JPS6446703U - - Google Patents

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JPS6446703U
JPS6446703U JP14173987U JP14173987U JPS6446703U JP S6446703 U JPS6446703 U JP S6446703U JP 14173987 U JP14173987 U JP 14173987U JP 14173987 U JP14173987 U JP 14173987U JP S6446703 U JPS6446703 U JP S6446703U
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JP
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optical disc
optical
light beam
beam sensor
runout
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JP14173987U
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図および第２図は本考案の光デイスク検査
装置の一実施例を示す構成図、第３図は従来の光
デイスク検査装置の一例を示す構成図である。 １……光デイスク、２……スピンドルモータ、
２１……クランパ、３……光ヘツド、３１……レ
ーザダイオード、３２……集光レンズ、３３……
レンズアクチユエータ、３４……トラツキングセ
ンサ、３５……フオーカスセンサ、３６……変位
センサ、４……送り機構、５……演算制御回路、
６……フレ判別手段、６１，６２……第１および
第２の光ビームセンサ、６３……固定台、６４…
…フレ判別回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. サーボ機構を使用して集光レンズをトラツキン
    グ方向およびフオーカス方向に変位させ光デイス
    クの読取り状態を維持するとともにこの時の集光
    レンズの変位量や読出し信号の信号レベルなどか
    ら光デイスクにおける各種の特性を測定するよう
    にした光デイスク検査装置において、前記光デイ
    スクの内周付近に配置され光デイスクの有無を検
    出する第１の光ビームセンサと、前記光デイスク
    の外周付近に配置され測定機構における許容最大
    フレ量に対応した光デイスク面の高さを検出する
    第２の光ビームセンサと、前記第１の光ビームセ
    ンサの出力を受け前記光デイスクを１回転させる
    とともにこの時の第２の光ビームセンサの出力か
    ら光デイスクのフレ量を判別するフレ判別回路と
    を具備し、前記サーボ機構による本来の測定動作
    の前にこのフレ判別手段により光デイスクの最大
    フレ量を判別するようにしてなる光デイスク検査
    装置。
JP14173987U 1987-09-17 1987-09-17 Pending JPS6446703U (ja)

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JP14173987U JPS6446703U (ja) 1987-09-17 1987-09-17

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JPS6446703U true JPS6446703U (ja) 1989-03-22

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JP14173987U Pending JPS6446703U (ja) 1987-09-17 1987-09-17

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