JPS646411B2 - - Google Patents
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- JPS646411B2 JPS646411B2 JP54096593A JP9659379A JPS646411B2 JP S646411 B2 JPS646411 B2 JP S646411B2 JP 54096593 A JP54096593 A JP 54096593A JP 9659379 A JP9659379 A JP 9659379A JP S646411 B2 JPS646411 B2 JP S646411B2
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- circuit
- signal
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- memory circuit
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- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 7
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 6
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
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- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電気回路の故障診断装置、更に詳細に
は工作機械等の電気制御回路を内蔵している電気
制御盤等に含まれている各種センサやリミツトス
イツチ等の要素の故障或いは劣化の診断装置に関
する。
は工作機械等の電気制御回路を内蔵している電気
制御盤等に含まれている各種センサやリミツトス
イツチ等の要素の故障或いは劣化の診断装置に関
する。
従来例えば工作機械、専用機、トランスフアマ
シン(以下工作機械等という)の電気制御盤の故
障に対する保全は、保全員の技術によつて行なつ
ていたため1日に数回しか発生しないような偶発
的な故障に対する適切な診断及び対策がなかなか
とれなかつた。また、故障件数の50%をも占めて
いるセンサ、リミツトスイツチ等の故障に対して
の予知的保全は現ではほとんど不可能であつた。
シン(以下工作機械等という)の電気制御盤の故
障に対する保全は、保全員の技術によつて行なつ
ていたため1日に数回しか発生しないような偶発
的な故障に対する適切な診断及び対策がなかなか
とれなかつた。また、故障件数の50%をも占めて
いるセンサ、リミツトスイツチ等の故障に対して
の予知的保全は現ではほとんど不可能であつた。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたもので、
工作機械等の電気制御回路に含まれている要素、
例えばリレー接点の故障原因を明確に表示しその
保全を効率化するばかりでなく、その要素の劣化
をも検出表示して故障の予知保全を可能にしたも
のである。
工作機械等の電気制御回路に含まれている要素、
例えばリレー接点の故障原因を明確に表示しその
保全を効率化するばかりでなく、その要素の劣化
をも検出表示して故障の予知保全を可能にしたも
のである。
本発明では工作機械等の電気制御回路における
多数のセンサ、リミツトスイツチ等の要素例えば
リレー接点の電圧を入力し、この入力信号の状態
を機械の動作ステツプに応じて自動的に記憶さ
せ、その記憶されたデータと、以後入力されるデ
ータとを比較し、各要素に関連するセンサ、リミ
ツトスイツチ等の動作の状態を知り、その良否を
判定し、必要に応じ不一致の際は異常として、異
常要素の番号等を表示するものである。
多数のセンサ、リミツトスイツチ等の要素例えば
リレー接点の電圧を入力し、この入力信号の状態
を機械の動作ステツプに応じて自動的に記憶さ
せ、その記憶されたデータと、以後入力されるデ
ータとを比較し、各要素に関連するセンサ、リミ
ツトスイツチ等の動作の状態を知り、その良否を
判定し、必要に応じ不一致の際は異常として、異
常要素の番号等を表示するものである。
また上記要素のオン或いはオフ時の電気信号例
えば電圧を検出し、この検出電気信号を任意に可
変な設定値例えば基準電圧と比較してその良、不
良或いはその劣化を故障を起す前に予知するもの
である。したがつて本発明は上記要素としてリレ
ー接点のみならず、コンデンサ、コイル或いはそ
の他の要素までその良否或いは劣化を診断しうる
ものである。
えば電圧を検出し、この検出電気信号を任意に可
変な設定値例えば基準電圧と比較してその良、不
良或いはその劣化を故障を起す前に予知するもの
である。したがつて本発明は上記要素としてリレ
ー接点のみならず、コンデンサ、コイル或いはそ
の他の要素までその良否或いは劣化を診断しうる
ものである。
以下図面につき本発明の一実施例を詳削に説明
する。
する。
第1図においてEは診断すべき工作機械等の電
気制御回路、e0,e1……enは電気制御回路Eにお
けるリミツトスイツチ等の要素例えばリレー接点
でこれらの電気的信号例えば端子間電圧V0,V1
……Vo-2を電線により本発明装置に入力する。
気制御回路、e0,e1……enは電気制御回路Eにお
けるリミツトスイツチ等の要素例えばリレー接点
でこれらの電気的信号例えば端子間電圧V0,V1
……Vo-2を電線により本発明装置に入力する。
1はパルス発振器で、回路全体を同期させるた
めのクロツクパルスCKを出力するもので実際に
は分周回路により周波数を落して用いる。
めのクロツクパルスCKを出力するもので実際に
は分周回路により周波数を落して用いる。
2は上記クロツクパルスCKを反転させ、パル
スの立上り時期を180゜遅らせたパルスを出力
するインバータ回路である。
スの立上り時期を180゜遅らせたパルスを出力
するインバータ回路である。
3は前記パルス発振器1から出力されるクロツ
クパルスCKの立上り毎に、それをカウントして
多重のアドレス信号A0〜Ao-2と、カウントn-1,
nでそれぞれタイミングパルスn-1,nとを出力
するアドレスカウンタである。
クパルスCKの立上り毎に、それをカウントして
多重のアドレス信号A0〜Ao-2と、カウントn-1,
nでそれぞれタイミングパルスn-1,nとを出力
するアドレスカウンタである。
4は機械装置の動作ステツプに伴なつて変化す
る前記電気制御回路Eの要素e0,e1……enの電圧
V0〜Vo-2と内部に設定された任意に可変の基準
値例えば基準電圧レベルを比較し、デジタル信号
D0〜Do-2として出力する比較回路である。
る前記電気制御回路Eの要素e0,e1……enの電圧
V0〜Vo-2と内部に設定された任意に可変の基準
値例えば基準電圧レベルを比較し、デジタル信号
D0〜Do-2として出力する比較回路である。
5は前記比較回路4から出力されるデジタル信
号D0〜Do-2のデータ端子をX0〜Xo-2に入力し、
これらの信号を前記アドレスカウンタ3のアドレ
ス信号A0〜Ao-2によつて1つづつ順次選択する
データセレクタで、アドレス信号A0〜Ao-2によ
つて選択された端子X0〜o-2への入力レベルを、
端子Zに伝達し、その端子Zから後述する記憶回
路6等への入力信号Aを出力するものである。
号D0〜Do-2のデータ端子をX0〜Xo-2に入力し、
これらの信号を前記アドレスカウンタ3のアドレ
ス信号A0〜Ao-2によつて1つづつ順次選択する
データセレクタで、アドレス信号A0〜Ao-2によ
つて選択された端子X0〜o-2への入力レベルを、
端子Zに伝達し、その端子Zから後述する記憶回
路6等への入力信号Aを出力するものである。
6は前記アドレスカウンタ3からのアドレス信
号A0〜Ao-2を受ける入力端子Fと後述するステ
ツプカウンタ13の出力即ちステツプ信号S0〜So
を受ける入力端子Gを持つ記憶回路で前記電気回
路の各要素の数に見合うアドレス信号A0〜Ao-2
の数×前記工作機械等のステツプの数に見合うス
テツプ信号S0〜Soの数の相乗値に相当する数のビ
ツトの記憶容量を持つ記憶回路である。端子W1N
が“1”信号を受けるとき、端子D1Nの入力レベ
ルをアドレス信号A0〜Ao-2とステツプ信号S0〜
Soとによつて指定された場所に書込み(記憶し)、
端子W1Nに“0”信号が入力されるとき、前記指
定された場所に書込まれた記憶レベルを端子Dput
から後述する論理和回路7への入力信号Bとして
出力する(読出す)ものである。
号A0〜Ao-2を受ける入力端子Fと後述するステ
ツプカウンタ13の出力即ちステツプ信号S0〜So
を受ける入力端子Gを持つ記憶回路で前記電気回
路の各要素の数に見合うアドレス信号A0〜Ao-2
の数×前記工作機械等のステツプの数に見合うス
テツプ信号S0〜Soの数の相乗値に相当する数のビ
ツトの記憶容量を持つ記憶回路である。端子W1N
が“1”信号を受けるとき、端子D1Nの入力レベ
ルをアドレス信号A0〜Ao-2とステツプ信号S0〜
Soとによつて指定された場所に書込み(記憶し)、
端子W1Nに“0”信号が入力されるとき、前記指
定された場所に書込まれた記憶レベルを端子Dput
から後述する論理和回路7への入力信号Bとして
出力する(読出す)ものである。
7は2つの入力端子への2つの入力信号AとB
とが同じならば出力信号Xは“0”信号になり、
入力信号AとBとが一致しなければ出力信号Xは
“1”信号になる排他的論理和回路で、記号で説
明するとA=BならばX=0,A≠BならばX=
1となる。
とが同じならば出力信号Xは“0”信号になり、
入力信号AとBとが一致しなければ出力信号Xは
“1”信号になる排他的論理和回路で、記号で説
明するとA=BならばX=0,A≠BならばX=
1となる。
8は前後2段のフリツプフロツプ8a,8bを
持つ一時記憶回路で前段のフリツプフロツプ8a
は第2図に示すように前記アドレス信号A0〜
Ao-2が発せられている間に前記排他的論理和回
路7からA≠BでX=1の信号がS1端子に入力さ
れると“1”信号(第2図中符号M)を記憶し、
アドレスカウンタ3のタイミングパルス信号n-1
が後段のフリツプフロツプ8bの入力端子Cに入
力された時に後段のフリツプフロツプ8bを動作
させ、その出力端子Q2に“1”信号(第2図中
符号N)を出力し保持する。前段のフリツプフロ
ツプ8aの記憶は上記パルス信号n-1より1パル
スだけ遅れて来るタイミングパルス信号nがその
入力端子Rへ入力されることによつてリセツトさ
れる。そしてその端子Q2の出力は前記リセツト
後端子S1への入力がアドレス信号A0〜Ao-2の間
連続して“0”信号にならないかぎり“1”信号
(第2図中符号N)を出力し、連続して“0”信
号を発したときパルス信号n-1の立上りで端子Q2
の出力は“0”信号となる(第2図中符号Pで示
す立下りにより)。
持つ一時記憶回路で前段のフリツプフロツプ8a
は第2図に示すように前記アドレス信号A0〜
Ao-2が発せられている間に前記排他的論理和回
路7からA≠BでX=1の信号がS1端子に入力さ
れると“1”信号(第2図中符号M)を記憶し、
アドレスカウンタ3のタイミングパルス信号n-1
が後段のフリツプフロツプ8bの入力端子Cに入
力された時に後段のフリツプフロツプ8bを動作
させ、その出力端子Q2に“1”信号(第2図中
符号N)を出力し保持する。前段のフリツプフロ
ツプ8aの記憶は上記パルス信号n-1より1パル
スだけ遅れて来るタイミングパルス信号nがその
入力端子Rへ入力されることによつてリセツトさ
れる。そしてその端子Q2の出力は前記リセツト
後端子S1への入力がアドレス信号A0〜Ao-2の間
連続して“0”信号にならないかぎり“1”信号
(第2図中符号N)を出力し、連続して“0”信
号を発したときパルス信号n-1の立上りで端子Q2
の出力は“0”信号となる(第2図中符号Pで示
す立下りにより)。
9は書込み−診断動作切替スイツチで接点K1
側に切替つた時、書込み動作となり、接点K2側
に切替つた時、診断動作となる。
側に切替つた時、書込み動作となり、接点K2側
に切替つた時、診断動作となる。
10は前記切替スイツチ9の書込動作時に有効
となるアンド回路で、前記一時記憶回路8の端子
Q2の出力が“1”信号にあるとき、切替スイツ
チ9の接点K1を通して加えられる“1”信号と
パルス信号とを入力した時に前記記憶回路6
の端子W1Nへ書込み指令パルスを出力するもので
ある。
となるアンド回路で、前記一時記憶回路8の端子
Q2の出力が“1”信号にあるとき、切替スイツ
チ9の接点K1を通して加えられる“1”信号と
パルス信号とを入力した時に前記記憶回路6
の端子W1Nへ書込み指令パルスを出力するもので
ある。
11はオア回路で、切替スイツチ9が接点K1
側にあるときは一時記憶回路8の端子Q2の出力
が“1”信号で入力されたとき、又は切替スイツ
チ9が接点K2側にあるときは一時記憶回路8の
端子Q2の出力が“0”信号でこれがインバータ
14で反転され、“1”信号として入力されたと
きに歩進信号SHを出力し、これをスイツチ12
の接点C2を通して後述のステツプをカウンタ1
3の端子Hへ送るものである。
側にあるときは一時記憶回路8の端子Q2の出力
が“1”信号で入力されたとき、又は切替スイツ
チ9が接点K2側にあるときは一時記憶回路8の
端子Q2の出力が“0”信号でこれがインバータ
14で反転され、“1”信号として入力されたと
きに歩進信号SHを出力し、これをスイツチ12
の接点C2を通して後述のステツプをカウンタ1
3の端子Hへ送るものである。
12は本装置の運転−停止スイツチで、接点
C1側(停止側)にあるとき、図で下段の接点C1
を介してリセツト回路信号REを後述するステツ
プカウンタ13の端子Rに与え、ステツプカウン
タ13のセレクト信号をS0に戻し、接点C2側
(運転側)にあるとき、前記オア回路11からの
歩進信号SHをステツプカウンタ13の端子Hへ
送るものである。
C1側(停止側)にあるとき、図で下段の接点C1
を介してリセツト回路信号REを後述するステツ
プカウンタ13の端子Rに与え、ステツプカウン
タ13のセレクト信号をS0に戻し、接点C2側
(運転側)にあるとき、前記オア回路11からの
歩進信号SHをステツプカウンタ13の端子Hへ
送るものである。
13はステツプカウンタで、前記スイツチ12
の接点C2を通して加えられる歩進信号SHの入力
によつて、その都度ステツプ信号S0〜Soを前記記
憶回路6の入力端子Gに入力し、書込み或は読み
出しの際のステツプを指定する。
の接点C2を通して加えられる歩進信号SHの入力
によつて、その都度ステツプ信号S0〜Soを前記記
憶回路6の入力端子Gに入力し、書込み或は読み
出しの際のステツプを指定する。
14は動作切替スイツチ9が診断動作用の接点
K2側にある場合に、前記一時記憶回路8の端子
Q2の出力が“0”信号にあるときオア回路11
へその“0”信号を“1”信号に反転して供給す
るためのインバータ回路である。
K2側にある場合に、前記一時記憶回路8の端子
Q2の出力が“0”信号にあるときオア回路11
へその“0”信号を“1”信号に反転して供給す
るためのインバータ回路である。
15は動作切替スイツチ9のスイツチが診断動
作用の接点K2側にあるとき一時記憶回路8の端
子Q2の出力が“1”信号のときのみその信号を
端子T1に入力して作動するタイマー回路で、あ
らかじめ設定された時間を経過すると警報信号
TOUTを端子T2から出力するものである。
作用の接点K2側にあるとき一時記憶回路8の端
子Q2の出力が“1”信号のときのみその信号を
端子T1に入力して作動するタイマー回路で、あ
らかじめ設定された時間を経過すると警報信号
TOUTを端子T2から出力するものである。
16は本装置が異常を検出した時、即ち前記警
報信号TOUTが入力された時異常箇所のアドレス、
ステツプ(工程等)番号、異常の状態(HprL)
等を表示する表示回路である。
報信号TOUTが入力された時異常箇所のアドレス、
ステツプ(工程等)番号、異常の状態(HprL)
等を表示する表示回路である。
次に上記装置の動作を次の3段階に分けて説明
する。
する。
(1) 先づ診断すべき電気制御回路Eの正常の動作
を本発明装置に記憶させる。
を本発明装置に記憶させる。
このときには書込み−診断動作切替スイツチ
9は書込み動作用の接点K1の側に接続する。
すると切替スイツチ12は一旦接点C1に接続
された後接点C2の側に接続される。一旦接点
C1に接続されるので、リセツト信号REにより
ステツプカウンタ13からはステツプ信号S0が
記憶回路に入力される。
9は書込み動作用の接点K1の側に接続する。
すると切替スイツチ12は一旦接点C1に接続
された後接点C2の側に接続される。一旦接点
C1に接続されるので、リセツト信号REにより
ステツプカウンタ13からはステツプ信号S0が
記憶回路に入力される。
工作機械等の動作に伴ない、その電気制御回
路Eの要素e0,e1,e2,……enにあらわれる電
圧V0,V1,……Vo-2が常時比較回路4に送ら
れ、そこで設定基準レベルと比較され、その結
果がデジタルレベルに変換されてデジタル信号
D0〜Do-2となり、データセレクタ5の端子X0
〜Xo-2に常時入力される。一方、パルス発振
器1から送られたパルスCKによりアドレスカ
ウンタ3はアドレス信号A0〜Ao-2及びアドレ
ス選択には無関係なパルス信号n-1,nを繰返
して発し、そのうちアドレス信号A0…Ao-2は
データセレクタ5と記憶回路6とに送られ、デ
ータセレクタ5の端子Zより、アドレス信号
A0〜Ao-2による指定に従つて、端子X0〜Xo-2
に入力されたデジタル信号D0〜Do-2が1つづ
つ順次記憶回路6の端子D1Nに入力されると同
時に排他的論理和回路7の一入力端子にも入力
信号Aとして入力される。
路Eの要素e0,e1,e2,……enにあらわれる電
圧V0,V1,……Vo-2が常時比較回路4に送ら
れ、そこで設定基準レベルと比較され、その結
果がデジタルレベルに変換されてデジタル信号
D0〜Do-2となり、データセレクタ5の端子X0
〜Xo-2に常時入力される。一方、パルス発振
器1から送られたパルスCKによりアドレスカ
ウンタ3はアドレス信号A0〜Ao-2及びアドレ
ス選択には無関係なパルス信号n-1,nを繰返
して発し、そのうちアドレス信号A0…Ao-2は
データセレクタ5と記憶回路6とに送られ、デ
ータセレクタ5の端子Zより、アドレス信号
A0〜Ao-2による指定に従つて、端子X0〜Xo-2
に入力されたデジタル信号D0〜Do-2が1つづ
つ順次記憶回路6の端子D1Nに入力されると同
時に排他的論理和回路7の一入力端子にも入力
信号Aとして入力される。
なお、アドレスA0〜Ao-2は表示回路16に
も入力される。
も入力される。
前述したように、いまステツプカウンタ13
はステツプ信号S0を発しており、記憶回路6の
ステツプはS0にある。最初は書込みがなされて
いないのでA≠Bで、X=1であるから、端子
Q2の出力も“1”となり、その信号がW1Nに入
力されるので、記憶回路6は書込み動作となり
ステツプS0における最初の書込みが行なわれ
る。ステツプS0における1サイクル(A0〜
Ao-2)で最初の書込みが行なわれ、2サイク
ル(A0〜Ao-2)目になると、A=Bとなるか
ら、X=0端子Q2の出力は“0”となつて2
サイクル目からは書込み動作に替つて読出し動
作となる。そして、順次送られてくる信号Aが
記憶されている信号と同じときすなわちA=B
が続く限りステツプは歩進せず、ステツプS0に
おける読出し動作が繰返される。
はステツプ信号S0を発しており、記憶回路6の
ステツプはS0にある。最初は書込みがなされて
いないのでA≠Bで、X=1であるから、端子
Q2の出力も“1”となり、その信号がW1Nに入
力されるので、記憶回路6は書込み動作となり
ステツプS0における最初の書込みが行なわれ
る。ステツプS0における1サイクル(A0〜
Ao-2)で最初の書込みが行なわれ、2サイク
ル(A0〜Ao-2)目になると、A=Bとなるか
ら、X=0端子Q2の出力は“0”となつて2
サイクル目からは書込み動作に替つて読出し動
作となる。そして、順次送られてくる信号Aが
記憶されている信号と同じときすなわちA=B
が続く限りステツプは歩進せず、ステツプS0に
おける読出し動作が繰返される。
次に、送られてくる入力信号Aが、記憶され
ている入力信号Bと異なつたときすなわち、A
≠Bとなつた場合を説明する。
ている入力信号Bと異なつたときすなわち、A
≠Bとなつた場合を説明する。
A≠Bであれば、出力信号Xは“1”信号と
なり一時記憶回路8のフリツプフロツプ8aの
端子S1に“1”信号が入力され、フリツプフロ
ツプ8bはアドレスカウンタ3の出力パルス信
号n-1のタイミングパルスの立上り時点で端子
Q2に“1”信号を出力し切替スイツチ9の接
点K1を通してアンド回路10に“1”信号を
伝える。アンド回路10はパルス信号が
“1”の間、“1”信号を書込み指令として記憶
回路6の端子W1Nに入力し、記憶回路6は書込
み動作となり、端子D1Nの入力信号を指定され
たアドレスに書込む(記憶する)。パルス信号
CKが“0”になると同時に記憶回路6は読出
し動作となり、前記のように記憶回路6の記憶
を即ち入力信号Bを端子Dputより排他的論理和
回路7に送る。
なり一時記憶回路8のフリツプフロツプ8aの
端子S1に“1”信号が入力され、フリツプフロ
ツプ8bはアドレスカウンタ3の出力パルス信
号n-1のタイミングパルスの立上り時点で端子
Q2に“1”信号を出力し切替スイツチ9の接
点K1を通してアンド回路10に“1”信号を
伝える。アンド回路10はパルス信号が
“1”の間、“1”信号を書込み指令として記憶
回路6の端子W1Nに入力し、記憶回路6は書込
み動作となり、端子D1Nの入力信号を指定され
たアドレスに書込む(記憶する)。パルス信号
CKが“0”になると同時に記憶回路6は読出
し動作となり、前記のように記憶回路6の記憶
を即ち入力信号Bを端子Dputより排他的論理和
回路7に送る。
一方、A≠Bになつたとき、前述のパルス信
号n-1のタイミングパルスの立上り時に出力さ
れる端子Q2が発する“1”信号出力がオア回
路11を経由してステツプカウンタ13に歩進
信号SHを与えるので、ステツプカウンタ13
からステツプ信号S1が発せられ、ステツプはS0
からS1にシフトする。一時記憶回路8は前述し
たように、その端子Q2の出力が“1”信号と
なつたとき、アドレスカウンタ3の発するアド
レス信号A0〜Ao-2の間連続して“1”信号に
保持され、その期間中は書き込み(新しい書き
込み)のみが行なわれる。
号n-1のタイミングパルスの立上り時に出力さ
れる端子Q2が発する“1”信号出力がオア回
路11を経由してステツプカウンタ13に歩進
信号SHを与えるので、ステツプカウンタ13
からステツプ信号S1が発せられ、ステツプはS0
からS1にシフトする。一時記憶回路8は前述し
たように、その端子Q2の出力が“1”信号と
なつたとき、アドレスカウンタ3の発するアド
レス信号A0〜Ao-2の間連続して“1”信号に
保持され、その期間中は書き込み(新しい書き
込み)のみが行なわれる。
以上のように電気制御回路Eの要素e0,e1…
…enからの信号電圧V0,V1……Vo-2が変らな
いときには書込みは行なわれず読出しのみが行
なわれ、工作機械等のステツプに応じて信号電
圧V0,V1……が変つたときのみステツプカウ
ンタ13が歩進し記憶回路6の新しいステツプ
にその状態を書込み、以上の動作のくり返し、
工作機械等の全ステツプに対応した書込み(記
憶)を完了する。
…enからの信号電圧V0,V1……Vo-2が変らな
いときには書込みは行なわれず読出しのみが行
なわれ、工作機械等のステツプに応じて信号電
圧V0,V1……が変つたときのみステツプカウ
ンタ13が歩進し記憶回路6の新しいステツプ
にその状態を書込み、以上の動作のくり返し、
工作機械等の全ステツプに対応した書込み(記
憶)を完了する。
(2) 次に電気制御回路Eの動作を本発明装置の記
憶と比較して各その要素e0,e1……の診断を行
なう。このときには書込み−診断動作切替スイ
ツチ9を診断動作用の接点K2側に切替える。
すると切替スイツチ12は一たん接点C1に切
替つた後接点C2側に切替わる。そして接点C1
に切替つた時にリセツト信号REが入力するこ
とによりステツプカウンタ13はステツプ信号
S0を発し、ステツプアドレスはS0にもどる。
憶と比較して各その要素e0,e1……の診断を行
なう。このときには書込み−診断動作切替スイ
ツチ9を診断動作用の接点K2側に切替える。
すると切替スイツチ12は一たん接点C1に切
替つた後接点C2側に切替わる。そして接点C1
に切替つた時にリセツト信号REが入力するこ
とによりステツプカウンタ13はステツプ信号
S0を発し、ステツプアドレスはS0にもどる。
この場合も前の書込み動作の場合と同様にア
ドレスカウンタ3によつて指示されたデータセ
レクタ5からの入力信号Aと記憶回路6からの
入力信号Bがそれぞれ排他的論理和回路7に入
力される。
ドレスカウンタ3によつて指示されたデータセ
レクタ5からの入力信号Aと記憶回路6からの
入力信号Bがそれぞれ排他的論理和回路7に入
力される。
若しA≠Bであれば、出力Xは“1”信号と
なり、一時記憶回路8のフリツプフロツプ8a
の端子S1に“1”信号を入力し、その端子Q1
に第2図イのグラフ中符号Mで示すような
“1”信号を出力する。この出力を受けたフリ
ツプフロツプ8bはアドレスカウンタ3の出力
パルスn-1の立上り時点で端子S2に“1”信号
を出力し、その端子Q2に第2図ロのグラフ中
符号Nで示すような信号を出力する。この出力
信号は切替スイツチ9の接点K2を通してイン
バータ回路14およびタイマー回路15に送ら
れる。これによつてインバータ回路14は上記
“1”信号を“0”信号に反転してオア回路1
1に送り、切替スイツチ12の接点C2を通し
てステツプカウンタ13に“0”信号が入力さ
れるので、ステツプカウンタ13に歩進信号
SHが入らない。一方タイマー15は動作を開
始する。而して第2図示のようにアドレス信号
A0〜Ao-2の1サイクルが完了し、次のサイク
ルにおいてA=Bとなるとアドレスカウンタ3
の出力パルス信号n-1の立上り時にフリツプフ
ロツプ8bの端子Q2出力は第2図ロのグラフ
中符号Pで示すように1→0に変化し、この変
化はインバータ回路14により反転して第3図
示のようにステツプカウンタ13には0→1に
変化して歩進信号SHが入力し、ステツプカウ
ンタ13は次のステツプ信号S1を発する。また
タイマー15には“0”信号が入力されるので
動作を停止し、かつリセツトされる。
なり、一時記憶回路8のフリツプフロツプ8a
の端子S1に“1”信号を入力し、その端子Q1
に第2図イのグラフ中符号Mで示すような
“1”信号を出力する。この出力を受けたフリ
ツプフロツプ8bはアドレスカウンタ3の出力
パルスn-1の立上り時点で端子S2に“1”信号
を出力し、その端子Q2に第2図ロのグラフ中
符号Nで示すような信号を出力する。この出力
信号は切替スイツチ9の接点K2を通してイン
バータ回路14およびタイマー回路15に送ら
れる。これによつてインバータ回路14は上記
“1”信号を“0”信号に反転してオア回路1
1に送り、切替スイツチ12の接点C2を通し
てステツプカウンタ13に“0”信号が入力さ
れるので、ステツプカウンタ13に歩進信号
SHが入らない。一方タイマー15は動作を開
始する。而して第2図示のようにアドレス信号
A0〜Ao-2の1サイクルが完了し、次のサイク
ルにおいてA=Bとなるとアドレスカウンタ3
の出力パルス信号n-1の立上り時にフリツプフ
ロツプ8bの端子Q2出力は第2図ロのグラフ
中符号Pで示すように1→0に変化し、この変
化はインバータ回路14により反転して第3図
示のようにステツプカウンタ13には0→1に
変化して歩進信号SHが入力し、ステツプカウ
ンタ13は次のステツプ信号S1を発する。また
タイマー15には“0”信号が入力されるので
動作を停止し、かつリセツトされる。
このように各要素e0,e1,……の信号電圧
V0,V1,……が記憶と一致するとステツプカ
ウンタ13はステツプ信号S0〜Soを発して記憶
回路6の次のステツプの記憶を読み出し、以下
同様にして順次各ステツプの診断を行うもので
ある。このくり返しにより書込み時に記憶され
ていたステツプまでの診断を行ない1サイクル
を完了し、診断動作はこのサイクルを続行す
る。そして一のステツプから次のステツプに歩
進する時間が予め設定した時間(タイマー15
の設定時間)内に行なわれている限り、上記サ
イクルが続行され、電気回路に異状がないこと
が確められるのである。
V0,V1,……が記憶と一致するとステツプカ
ウンタ13はステツプ信号S0〜Soを発して記憶
回路6の次のステツプの記憶を読み出し、以下
同様にして順次各ステツプの診断を行うもので
ある。このくり返しにより書込み時に記憶され
ていたステツプまでの診断を行ない1サイクル
を完了し、診断動作はこのサイクルを続行す
る。そして一のステツプから次のステツプに歩
進する時間が予め設定した時間(タイマー15
の設定時間)内に行なわれている限り、上記サ
イクルが続行され、電気回路に異状がないこと
が確められるのである。
(3) 故障或いは劣化が起つた場合
若し、電気制御回路Eの各要素e0,e1,……
の任意のものに故障或いは劣化が起ると信号電
圧V0,V1……が記憶と一致することがなく、
A=Bとならず第2図イの点線Wで示すような
“1”信号が生じ、したがつて第2図ロの点線
Uで示すようにフリツプフロツプ8bの端子
Q2は“1”信号の出力が持続する。したがつ
てタイマー15においてはタイマー設定時間内
に端子Q2の出力が“0”信号にならないので
タイマーアツプの信号即ち、警報信号TOUTを
出力してこれを表示回路16に送り、表示回路
16はこのA≠Bにおける信号電圧V0〜Vo-2、
アドレス信号A0〜Ao-2、ステツプS0〜So及び
信号AがHレベルかLレベルかをそれぞれ表示
する。したがつて上記故障或いは劣化した要素
及びその故障或いは劣化の状態を知ることがで
きるものである。
の任意のものに故障或いは劣化が起ると信号電
圧V0,V1……が記憶と一致することがなく、
A=Bとならず第2図イの点線Wで示すような
“1”信号が生じ、したがつて第2図ロの点線
Uで示すようにフリツプフロツプ8bの端子
Q2は“1”信号の出力が持続する。したがつ
てタイマー15においてはタイマー設定時間内
に端子Q2の出力が“0”信号にならないので
タイマーアツプの信号即ち、警報信号TOUTを
出力してこれを表示回路16に送り、表示回路
16はこのA≠Bにおける信号電圧V0〜Vo-2、
アドレス信号A0〜Ao-2、ステツプS0〜So及び
信号AがHレベルかLレベルかをそれぞれ表示
する。したがつて上記故障或いは劣化した要素
及びその故障或いは劣化の状態を知ることがで
きるものである。
なお、上記実施例では本装置をワイヤードロ
ジツク回路で構成しているが、これはマイクロ
コンピユータによる制御機器で構成することも
できることは云うまでもない。また上記装置に
おいて、表示回路と共に警報装置を作動するよ
うにしてもよい。また、上記タイマー15の設
定時間は工作機械の作動ステツプの時間に合わ
せて適当に定め、少くとも工作機械の作動ステ
ツプが同じ状態を持続する時間よりは長くする
のが良い。
ジツク回路で構成しているが、これはマイクロ
コンピユータによる制御機器で構成することも
できることは云うまでもない。また上記装置に
おいて、表示回路と共に警報装置を作動するよ
うにしてもよい。また、上記タイマー15の設
定時間は工作機械の作動ステツプの時間に合わ
せて適当に定め、少くとも工作機械の作動ステ
ツプが同じ状態を持続する時間よりは長くする
のが良い。
以上のようにして本発明により電気回路の各要
素の良、不良或いは劣化を診断することができる
ものであるが、本発明の効果を摘記すると以下の
通りである。
素の良、不良或いは劣化を診断することができる
ものであるが、本発明の効果を摘記すると以下の
通りである。
1 電気回路の正常動作を自動的に記憶し、次に
要素の出力電圧をこの記憶したデータと比較し
て診断を行なつているので、汎用性に富むと共
にプログラミングの必要がなく、種々の電気回
路に直ちに適用できる。
要素の出力電圧をこの記憶したデータと比較し
て診断を行なつているので、汎用性に富むと共
にプログラミングの必要がなく、種々の電気回
路に直ちに適用できる。
2 電気回路の要素の出力電圧が変わらないとき
は書込みは行なわず、それが変わつたときに書
込みを行なつているので記憶量は最少必要限度
ですみ、記憶容量を節減しうる。
は書込みは行なわず、それが変わつたときに書
込みを行なつているので記憶量は最少必要限度
ですみ、記憶容量を節減しうる。
3 要素の良、不良を常に自動的に監視できるの
で、保全員の人手を節減しうると共に故障が発
生すれば直ちに発見でき、また故障した要素は
直ちに表示されるので、修復を迅速に行なうこ
とができ、工作機械等の稼動率を向上できる。
で、保全員の人手を節減しうると共に故障が発
生すれば直ちに発見でき、また故障した要素は
直ちに表示されるので、修復を迅速に行なうこ
とができ、工作機械等の稼動率を向上できる。
4 要素の不良のみならず、その劣化も直ちに発
見できるので電気回路の故障を未然に防止で
き、工作機械の稼動率を更に向上しうる。
見できるので電気回路の故障を未然に防止で
き、工作機械の稼動率を更に向上しうる。
第1図は本発明の一実施例の概要を示すブロツ
ク図、第2図イはフリツプフロツプ8aのQ1端
子の出力信号を示すグラフ、ロは同8bのQ2端
子の出力信号を示すグラフ、第3図はステツプカ
ウンタ13の歩進を示す説明図である。 4……比較回路、6……記憶回路、7……回
路、16……表示回路。
ク図、第2図イはフリツプフロツプ8aのQ1端
子の出力信号を示すグラフ、ロは同8bのQ2端
子の出力信号を示すグラフ、第3図はステツプカ
ウンタ13の歩進を示す説明図である。 4……比較回路、6……記憶回路、7……回
路、16……表示回路。
Claims (1)
- 1 工作機械等における電気制御回路の各要素の
電気的信号を入力し、これらを予め設定した基準
値と比較してデジタル信号を出力する比較回路
と、前記電気回路の各要素の数に見合うアドレス
の数及び前記工作機械等のステツプの数に見合う
ステツプの数の相乗値に相当する数のビツトの記
憶容量を有し前記比較回路の出力信号を順次入力
して記憶する記憶回路と、この記憶回路にアドレ
ス信号を入力するアドレスカウンタと、前記記憶
回路にステツプ信号を入力するステツプカウンタ
と、前記比較回路から発せられる入力信号と前記
記憶回路に記憶された入力信号とを入力する排他
的論理和回路と、この排他的論理和回路の出力を
入力する一時記憶回路と、この一時記憶回路と前
記ステツプカウンタ及び前記記憶回路との間に設
けた書込診断動作切替スイツチと、この書込診断
動作切替スイツチの診断動作側接点に接続された
タイマーと、このタイマーに接続された表示回路
とを備え、前記書込−診断動作切替スイツチを書
込動作側に切替えることにより前記電気制御回路
の各要素の正常状態を前記記憶回路に記憶し、前
記書込−診断動作切替スイツチを診断動作側に切
替えることにより前記電気制御回路の各要素の状
態を前記正常状態と比較して判断できるようにし
たことを特徴とする電気回路の故障診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9659379A JPS5619459A (en) | 1979-07-27 | 1979-07-27 | Fault diagnostic unit for electric circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9659379A JPS5619459A (en) | 1979-07-27 | 1979-07-27 | Fault diagnostic unit for electric circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5619459A JPS5619459A (en) | 1981-02-24 |
| JPS646411B2 true JPS646411B2 (ja) | 1989-02-03 |
Family
ID=14169192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9659379A Granted JPS5619459A (en) | 1979-07-27 | 1979-07-27 | Fault diagnostic unit for electric circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5619459A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0333067U (ja) * | 1989-08-10 | 1991-04-02 |
-
1979
- 1979-07-27 JP JP9659379A patent/JPS5619459A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0333067U (ja) * | 1989-08-10 | 1991-04-02 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5619459A (en) | 1981-02-24 |
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