KR100347326B1 - Oam cc 테스트 셀을 이용한 atm 교환기 테스트장치 및 방법 - Google Patents
Oam cc 테스트 셀을 이용한 atm 교환기 테스트장치 및 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100347326B1 KR100347326B1 KR1020000053508A KR20000053508A KR100347326B1 KR 100347326 B1 KR100347326 B1 KR 100347326B1 KR 1020000053508 A KR1020000053508 A KR 1020000053508A KR 20000053508 A KR20000053508 A KR 20000053508A KR 100347326 B1 KR100347326 B1 KR 100347326B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- embedded processor
- test
- atm switch
- oam
- test cell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L12/00—Data switching networks
- H04L12/54—Store-and-forward switching systems
- H04L12/56—Packet switching systems
- H04L12/5601—Transfer mode dependent, e.g. ATM
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L12/00—Data switching networks
- H04L12/54—Store-and-forward switching systems
- H04L12/56—Packet switching systems
- H04L12/5601—Transfer mode dependent, e.g. ATM
- H04L2012/5625—Operations, administration and maintenance [OAM]
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L12/00—Data switching networks
- H04L12/54—Store-and-forward switching systems
- H04L12/56—Packet switching systems
- H04L12/5601—Transfer mode dependent, e.g. ATM
- H04L2012/5628—Testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
Abstract
Description
Claims (14)
- 호 처리 제어 기능, 운용관리 제어 기능, 및 알람 및 상태 제어 기능 등과 같은 전반적인 제어 기능을 수행하는 MCMU; 다수명의 ATM 가입자 및 타 망과의 정합 기능을 수행함과 동시에 ATM 스위치 테스트시 운용자의 선택에 따라 소스 라인 카드 또는 타겟 라인 카드로 운용되는 다수개의 라인 카드; 및 상기 다수개의 라인 카드 사이에 접속되어 ATM 셀의 스위칭 기능을 수행하는 ATM 스위치 보드를 구비한 ATM 교환기의 테스트 장치에 있어서,운용자가 ATM 스위치 테스트 명령어를 입력하면 이를 전송하는 한편, ATM 스위치 테스트 결과값을 입력받으면 이를 운용자에게 디스플레이시키는 더미 터미널;상기 MCMU내에 장착되어, 상기 더미 터미널로부터 ATM 스위치 테스트 명령어를 입력받으면 상기 소스 라인 카드 및 타겟 라인 카드로 호 셋업 신호를 전송하여 호 셋업을 진행시킨 후 ATM 스위치 테스트 요구신호를 전송하는 한편, 상기 소스 라인 카드로부터 ATM 스위치 테스트 결과 메시지를 입력받으면 이를 상기 더미 터미널로 전송하는 메인 프로세서;상기 다수개의 라인 카드중 소스 라인 카드내에 장착되어, 상기 메인 프로세서의 제어하에 호 셋업이 진행된 후 ATM 스위치 테스트 요구신호를 입력받으면 OAM CC 테스트 셀을 상기 ATM 스위치 보드를 통해 상기 타겟 라인 카드로 전송하는 한편, 상기 타겟 라인 카드에서 재전송한 OAM CC 테스트 셀을 상기 ATM 스위치 보드를 통해 입력받으면 최초의 OAM CC 테스트 셀과 상기 타겟 라인 카드를 거친 OAMCC 테스트 셀을 비교 검토하여 이상유무를 판정한 후 그 결과 메시지를 상기 메인 프로세서로 전송하는 소스 내장 프로세서; 및상기 다수개의 라인 카드중 타겟 라인 카드내에 장착되어, 상기 소스 내장 프로세서에서 전송한 OAM CC 테스트 셀을 상기 ATM 스위치 보드를 통해 입력받은 후 다시 상기 소스 내장 프로세서로 룹백시키는 타겟 내장 프로세서로 구성된 것을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 장치.
- 메인 프로세서가 더미 터미널로부터 소스 라인 카드 및 타겟 라인 카드의 ID 정보가 포함된 ATM 스위치 테스트 명령어를 수신받는 제 1 단계;상기 메인 프로세서가 상기 소스 내장 프로세서 및 타겟 내장 프로세서로의 호 셋업을 진행시킨 후 상기 소스 내장 프로세서로 호 셋업 정보가 포함된 ATM 스위치 테스트 요구신호를 전송하는 제 2 단계;상기 소스 내장 프로세서가 상기 메인 프로세서로부터 ATM 스위치 테스트 요구신호를 수신받음과 동시에 착신점 정보가 포함된 OAM CC 테스트 셀을 생성한 후 ATM 스위치 보드로 전송하는 제 3 단계;상기 ATM 스위치 보드가 상기 소스 내장 프로세서로부터 OAM CC 테스트 셀을 수신받음과 동시에 착신점을 확인한 후 그 착신점에 해당하는 상기 타겟 내장 프로세서로 스위칭시키는 제 4 단계;상기 타겟 내장 프로세서가 상기 ATM 스위치 보드로부터 OAM CC 테스트 셀을수신받음과 동시에 다시 상기 ATM 스위치 보드로 룹백시키는 제 5 단계;상기 ATM 스위치 보드가 상기 타겟 내장 프로세서로부터 OAM CC 테스트 셀을 수신받은 후 상기 소스 내장 프로세서로 전송하는 제 6 단계;상기 소스 내장 프로세서가 상기 타겟 내장 프로세서를 거친 OAM CC 테스트 셀을 점검하여 ATM 스위치 테스트 결과값을 작성한 후 상기 메인 프로세서로 전송하는 제 7 단계; 및상기 메인 프로세서가 상기 소스 내장 프로세서로부터 ATM 스위치 테스트 결과 메시지를 수신받은 후 상기 더미 터미널을 통해 운용자에게 디스플레이시키는 제 8 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 2항에 있어서,상기 제 3 단계에서 소스 내장 프로세서가 생성하는 OAM CC 테스트 셀은, 착신점 정보인 타겟 내장 프로세서의 ID 정보가 저장된 착심점 필드;VC/VP에 대한 호 셋업 데이터 및 현 데이터가 OAM CC 테스트 셀임을 나타내는 정보가 저장된 헤더 필드; 및테스트용 체크 섬 데이터가 저장된 데이터 필드로 이루어진 것을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 2항에 있어서,상기 제 2 단계는, 상기 메인 프로세서가 상기 소스 내장 프로세서 및 타겟 내장 프로세서로 호 셋업 신호를 전송하는 제 2-1 단계;상기 메인 프로세서가 상기 소스 내장 프로세서 및 타겟 내장 프로세서로부터 설정 시간내에 호 셋업 응답신호가 수신되었는지의 여부를 판단하는 제 2-2 단계; 및상기 제 2-2 단계에서 상기 소스 내장 프로세서 및 타겟 내장 프로세서로부터 설정 시간내에 호 셋업 응답신호가 수신되면, 상기 메인 프로세서가 호 셋업 정보가 포함된 ATM 스위치 테스트 요구신호를 상기 소스 내장 프로세서로 전송하는 제 2-3 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 4항에 있어서,상기 제 2-2 단계에서 상기 소스 내장 프로세서 및 타겟 내장 프로세서로부터 설정 시간내에 호 셋업 응답신호가 수신되지 않으면, 상기 메인 프로세서가 ATM 테스트가 실패했음을 알리는 메시지를 상기 더미 터미널을 통해 운용자에게 디스플레이시키는 제 2-4 단계를 추가로 포함시킴을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 2항에 있어서,상기 제 3 단계는, 상기 소스 내장 프로세서가 메인 프로세서로부터 호 셋업 정보가 포함된 ATM 스위치 테스트 요구신호를 수신받는 제 3-1 단계;상기 소스 내장 프로세서가 ATM 스위치 테스트 요구신호내에 저장된 VC/VP에 대한 호 셋업 데이터를 검색하는 제 3-2 단계;상기 소스 내장 프로세서가 ATM 스위치 테스트 요구신호내에 VC/VP에 대한 호 셋업 데이터가 존재하는지의 여부를 판단하는 제 3-3 단계; 및상기 제 3-3 단계에서 그 ATM 스위치 테스트 요구신호내에 호 셋업 데이터가 존재하면, 상기 소스 내장 프로세서가 착신점 정보가 포함된 OAM CC 테스트 셀을 생성한 후 VC/VP 채널을 통해 ATM 스위치 보드로 전송하는 제 3-4 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 6항에 있어서,상기 제 3-3 단계에서 그 ATM 스위치 테스트 요구신호내에 호 셋업 데이터가 존재하지 않으면, 상기 소스 내장 프로세서가 ATM 스위치 테스트가 실패했음을 알리는 결과 메시지를 상기 메인 프로세서로 전송한 후 제 8 단계로 진행하는 제 3-5 단계를 추가로 포함시킴을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM교환기 테스트 방법.
- 제 2항에 있어서,상기 제 5 단계는, 상기 타겟 내장 프로세서가 상기 ATM 스위치 보드로부터 OAM CC 테스트 셀을 수신받는 제 5-1 단계;상기 타겟 내장 프로세서가 그 OAM CC 테스트 셀내 헤더 필드의 정보를 이용하여 VC/VP에 대한 호 셋업 데이터를 검색하는 제 5-2 단계;상기 타겟 내장 프로세서가 그 OAM CC 테스트 셀의 헤더 필드내에 VC/VP에 대한 호 셋업 데이터가 존재하는지의 여부를 판단하는 제 5-3 단계; 및상기 제 5-3 단계에서 그 OAM CC 테스트 셀의 헤더 필드내에 VC/VP에 대한 호 셋업 데이터가 존재하면, 상기 타겟 내장 프로세서가 상기 ATM 스위치 보드로부터 수신받은 OAM CC 테스트 셀을 다시 상기 ATM 스위치 보드로 룹백시키는 제 5-4 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 8항에 있어서,상기 제 5-3 단계에서 그 OAM CC 테스트 셀의 헤더 필드내에 VC/VP에 대한 호 셋업 데이터가 존재하지 않으면, 상기 타겟 내장 프로세서가 ATM 스위치 테스트가 실패했음을 알리는 결과 메시지를 상기 소스 내장 프로세서를 통해 상기 메인 프로세서로 전송한 후 제 8 단계로 진행하는 제 5-5 단계를 추가로 포함시킴을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 2항에 있어서,상기 제 7 단계는, 상기 소스 내장 프로세서가 상기 타겟 내장 프로세서로부터 룹백된 OAM CC 테스트 셀이 설정 시간내에 수신되었는지의 여부를 판단하는 제 7-1 단계;상기 제 7-1 단계에서 상기 타겟 내장 프로세서로부터 룹백된 OAM CC 테스트 셀이 설정 시간내에 수신되면, 상기 소스 내장 프로세서가 그 타겟 내장 프로세서로부터 룹백된 OAM CC 테스트 셀과 전송되기 전 OAM CC 테스트 셀이 상호 동일한지의 여부를 판단하는 제 7-2 단계; 및상기 제 7-2 단계에서 그 타겟 내장 프로세서로부터 룹백된 OAM CC 테스트 셀과 전송되기 전 OAM CC 테스트 셀이 상호 동일하면, 상기 소스 내장 프로세서가 ATM 스위치 보드 및 각 라인 카드가 정상임을 알리는 결과값을 상기 메인 프로세서로 전송하는 제 7-3 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 10항에 있어서,상기 제 7-1 단계에서 상기 타겟 내장 프로세서로부터 룹백된 OAM CC 테스트 셀이 설정 시간내에 수신되지 않으면, 상기 소스 내장 프로세서가 ATM 스위치 테스트가 실패했음을 알리는 결과 메시지를 상기 메인 프로세서로 전송한 후 상기 제 8 단계로 진행하는 제 7-4 단계를 추가로 포함시킴을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 10항에 있어서,상기 제 7-2 단계에서 그 타겟 내장 프로세서로부터 룹백된 OAM CC 테스트 셀과 전송되기 전 OAM CC 테스트 셀이 상호 동일하지 않으면, 상기 소스 내장 프로세서가 ATM 스위치 보드 및 각 라인 카드가 비정상임을 알리는 결과값을 상기 메인 프로세서로 전송한 후 상기 제 8 단계로 진행하는 제 7-5 단계를 추가로 포함시킴을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 2항에 있어서,상기 제 8 단계는, 상기 메인 프로세서가 상기 소스 내장 프로세서로부터 설정 시간내에 ATM 스위치 테스트 결과 메시지가 수신되었는지의 여부를 판단하는 제 8-1 단계; 및상기 제 8-1 단계에서 상기 소스 내장 프로세서로부터 설정 시간내에 ATM 스위치 테스트 결과 메시지가 수신되면, 상기 메인 프로세서가 그 ATM 스위치 테스트 결과 메시지를 상기 더미 터미널을 통해 운용자에게 디스플레이시키는 제 8-2 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
- 제 13항에 있어서,상기 제 8-1 단계에서 상기 소스 내장 프로세서로부터 설정 시간내에 ATM 스위치 테스트 결과 메시지가 수신되지 않으면, 상기 메인 프로세서가 ATM 스위치 테스트가 실패했음을 알리는 결과 메시지를 상기 더미 터미널을 통해 운용자에게 디스플레이시키는 제 8-3 단계를 추가로 포함시킴을 특징으로 하는 OAM CC 테스트 셀을 이용한 ATM 교환기 테스트 방법.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020000053508A KR100347326B1 (ko) | 2000-09-08 | 2000-09-08 | Oam cc 테스트 셀을 이용한 atm 교환기 테스트장치 및 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020000053508A KR100347326B1 (ko) | 2000-09-08 | 2000-09-08 | Oam cc 테스트 셀을 이용한 atm 교환기 테스트장치 및 방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20020020383A KR20020020383A (ko) | 2002-03-15 |
| KR100347326B1 true KR100347326B1 (ko) | 2002-08-07 |
Family
ID=19688257
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020000053508A Expired - Fee Related KR100347326B1 (ko) | 2000-09-08 | 2000-09-08 | Oam cc 테스트 셀을 이용한 atm 교환기 테스트장치 및 방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100347326B1 (ko) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09238146A (ja) * | 1996-03-01 | 1997-09-09 | Fujitsu Ltd | Atm交換機の通信監視システム |
| JPH10303912A (ja) * | 1997-04-25 | 1998-11-13 | Nec Corp | Atmスイッチ試験装置 |
| JPH11122261A (ja) * | 1997-10-17 | 1999-04-30 | Fujitsu Ltd | Atm交換機の装置内導通試験装置 |
| KR19990038491A (ko) * | 1997-11-05 | 1999-06-05 | 이계철 | 순방향 성능감시 순방향 모니터링 셀 장치 및 셀 전송방법 |
| KR20000007886A (ko) * | 1998-07-08 | 2000-02-07 | 윤종용 | 교환시스템의 경로 시험방법 |
| KR20000020254A (ko) * | 1998-09-18 | 2000-04-15 | 서평원 | 에이티엠 교환기에서 오에이엠 셀 테스트 방법 |
| KR20000045799A (ko) * | 1998-12-30 | 2000-07-25 | 서평원 | 비동기전송모드 교환기에서 스위치 경로 시험 방법 |
-
2000
- 2000-09-08 KR KR1020000053508A patent/KR100347326B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09238146A (ja) * | 1996-03-01 | 1997-09-09 | Fujitsu Ltd | Atm交換機の通信監視システム |
| JPH10303912A (ja) * | 1997-04-25 | 1998-11-13 | Nec Corp | Atmスイッチ試験装置 |
| JPH11122261A (ja) * | 1997-10-17 | 1999-04-30 | Fujitsu Ltd | Atm交換機の装置内導通試験装置 |
| KR19990038491A (ko) * | 1997-11-05 | 1999-06-05 | 이계철 | 순방향 성능감시 순방향 모니터링 셀 장치 및 셀 전송방법 |
| KR20000007886A (ko) * | 1998-07-08 | 2000-02-07 | 윤종용 | 교환시스템의 경로 시험방법 |
| KR20000020254A (ko) * | 1998-09-18 | 2000-04-15 | 서평원 | 에이티엠 교환기에서 오에이엠 셀 테스트 방법 |
| KR20000045799A (ko) * | 1998-12-30 | 2000-07-25 | 서평원 | 비동기전송모드 교환기에서 스위치 경로 시험 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20020020383A (ko) | 2002-03-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN1099793C (zh) | 实现用于异步传输方式(atm)网络的环回测试的带外控制 | |
| US6775239B1 (en) | Checking communication-path data in MPLS communication scheme | |
| KR100347326B1 (ko) | Oam cc 테스트 셀을 이용한 atm 교환기 테스트장치 및 방법 | |
| US6373820B1 (en) | Method and apparatus for maintenance and repair of CAMA interface in PCX system | |
| US7353292B2 (en) | Device and method for changing connection types between a fixed or variable state with an external switching unit | |
| KR100535584B1 (ko) | 망관리시스템에서의 광대역 가입자망 통합 관리 방법 | |
| CN113206771A (zh) | 一种确定路径故障的控制器、交换机和系统 | |
| KR0175461B1 (ko) | 에이티엠 계층에서의 방송형 루프백 제어 방법 | |
| JP3618550B2 (ja) | Stm回線を含むatmネットワークシステムの保守方法 | |
| KR100247024B1 (ko) | 유사 동기식 디지털 계위(pdh)호에 대한 비동기전송모드(atm) 궤환 시험 방법 | |
| KR100251702B1 (ko) | 비동기 전송 모드 네트웍에서 특정 디바이스의 고장 진단 방법 | |
| KR960010869B1 (ko) | 분산시스팀에서의 프로세서 상태관리 및 감사 방법 | |
| KR100478833B1 (ko) | 교환기의 데이터 전송경로 시험 장치 및 방법 | |
| KR100366541B1 (ko) | 이동통신 교환기 시스템에서의 ass-t 구간별 신호링크경로 테스트 방법 | |
| JPH07307772A (ja) | インタフェース試験器 | |
| JPH1065696A (ja) | 通信ネットワークおよび障害通知方法 | |
| KR100249859B1 (ko) | 차세대지능망 지능형정보제공시스템 지능망응용프로토콜 시험장치 | |
| JP3730824B2 (ja) | 信号導通試験方式 | |
| KR20020035673A (ko) | 에이티엠 스위치 테스트방법 | |
| KR20020053241A (ko) | 데이터 전송시스템의 핑테스트 방법 | |
| JP2001230780A (ja) | 非同期転送モード伝送装置における故障検出装置 | |
| KR20000020254A (ko) | 에이티엠 교환기에서 오에이엠 셀 테스트 방법 | |
| JPH07183889A (ja) | Atm交換機における各装置のオンライン試験方法 | |
| KR20030034873A (ko) | 에이티엠 시스템에서 가상 대국 에스에스씨오피를 이용한시험 방법 | |
| JP2001024650A (ja) | Atm交換機及びそれにおける回線装置の試験方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R14-asn-PN2301 |
|
| S20-X000 | Security interest recorded |
St.27 status event code: A-4-4-S10-S20-lic-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R14-asn-PN2301 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20060720 Year of fee payment: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20070723 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20070723 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |