arrangements for automatic feed or discharge involving variation of an electrical variable which is used to control loading or discharge of the receptacle involving digital counting for controlling automatic loading of weigh-pans or other receptacles
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Weight Measurement For Supplying Or Discharging Of Specified Amounts Of Material (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、粉粒体状の原材料を計量した後
に、他の処理機器へ供給する自動計量供給装置に
関する。
に、他の処理機器へ供給する自動計量供給装置に
関する。
自動計量供給装置は、粉粒体原料等の計量や定
量供給を自動的に行うものであり、多種類の粉粒
体原料を取り扱う工場等においては、その生産ラ
インの中で重要な位置を占めている。この種の自
動計量供給装置は、一般に、貯蔵ホツパから供給
される粉粒体を計量ホツパで計量して、この計量
ホツパから他の処理機器へ供給する。この場合、
計量ホツパへの投入量が予め定められた計量設定
値となるように制御する投入計量方式と、予め計
量ホツパに適当量投入し、計量ホツパからの排出
量が計量設定値となるように制御する排出計量方
式とがある。第１図は、これらの計量時における
計量ホツパの状態を示す図であり、同図イは投入
計量方式による場合、ロは排出計量方式による場
合の計量ホツパ内の状態を示している。同図イに
おいて、粉粒体投入時の状態を考察すると、計量
ホツパ内の粉粒体は、貯蔵ホツパから投入されて
次第に量を増していく。そして、投入目標値Ａに
至ると、貯蔵ホツパへ閉塞指令が送られる。投入
目標値Ａは、計量設定値A0から、落差補正値ε
差し引いたものであり、落差補正値εは、貯蔵ホ
ツパの閉塞指令が出された後、計量ホツパに流入
する粉粒体の量を勘案して定められた値である。
すなわち、貯蔵ホツパの閉塞指令が出されてから
実際に貯蔵ホツパが閉じるまでには、制御系およ
び機械系の応答遅れや動作時間があり、また、貯
蔵ホツパが実際に閉じてからも、その出口と計量
ホツパとの間に、まだ落ち切らずに残つている粉
粒体もあるため、貯蔵ホツパの閉塞指令がでてか
らも粉粒体は計量ホツパに流入し、投入目標値Ａ
よりも落差補正値ε分多い所で計量ホツパへの供
給が止まると考えられる。そこで、予め計量設定
値A0より落差補正値ε分少い投入目標値Ａを設
定する。しかし、このようにしても実投入量Ｇは
計量設定値A0からずれてしまう。そして、この
実投入量はＧから計量設定値A0を減じた値が計
量誤差δであり、実投入量Ｇの値に応じて正負の
値をとりうる（図の場合は正）。
量供給を自動的に行うものであり、多種類の粉粒
体原料を取り扱う工場等においては、その生産ラ
インの中で重要な位置を占めている。この種の自
動計量供給装置は、一般に、貯蔵ホツパから供給
される粉粒体を計量ホツパで計量して、この計量
ホツパから他の処理機器へ供給する。この場合、
計量ホツパへの投入量が予め定められた計量設定
値となるように制御する投入計量方式と、予め計
量ホツパに適当量投入し、計量ホツパからの排出
量が計量設定値となるように制御する排出計量方
式とがある。第１図は、これらの計量時における
計量ホツパの状態を示す図であり、同図イは投入
計量方式による場合、ロは排出計量方式による場
合の計量ホツパ内の状態を示している。同図イに
おいて、粉粒体投入時の状態を考察すると、計量
ホツパ内の粉粒体は、貯蔵ホツパから投入されて
次第に量を増していく。そして、投入目標値Ａに
至ると、貯蔵ホツパへ閉塞指令が送られる。投入
目標値Ａは、計量設定値A0から、落差補正値ε
差し引いたものであり、落差補正値εは、貯蔵ホ
ツパの閉塞指令が出された後、計量ホツパに流入
する粉粒体の量を勘案して定められた値である。
すなわち、貯蔵ホツパの閉塞指令が出されてから
実際に貯蔵ホツパが閉じるまでには、制御系およ
び機械系の応答遅れや動作時間があり、また、貯
蔵ホツパが実際に閉じてからも、その出口と計量
ホツパとの間に、まだ落ち切らずに残つている粉
粒体もあるため、貯蔵ホツパの閉塞指令がでてか
らも粉粒体は計量ホツパに流入し、投入目標値Ａ
よりも落差補正値ε分多い所で計量ホツパへの供
給が止まると考えられる。そこで、予め計量設定
値A0より落差補正値ε分少い投入目標値Ａを設
定する。しかし、このようにしても実投入量Ｇは
計量設定値A0からずれてしまう。そして、この
実投入量はＧから計量設定値A0を減じた値が計
量誤差δであり、実投入量Ｇの値に応じて正負の
値をとりうる（図の場合は正）。
次に、第１図ロに示す排出計量方式において
は、計量ホツパに予め適当量Ｗが投入され、以後
排出が行われる。この際計量ホツパ内の粉粒体
が、排出目標値Ａだけ排出されたときに排出停止
指令が出され、実排出量Ｇのときに実際の排出が
停止する。そして、この場合も、排出目標値Ａ
は、計量設定値A0から落差補正値εを減じた値
として、また、計量誤差δは、実排出量Ｇから計
量設定値A0を減じた値として、各々決定される。
こうして、自動計量供給装置においては、実投入
量（実排出量）Ｇの値が、計量設定値A0と等し
くなるように、計量設定値A0から落差補正値ε
を減じて、投入（排出）目標値Ａを定め、これに
基づいて計量制御が行われている。そして、従来
の自動計量供給装置においては、落差補正値ε
は、操作者が計量誤差の情況に応じて値を変更し
ながら設定していた。
は、計量ホツパに予め適当量Ｗが投入され、以後
排出が行われる。この際計量ホツパ内の粉粒体
が、排出目標値Ａだけ排出されたときに排出停止
指令が出され、実排出量Ｇのときに実際の排出が
停止する。そして、この場合も、排出目標値Ａ
は、計量設定値A0から落差補正値εを減じた値
として、また、計量誤差δは、実排出量Ｇから計
量設定値A0を減じた値として、各々決定される。
こうして、自動計量供給装置においては、実投入
量（実排出量）Ｇの値が、計量設定値A0と等し
くなるように、計量設定値A0から落差補正値ε
を減じて、投入（排出）目標値Ａを定め、これに
基づいて計量制御が行われている。そして、従来
の自動計量供給装置においては、落差補正値ε
は、操作者が計量誤差の情況に応じて値を変更し
ながら設定していた。
ところで、この落差補正値εは、装置の特性、
被計量物の物性、計量設定値などにより微妙に変
化し、その最適値を入手によつて定めることは極
めて困難であり、このため、計量精度には一定の
限界があつた。
被計量物の物性、計量設定値などにより微妙に変
化し、その最適値を入手によつて定めることは極
めて困難であり、このため、計量精度には一定の
限界があつた。
この発明は、上記の事情にに鑑み、落差補正値
を自動的に修正することによつて、高い精度で計
量することのできる自動計量供給装置を提供する
もので、この目的を達成するために、本発明は前
回計量時の実投入量または実排出量から計量設定
値を差し引き、前回の計量誤差を求めこの計量誤
差の絶対値が予め定められた不感帯設定値よりも
大きい場合は、この計量誤差に予め定められた定
数を乗じ、この値と前回の落差補正値とに基づい
て今回の落差補正値を算出し、前記計量誤差が前
記不感帯設定値以下の場合は、前回の落差補正値
をそのまま今回の落差補正値とすることを特徴と
する。
を自動的に修正することによつて、高い精度で計
量することのできる自動計量供給装置を提供する
もので、この目的を達成するために、本発明は前
回計量時の実投入量または実排出量から計量設定
値を差し引き、前回の計量誤差を求めこの計量誤
差の絶対値が予め定められた不感帯設定値よりも
大きい場合は、この計量誤差に予め定められた定
数を乗じ、この値と前回の落差補正値とに基づい
て今回の落差補正値を算出し、前記計量誤差が前
記不感帯設定値以下の場合は、前回の落差補正値
をそのまま今回の落差補正値とすることを特徴と
する。
以下、図面に基づき本発明の実施例を説明す
る。第２図は、本発明の一実施例の構成を示すブ
ロツク図であり、１は内部に粉粒体２が貯蔵され
ている貯蔵ホツパであり、３は貯蔵ホツパ１の下
端開口部に近接して設けられている電磁フイーダ
である。この電磁フイーダ３は比較制御回路５に
より、その駆動、非駆動が制御され、駆動時には
粉粒体２を振動搬送し、高速又は低速で計量ホツ
パ６の上端開口部へ投入する。計量ホツパ６の外
周面上部には水平方向に延びる腕７ａ，７ｂが対
向して設けられており、この腕７ａ，７ｂが各々
ロードセル８ａ，８ｂおよびワイヤを介して固定
端に取り付けられている。この場合、計量ホツパ
６は、固定端からロードセル８ａ，８ｂを介して
宙吊り状態にある。９は計量ホツパ６の下端開口
部に近接して設けられている電磁フイーダであ
り、電磁フイーダ３と同様に比較制御回路５によ
つて制御される。１０は重量検出回路であり、ロ
ードセル８ａ，８ｂが出力する重量信号に基づい
て、計量ホツパ６内の粉粒体２の重量を検出し、
投入（排出計量方式においては排出）量WRを比
較制御回路５へ供給するともに、投入（排出）終
了時の実投入（排出）量Goを後述のCPU１２へ
供給する。１１はキーボード等からなる操作部で
あり、計量設定値A0、落差補正値の初期値ε0、
定数Ｋ、不感帯設定値Ｄを入力するために設けら
れている。この初期値ε0は、１回目の計量時に用
いられる落差補正値であり、零でもよい。また、
定数Ｋは経験的に定められる値であり、粉粒体２
の種類等によつて異なる。さらに、不感帯設定値
Ｄは、計量誤差δoの許容範囲を示すもので、その
一例を第３図、第４図に示す。１２は中央処理装
置（CPU）であり、装置各部を制御するほか、
後述する演算を行い、演算結果である投入（排
出）目標値Aoを比較制御回路５へ供給する。そ
して比較制御回路５は、投入（排出）量WRと投
入（排出）目標値Aoとを比較し、Ao＞WRの場
合、電磁フイーダ３を駆動して、電磁フイーダ９
を停止し、Ao＝WRになると電磁フイーダ３を停
止し、電磁フイーダ９を駆動する。また、１４は
CPU１２で用いられるプログラムが記憶されて
いるメモリ、１５はデータバスである。
る。第２図は、本発明の一実施例の構成を示すブ
ロツク図であり、１は内部に粉粒体２が貯蔵され
ている貯蔵ホツパであり、３は貯蔵ホツパ１の下
端開口部に近接して設けられている電磁フイーダ
である。この電磁フイーダ３は比較制御回路５に
より、その駆動、非駆動が制御され、駆動時には
粉粒体２を振動搬送し、高速又は低速で計量ホツ
パ６の上端開口部へ投入する。計量ホツパ６の外
周面上部には水平方向に延びる腕７ａ，７ｂが対
向して設けられており、この腕７ａ，７ｂが各々
ロードセル８ａ，８ｂおよびワイヤを介して固定
端に取り付けられている。この場合、計量ホツパ
６は、固定端からロードセル８ａ，８ｂを介して
宙吊り状態にある。９は計量ホツパ６の下端開口
部に近接して設けられている電磁フイーダであ
り、電磁フイーダ３と同様に比較制御回路５によ
つて制御される。１０は重量検出回路であり、ロ
ードセル８ａ，８ｂが出力する重量信号に基づい
て、計量ホツパ６内の粉粒体２の重量を検出し、
投入（排出計量方式においては排出）量WRを比
較制御回路５へ供給するともに、投入（排出）終
了時の実投入（排出）量Goを後述のCPU１２へ
供給する。１１はキーボード等からなる操作部で
あり、計量設定値A0、落差補正値の初期値ε0、
定数Ｋ、不感帯設定値Ｄを入力するために設けら
れている。この初期値ε0は、１回目の計量時に用
いられる落差補正値であり、零でもよい。また、
定数Ｋは経験的に定められる値であり、粉粒体２
の種類等によつて異なる。さらに、不感帯設定値
Ｄは、計量誤差δoの許容範囲を示すもので、その
一例を第３図、第４図に示す。１２は中央処理装
置（CPU）であり、装置各部を制御するほか、
後述する演算を行い、演算結果である投入（排
出）目標値Aoを比較制御回路５へ供給する。そ
して比較制御回路５は、投入（排出）量WRと投
入（排出）目標値Aoとを比較し、Ao＞WRの場
合、電磁フイーダ３を駆動して、電磁フイーダ９
を停止し、Ao＝WRになると電磁フイーダ３を停
止し、電磁フイーダ９を駆動する。また、１４は
CPU１２で用いられるプログラムが記憶されて
いるメモリ、１５はデータバスである。
次に、第２図、第３図を参照して、本実施例の
動作を説明する。第３図は、投入計量方式によつ
て粉粒体２の計量を繰返す場合の計量ホツパ６内
の重量変化を示す図であり、図においてA0は計
量設定値であり、予め操作部１１から入力され
る。また、Ao，Go，εo，δo（ｎ＝１，２，３，
４）は各々、第ｎ回目の計量目標値、実投入量、
落差補正値、計量誤差を示している。
動作を説明する。第３図は、投入計量方式によつ
て粉粒体２の計量を繰返す場合の計量ホツパ６内
の重量変化を示す図であり、図においてA0は計
量設定値であり、予め操作部１１から入力され
る。また、Ao，Go，εo，δo（ｎ＝１，２，３，
４）は各々、第ｎ回目の計量目標値、実投入量、
落差補正値、計量誤差を示している。
さて、計量を開始する場合、操作者は先ず、操
作部１１を操作して、計量設定値A0、落差補正
値εの初期値ε0、定数ＫをCPU１２に入力し、
次に計量をスタートさせる。これによつてCPU
１２は、第３図イに示す第１回目の投入目標値
A1を次式によつて演算し、比較制御回路５に供
給する。
作部１１を操作して、計量設定値A0、落差補正
値εの初期値ε0、定数ＫをCPU１２に入力し、
次に計量をスタートさせる。これによつてCPU
１２は、第３図イに示す第１回目の投入目標値
A1を次式によつて演算し、比較制御回路５に供
給する。
A1＝A0−ε1 ……(1)
ただし、ε1＝ε0
ところで、初期状態においては、計量ホツパ６
は空であり、投入量WR＝０であるから、A1＞WR
となる。そこで、比較制御回路５は、電磁フイー
ダ３の駆動を開始し、貯蔵ホツパ１内の粉粒体２
が計量ホツパ６内に高速で投入される。こうし
て、計量ホツパ６内に粉粒体２が投入されてい
き、投入量WRが予め定められた値（第３図のA0
−Ｓ）になると、比較制御回路５は電磁フイーダ
９を制御し、投入速度を低速に切換え、投入終了
に備える。そして、WR＝A1になると、比較制御
回路５は電磁フイーダ３に貯蔵ホツパ閉塞指令を
出し、電磁フイーダ３を停止させる。この際、指
令が出されてから、計量ホツパ６への投入が実際
に停止するまでに、しばらくの時間がかかり、こ
の間計量ホツパ６への投入量は、第３図イのＧ１
まで増加する。こうして第１回目の投入が終了す
ると、比較制御回路５は電磁フイーダ９を駆動
し、粉粒体２を計量ホツパ６から排出させる。そ
して、CPU１２は、重量検出器１０から実投入
量G1を読み取り、次のようにして第２回目の投
入目標値A2を演算する。
は空であり、投入量WR＝０であるから、A1＞WR
となる。そこで、比較制御回路５は、電磁フイー
ダ３の駆動を開始し、貯蔵ホツパ１内の粉粒体２
が計量ホツパ６内に高速で投入される。こうし
て、計量ホツパ６内に粉粒体２が投入されてい
き、投入量WRが予め定められた値（第３図のA0
−Ｓ）になると、比較制御回路５は電磁フイーダ
９を制御し、投入速度を低速に切換え、投入終了
に備える。そして、WR＝A1になると、比較制御
回路５は電磁フイーダ３に貯蔵ホツパ閉塞指令を
出し、電磁フイーダ３を停止させる。この際、指
令が出されてから、計量ホツパ６への投入が実際
に停止するまでに、しばらくの時間がかかり、こ
の間計量ホツパ６への投入量は、第３図イのＧ１
まで増加する。こうして第１回目の投入が終了す
ると、比較制御回路５は電磁フイーダ９を駆動
し、粉粒体２を計量ホツパ６から排出させる。そ
して、CPU１２は、重量検出器１０から実投入
量G1を読み取り、次のようにして第２回目の投
入目標値A2を演算する。
δ1＝G1−A0 ……(2)
なる式によつて前回（第１回目）の計量誤差δ1を
求め、次に、計量誤差δ1の絶対値｜δ1｜が、 ｜δ1｜≦Ｄ ……(3) （ただし、Ｄは不感帯設定値） なる式を満す場合は、前回の落差補正値ε1をその
まま今回の落差補正値ε2とする。すなわち、 ε2＝ε1 ……(4) とする。一方、絶対値｜δ1｜が ｜δ1｜＞Ｄ ……(5) なる式を満す場合は、前回の落差補正値ε1に次式
の補正を施し、今回の落差補正値ε2を得る。すな
わち、 ε2＝ε1＋Kδ1 ……(6) なる式によつて、前回の落差補正値ε1に、前回の
計量誤差δ1と定数Ｋを掛けた値を加算して今回の
落差補正値ε2を得る。こうして(4)、又は(6)式で得
られた落差補正値ε2を計量設定値A0から差し引
いて第２回目の投入目標値A2を得る。すなわち、
CPU１２は、 A2＝A0−ε2 ……(7) なる式によつて、投入目標値A2を求め、この値
を比較制御回路５に供給する。こうして、第３図
ロに示す第２回目の計量が第１回目と同様にして
行われる。
求め、次に、計量誤差δ1の絶対値｜δ1｜が、 ｜δ1｜≦Ｄ ……(3) （ただし、Ｄは不感帯設定値） なる式を満す場合は、前回の落差補正値ε1をその
まま今回の落差補正値ε2とする。すなわち、 ε2＝ε1 ……(4) とする。一方、絶対値｜δ1｜が ｜δ1｜＞Ｄ ……(5) なる式を満す場合は、前回の落差補正値ε1に次式
の補正を施し、今回の落差補正値ε2を得る。すな
わち、 ε2＝ε1＋Kδ1 ……(6) なる式によつて、前回の落差補正値ε1に、前回の
計量誤差δ1と定数Ｋを掛けた値を加算して今回の
落差補正値ε2を得る。こうして(4)、又は(6)式で得
られた落差補正値ε2を計量設定値A0から差し引
いて第２回目の投入目標値A2を得る。すなわち、
CPU１２は、 A2＝A0−ε2 ……(7) なる式によつて、投入目標値A2を求め、この値
を比較制御回路５に供給する。こうして、第３図
ロに示す第２回目の計量が第１回目と同様にして
行われる。
このようにして、第（ｎ−１）回目の計量が終
了すると、CPU１２は、以下のようにして第ｎ
回目の投入目標値Aoを求める。
了すると、CPU１２は、以下のようにして第ｎ
回目の投入目標値Aoを求める。
δ（ｎ−１）＝Ｇ（ｎ−１）−A0 ……(8)
εo＝ε（ｎ−１） ……(9)
（ただし｜δ（ｎ−１）｜≦Ｄのとき）
εo＝ε（ｎ−１）＋Kδ（ｎ−１） ……(10)
（ただし｜δ（ｎ−１）｜＞Ｄのとき）
これらの式は、(2)式，(4)式，(6)式に対応するも
のであり、その適用例を第３図に基づいて説明す
る。第３図イ（第１回目の計量）、ロ（第２回目
の計量）においては、｜δ1｜＞Ｄ、｜δ2｜＞Ｄなの
で(10)式から落差補正値ε2、ε3が求められ、この結
果、ε1＜ε2＜ε3となる。そして、第３回目の計量
（同図ハ）においては、｜δ3｜＜Ｄとなり、計量誤
差δ3の絶対値｜δ3｜が不感帯設定値Ｄよりも小さ
くなる。これは第３回目の計量が極めて正確に遂
行されたためであり、第４回目の計量（同図ニ）
において、落差補正値ε4を修正する必要はないと
考えられる。そこで(9)式によつてε4＝ε3と設定さ
れ、これに基づいて第４回目の計量が行われる。
こうして、前回の計量が極めて正確に行われた場
合は、今回の計量も前回と同じ条件下で行うよう
にすることによつて、計量時のハンチング現象を
防止することができ、これによつて計量精度をさ
らに向上させることができる。
のであり、その適用例を第３図に基づいて説明す
る。第３図イ（第１回目の計量）、ロ（第２回目
の計量）においては、｜δ1｜＞Ｄ、｜δ2｜＞Ｄなの
で(10)式から落差補正値ε2、ε3が求められ、この結
果、ε1＜ε2＜ε3となる。そして、第３回目の計量
（同図ハ）においては、｜δ3｜＜Ｄとなり、計量誤
差δ3の絶対値｜δ3｜が不感帯設定値Ｄよりも小さ
くなる。これは第３回目の計量が極めて正確に遂
行されたためであり、第４回目の計量（同図ニ）
において、落差補正値ε4を修正する必要はないと
考えられる。そこで(9)式によつてε4＝ε3と設定さ
れ、これに基づいて第４回目の計量が行われる。
こうして、前回の計量が極めて正確に行われた場
合は、今回の計量も前回と同じ条件下で行うよう
にすることによつて、計量時のハンチング現象を
防止することができ、これによつて計量精度をさ
らに向上させることができる。
以上を要約すると、前回の実投入量Ｇ（ｎ−１）
から計量設定値A0を差し引いて前回の計量誤差
δ（ｎ−１）を求め、その絶対値｜δ（ｎ−１）｜
が不感帯設定値Ｄ以下であれば、前回の落差補正
値ε（ｎ−１）をそのまま今回の落差補正値εo（＝
ε（ｎ−１））とし、絶対値｜δ（ｎ−１）｜が不感
帯設定値Ｄより大きければ、計量誤差δ（ｎ−１）
と定数Ｋとの積をとり、その値に前回の落差補正
値ε（ｎ−１）を加算して今回の落差補正値εoを
求める。このように、前回の計量が設定範囲内の
精度で行われていればそのままの状態で計量を続
け、設定範囲内の精度で行われなかつた場合は、
落差補正値εoを自動的に修正する。こうして、落
差補正値εoの値を次第に最適な値にすることがで
きる。
から計量設定値A0を差し引いて前回の計量誤差
δ（ｎ−１）を求め、その絶対値｜δ（ｎ−１）｜
が不感帯設定値Ｄ以下であれば、前回の落差補正
値ε（ｎ−１）をそのまま今回の落差補正値εo（＝
ε（ｎ−１））とし、絶対値｜δ（ｎ−１）｜が不感
帯設定値Ｄより大きければ、計量誤差δ（ｎ−１）
と定数Ｋとの積をとり、その値に前回の落差補正
値ε（ｎ−１）を加算して今回の落差補正値εoを
求める。このように、前回の計量が設定範囲内の
精度で行われていればそのままの状態で計量を続
け、設定範囲内の精度で行われなかつた場合は、
落差補正値εoを自動的に修正する。こうして、落
差補正値εoの値を次第に最適な値にすることがで
きる。
次に、第４図は排出計量方式によつて、計量を
繰返す場合の計量ホツパ６内の重量変化を示す図
であり、図においてWo（ｎ＝１，２，３，４）は
計量に先立つて、計量ホツパ６に適当に投入され
た粉粒体２の重量であり、この重量Woを基準と
して、計量が行われる。その具体的方法は上述し
た投入計量方式とほぼ同じなのでその説明を省略
する。
繰返す場合の計量ホツパ６内の重量変化を示す図
であり、図においてWo（ｎ＝１，２，３，４）は
計量に先立つて、計量ホツパ６に適当に投入され
た粉粒体２の重量であり、この重量Woを基準と
して、計量が行われる。その具体的方法は上述し
た投入計量方式とほぼ同じなのでその説明を省略
する。
以上説明したように、この発明は、前回計量時
の実投入量または実排出量から計量設定値を差し
引き、前回の計量誤差を求め、この計量誤差の絶
対値が予め定められた不感帯設定値よりも大きい
場合は、この計量誤差に予め定められた定数を乗
じ、この値と前回の落差補正値とに基づいて今回
の落差補正値を算出し、前記計量誤差が前記不感
帯設定値以下の場合は、前回の落差補正値をその
まま今回の落差補正値とするので、落差補正値が
自動的に修正され、これによつて自動計量供給装
置の計量精度を向上させることとができる。ま
た、不感帯を設けたことによつて、計量バツチ毎
に起こるハンチング現象が防止でき、これによつ
て計量精度をさらに向上させることができる。
の実投入量または実排出量から計量設定値を差し
引き、前回の計量誤差を求め、この計量誤差の絶
対値が予め定められた不感帯設定値よりも大きい
場合は、この計量誤差に予め定められた定数を乗
じ、この値と前回の落差補正値とに基づいて今回
の落差補正値を算出し、前記計量誤差が前記不感
帯設定値以下の場合は、前回の落差補正値をその
まま今回の落差補正値とするので、落差補正値が
自動的に修正され、これによつて自動計量供給装
置の計量精度を向上させることとができる。ま
た、不感帯を設けたことによつて、計量バツチ毎
に起こるハンチング現象が防止でき、これによつ
て計量精度をさらに向上させることができる。
第１図は、計量時における計量ホツパの状態を
示す図、第２図はこの発明の一実施例の構成を示
すブロツク図、第３図は投入計量方式によつて粉
粒体の計量を繰返す場合の計量ホツパ６内の重量
変化を示す図、第４図は排出計量方式によつて粉
粒体の計量を繰返す場合の計量ホツパ６内の重量
変化を示す図である。 ２……粉粒体（被計量物）、６……計量ホツパ、
１２……CPU（演算手段）、A0……計量設定値、
Ao……（ｎ＝１，２…）……投入（排出）目標
値、Ｄ……不感帯設定値、Go（ｎ＝１，２…）…
…実投入量（実排出量）、Ｋ……定数、εo（ｎ＝
１，２…）……落差補正値、δo（ｎ＝１，２…）
……計量誤差。
示す図、第２図はこの発明の一実施例の構成を示
すブロツク図、第３図は投入計量方式によつて粉
粒体の計量を繰返す場合の計量ホツパ６内の重量
変化を示す図、第４図は排出計量方式によつて粉
粒体の計量を繰返す場合の計量ホツパ６内の重量
変化を示す図である。 ２……粉粒体（被計量物）、６……計量ホツパ、
１２……CPU（演算手段）、A0……計量設定値、
Ao……（ｎ＝１，２…）……投入（排出）目標
値、Ｄ……不感帯設定値、Go（ｎ＝１，２…）…
…実投入量（実排出量）、Ｋ……定数、εo（ｎ＝
１，２…）……落差補正値、δo（ｎ＝１，２…）
……計量誤差。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 計量設定値と落差補正値とに基づき、投入目
標値または排出目標値を求め、この目標値に基づ
いて自動計量を行う自動計量供給装置において、 前記計量設定値を入力する入力手段と、 予め定められた定数を入力する入力手段と、 不感帯設定値を入力する入力手段と、 前回計量時の実投入量または実排出量から前
記計量設定値を差し引き、前回の計量誤差を求
め、この計量誤差の絶対値が前記不感帯設定値
以下の場合は前回の落差補正値をそのまま今回
の落差補正値とし、前記計量誤差の絶対値が前
記不感帯設定値より大きい場合は、前記計量誤
差に前記定数を乗じ、この値と前回の落差補正
値とに基づいて今回の落差補正値を算出する演
算手段と を具備することを特徴とする自動計量供給装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16633082A JPS5956117A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 自動計量供給装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16633082A JPS5956117A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 自動計量供給装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5956117A JPS5956117A (ja) | 1984-03-31 |
| JPS641730B2 true JPS641730B2 (ja) | 1989-01-12 |
Family
ID=15829358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16633082A Granted JPS5956117A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 自動計量供給装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5956117A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02117029U (ja) * | 1989-03-10 | 1990-09-19 |
-
1982
- 1982-09-24 JP JP16633082A patent/JPS5956117A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02117029U (ja) * | 1989-03-10 | 1990-09-19 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5956117A (ja) | 1984-03-31 |
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