JPS643108B2 - - Google Patents
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- JPS643108B2 JPS643108B2 JP54072499A JP7249979A JPS643108B2 JP S643108 B2 JPS643108 B2 JP S643108B2 JP 54072499 A JP54072499 A JP 54072499A JP 7249979 A JP7249979 A JP 7249979A JP S643108 B2 JPS643108 B2 JP S643108B2
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- Prior art keywords
- density
- recording
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- Prior art date
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 25
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 25
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- Fax Reproducing Arrangements (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
- Ink Jet (AREA)
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Color, Gradation (AREA)
Description
本発明は入力に対する出力の濃度特性が低濃度
域において濃淡表現のできない閾値をもつ画像記
録装置における良好な中間表現の可能な画像記録
方法に関する。 画像の中間調濃度を表現するには、写真のよう
に連続的に濃度を変化させる方法と、印刷のよう
に網点の大きさを変化させる方法の二方式が代表
的な例である。他には単位面積当りの粒子数を変
える方法があり、インクジエツト記録等のように
小さい粒子を印字できないものには有効な方式と
いえる。第1図に示す特性はインクジエツト記録
において、記録信号の印加電圧に対する記録濃度
特性を示している。インクジエツトの場合、吐出
するインク粒子の最小径と最大径が限定されるた
め、最大径のときに最大濃度で記録できるように
記録面上での記録密度を決定すると、最小径のと
きの記録濃度が低くできない。すなわち、同図の
ように濃度再生不可能な範囲が明部において大き
くなり、記録画像の品質を著しく悪くする。この
明部を再生するにはインク粒子を間引いて、その
平均濃度を下げる方式がとられる。第2図にその
特性を示す。これは1個の画素情報を4×4のマ
トリクスで表現している。1×1のマトリクスの
大きさは前記最大濃度の記録密度における1個の
インク粒子で記録した大きさに相当する。この方
式の欠点は単位記録面における画素情報密度が小
さくなることである。第2図の例では1/16に減
少していることになる。 本発明は単位記録面における画素情報密度の減
少をできる限り押さえて、かつ明部の濃度を良好
に再現させる方式を提供するものである。 第2図の方式では全ての記録濃度レベルを4×
4のマトリクスで表現しているが、高濃度レベル
ではそれより小さいマトリクスサイズでも表現可
能である。本発明の基本的な考え方は同じ濃度レ
ベルを再現できる条件が満されるのであればでき
る限り小さいマトリクスサイズで表現することに
より、単位記録面における平均画素情報密度を大
きくしようということである。第3図にその一例
を示している。同図の例では記録濃度を16レベル
の等濃度差に設定しており、それぞれの濃度レベ
ルを与える信号ステツプを0〜15までの16ステツ
プとしている。ステツプ0は記録面のベース濃度
である。ステツプ7〜15は電圧変化のみで各濃度
レベルを与えており、マトリクスサイズは全て1
×1の最小単位である。ステツプ1〜6までは電
圧変化とマトリクスサイズの変化で各濃度レベル
を与えており、マトリクスサイズは明部に向かう
に従い大きくなる傾向をもたせている。画素情報
密度はマトリクスサイズが大であるほど小さくな
り、点線で示すようになる。仮りに1つの画面に
おいて各濃度レベルが等確率で発生すると仮定す
ると平均画像情報密度は一点鎖線のようになる。
一般的に画像の輪郭や文字等の解像度が多く要求
される部分は高濃度域(暗部)に多い事を考える
と、本発明は実態に合つた方式を提供しているも
のと言える。 次に本発明を実現させる具体的な一例について
説明する。 今、記録可能な最高濃度をDH、最低濃度(こ
の場合は記録面の濃度)をDLとし、その間を等
濃度差にN個の濃度レベルに分割するとする。そ
の時のK番目(Kは0〜N−1)の濃度DKは1
式で表わされる。 DK=KDH−DL/N−1+DL ……(1) 仮にDH=1、DL=0.1、N=16とするとDKは第
1表のようになる。
域において濃淡表現のできない閾値をもつ画像記
録装置における良好な中間表現の可能な画像記録
方法に関する。 画像の中間調濃度を表現するには、写真のよう
に連続的に濃度を変化させる方法と、印刷のよう
に網点の大きさを変化させる方法の二方式が代表
的な例である。他には単位面積当りの粒子数を変
える方法があり、インクジエツト記録等のように
小さい粒子を印字できないものには有効な方式と
いえる。第1図に示す特性はインクジエツト記録
において、記録信号の印加電圧に対する記録濃度
特性を示している。インクジエツトの場合、吐出
するインク粒子の最小径と最大径が限定されるた
め、最大径のときに最大濃度で記録できるように
記録面上での記録密度を決定すると、最小径のと
きの記録濃度が低くできない。すなわち、同図の
ように濃度再生不可能な範囲が明部において大き
くなり、記録画像の品質を著しく悪くする。この
明部を再生するにはインク粒子を間引いて、その
平均濃度を下げる方式がとられる。第2図にその
特性を示す。これは1個の画素情報を4×4のマ
トリクスで表現している。1×1のマトリクスの
大きさは前記最大濃度の記録密度における1個の
インク粒子で記録した大きさに相当する。この方
式の欠点は単位記録面における画素情報密度が小
さくなることである。第2図の例では1/16に減
少していることになる。 本発明は単位記録面における画素情報密度の減
少をできる限り押さえて、かつ明部の濃度を良好
に再現させる方式を提供するものである。 第2図の方式では全ての記録濃度レベルを4×
4のマトリクスで表現しているが、高濃度レベル
ではそれより小さいマトリクスサイズでも表現可
能である。本発明の基本的な考え方は同じ濃度レ
ベルを再現できる条件が満されるのであればでき
る限り小さいマトリクスサイズで表現することに
より、単位記録面における平均画素情報密度を大
きくしようということである。第3図にその一例
を示している。同図の例では記録濃度を16レベル
の等濃度差に設定しており、それぞれの濃度レベ
ルを与える信号ステツプを0〜15までの16ステツ
プとしている。ステツプ0は記録面のベース濃度
である。ステツプ7〜15は電圧変化のみで各濃度
レベルを与えており、マトリクスサイズは全て1
×1の最小単位である。ステツプ1〜6までは電
圧変化とマトリクスサイズの変化で各濃度レベル
を与えており、マトリクスサイズは明部に向かう
に従い大きくなる傾向をもたせている。画素情報
密度はマトリクスサイズが大であるほど小さくな
り、点線で示すようになる。仮りに1つの画面に
おいて各濃度レベルが等確率で発生すると仮定す
ると平均画像情報密度は一点鎖線のようになる。
一般的に画像の輪郭や文字等の解像度が多く要求
される部分は高濃度域(暗部)に多い事を考える
と、本発明は実態に合つた方式を提供しているも
のと言える。 次に本発明を実現させる具体的な一例について
説明する。 今、記録可能な最高濃度をDH、最低濃度(こ
の場合は記録面の濃度)をDLとし、その間を等
濃度差にN個の濃度レベルに分割するとする。そ
の時のK番目(Kは0〜N−1)の濃度DKは1
式で表わされる。 DK=KDH−DL/N−1+DL ……(1) 仮にDH=1、DL=0.1、N=16とするとDKは第
1表のようになる。
【表】
【表】
この内、D7〜D15までは1個のインク粒子で表
現できるものとする。次に、このD1〜D6までを
表現するためのマトリクスサイズと、そのマトリ
クスの中の各濃度をD0およびD7〜D15の中から選
ぶ方法について説明する。(なお、本実施例では
原則としてマトリクス内の1個の濃度はD0およ
びD7〜D15までの10種類と考えているため、D0〜
D6までの濃度差は誤差により完全に等差には設
定困難である。この誤差を少なくするにはD7〜
D15までの濃度の種類を連続的に選べるようにす
るとよい。) 第1表において、D7〜D15までの各々の光反射
率R〓(αは7〜15)は R〓=1/10D〓 ……(2) D1〜D6までの各々の光反射率R〓(βは1〜6)
は R〓=1/10D〓 ……(3) D0の光反射率R0は R0=1/10Do ……(4) となる。 ここで、R〓を1個のR〓とm個のR0の組合わせ
で表わすものと考え、この組合わせで得る光反射
率をR〓′とすると、 R〓′=R〓+mR0/m+1=1/10D〓+m/10Do/
m+1……(5) つまり、3式で得たR〓に最も近い値をもつ5
式のR〓′を得る(m+1)がマトリクスサイズで
あり、D〓がマトリクスの中に入る1個のインク
粒子の濃度となる。(5)式において、mとD〓の値
を変えてR〓′を求めた値を第2表に示す。
現できるものとする。次に、このD1〜D6までを
表現するためのマトリクスサイズと、そのマトリ
クスの中の各濃度をD0およびD7〜D15の中から選
ぶ方法について説明する。(なお、本実施例では
原則としてマトリクス内の1個の濃度はD0およ
びD7〜D15までの10種類と考えているため、D0〜
D6までの濃度差は誤差により完全に等差には設
定困難である。この誤差を少なくするにはD7〜
D15までの濃度の種類を連続的に選べるようにす
るとよい。) 第1表において、D7〜D15までの各々の光反射
率R〓(αは7〜15)は R〓=1/10D〓 ……(2) D1〜D6までの各々の光反射率R〓(βは1〜6)
は R〓=1/10D〓 ……(3) D0の光反射率R0は R0=1/10Do ……(4) となる。 ここで、R〓を1個のR〓とm個のR0の組合わせ
で表わすものと考え、この組合わせで得る光反射
率をR〓′とすると、 R〓′=R〓+mR0/m+1=1/10D〓+m/10Do/
m+1……(5) つまり、3式で得たR〓に最も近い値をもつ5
式のR〓′を得る(m+1)がマトリクスサイズで
あり、D〓がマトリクスの中に入る1個のインク
粒子の濃度となる。(5)式において、mとD〓の値
を変えてR〓′を求めた値を第2表に示す。
【表】
第3表に示すのは、D1〜D6までの濃度D〓の値
と、その反射率R〓を(3)式より求めた値と、R〓に
近いR〓′を第2表(*印)から求めた値と、R〓′に
対する濃度D〓′を(6)式から求めた値と、そして
D〓′を選んだときのmとD〓をまとめて表わしたも
のである。 D〓′=−logR〓′ ……(6)
と、その反射率R〓を(3)式より求めた値と、R〓に
近いR〓′を第2表(*印)から求めた値と、R〓′に
対する濃度D〓′を(6)式から求めた値と、そして
D〓′を選んだときのmとD〓をまとめて表わしたも
のである。 D〓′=−logR〓′ ……(6)
【表】
第3表において、D5,D6に対するD〓″が求めら
れていない。これは本実施例における1個のイン
ク粒子で表現できる濃度値の下限が高すぎたため
である。本発明においては、このような場合次の
ような特例を設ける。つまり、D5,D6の濃度は、
1個のD0と2個のD〓で表現することにする(従
つてマトリクスサイズは3)。このD〓をD〓1,D〓2
とし(反射率はそれぞれR〓1,R〓2)これによつて
表現される濃度値をD〓″、反射率をR〓″とすると、 R〓″=R0+R〓1+R〓2/3=1/10Do+1/10D〓1
+1/10D〓2/3
……(7) D〓″=−logR〓″ ……(8) 第4表に(7)式の計算結果を示す。
れていない。これは本実施例における1個のイン
ク粒子で表現できる濃度値の下限が高すぎたため
である。本発明においては、このような場合次の
ような特例を設ける。つまり、D5,D6の濃度は、
1個のD0と2個のD〓で表現することにする(従
つてマトリクスサイズは3)。このD〓をD〓1,D〓2
とし(反射率はそれぞれR〓1,R〓2)これによつて
表現される濃度値をD〓″、反射率をR〓″とすると、 R〓″=R0+R〓1+R〓2/3=1/10Do+1/10D〓1
+1/10D〓2/3
……(7) D〓″=−logR〓″ ……(8) 第4表に(7)式の計算結果を示す。
【表】
【表】
*印はD5,D6を与えるR〓″である。D5,D6に
関してのD〓,R〓,R〓″,D〓″とそのときのD〓1,
D〓2を第5表に示す。
関してのD〓,R〓,R〓″,D〓″とそのときのD〓1,
D〓2を第5表に示す。
【表】
第4図は前記第3図に対応するもので、第1
表、第3表、第5表をもとに表わした図である。
ステツプ7〜15まではD〓(マトリクスサイズは
1)、ステツプ5、6はD〓″(マトリクスサイズは
3)、ステツプ3、4(マトリクスサイズ2)とス
テツプ2(マトリクスサイズ3)とステツプ1(マ
トリクスサイズ6)はD〓′であり、ステツプ0は
ベース濃度レベルD0である。 次に、第5図には各ステツプのマトリクスの形
状と濃度配列の1例を示す。マトリクスの中の二
重枠は記録面において、記録信号の現在位置を示
し、他のマトリクス内要素は時間的に未来の方向
に設定する。 第5図の配列において実際に記録する場合に幾
つかの約束事が必要である。たとえば信号列がス
テツプ3の次にステツプ11が発生した場合、ステ
ツプ3のD0の位置とステツプ11のD11の位置が同
じになるため、この同じ位置はどのような濃度で
記録されるべきか、というような事である。 それでは、以下第6図、第7図を参照しなが
ら、第5図の濃度配列を用いた際の具体的な約束
(原則)について説明する。 <約束1> *今処理を実施しようとしている位置の濃度
が、すでに処理した濃度配列により濃度指定を受
けている場合の当該位置における濃度決定の<約
束> 例えば、第6図のAに示すように、位置X0の
濃度がステツプ3であつた場合に、位置X0の濃
度はD8となる一方で、位置X1の濃度もD0に濃度
指定される。そのため次に位置X1の濃度処理の
際には、以下の約束事項により決定される。 今処理を行おうとしている位置X1の濃度Dx1
がひとつのマトリクスサイズで決定できる濃度
である時、すなわち第6図のBで示されるよう
なステツプ8〜ステツプ15の濃度Dx1である時
には、そのステツプ濃度Dx1よりもひとつ低い
ステツプ濃度Dx1-1を当該位置X1の濃度と決定
する。例えば、ステツプ15はステツプ14へ、ス
テツプ14はステツプ13となる。(但し、ステツ
プ7は以下の処理「」に従う。) 今処理を行おうとしている位置X1の濃度Dx1
が複数のマトリクスサイズで決定される濃度
(但し、ステツプ7の濃度を含む)である時、
すなわち第6図のCで示されるようなステツプ
1〜ステツプ7の濃度Dx1である時には、その
ステツプ濃度Dx1は無視して当該位置X1の濃度
Dx1はすでに処理されている位置X0で処理され
た濃度指定に基づくものに従う。 <約束2> *今処理を行おうとしている位置の濃度配列に
より、今後処理しようとする位置の濃度が濃度指
定され、かつ、すでに処理した濃度配列により、
その今後処理しようとする位置の濃度が濃度指定
を受けている場合の、その今後処理しようとする
位置の濃度決定の<約束> 例えば、第7図のAに示すように、位置X0の
濃度がステツプ1に決定された場合に、位置X0
の濃度はD11となる一方で、位置X1,X2…の濃度
もD0に濃度指定(第7図のB)される。 次に位置X1の濃度処理の際に、第7図のCの
如く当該位置X1の濃度がステツプ6の場合、位
置X1の濃度Dx1はそのステツプ6ではD14となる
が、上述の<約束1>−により、実際には濃度
D0となる。 さて、位置X2の濃度は第7図のDのように、
位置X0の処理による濃度指定に続き、位置X1の
処理でも濃度指定を受ける。このような場合は、
その位置X1により指定された濃度であるステツ
プ13よりもひとつ低いステツプ12を当該位置X2
の濃度指定とする。(なお、位置X11も二度の指
定を受けるが、この場合は、変更はなく、過去に
1回、濃度D0として濃度指定を受けたものとし
て処理される。) 最終的には位置X1まで濃度処理結果としては
第7図のEのようになる。なお、第7図のEにお
ける*印は事前に濃度指定を受けている位置(濃
度決定処理がなされていない位置)を示してい
る。 以上の<約束1>、<約束2>を端的にまとめ
ると、以下の通りとなる。 すなわち、 <約束1>記録面における現在記録位置が過去
の信号列により濃度指定されている場合に、記
録しようとする信号が前記高濃度領域における最
低濃度レベル以下であれば当該信号を記録せず、
前記最低濃度レベルより高いときは当該信号よ
り1段低いレベルの濃度レベルで当該信号を記録
する。 <約束2>記録面において現在記録しようとす
る信号による未来の濃度指定位置にすでに過去の
信号列により濃度指定されている場合に、現在の
信号による当該未来位置の濃度レベルがベース濃
度レベルであるときはベース濃度レベルを、ベー
ス濃度レベル以外の濃度レベルであるときは当該
濃度レベルより1段低いレベルの濃度で記録す
る。 以上、本実施例の第5図のマトリクスパターン
では、上記<約束1>と<約束2>で実際の画像
記録が行える。パターンの形状によつては更に定
義が必要となる。 第8図aはパターンの1例をステツプ値で表現
したものである。これは原画像のデータ値である
と考える。このaのパターンを前記に従いデータ
変換したのが同図bのパターンである。bのパタ
ーンはステツプ値が0の他は全て7以上であるか
ら、その数値通りにインクジエツトなどで記録可
能である。bのマス目の左上に■印のある所は過
去の信号列により濃度指定されたことを示す。第
6図の数値ではパターンの形状が理解しにくいた
め、これに視覚的な濃度変化を与えて描き直して
みる。第1表のDKの濃度を表わすために単位面
積の面積率bが黒濃度1.0で、(1−b)が白濃度
0.1であるとすると、DKは第9式のように表わさ
れる。 DK=−log(1−b/100.1+b/101)……(9) 第1表の値を第9式に入れ、黒の面積bを求め
てbの値でパターン化したものを記録する。 以下、本発明の一実施例における画像記録方法
を実現する具体的構成を簡単に説明しておく。 第9図は本発明の一実施例における画像記録方
法を実現する装置のブロツク結線図であり、第9
図において、1は入力画像信号の入力端子、2は
前記<約束1>に従つて信号処理を行なう現在位
置濃度決定回路、3は前記<約束2>に従つて信
号処理を行なう未来位置濃度設定回路、4は出力
画像信号出力端子である。なお、第9図の構成の
動作については、<約束1>及び<約束2>より
明らかであるので、その説明は省略する。また、
前記<約束1><約束2>の信号処理は既存技術
によりIC、LSIなどの論理設計で構成できるが、
最近はマイクロコンピユータを用いて容易にソフ
トウエアでも実現可能である。 以上のように本発明は、入力に対する出力の濃
度特性が低濃度域において濃淡表現のできない閾
値をもつ画像記録装置の画像記録方法において、
前記閾値以上の高濃度領域の濃淡は電圧変化によ
り各濃度レベルを記録し、前記閾値より低い低濃
度領域の濃淡は前記高濃度領域の濃度レベルとベ
ース濃度レベルとの組合せにより記録することに
より、明部が表現できない、例えばインクジエツ
ト記録装置でも、その明部の表現が容易に可能と
なり、その工業的価値は大なるものがある。
表、第3表、第5表をもとに表わした図である。
ステツプ7〜15まではD〓(マトリクスサイズは
1)、ステツプ5、6はD〓″(マトリクスサイズは
3)、ステツプ3、4(マトリクスサイズ2)とス
テツプ2(マトリクスサイズ3)とステツプ1(マ
トリクスサイズ6)はD〓′であり、ステツプ0は
ベース濃度レベルD0である。 次に、第5図には各ステツプのマトリクスの形
状と濃度配列の1例を示す。マトリクスの中の二
重枠は記録面において、記録信号の現在位置を示
し、他のマトリクス内要素は時間的に未来の方向
に設定する。 第5図の配列において実際に記録する場合に幾
つかの約束事が必要である。たとえば信号列がス
テツプ3の次にステツプ11が発生した場合、ステ
ツプ3のD0の位置とステツプ11のD11の位置が同
じになるため、この同じ位置はどのような濃度で
記録されるべきか、というような事である。 それでは、以下第6図、第7図を参照しなが
ら、第5図の濃度配列を用いた際の具体的な約束
(原則)について説明する。 <約束1> *今処理を実施しようとしている位置の濃度
が、すでに処理した濃度配列により濃度指定を受
けている場合の当該位置における濃度決定の<約
束> 例えば、第6図のAに示すように、位置X0の
濃度がステツプ3であつた場合に、位置X0の濃
度はD8となる一方で、位置X1の濃度もD0に濃度
指定される。そのため次に位置X1の濃度処理の
際には、以下の約束事項により決定される。 今処理を行おうとしている位置X1の濃度Dx1
がひとつのマトリクスサイズで決定できる濃度
である時、すなわち第6図のBで示されるよう
なステツプ8〜ステツプ15の濃度Dx1である時
には、そのステツプ濃度Dx1よりもひとつ低い
ステツプ濃度Dx1-1を当該位置X1の濃度と決定
する。例えば、ステツプ15はステツプ14へ、ス
テツプ14はステツプ13となる。(但し、ステツ
プ7は以下の処理「」に従う。) 今処理を行おうとしている位置X1の濃度Dx1
が複数のマトリクスサイズで決定される濃度
(但し、ステツプ7の濃度を含む)である時、
すなわち第6図のCで示されるようなステツプ
1〜ステツプ7の濃度Dx1である時には、その
ステツプ濃度Dx1は無視して当該位置X1の濃度
Dx1はすでに処理されている位置X0で処理され
た濃度指定に基づくものに従う。 <約束2> *今処理を行おうとしている位置の濃度配列に
より、今後処理しようとする位置の濃度が濃度指
定され、かつ、すでに処理した濃度配列により、
その今後処理しようとする位置の濃度が濃度指定
を受けている場合の、その今後処理しようとする
位置の濃度決定の<約束> 例えば、第7図のAに示すように、位置X0の
濃度がステツプ1に決定された場合に、位置X0
の濃度はD11となる一方で、位置X1,X2…の濃度
もD0に濃度指定(第7図のB)される。 次に位置X1の濃度処理の際に、第7図のCの
如く当該位置X1の濃度がステツプ6の場合、位
置X1の濃度Dx1はそのステツプ6ではD14となる
が、上述の<約束1>−により、実際には濃度
D0となる。 さて、位置X2の濃度は第7図のDのように、
位置X0の処理による濃度指定に続き、位置X1の
処理でも濃度指定を受ける。このような場合は、
その位置X1により指定された濃度であるステツ
プ13よりもひとつ低いステツプ12を当該位置X2
の濃度指定とする。(なお、位置X11も二度の指
定を受けるが、この場合は、変更はなく、過去に
1回、濃度D0として濃度指定を受けたものとし
て処理される。) 最終的には位置X1まで濃度処理結果としては
第7図のEのようになる。なお、第7図のEにお
ける*印は事前に濃度指定を受けている位置(濃
度決定処理がなされていない位置)を示してい
る。 以上の<約束1>、<約束2>を端的にまとめ
ると、以下の通りとなる。 すなわち、 <約束1>記録面における現在記録位置が過去
の信号列により濃度指定されている場合に、記
録しようとする信号が前記高濃度領域における最
低濃度レベル以下であれば当該信号を記録せず、
前記最低濃度レベルより高いときは当該信号よ
り1段低いレベルの濃度レベルで当該信号を記録
する。 <約束2>記録面において現在記録しようとす
る信号による未来の濃度指定位置にすでに過去の
信号列により濃度指定されている場合に、現在の
信号による当該未来位置の濃度レベルがベース濃
度レベルであるときはベース濃度レベルを、ベー
ス濃度レベル以外の濃度レベルであるときは当該
濃度レベルより1段低いレベルの濃度で記録す
る。 以上、本実施例の第5図のマトリクスパターン
では、上記<約束1>と<約束2>で実際の画像
記録が行える。パターンの形状によつては更に定
義が必要となる。 第8図aはパターンの1例をステツプ値で表現
したものである。これは原画像のデータ値である
と考える。このaのパターンを前記に従いデータ
変換したのが同図bのパターンである。bのパタ
ーンはステツプ値が0の他は全て7以上であるか
ら、その数値通りにインクジエツトなどで記録可
能である。bのマス目の左上に■印のある所は過
去の信号列により濃度指定されたことを示す。第
6図の数値ではパターンの形状が理解しにくいた
め、これに視覚的な濃度変化を与えて描き直して
みる。第1表のDKの濃度を表わすために単位面
積の面積率bが黒濃度1.0で、(1−b)が白濃度
0.1であるとすると、DKは第9式のように表わさ
れる。 DK=−log(1−b/100.1+b/101)……(9) 第1表の値を第9式に入れ、黒の面積bを求め
てbの値でパターン化したものを記録する。 以下、本発明の一実施例における画像記録方法
を実現する具体的構成を簡単に説明しておく。 第9図は本発明の一実施例における画像記録方
法を実現する装置のブロツク結線図であり、第9
図において、1は入力画像信号の入力端子、2は
前記<約束1>に従つて信号処理を行なう現在位
置濃度決定回路、3は前記<約束2>に従つて信
号処理を行なう未来位置濃度設定回路、4は出力
画像信号出力端子である。なお、第9図の構成の
動作については、<約束1>及び<約束2>より
明らかであるので、その説明は省略する。また、
前記<約束1><約束2>の信号処理は既存技術
によりIC、LSIなどの論理設計で構成できるが、
最近はマイクロコンピユータを用いて容易にソフ
トウエアでも実現可能である。 以上のように本発明は、入力に対する出力の濃
度特性が低濃度域において濃淡表現のできない閾
値をもつ画像記録装置の画像記録方法において、
前記閾値以上の高濃度領域の濃淡は電圧変化によ
り各濃度レベルを記録し、前記閾値より低い低濃
度領域の濃淡は前記高濃度領域の濃度レベルとベ
ース濃度レベルとの組合せにより記録することに
より、明部が表現できない、例えばインクジエツ
ト記録装置でも、その明部の表現が容易に可能と
なり、その工業的価値は大なるものがある。
第1図はインクジエツト記録における記録信号
の印加電圧に対する記録濃度特性図、第2図は一
定サイズのマトリクス記録方式による記録濃度特
性−情報密度特性図、第3図は本発明の一実施例
における画像記録方法の概念図、第4図は同画像
記録方法の具体的な数値による記録特性−情報密
度特性図、第5図は同画像記録方法の具体的な濃
度配列を示す概念図、第6図、第7図は同画像記
録方法の約束事項を説明するための概念図、第8
図は同約束事項により処理された画像の概念図、
第9図は同画像記録方法を実現するための装置の
要部ブロツク結線図である。 2…未来位置濃度設定回路、3…現在位置濃度
決定回路。
の印加電圧に対する記録濃度特性図、第2図は一
定サイズのマトリクス記録方式による記録濃度特
性−情報密度特性図、第3図は本発明の一実施例
における画像記録方法の概念図、第4図は同画像
記録方法の具体的な数値による記録特性−情報密
度特性図、第5図は同画像記録方法の具体的な濃
度配列を示す概念図、第6図、第7図は同画像記
録方法の約束事項を説明するための概念図、第8
図は同約束事項により処理された画像の概念図、
第9図は同画像記録方法を実現するための装置の
要部ブロツク結線図である。 2…未来位置濃度設定回路、3…現在位置濃度
決定回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入力に対する出力の濃度特性が低濃度域にお
いて濃淡表現のできない閾値をもつ画像記録装置
の画像記録方法において、 前記閾値以上の高濃度領域の濃淡は電圧変化に
より各濃度レベルを記録し、前記閾値より低い低
濃度領域の濃淡は前記高濃度領域の濃度レベルと
ベース濃度レベルとの組合せにより記録すること
を特徴とする画像記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7249979A JPS55164166A (en) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | Image recording method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7249979A JPS55164166A (en) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | Image recording method |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60088020A Division JPS60242771A (ja) | 1985-04-24 | 1985-04-24 | 画像記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55164166A JPS55164166A (en) | 1980-12-20 |
| JPS643108B2 true JPS643108B2 (ja) | 1989-01-19 |
Family
ID=13491078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7249979A Granted JPS55164166A (en) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | Image recording method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55164166A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58173971A (ja) * | 1982-04-05 | 1983-10-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 中間調記録方法 |
| US5666444A (en) * | 1982-04-06 | 1997-09-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus |
| GB2120896B (en) * | 1982-04-06 | 1987-01-28 | Canon Kk | Half-tone facsimile system |
| JPS60116282A (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-22 | Fuji Xerox Co Ltd | 中間調表現方式 |
-
1979
- 1979-06-08 JP JP7249979A patent/JPS55164166A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55164166A (en) | 1980-12-20 |
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