KR20020005232A - 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (7)
- 다수의 메모리 셀 어레이 블록부, 다수의 비트라인 센스앰프 어레이부, 다수의 블록 제어부, 컬럼 디코더, 및 상기 다수의 비트라인 센스앰프 어레이부와 데이터 라인 사이에 형성된 컬럼 선택 트랜지스터를 포함하는 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치에 있어서,상기 블록 제어부의 제어신호와 상기 컬럼 디코더의 출력신호를 입력받아 선택된 블록에서만 활성화되는 컬럼선택신호를 발생하여 상기 컬럼 선택 트랜지스터를 구동하는 컬럼선택신호 발생부를 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 컬럼선택신호 발생부는 상기 블록 제어부의 출력신호와 상기 컬럼 디코더의 출력신호을 입력받아 논리 조합하는 논리회로로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 논리회로는 노어 게이트인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 컬럼선택신호 발생부는,상기 블록 제어부의 제어신호를 게이트로 입력받고 상기 컬럼 디코더의 출력신호를 드레인으로 입력받는 트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터 또는 NMOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 컬럼선택신호 발생부는,상기 블록 제어부의 출력신호의 반전신호를 소스로 입력받고 상기 컬럼 디코더의 출력신호를 게이트로 입력받는 제1 트랜지스터와, 상기 블록 제어부의 출력신호를 소스로 입력받고 상기 컬럼 디코더의 출력신호를 게이트로 입력받는 제2 트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 제1 및 제2 트랜지스터는 서로 직렬로 접속된 PMOS 트랜지스터 및 NMOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0037321A KR100384559B1 (ko) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치 |
| US09/895,882 US6456558B1 (en) | 2000-06-30 | 2001-06-29 | Column decoding apparatus for use in a semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0037321A KR100384559B1 (ko) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20020005232A true KR20020005232A (ko) | 2002-01-17 |
| KR100384559B1 KR100384559B1 (ko) | 2003-05-22 |
Family
ID=19675553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0037321A Expired - Fee Related KR100384559B1 (ko) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 반도체 메모리 소자의 컬럼 디코딩 장치 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6456558B1 (ko) |
| KR (1) | KR100384559B1 (ko) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100864624B1 (ko) * | 2007-03-31 | 2008-10-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 |
| KR100873616B1 (ko) * | 2007-04-11 | 2008-12-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 컬럼 디코더 및 그를 이용한 반도체 메모리 장치 |
| KR101040244B1 (ko) | 2009-09-30 | 2011-06-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메인 디코딩 회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
| KR101097437B1 (ko) | 2009-10-12 | 2011-12-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 이의 데이터 입출력 방법 |
| KR101047059B1 (ko) * | 2009-10-30 | 2011-07-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
| KR101027695B1 (ko) * | 2009-10-30 | 2011-04-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
| US8248880B2 (en) * | 2010-03-29 | 2012-08-21 | Micron Technology, Inc. | Voltage regulators, amplifiers, memory devices and methods |
| FR2972838B1 (fr) * | 2011-03-18 | 2013-04-12 | Soitec Silicon On Insulator | Memoire a semi-conducteurs comportant des amplificateurs de lecture decales associes a un decodeur de colonne local |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4926384A (en) * | 1988-01-25 | 1990-05-15 | Visic, Incorporated | Static ram with write recovery in selected portion of memory array |
| JPH0729371A (ja) * | 1993-07-12 | 1995-01-31 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体メモリ |
| US5499218A (en) * | 1995-01-31 | 1996-03-12 | Goldstar Electron Co., Ltd. | Method for driving bit line selecting signals |
| KR0158112B1 (ko) * | 1995-04-25 | 1999-02-01 | 김광호 | 다수개의 뱅크들을 가지는 반도체 메모리 장치 |
| JP3169814B2 (ja) * | 1995-10-13 | 2001-05-28 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
| KR100200312B1 (ko) * | 1996-11-13 | 1999-06-15 | 김영환 | 반도체 소자의 비트 라인 센스 앰프와 데이타 버스 라인 연결 방법 |
| US6327215B1 (en) * | 2000-09-28 | 2001-12-04 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Local bit switch decode circuit and method |
-
2000
- 2000-06-30 KR KR10-2000-0037321A patent/KR100384559B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-06-29 US US09/895,882 patent/US6456558B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6456558B1 (en) | 2002-09-24 |
| US20020027826A1 (en) | 2002-03-07 |
| KR100384559B1 (ko) | 2003-05-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 7 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 8 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 9 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120424 Year of fee payment: 10 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 10 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
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| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
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|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20130508 |
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| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |