KR100537196B1 - 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 - Google Patents
반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100537196B1 KR100537196B1 KR10-2004-0014909A KR20040014909A KR100537196B1 KR 100537196 B1 KR100537196 B1 KR 100537196B1 KR 20040014909 A KR20040014909 A KR 20040014909A KR 100537196 B1 KR100537196 B1 KR 100537196B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- clock
- delay
- phase
- external
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
- G06F1/10—Distribution of clock signals, e.g. skew
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0814—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the phase shifting device being digitally controlled
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D03—WEAVING
- D03D—WOVEN FABRICS; METHODS OF WEAVING; LOOMS
- D03D47/00—Looms in which bulk supply of weft does not pass through shed, e.g. shuttleless looms, gripper shuttle looms, dummy shuttle looms
- D03D47/34—Handling the weft between bulk storage and weft-inserting means
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D03—WEAVING
- D03D—WOVEN FABRICS; METHODS OF WEAVING; LOOMS
- D03D47/00—Looms in which bulk supply of weft does not pass through shed, e.g. shuttleless looms, gripper shuttle looms, dummy shuttle looms
- D03D47/27—Drive or guide mechanisms for weft inserting
- D03D47/277—Guide mechanisms
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D03—WEAVING
- D03D—WOVEN FABRICS; METHODS OF WEAVING; LOOMS
- D03D49/00—Details or constructional features not specially adapted for looms of a particular type
- D03D49/02—Construction of loom framework
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D03—WEAVING
- D03D—WOVEN FABRICS; METHODS OF WEAVING; LOOMS
- D03D51/00—Driving, starting, or stopping arrangements; Automatic stop motions
- D03D51/02—General arrangements of driving mechanism
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D03—WEAVING
- D03J—AUXILIARY WEAVING APPARATUS; WEAVERS' TOOLS; SHUTTLES
- D03J1/00—Auxiliary apparatus combined with or associated with looms
- D03J1/24—Mirrors or other arrangements for inspecting loom parts
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/04—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store with means for avoiding disturbances due to temperature effects
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/222—Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0816—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter and the frequency- or phase-detection arrangement being connected to a common input
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/087—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal using at least two phase detectors or a frequency and phase detector in the loop
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D03—WEAVING
- D03J—AUXILIARY WEAVING APPARATUS; WEAVERS' TOOLS; SHUTTLES
- D03J2700/00—Auxiliary apparatus associated with looms; Weavening combined with other operations; Shuttles
- D03J2700/06—Auxiliary devices for inspecting, counting or measuring
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dram (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
Abstract
Description
Claims (32)
- 반도체 기억 소자에 있어서,피드백 클럭을 소정 시간 지연시킨 지연 피드백 클럭을 출력하는 제1 단계;외부로부터 인가되는 복수의 클럭 - 상기 복수의 클럭은 상호 위상이 반전된 클럭임 - 중 어느 하나를 선택하기 위하여 상기 지연 피드백 클럭의 위상과 외부로부터 입력되는 외부 클럭의 위상을 비교하는 제2 단계; 및상기 피드백 클럭을 상기 외부 클럭에 록킹시키기 위하여 상기 피드백 클럭의 위상과 상기 외부 클럭의 위상을 비교하는 제3 단계를 포함하는 지연 고정 루프의 클럭 록킹 방법.
- 제1항에 있어서,상기 제1 단계의 피드백 클럭은 상기 지연 고정 루프가 동작하기 시작하는 초기의 피드백 클럭임을 특징으로 하는 지연 고정 루프의 클럭 록킹 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 소정 시간은,적어도 상기 외부 클럭과 상기 피드백 클럭의 위상의 선후를 잘못 판단할 수 있는 범위보다 더 큰 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프의 클럭 록킹 방법.
- 제3항에 있어서,상기 제2 단계의 비교 결과,상기 지연 피드백 클럭의 상향 에지가 상기 외부 클럭의 하향 에지보다 앞서면 상기 복수의 클럭 중 폴링 클럭을 선택하고, 상기 지연 피드백 클럭의 상향 에지가 상기 외부 클럭의 하향 에지보다 뒤지면 상기 복수의 클럭 중 라이징 클럭을 선택하는 제4 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프의 클럭 록킹 방법.
- 제4항에 있어서,상기 폴링 클럭은 상기 외부 클럭을 반전시킨 외부 반전 클럭의 버퍼링된 클럭임을 특징으로 하는 지연 고정 루프의 클럭 록킹 방법.
- 제4항에 있어서,상기 라이징 클럭은 상기 외부 클럭의 버퍼링된 클럭임을 특징으로 하는 지연 고정 루프의 클럭 록킹 방법.
- 제4항에 있어서,제4 단계의 수행 후, 상기 피드백 클럭이 외부 클럭에 소정 간격 이상이면 지연라인부의 지연을 증가시키는 제5 단계; 및상기 피드백 클럭과 외부 클럭이 소정 간격 이내로 접근하면 상기 피드백 클럭과 외부 클럭의 위상 비교에 따라 상기 지연라인부의 지연을 증가 혹은 감소시키는 제6 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프의 클럭 록킹 방법.
- 제7항에 있어서,상기 제6 단계에서의 상기 피드백 클럭과 외부 클럭이 소정 간격 이내로 접근한다는 것은, 상기 지연 피드백 클럭의 상향에지의 위상이 상기 외부 클럭의 상향에지의 위상에 대비하여 진상에서 지상으로 전환하는 것임을 특징으로 하는 지연 고정 루프의 클럭 록킹 방법.
- 반도체 기억 소자에 있어서,외부 클럭과 피드백 클럭을 입력받아 상기 외부 클럭과 상기 피드백 클럭의 위상을 비교하고, 상기 외부 클럭과 상기 피드백 클럭을 소정 시간 지연시켜 생성되는 지연 피드백 클럭의 위상을 비교하기 위한 위상 감지부; 및상기 위상 감지부로부터 출력되는 신호에 응답하여 상기 피드백 클럭이 외부 클럭에 소정 간격 이내로 접근하기 전까지 지연라인부의 지연을 증가시키기 위한 스턱 방지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제9항에 있어서, 상기 스턱 방지부는상기 피드백 클럭이 외부 클럭에 소정 간격 이내로 접근하게 되면 상기 피드백 클럭과 외부 클럭의 위상 비교에 따라 상기 지연라인부의 지연을 증가 혹은 감소시키는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제10항에 있어서, 상기 위상 감지부는,상기 피드백 클럭을 소정 시간 지연시켜 상기 지연 피드백 클럭을 출력하기 위한 피드백 클럭 지연기;상기 피드백 클럭과 외부 클럭을 비교하기 위한 제1 위상 감지기; 및상기 지연 피드백 클럭과 외부 클럭을 비교하기 위한 제2 위상 감지기를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제11항에 있어서, 상기 피드백 클럭 지연기는,상기 피드백 클럭을 상기 피드백 클럭의 위상과 상기 외부 클럭의 위상의 전후를 잘못 판단할 수 있는 범위보다 더 지연시키는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제11항에 있어서, 상기 피드백 클럭 지연기는,상기 피드백 클럭을 입력으로 하는 복수의 직렬로 된 단위 지연 소자인 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제10항에 있어서,상기 피드백 클럭과 외부 클럭이 소정 간격 이내로 접근한다는 것은, 상기 지연 피드백 클럭의 상향에지의 위상이 상기 외부 클럭의 상향에지의 위상에 대비하여 진상에서 지상으로 전환하는 것에 의존하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제11항에 있어서, 상기 스턱 방지부는,상기 제2 위상 감지기의 출력이 제1 논리상태인 동안에는 제1 논리상태를 출력하고, 상기 제2 위상 감지기의 출력이 제2 논리상태로 천이하면 상기 제1 위상 감지기로부터 출력되는 논리상태에 대응하여 출력되는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제11항에 있어서,상기 외부 클럭과 상기 외부 클럭을 반전시킨 외부 반전 클럭을 입력받아 버퍼링하기 위한 입력 버퍼부; 및상기 위상 감지부로부터 출력되는 신호에 응하여 상기 입력 버퍼부로부터 출력되는 복수의 클럭 중 어느 하나를 선택하기 위한 멀티플렉싱부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제16항에 있어서, 상기 입력 버퍼부는,상기 외부 클럭을 비반전단자에, 상기 외부 반전 클럭을 반전단자에 입력받아 상기 외부 클럭과 동 위상인 라이징 클럭을 출력하기 위한 제1 입력 버퍼; 및상기 외부 반전 클럭을 반전단자에, 상기 외부 클럭을 비반전단자에 입력받아 상기 외부 반전 클럭과 동 위상인 폴링 클럭을 출력하기 위한 제2 입력 버퍼를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제16항에 있어서, 상기 멀티플렉싱부는,상기 제2 위상 감지기로부터 출력되는 신호에 응하여 하기 멀티플렉서를 제어하기 위한 제어신호를 출력하기 위한 멀티플렉서 제어부; 및상기 멀티플렉서 제어부로부터 출력되는 제어신호에 응하여 상기 입력 버퍼부로부터 출력되는 복수의 클럭 중 어느 하나를 선택하기 위한 멀티플렉서를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제18항에 있어서, 상기 멀티플렉서 제어부는,상기 제2 위상 감지기로부터 순차적으로 입력되는 복수개의 논리상태값 중 다수개의 논리상태값을 출력값으로 취하기 위한 다수 결정기;상기 외부 클럭을 계수하여 상기 다수 결정기의 출력이 상기 멀티플렉서 제어부의 출력으로 채택될 시간만큼의 계수값이 되는 것을 검출하여 제1논리신호를 출력시키기 위한 계수 및 검출로직부; 및상기 다수 결정기를 입력으로 하고, 상기 계수 및 검출로직의 출력을 클럭신호로 사용하는 디플립플롭을 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제19항에 있어서, 상기 계수 및 검출로직부는,상기 외부 클럭을 계수하기 위한 카운터;상기 카운터의 출력값이 달라지면 고정된 논리값을 출력하기 위한 검출로직;주기적으로 토글링하는 클럭신호와 상기 검출로직을 부정논리합하기 위한 노아게이트;상기 노아게이트의 출력을 반전시키기 위한 낸드게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 반도체 기억 소자에 있어서,하기 스턱 방지부의 출력에 제어되어 지연 피드백 클럭 - 상기 지연 피드백 클럭은 하기 피드백 클럭을 소정 시간 지연시킨 클럭임 - 및 피드백 클럭의 위상을외부 클럭의 위상과 순차적으로 비교하기 위한 위상 감지부; 및상기 위상 감지부로부터 출력되는 신호에 응답하여 상기 피드백 클럭이 외부 클럭에 소정 간격 이내로 접근하기 전까지는 지연라인부의 지연을 증가시키기 위한 스턱 방지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제21항에 있어서, 상기 스턱방지부는,상기 피드백 클럭과 외부 클럭이 소정 간격 이내로 접근하게 되면 상기 피드백 클럭과 외부 클럭의 위상 비교에 따라 상기 지연라인부의 지연을 증가 혹은 감소시키는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제22항에 있어서, 상기 위상 감지부는,상기 피드백 클럭을 소정 시간 지연시켜 상기 지연 피드백 클럭을 출력하기 위한 피드백 클럭 지연기;상기 스턱 방지부의 출력에 제어되어 상기 피드백 클럭과 상기 지연 피드백 클럭 중 어느 하나를 선택하기 위한 멀티플렉서; 및상기 멀티플렉서의 출력과 상기 외부 클럭을 비교하기 위한 위상 감지기를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제23항에 있어서, 상기 피드백 클럭 지연기는,상기 피드백 클럭을 데드 존보다 더 지연시키는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제23항에 있어서, 상기 피드백 클럭 지연기는,상기 피드백 클럭을 입력으로 하는 복수의 직렬로 된 단위 지연 소자인 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제22항에 있어서,상기 피드백 클럭이 외부 클럭에 소정 간격 이내로 접근하였는지의 판단은, 상기 지연 피드백 클럭의 상향에지의 위상이 상기 외부 클럭의 상향에지의 위상보다 앞서 있다가 뒤지게 되는 것에 의존하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제23항에 있어서, 상기 스턱 방지부는,상기 위상 감지기의 출력이 제1 논리상태인 동안에는 제1 논리상태를 출력하고, 상기 위상 감지기의 출력이 제2 논리상태로 천이하는 이후에는 상기 위상 감지기로부터 출력되는 논리상태에 대응하여 출력되는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제23항에 있어서,상기 외부 클럭과 상기 외부 클럭을 반전시킨 외부 반전 클럭을 입력받아 버퍼링하기 위한 입력 버퍼부; 및상기 위상 감지부로부터 출력되는 신호에 응하여 상기 입력 버퍼부로부터 출력되는 복수의 클럭 중 어느 하나를 선택하기 위한 멀티플렉싱부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제28항에 있어서, 상기 입력 버퍼부는,상기 외부 클럭을 비반전단자에, 상기 외부 반전 클럭을 반전단자에 입력받아 상기 외부 클럭과 동 위상인 라이징 클럭을 출력하기 위한 제1 입력 버퍼; 및상기 외부 반전 클럭을 반전단자에, 상기 외부 클럭을 비반전단자에 입력받아 상기 외부 반전 클럭과 동 위상인 폴링 클럭을 출력하기 위한 제2 입력 버퍼를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제28항에 있어서, 상기 멀티플렉싱부는,상기 제2 위상 감지기로부터 출력되는 신호에 응하여 하기 멀티플렉서를 제어하기 위한 제어신호를 출력하기 위한 멀티플렉서 제어부; 및상기 멀티플렉서 제어부로부터 출력되는 제어신호에 응하여 상기 입력 버퍼부로부터 출력되는 복수의 클럭 중 어느 하나를 선택하기 위한 멀티플렉서를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제30항에 있어서, 상기 멀티플렉서 제어부는,상기 제2 위상 감지기로부터 순차적으로 입력되는 복수개의 논리상태값 중 다수개의 논리상태값을 출력값으로 취하기 위한 다수 결정기;상기 외부 클럭을 계수하여 상기 다수 결정기의 출력이 상기 멀티플렉서 제어부의 출력으로 채택될 시간만큼의 계수값이 되는 것을 검출하여 제1논리신호를 출력시키기 위한 계수 및 검출로직부; 및상기 다수 결정기를 입력으로 하고, 상기 계수 및 검출로직의 출력을 클럭신호로 사용하는 디플립플롭을 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
- 제31항에 있어서, 상기 계수 및 검출로직부는,상기 외부 클럭을 계수하기 위한 카운터;상기 카운터의 출력값이 달라지면 고정된 논리값을 출력하기 위한 검출로직;주기적으로 토글링하는 클럭신호와 상기 검출로직을 부정논리합하기 위한 노아게이트;상기 노아게이트의 출력을 반전시키기 위한 낸드게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 고정 루프.
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2004-0014909A KR100537196B1 (ko) | 2004-03-05 | 2004-03-05 | 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 |
| TW093118427A TWI321400B (en) | 2004-03-05 | 2004-06-25 | A method for operating a delay locked loop of a semiconductor memory device and delay locked loop in semiconductor memory device |
| US10/877,071 US7375565B2 (en) | 2004-03-05 | 2004-06-25 | Delay locked loop in semiconductor memory device |
| JP2004208428A JP4789172B2 (ja) | 2004-03-05 | 2004-07-15 | 半導体記憶素子におけるディレイロックループ及びそのロック方法 |
| US12/150,904 US7733140B2 (en) | 2004-03-05 | 2008-05-01 | Delay locked loop in semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2004-0014909A KR100537196B1 (ko) | 2004-03-05 | 2004-03-05 | 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20050089474A KR20050089474A (ko) | 2005-09-08 |
| KR100537196B1 true KR100537196B1 (ko) | 2005-12-16 |
Family
ID=34910029
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2004-0014909A Expired - Fee Related KR100537196B1 (ko) | 2004-03-05 | 2004-03-05 | 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US7375565B2 (ko) |
| JP (1) | JP4789172B2 (ko) |
| KR (1) | KR100537196B1 (ko) |
| TW (1) | TWI321400B (ko) |
Families Citing this family (39)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100607169B1 (ko) * | 2003-12-08 | 2006-08-01 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 리드 방법 |
| KR100735548B1 (ko) * | 2006-01-10 | 2007-07-04 | 삼성전자주식회사 | 지연동기회로 및 방법 |
| KR100779381B1 (ko) * | 2006-05-15 | 2007-11-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 감소된 면적을 가지는 dll과 이를 포함하는 반도체메모리 장치 및 그 락킹 동작 방법 |
| KR100821577B1 (ko) * | 2006-05-19 | 2008-04-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀티 싸이클 보정 장치 |
| KR100809692B1 (ko) * | 2006-08-01 | 2008-03-06 | 삼성전자주식회사 | 작은 지터를 갖는 지연동기 루프 회로 및 이의 지터감소방법 |
| KR100815187B1 (ko) * | 2006-08-31 | 2008-03-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
| KR100810073B1 (ko) * | 2006-09-29 | 2008-03-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법 |
| KR100854457B1 (ko) * | 2006-12-29 | 2008-08-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프 |
| KR100811276B1 (ko) | 2006-12-29 | 2008-03-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프회로 |
| KR100919243B1 (ko) | 2007-01-17 | 2009-09-30 | 삼성전자주식회사 | 주파수 대역에 적응적인 코오스 락 타임을 갖는 dll회로 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치 |
| TWI328177B (en) * | 2007-01-30 | 2010-08-01 | Ind Tech Res Inst | Method of evolutionary optimization algorithm for structure design |
| KR100868015B1 (ko) * | 2007-02-12 | 2008-11-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 장치, 이를 이용한 지연 고정 루프 회로 및 반도체메모리 장치 |
| KR100910853B1 (ko) * | 2007-03-29 | 2009-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법 |
| US7495487B2 (en) * | 2007-04-09 | 2009-02-24 | Micron Technology, Inc. | Delay-locked loop (DLL) system for determining forward clock path delay |
| KR100929654B1 (ko) * | 2008-04-15 | 2009-12-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 레지스터 제어형 지연고정루프회로 |
| KR100917630B1 (ko) | 2008-04-30 | 2009-09-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 회로 |
| JP2009278528A (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-26 | Elpida Memory Inc | Dll回路、および半導体装置 |
| KR100948067B1 (ko) | 2008-07-10 | 2010-03-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자 |
| KR100958811B1 (ko) * | 2008-09-02 | 2010-05-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프회로 |
| JP5639740B2 (ja) * | 2008-10-24 | 2014-12-10 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. | Dll回路とその制御方法 |
| JP5641697B2 (ja) * | 2009-02-12 | 2014-12-17 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. | クロック制御回路及びこれを備える半導体装置 |
| KR101046274B1 (ko) * | 2010-03-29 | 2011-07-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭지연회로 |
| KR101103067B1 (ko) * | 2010-03-29 | 2012-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 가변 단위지연회로 및 그를 이용한 반도체 장치의 클럭 생성회로 |
| US8604850B2 (en) | 2011-03-29 | 2013-12-10 | Micron Technology, Inc. | Measurement initialization circuitry |
| KR20130002671A (ko) * | 2011-06-29 | 2013-01-08 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 |
| KR20140012312A (ko) | 2012-07-19 | 2014-02-03 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연 고정 루프 회로 및 그의 구동 방법 |
| TWI502895B (zh) * | 2012-12-06 | 2015-10-01 | Himax Tech Inc | 時脈產生器 |
| KR20170049193A (ko) * | 2015-10-28 | 2017-05-10 | 삼성전자주식회사 | 지연 고정 루프회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
| KR102415198B1 (ko) * | 2017-11-20 | 2022-07-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 스큐 보상 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 |
| KR102817951B1 (ko) * | 2019-10-10 | 2025-06-09 | 삼성전자주식회사 | Pll 회로 및 이를 포함하는 클록 발생기 |
| JP7420537B2 (ja) * | 2019-11-26 | 2024-01-23 | ローム株式会社 | 位相ロックループ回路 |
| TWI802300B (zh) * | 2022-03-01 | 2023-05-11 | 力晶積成電子製造股份有限公司 | 延遲鎖相迴路裝置 |
| TWI864688B (zh) * | 2022-06-22 | 2024-12-01 | 南亞科技股份有限公司 | 確定記憶體設備之延遲鎖相迴路的目標鎖定時間的系統 |
| US12112790B2 (en) | 2022-06-22 | 2024-10-08 | Nanya Technology Corporation | Method for determining target locking time of delay locked loop of memory apparatus |
| US12014766B2 (en) | 2022-06-22 | 2024-06-18 | Nanya Technology Corporation | System for determining target locking time of delay locked loop of memory apparatus |
| JP7717102B2 (ja) * | 2023-01-13 | 2025-08-01 | 華邦電子股▲ふん▼有限公司 | 制御回路及び半導体記憶装置 |
| KR102898303B1 (ko) * | 2023-02-28 | 2025-12-09 | 윈본드 일렉트로닉스 코포레이션 | 제어회로 및 반도체 기억장치 |
| TWI880194B (zh) * | 2023-04-06 | 2025-04-11 | 華邦電子股份有限公司 | 延遲鎖定迴路 |
| KR20260009513A (ko) * | 2024-07-11 | 2026-01-20 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 위상 감지 회로, 이를 이용하는 클럭 생성 회로, 및 클럭 생성 방법 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63151218A (ja) * | 1986-12-16 | 1988-06-23 | Fujitsu Ltd | デイジタルpll回路 |
| JP2856118B2 (ja) * | 1995-09-13 | 1999-02-10 | 日本電気株式会社 | Pll回路 |
| US5977801A (en) * | 1997-07-07 | 1999-11-02 | International Business Machines Corporation | Self-resetting phase/frequency detector with reduced dead zone |
| KR100305646B1 (ko) * | 1998-05-29 | 2001-11-30 | 박종섭 | 클럭보정회로 |
| KR100295056B1 (ko) * | 1999-01-27 | 2001-07-12 | 윤종용 | 지연동기루프 및 방법 |
| KR100331562B1 (ko) * | 1999-11-29 | 2002-04-06 | 윤종용 | 지연 동기 루프 회로 및 내부 클럭 신호 발생 방법 |
| KR100366618B1 (ko) * | 2000-03-31 | 2003-01-09 | 삼성전자 주식회사 | 클럭 신호의 듀티 사이클을 보정하는 지연 동기 루프 회로및 지연 동기 방법 |
| JP2001290555A (ja) * | 2000-04-07 | 2001-10-19 | Fujitsu Ltd | Dll回路の位相調整方法およびdll回路を有する半導体集積回路 |
| JP2001339294A (ja) * | 2000-05-30 | 2001-12-07 | Mitsubishi Electric Corp | Dll回路 |
| JP2002124873A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-04-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
| KR100393206B1 (ko) * | 2000-10-23 | 2003-07-31 | 삼성전자주식회사 | 고주파 특성과 수율 향상을 위한 지연동기회로 |
| US6774679B2 (en) * | 2001-05-30 | 2004-08-10 | Thine Electronics Inc. | Semiconductor integrated circuit |
| KR100437611B1 (ko) * | 2001-09-20 | 2004-06-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 혼합형 지연 록 루프 회로 |
| JP2003174003A (ja) * | 2001-12-04 | 2003-06-20 | Sony Corp | 半導体装置製造用洗浄剤及びそれを用いた半導体装置の製造方法 |
| KR100424182B1 (ko) * | 2001-12-21 | 2004-03-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지터 특성을 개선한 지연 고정 루프 회로 |
| KR100424180B1 (ko) | 2001-12-21 | 2004-03-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀티 사이클 보상 기능을 갖는 지연 고정 루프 회로 |
-
2004
- 2004-03-05 KR KR10-2004-0014909A patent/KR100537196B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-25 US US10/877,071 patent/US7375565B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-25 TW TW093118427A patent/TWI321400B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-07-15 JP JP2004208428A patent/JP4789172B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-05-01 US US12/150,904 patent/US7733140B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4789172B2 (ja) | 2011-10-12 |
| KR20050089474A (ko) | 2005-09-08 |
| US7375565B2 (en) | 2008-05-20 |
| US7733140B2 (en) | 2010-06-08 |
| US20080211555A1 (en) | 2008-09-04 |
| US20050195663A1 (en) | 2005-09-08 |
| TWI321400B (en) | 2010-03-01 |
| TW200531444A (en) | 2005-09-16 |
| JP2005251368A (ja) | 2005-09-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100537196B1 (ko) | 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 | |
| KR100639616B1 (ko) | 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 록킹 방법 | |
| JP4868353B2 (ja) | 遅延固定ループ | |
| US7340632B2 (en) | Domain crossing device | |
| US7557627B2 (en) | Semiconductor memory device for generating a delay locked clock in early stage | |
| KR100733471B1 (ko) | 반도체 기억 소자의 지연 고정 루프 회로 및 그 제어 방법 | |
| JP2003069424A (ja) | リングレジスタ制御型遅延固定ループ及びその制御方法 | |
| CN107733428B (zh) | 延迟锁定环电路、集成电路和用于控制它的方法 | |
| KR100732760B1 (ko) | 지연고정루프회로 | |
| KR100639617B1 (ko) | 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 | |
| US7605622B2 (en) | Delay locked loop circuit | |
| US8729940B2 (en) | Delay locked loop circuit and semiconductor device having the same | |
| KR101196706B1 (ko) | 지연 고정 루프 회로를 포함하는 반도체 집적 회로 | |
| US20140015574A1 (en) | Semiconductor device and method for driving the same | |
| US7952406B2 (en) | Delay locked loop circuit | |
| US6940325B2 (en) | DLL circuit | |
| US7872508B2 (en) | Delay locked loop circuit | |
| US8379784B2 (en) | Semiconductor memory device | |
| KR100735548B1 (ko) | 지연동기회로 및 방법 | |
| US7082179B2 (en) | Clock divider of delay locked loop | |
| KR100422583B1 (ko) | 반도체기억장치용 위상비교기 및 그 제어방법 | |
| KR100638746B1 (ko) | 반도체 기억 소자에서의 레지스터 제어형 지연 고정 루프 | |
| KR20100130380A (ko) | 지연고정루프 회로 | |
| KR20120109196A (ko) | 지연고정루프 및 이를 포함하는 반도체 장치 | |
| KR20080001431A (ko) | 지연고정루프 제어회로 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 7 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121121 Year of fee payment: 8 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 8 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131128 Year of fee payment: 9 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 9 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R14-asn-PN2301 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141010 Year of fee payment: 10 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 10 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151120 Year of fee payment: 11 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 11 |
|
| L13-X000 | Limitation or reissue of ip right requested |
St.27 status event code: A-2-3-L10-L13-lim-X000 |
|
| U15-X000 | Partial renewal or maintenance fee paid modifying the ip right scope |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U15-oth-X000 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161114 Year of fee payment: 12 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 12 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171129 Year of fee payment: 13 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 13 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181127 Year of fee payment: 14 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 14 |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20191210 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20191210 |