KR101677752B1 - 용량성 근접 디바이스 및 용량성 근접 디바이스를 포함하는 전자 디바이스 - Google Patents
용량성 근접 디바이스 및 용량성 근접 디바이스를 포함하는 전자 디바이스 Download PDFInfo
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Abstract
Description
도 2는 본 발명에 따른 능동 잡음 억제 회로를 포함하는 용량성 근접 디바이스의 기능적 블록도.
도 3은 능동 잡음 억제 회로를 포함하는 용량성 근접 디바이스를 위한 실제 전자 배선도.
도 4는 비트-검출기를 포함하는 용량성 근접 디바이스의 개략적인 도면.
도 5는 위상-제어 회로를 포함하는 용량성 근접 디바이스의 기능적 블록도.
도 6은 능동 잡음 억제 회로 및 위상-제어 회로 모두가 본 발명에 따른 용량성 근접 디바이스에 적용되는 기능적 블록도.
도 7은 제 1 근접 기준 레벨 및 제 2 근접 기준 레벨을 도시한 도면.
13 : 제 1 동기 검출 회로 70 : 감지 회로
RA : 수신기 전극 TA : 방출 전극
17 : 오실레이터 MS : 측정-신호
Claims (15)
- 전자 디바이스(34)의 부근에 물체(32)의 존재 또는 부재를 감지하기 위한 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)에 있어서:
수신기 전극(RA)에 용량성으로 결합되는 방출 전극(TA),
상기 방출 전극(TA)과 상기 수신기 전극(RA) 사이에 교류 전기장인 방출-신호(ES)를 생성하는 오실레이터(17), 및
상기 수신기 전극(RA)에 접속되는 감지 회로(70, 72, 74, 76, 78)를 포함하고,
상기 감지 회로(70, 72, 74, 76, 78)는 상기 수신기 전극(RA)으로부터 측정-신호(MS)를 수신하고, 상기 물체(32)와 상기 전자 디바이스(34) 사이의 거리에 비례하는 출력-신호(OS)를 발생시키기 위한 제 1 검출 회로(13)를 포함하고, 상기 측정-신호(MS)는 잡음을 포함하고, 상기 감지 회로(70, 72, 74, 76, 78)는 상기 제 1 검출 회로(13)에 진입하기 전에 상기 측정-신호(MS)로부터의 잡음을 감소시키기 위한 잡음-억제 수단(80, 82, 84)을 추가로 포함하고,
상기 잡음-억제 수단(80)은 정정-신호(CS)를 생성하기 위하여 방출-신호(ES)의 진폭을 적응시키기 위한 가변 이득 증폭기(3), 및 상기 측정-신호(MS)로부터 정정-신호(CS)를 공제함으로써 상기 측정-신호(MS)로부터의 잡음 중 적어도 일부를 포함하는 잡음-신호(NS)를 생성하기 위한 제 1 차동 증폭기(4)를 포함하고, 상기 정정-신호(CS)는 상기 방출-신호(ES)와 실질적으로 동일한 주파수 및 위상을 갖고 감지된 방출-신호(SES)에 비례하는 진폭을 갖고,
상기 정정-신호(CS)는, 상기 방출-신호(ES)를 수신하고 감지된 방출-신호(SES)의 실질적으로 잡음이 없는 카피인 상기 정정-신호(CS)를 생성하도록 상기 방출-신호(ES)의 진폭을 적응시키는 상기 가변 이득 증폭기(3)에 의해 생성되고,
상기 잡음-신호(NS)는 상기 측정-신호(MS)로부터 상기 잡음을 공제하기 위해 제 2 차동 증폭기(5)의 반전 입력단에 제공되는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 1 항에 있어서,
상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)는 상기 전자 디바이스(34)로 인해 발생하는 잡음의 적어도 일부를 포함하는 잡음-신호(NS)를 감지하기 위해 상기 방출-신호(ES)로부터 차폐되는 부가 수신기 전극(FRA)을 포함하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 1 항에 있어서,
상기 잡음-억제 수단(80)은 제 2 저역-통과 필터(10)를 포함하는 제 2 동기 검출 회로(9), 및 적분기 회로(12)를 추가로 포함하고,
상기 제 2 저역 통과 필터(10)를 포함하는 상기 제 2 동기 검출 회로(9)는 상기 감지된 방출-신호(SES)의 유효 진폭(EA)을 생성하기 위해 상기 잡음-신호(NS)를 수신하고, 상기 적분기 회로(12)는 상기 유효 진폭(EA)을 수신하고 상기 가변 이득 증폭기(3)에 제공되는 이득-신호(GS)를 생성하고 상기 가변 이득 증폭기(3)의 이득을 정의하기 위하여 상기 유효 진폭(EA)을 기준 레벨(접지)과 비교하고, 상기 가변 이득 증폭기(3)는 상기 방출-신호(ES) 및 상기 이득-신호(GS)를 수신하고 상기 정정-신호(CS)를 생성하기 위해 상기 이득-신호(GS)에 따라 상기 방출-신호(ES)의 진폭을 적응시키는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 1 항에 있어서,
상기 잡음-억제 수단(80)은 후속하여 상기 출력-신호(OS)를 생성하기 위한 상기 제 1 검출 회로(13)에 제공되는 잡음-감소 측정-신호(NR-MS)를 생성하기 위한 제 2 차동 증폭기(5)를 포함하고, 상기 제 2 차동 증폭기(5)는 상기 측정-신호(MS)로부터 상기 잡음-신호(NS)를 공제함으로써 상기 잡음-감소 측정-신호(NR-MS)를 생성하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 1 항에 있어서,
상기 정정-신호(CS)는 상기 출력-신호(OS)를 생성하기 위해 상기 제 1 검출 회로(13)에 제공되는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 1 항에 있어서,
상기 잡음-억제 수단(82)은 상기 측정-신호(MS) 또는 상기 출력-신호(OS)를 분석하여 상기 측정-신호(MS) 내의 방출-신호(ES)의 주파수 외의 정기적 또는 주기적인 신호 성분을 식별하기 위한 비트-검출기(16, 82)를 포함하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 6 항에 있어서,
상기 비트-검출기(82)는:
상기 물체(32)와 상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60) 사이의 거리를 나타내는 상기 측정-신호(MS) 또는 상기 출력-신호(OS)를 수신하기 위한 수단,
상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)에 대한 상기 물체(32)의 정기적 또는 주기적 거리 편차를 검출하기 위해 상기 측정-신호(MS) 또는 상기 출력-신호(OS)를 분석하기 위한 수단(82)으로서, 상기 정기적 또는 주기적 거리 편차는 상기 감지된 방출-신호(SES) 내의 상기 정기적 또는 주기적 신호 성분에 대해 표시하는, 상기 분석 수단, 및
그와 같은 정기적 또는 주기적 거리 편차가 식별되는 경우: 상기 용량성 근접 디바이스는 상기 방출-신호(ES)의 주파수를 변경하기 위하여 주파수-신호(FS)를 상기 오실레이터(17)로 송신하기 위한 수단을 포함하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 7 항에 있어서,
상기 오실레이터(17)는 중심 주파수 주위의 미리 정의된 주파수들의 범위로 스위칭하도록 구성되는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 1 항에 있어서,
상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)는 기준-신호(RS)와 상기 감지된 방출-신호(SES) 사이의 위상차를 최소화하기 위한 위상-제어 회로(84)를 추가로 포함하고, 상기 기준-신호(RS)는 제 1 동기 검출 회로(13)인 제 1 검출 회로(13) 또는 제 2 동기 검출 회로(9)를 트리거링하는 데 이용되고, 상기 제 2 동기 검출 회로(9)는 상기 감지된 방출-신호(SES)의 유효 진폭(EA)을 생성하기 위해 상기 잡음-신호(NS)를 수신하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 9 항에 있어서,
상기 위상-제어 회로(84)는 가변 위상-제어기(19), 제 3 저역 통과 필터(24)를 포함하는 제 3 동기 검출 회로(23), 및 제 2 적분기 회로(25)를 포함하고,
상기 제 3 저역 통과 필터(24)를 포함하는 상기 제 3 동기 검출 회로(23)는 상기 측정-신호(MS)를 수신하고 상기 기준-신호(RS)에 대해 위상이 90도 시프트된 위상-시프트된 기준-신호(pRS)를 이용하여 상기 측정-신호(MS)를 검출하고, 상기 제 2 적분기 회로(25)는 상기 가변 위상-제어기(19)에 제공되는 위상-제어-신호(PCS)를 생성하고 상기 기준-신호(RS)의 위상을 정의하기 위해 상기 제 3 저역 통과 필터(23)의 출력을 기준 레벨(접지)과 비교하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 9 항에 있어서,
상기 방출-신호(ES)는 상기 기준 신호(RS)를 포함하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 1 항에 있어서,
상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)는 상기 물체(32)의 존재 또는 부재를 결정하기 위해 상기 출력-신호(OS)를 제 1 근접 기준-레벨(RL1)과 비교하기 위한 제 1 비교기(26)를 포함하고, 상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)는 근거리에 상기 물체(32)의 존재 또는 부재를 결정하기 위해 상기 출력-신호(OS)를 제 2 근접 기준-레벨(RL2)과 비교하기 위한 제 2 비교기(28)를 포함하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 12 항에 있어서,
상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)는 상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)의 주위 환경들의 변화들에 대한 상기 제 1 근접 기준-레벨(RL1) 및 상기 제 2 근접 기준-레벨(RL2)의 정정을 위해 상기 물체(32)의 부재 동안 상기 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)의 주기적인 교정을 수행하기 위한 수단을 포함하는, 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60). - 제 1 항에 따른 용량성 근접 디바이스(30, 40, 50, 60)를 위한 감지 회로(70, 72, 74, 76, 78)에 있어서,
상기 감지 회로(70, 72, 74, 76, 78)는 상기 제 1 검출 회로(13)에 진입하기 전에 상기 측정-신호(MS) 내의 잡음을 감소시키기 위한 잡음-억제 수단(80, 82, 84)을 포함하고,
상기 잡음-억제 수단(80)은 상기 측정-신호(MS)로부터 정정-신호(CS)를 공제함으로써 상기 측정-신호(MS)로부터의 잡음 중 적어도 일부를 포함하는 잡음-신호(NS)를 생성하기 위한 제 1 차동 증폭기(4)를 포함하고, 상기 정정 신호(CS)는 상기 방출-신호(ES)와 실질적으로 동일한 주파수 및 위상을 갖고 상기 감지된 방출-신호(SES)에 비례하는 진폭을 갖고,
상기 정정-신호(CS)는, 상기 방출-신호(ES)를 수신하고 감지된 방출-신호(SES)의 실질적으로 잡음이 없는 카피인 상기 정정-신호(CS)를 생성하도록 상기 방출-신호(ES)의 진폭을 적응시키는 가변 이득 증폭기(3)에 의해 생성되고,
상기 잡음-신호(NS)는 상기 측정-신호(MS)로부터 상기 잡음을 공제하기 위해 제 2 차동 증폭기(5)의 반전 입력단에 제공되는, 감지 회로(70, 72, 74, 76, 78). - 전자 디바이스(34)의 부근에 물체(32)의 존재 또는 부재를 감지하기 위한 방법에 있어서,
방출 전극(TA)과 수신기 전극(RA) 사이에 교류 전기장인 방출-신호(ES)를 생성하는 단계로서, 상기 방출 전극(TA)은 상기 수신기 전극(RA)에 용량성으로 결합되는, 상기 생성 단계,
감지 회로(70, 72, 74, 76, 78)에서 상기 수신기 전극(RA)으로부터 측정-신호(MS)를 수신하는 단계로서, 상기 측정-신호(MS)는 잡음을 포함하는, 상기 수신 단계,
상기 감지 회로(70, 72, 74, 76, 78)의 잡음-억제 수단(80, 82, 84)에 의해 제 1 검출 회로(13)에 진입하기 전에 상기 측정-신호(MS)로부터의 잡음을 감소시키는 단계, 및
상기 감지 회로(70, 72, 74, 76, 78)의 제 1 검출 회로(13)에서 상기 물체(32)와 상기 전자 디바이스(34) 사이의 거리에 비례하는 출력-신호(OS)를 생성하는 단계를 포함하고,
상기 잡음 감소 단계는 상기 측정-신호(MS)로부터 정정-신호(CS)를 공제함으로써 잡음-신호(NS)를 생성하는 단계를 포함하고, 상기 잡음-신호(NS)는 상기 측정-신호(MS)로부터의 잡음의 적어도 일부를 포함하고, 상기 정정-신호(CS)는 상기 방출-신호(ES)와 실질적으로 동일한 주파수 및 위상을 갖고 감지된 방출-신호(SES)에 비례하는 진폭을 갖고,
상기 정정-신호(CS)는, 상기 방출-신호(ES)를 수신하고 감지된 방출-신호(SES)의 실질적으로 잡음이 없는 카피인 상기 정정-신호(CS)를 생성하도록 상기 방출-신호(ES)의 진폭을 적응시키는 가변 이득 증폭기(3)에 의해 생성되고,
상기 잡음-신호(NS)는 상기 측정-신호(MS)로부터 상기 잡음을 공제하기 위해 제 2 차동 증폭기(5)의 반전 입력단에 제공되는, 전자 디바이스의 부근에 물체의 존재 또는 부재 감지 방법.
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