JPH02109240U - - Google Patents

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JPH02109240U
JPH02109240U JP1817189U JP1817189U JPH02109240U JP H02109240 U JPH02109240 U JP H02109240U JP 1817189 U JP1817189 U JP 1817189U JP 1817189 U JP1817189 U JP 1817189U JP H02109240 U JPH02109240 U JP H02109240U
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disk
focus
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  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例の構成を示す図で
ある。第２図ないし第４図はこの考案の一実施例
の動作を説明するために、光デイスクと光ピツク
アツプとの関係を示した図である。第５図は焦点
誤差信号を示す図である。第６図は従来のデイス
ク検査装置における光デイスクと光ピツクアツプ
の関係を示す図である。 図において、１は光デイスク、２はスピンドル
モータ、３は対物レンズ、４は光ピツクアツプ、
５は永久磁石、６はフオーカスコイル、７は１／
４波長板、８はビームスプリツタ、９はレンズ、
１０はフオトダイオード、１１はコリメートレン
ズ、１２はレーザダイオード、１３はフオーカス
エラー検出回路、１４は焦点位置判別回路、１５
は加算回路、１６はフオーカスサーチ回路、１７
は位相回路、１８は駆動回路を示す。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 光ピツクアツプを用いてデイスク面に光ビーム
    の焦点が合うようにフオーカスサーボをかけて、
    デイスクの表面または裏面の欠陥を検査するよう
    なデイスク検査装置において、 前記光ビームの焦点が前記デイスクの表面また
    は裏面で合うように切換えて前記光ピツクアツプ
    を駆動する駆動手段、 前記光ビームの焦点が前記デイスクの表面また
    は裏面であつたか否かを検知する焦点位置判別手
    段、および、 前記焦点位置判別手段によつて焦点が前記デイ
    スクの表面または裏面であつたことが判別された
    ことに応じて、前記光ピツクアツプの出力に基づ
    いて、前記デイスクの表面または裏面の欠陥を判
    別する欠陥判別手段を備えた、デイスク検査装置
    。
JP1817189U 1989-02-18 1989-02-18 ディスク検査装置 Expired - Lifetime JPH0725682Y2 (ja)

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JPH02109240U true JPH02109240U (ja) 1990-08-31
JPH0725682Y2 JPH0725682Y2 (ja) 1995-06-07

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009063604A1 (ja) * 2007-11-12 2009-05-22 Panasonic Corporation 光ディスク装置
JP2014126436A (ja) * 2012-12-26 2014-07-07 Toray Eng Co Ltd 積層構造を有するワークの内部検査装置

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JP5406033B2 (ja) * 2007-11-12 2014-02-05 パナソニック株式会社 光ディスク装置
JP2014126436A (ja) * 2012-12-26 2014-07-07 Toray Eng Co Ltd 積層構造を有するワークの内部検査装置

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JPH0725682Y2 (ja) 1995-06-07

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