KR20040106470A - 화상 각도 검출 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치 - Google Patents

화상 각도 검출 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20040106470A
KR20040106470A KR10-2004-7017786A KR20047017786A KR20040106470A KR 20040106470 A KR20040106470 A KR 20040106470A KR 20047017786 A KR20047017786 A KR 20047017786A KR 20040106470 A KR20040106470 A KR 20040106470A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image
angle
interpolation
pixel
shape
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
KR10-2004-7017786A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100962801B1 (ko
Inventor
가와무라히데아키
가사하라미츠히로
다이기도모아키
Original Assignee
마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 filed Critical 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤
Publication of KR20040106470A publication Critical patent/KR20040106470A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100962801B1 publication Critical patent/KR100962801B1/ko
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00—Television systems
    • H04N7/01—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
    • G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
    • G06T3/403—Edge-driven scaling; Edge-based scaling
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00—Details of television systems
    • H04N5/14—Picture signal circuitry for video frequency region
    • H04N5/142—Edging; Contouring
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00—Television systems
    • H04N7/01—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level
    • H04N7/0117—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level involving conversion of the spatial resolution of the incoming video signal
    • H04N7/012—Conversion between an interlaced and a progressive signal
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00—Television systems
    • H04N7/01—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level
    • H04N7/0135—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level involving interpolation processes
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00—Television systems
    • H04N7/01—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level
    • H04N7/0135—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level involving interpolation processes
    • H04N7/0142—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level involving interpolation processes the interpolation being edge adaptive

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Graphics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Television Systems (AREA)

Abstract

2치화부는 A/D 컨버터로부터 입력되는 영상 신호 및 라인 메모리로부터 출력되는 영상 신호를, 검출 윈도우내 영상 신호 처리부로부터 인가되는 평균 휘도값을 임계값으로서 2치화하여 2치화 패턴을 출력한다. 참조 패턴 발생부는 복수의 참조 패턴을 발생한다. 각도 검출부는 2치화 패턴을 복수의 참조 패턴의 각각과 비교하여, 일치한 참조 패턴의 각도를 각도 정보로서 출력한다. 원호 형상 검출부는 대상으로 되는 보간 화소를 포함하는 보간 주사선에 대해서 하나 위의 보간 주사선의 각도 정보, 하나 아래의 보간 주사선의 각도 정보 및 보간 주사선의 각도 정보의 조합으로부터 화상의 에지의 각도 정보 및 원호 형상 정보를 출력한다.

Description

화상 각도 검출 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치{IMAGE ANGLE DETECTION DEVICE AND SCAN LINE INTERPOLATION DEVICE HAVING THE SAME}
비월 주사(interlaced scanning)의 영상 신호를 순차 주사(progressive scanning)의 영상 신호로 변환하기 위해서, 또한, 순차 주사의 영상 신호를 확대 또는 축소한 영상 신호로 변환하기 위해서, 주사선의 보간 처리를 실행하는 보간 회로가 이용된다. 이러한 보간 회로에서는 보간 처리에 의해 작성해야 할 화소(이하, 보간 화소라고 부름)의 주위의 화소의 값에 근거하여 보간 화소의 값이 산출된다. 예를 들면, 경사 방향의 에지를 갖는 화상 또는 미세한 경사선의 화상에서는, 주위 화소의 휘도 분포로부터 화상의 각도를 검출하고, 상관이 높은 방향에 있는 화소를 이용하여 보간 화소의 값을 산출하는 것이 행해진다.
일본 특허 공개 평성 제9-37214호 공보에는, 경사 에지를 갖는 화상에서 주사선 보간을 실행할 수 있는 순차 주사선 보간 장치가 제안되어 있다.
이 순차 주사선 보간 장치에서는 비월 주사의 영상 신호를 순차 주사의 영상 신호로 변환할 때에, 보간 화소를 중심으로서 점대칭 관계에 있는 원화소의 세트로부터 화소값의 차분 절대값의 산출에 이용하는 원화소의 세트의 후보를 선택한다. 선택된 세트의 화소값의 차분 절대값을 각각 산출하여 각 세트의 각각의 원화소의 에지 정보에 근거하여 이들의 차분 절대값을 보정하고, 보정된 차분 절대값이 최소로 되는 원화소의 세트를 검출하고, 검출된 원화소의 세트에 근거하여 보간 화소를 작성한다.
이렇게 하여, 경사 에지를 갖는 화상에 대하여 주사선 보간을 실행할 수 있다.
그러나, 종래의 순차 주사선 보간 장치에서는 화상의 에지가 직선 형상인지 원호 형상 등의 곡선 형상인지를 식별할 수 없다. 그 때문에, 원호 형상 등의 곡선 형상의 에지를 갖는 화상에서 보간 처리를 실행한 경우에 매끄러운 화상을 얻을 수 없다.
발명의 개시
본 발명의 목적은 영상 신호에 의해 표시되는 화상의 각도 및 형상을 정확히 검출할 수 있는 화상 각도 검출 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 영상 신호에 의해 표시되는 화상의 각도 및 형상에 적합한 보간을 실행하는 것이 가능한 주사선 보간 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 영상 신호에 의해 표시되는 화상의 각도 및 형상을 정확히 검출할 수 있는 화상 각도 검출 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일국면에 따르는 화상 각도 검출 장치는 입력된 영상 신호에 근거하여 주사선간의 각 보간 주사선에서의 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 화상 각도 검출 장치로서, 입력된 영상 신호를 복수의 주사선 및 보간해야 할 화소를 포함하는 소정의 검출 영역내에서 2치화하여 2치화 패턴을 발생하는 2치화 패턴 발생기와, 상이한 방향을 갖는 2치 화상을 복수의 참조 패턴으로서 발생하는 참조 패턴 발생기와, 2치화 패턴 발생기에 의해 발생된 2치화 패턴을 참조 패턴 발생기에 의해 발생된 복수의 참조 패턴의 각각과 비교하고, 비교 결과에 근거하여 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 비교기와, 보간해야 할 화소에 관해서 비교기에 의해 검출된 화상의 각도와 위 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 조합에 근거하여 화상의 형상을 검출하는 형상 검출기를 구비한 것이다.
본 발명에 따른 화상 각도 검출 장치에서는 2치화 패턴 발생기에 의해 입력된 영상 신호가 소정의 검출 영역내에서 2치화되어 2치화 패턴이 발생된다. 또한, 참조 패턴 발생기에 의해 복수의 방향을 갖는 2치화 화상이 복수의 참조 패턴으로서 발생된다. 그리고, 비교기에 의해 2치화 패턴이 복수의 참조 패턴의 각각과 비교되고, 비교 결과에 근거하여 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도가 검출된다. 또한, 보간해야 할 화소에 관해서 비교기에 의해 검출된 화상의 각도와 위 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 조합에 근거하여, 형상 검출기에 의해화상의 형상이 검출된다.
이 경우, 2차원 패턴의 비교를 실행하고 있기 때문에, 두 화소간의 차분값을 이용하는 경우와 비교하여 오류 검출이 억제되고, 경사 방향의 에지를 갖는 화상의 각도를 정확히 검출할 수 있다. 또한, 2차원의 참조 패턴을 이용하는 것에 의해, 검출하는 각도가 보간해야 할 화소를 중심으로 하는 점대칭의 위치에 있는 화소를 연결하는 직선의 각도에 한정되지 않고, 그들간의 각도를 검출할 수도 있다. 따라서, 보다 상세한 단계로 각도를 검출할 수 있다.
또한, 화상의 곡선 형상을 2치화 패턴과 복수의 참조 패턴과의 비교에 의해 한번에 검출하고자 하면, 적어도 3개의 주사선을 포함하는 방대한 수의 참조 패턴이 필요로 되고, 회로 규모도 커져 현실적이지 않다. 본 발명에 따른 화상 각도 검출 장치에서는 먼저 소영역에서 국소적인 화상의 각도가 각 보간 주사선의 각각 보간해야 할 화소에 대해서 각각 검출되고, 검출된 각도의 상하 방향으로의 조합에 근거하여 화상의 형상이 검출된다. 이 경우, 2치화 패턴과 복수의 참조 패턴과의 비교에 의해 화상의 각도를 검출하는 구성의 일부를 개량하는 것에 의해, 화상의 형상을 검출할 수 있다.
따라서, 화상 형상의 검출에 의해 화상 각도의 검출 처리에 지연을 생기게 하는 일 없이, 또한 회로 규모를 크게 하는 일 없이, 화상의 각도 및 화상의 형상을 정확히 검출할 수 있다.
형상 검출기는 보간해야 할 화소에 관해서 비교기에 의해 검출된 화상의 각도가 위인 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와, 아래의 보간 주사선에서 검출된화상의 각도와의 사이에 있고, 또한 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도의 절대값이 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도의 절대값보다 큰 경우에, 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도, 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도가 정(正)의 값일 때에, 화상의 형상이 오른쪽 아래 방향으로 볼록의 형상인 것을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고, 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도, 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도가 부(負)의 값일 때에, 화상의 형상이 왼쪽 아래 방향으로 볼록의 형상인 것을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고, 보간해야 할 화소에 관해서 비교기에 의해 검출된 화상의 각도가 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와, 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 사이에 있고, 또한 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도의 절대값이 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도의 절대값보다 작은 경우에, 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도, 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도가 정의 값일 때에, 화상의 형상이 왼쪽 위 방향으로 볼록의 형상인 것을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고, 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도, 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도가 부의 값일 때에, 화상의 형상이 오른쪽 위 방향으로 볼록의 형상인 것을 나타내는 형상 검출 신호를 출력해도 된다.
이 경우, 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도와 위 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 각도와의 조합에 따라서, 화상의 형상이 어떤 방향으로 볼록의 형상인지를 검출할 수 있다.
형상 검출기는 화상의 형상이 원호라고 검출한 경우에, 원호의 내측의 방향을 나타내는 형상 검출 신호를 출력해도 된다.
이 경우, 원호의 내측을 나타내는 형상 검출 신호에 근거하여 원호 형상을 갖는 화상에서의 원호의 방향을 판별할 수 있다.
2치화 패턴 발생기는 검출 영역내의 영상 신호의 휘도에 근거하여 2치화를 위한 임계값을 산출하는 임계값 산출 장치와, 임계값 산출 장치에 의해 산출된 임계값을 이용하여 입력된 영상 신호를 2치화하는 것에 의해 2치화 패턴을 발생하는 2치화 장치를 포함해도 된다.
이 경우, 검출 영역내의 영상 신호의 휘도에 근거하여 2치화를 위한 임계값이 산출되기 때문에, 외부로부터 임계값을 설정하는 일 없이, 영상 신호의 휘도 레벨에 관계없이 2치화 패턴을 발생할 수 있다.
화상 각도 검출 장치는 검출 영역내의 영상 신호에서 각 주사선의 수평 방향의 휘도 분포가 단조 증가 또는 단조 감소를 하는지 여부를 판정하는 판정기를 더 구비하고, 비교기는 판정기에 의해 휘도 분포가 단조 증가 및 단조 감소하지 않는다고 판정된 경우에 2치화 패턴과 복수의 참조 패턴의 각각과의 비교를 실행하지 않아도 된다.
검출 영역내의 영상 신호에서 각 주사선의 수평 방향의 휘도 분포가 단조 증가 및 단조 감소를 하지 않는 경우에는, 2치화 패턴과 복수의 참조 패턴의 각각과의 비교가 행해지지 않아 화상의 각도가 검출되지 않는다. 그에 의해, 노이즈에 의한 오류 검출이 억제된다.
검출 영역내의 영상 신호의 콘트라스트를 검출하는 콘트라스트 검출기를 더 구비하고, 비교기는 콘트라스트 검출기에 의해 검출된 콘트라스트가 소정값보다도 작은 경우에 상기 2치화 패턴과 복수의 참조 패턴의 각각과의 비교를 실행하지 않아도 된다.
영상 신호의 콘트라스트가 낮은 경우에는 경사 방향의 화소를 이용한 보간 처리의 효과는 작다. 그래서, 검출 영역내의 영상 신호의 콘트라스트가 소정값보다도 작은 경우에는, 2치화 패턴과 복수의 참조 패턴의 각각과의 비교가 실행되지 않아 화상의 각도는 검출되지 않는다. 그에 의해, 노이즈를 따르는 경사 방향의 화소를 이용한 보간 처리를, 효과가 큰 경우에만 실행할 수 있다.
참조 패턴 발생기에 의해 발생되는 복수의 참조 패턴의 각각은 보간해야 할 화소의 상측의 주사선에 배치되는 제 1 화소열과, 보간해야 할 화소의 하측의 주사선에 배치되는 제 2 화소열을 포함하고, 제 1 화소열은 제 1 화소값으로부터 제 2 화소값으로의 하나의 변화점을 갖고, 제 2 화소열은 제 1 화소값으로부터 제 2 화소값으로의 하나의 변화점을 갖고, 제 1 화소열에서의 제 1 화소값으로부터 제 2 화소값으로의 변화의 방향과 제 2 화소열에서의 제 1 화소값으로부터 제 2 화소값으로의 변화의 방향이 동일해도 무방하다.
이 참조 패턴에서는, 상측의 주사선에 배치되는 화소열과 하측의 주사선에 배치되는 화소열이 함께 휘도 변화를 갖고, 또한 동일 방향의 휘도 구배(勾配)를갖는다. 이러한 참조 패턴은 경사 에지의 화상에 상당한다. 따라서, 2치화 패턴이 참조 패턴과 일치한 경우는 경사 에지의 각도를 확실히 특정할 수 있다.
본 발명의 다른 국면에 따르는 주사선 보간 장치는 입력된 영상 신호에 근거하여 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도 및 화상의 형상을 검출하는 화상 각도 검출 장치와, 화상 각도 검출 장치에 의해 검출된 각도 및 형상에 근거하여 보간 처리에 이용하는 화소를 선택하고, 선택된 화소를 이용하여 보간해야 할 화소의 값을 산출하는 것에 의해 보간 주사선을 생성하는 보간 회로를 구비하고, 화상 각도 검출 장치는 입력된 영상 신호를 복수의 주사선 및 각 보간 주사선에서의 보간해야 할 화소를 포함하는 소정의 검출 영역내에서 2치화하여 2치화 패턴을 발생하는 2치화 패턴 발생기와, 복수의 방향을 갖는 2치 화상을 복수 참조 패턴으로서 발생하는 참조 패턴 발생기와, 2치화 패턴 발생기에 의해 발생된 2치화 패턴을 참조 패턴 발생기에 의해 발생된 복수 및 참조 패턴의 각각과 비교하고, 비교 결과에 근거하여 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 비교기와, 보간해야 할 화소에 관해서 비교기에 의해 검출된 화상의 각도와 위 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 조합에 근거하여 화상의 형상을 검출하는 형상 검출기를 포함하는 것이다.
본 발명에 따른 주사선 보간 장치에서는, 화상 각도 검출 장치에 의해, 입력된 영상 신호에 근거하여 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도 및 화상의 형상이 정확히 검출되고, 화상 각도 검출 장치에 의해 검출된 각도 및 형상에 근거하여 보간 처리에 이용하는 화소가 선택되며, 보간 회로에 의해 선택된 화소를 이용하여보간해야 할 화소의 값이 산출되는 것에 의해 보간 주사선이 생성된다.
이 경우, 화상의 형상에 따라서 보간에 이용하는 화소가 선택되기 때문에, 직선 형상뿐만 아니라 곡선 형상의 경사 에지도 매끈하게 보간할 수 있다.
따라서, 영상 신호에 의해 표시되는 화상의 각도 및 형상에 적합한 매끄러운 보간이 가능해진다.
형상 검출기는 화상의 형상이 원호라고 검출한 경우에 원호의 내측의 방향을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고, 보간 회로는 형상 검출기로부터 출력되는 형상 검출 신호에 근거하여 원호의 내측으로부터 보간 처리에 이용하는 화소를 선택하고, 선택된 화소를 이용하여 보간해야 할 화소의 값을 산출하는 것에 의해 보간 주사선을 생성해도 된다.
이 경우, 원호의 내측의 방향을 나타내는 형상 검출 신호에 근거하여 원호의 내측으로부터 보간 처리에 이용하는 화소가 선택되고, 선택된 화소를 이용하여 보간해야 할 화소의 값이 산출된다. 그에 의해, 원호의 형상에 따른 매끄러운 보간이 가능해진다.
형상 검출기는 화상의 형상이 원호라고 검출한 경우에 원호의 내측의 방향을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고, 보간 회로는 형상 검출기로부터 출력되는 형상 검출 신호에 근거하여 보간해야 할 화소에 대해서 검출된 화상의 각도의 방향에서의 위 및 아래의 주사선의 위치에 대하여 0.5화소만큼 원호의 내측의 방향으로 시프트한 위치를 선택하고, 선택된 위치에서의 화소의 값을 이용하여 보간해야 할 화소의 값을 산출하는 것에 의해 보간 주사선을 생성해도 된다.
이 경우, 원호의 내측을 나타내는 형상 검출 신호에 근거하여 원호의 내측의 특정한 화소로부터 보간 처리에 이용하는 화소가 선택되고, 선택된 화소를 이용하여 보간해야 할 화소의 값이 산출된다. 그에 의해, 원호의 형상에 따른 매끄러운 보간이 가능해진다.
또한, 원호 형상에 따라서 보간에 이용하는 화소를 선택할 수 있기 때문에, 직선 형상뿐만 아니라 원호 형상의 경사 에지도 매끈하게 보간할 수 있다.
본 발명의 또 다른 국면에 따른 화상 각도 검출 방법은 입력된 영상 신호에 근거하여 주사선간의 각 보간 주사선에서의 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 화상 각도 검출 방법으로서, 입력된 영상 신호를 복수의 주사선 및 보간해야 할 화소를 포함하는 소정의 검출 영역내에서 2치화하여 2치화 패턴을 발생하는 단계와, 상이한 방향을 갖는 2치 화상을 복수의 참조 패턴으로서 발생하는 단계와, 발생된 2치화 패턴을 발생된 복수의 참조 패턴의 각각과 비교하고, 비교 결과에 근거하여 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 단계와, 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도와 위 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 조합에 근거하여 화상의 형상을 검출하는 단계를 구비한 것이다.
본 발명에 따른 화상 각도 검출 방법에서는, 입력된 영상 신호가 소정의 검출 영역내에서 2치화되어 2치화 패턴이 발생된다. 또한, 복수의 방향을 갖는 2치화 화상이 복수의 참조 패턴으로서 발생된다. 그리고, 2치화 패턴이 복수의 참조 패턴의 각각과 비교되고, 비교 결과에 근거하여 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도가 검출된다. 또한, 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도와 위 및아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 조합에 근거하여, 화상의 형상이 검출된다.
이 경우, 2차원의 패턴의 비교를 실행하고 있기 때문에, 두 화소간의 차분값을 이용하는 경우와 비교해서 오류 검출이 억제되고, 경사 방향의 에지를 갖는 화상의 각도를 정확히 검출할 수 있다. 또한, 2차원의 참조 패턴을 이용하는 것에 의해, 검출하는 각도가 보간해야 할 화소를 중심으로 하는 점대칭의 위치에 있는 화소를 연결하는 직선의 각도에 한정되지 않고, 그들간의 각도를 검출할 수도 있다. 따라서, 보다 상세한 단계로 각도를 검출할 수 있다.
또한, 먼저 소영역에서 국소적인 화상의 각도가 각 보간 주사선의 각각 보간해야 할 화소에 대하여 각각 검출되고, 검출된 각도의 상하 방향에서의 조합에 근거하여 화상의 형상이 검출된다. 이 경우, 2치화 패턴과 복수의 참조 패턴과의 비교에 의해 화상의 각도를 검출하는 구성의 일부를 개량하는 것에 의해, 화상의 형상을 검출할 수 있다.
따라서, 화상의 형상의 검출에 의해 화상의 각도의 검출 처리에 지연을 생기게 하는 일 없이, 또한 회로 규모를 크게 하는 일 없이, 화상의 각도 및 화상의 형상을 정확히 검출할 수 있다.
본 발명은 영상 신호에 의해 표시되는 화상의 각도를 검출하는 화상 각도 검출 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치 및 화상 각도 검출 방법에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에서의 화상 각도 검출 장치의 구성을 나타내는 블럭도,
도 2는 동(同)장치의 2치화부로부터 출력되는 2치화 패턴의 일례를 나타내는 도면,
도 3은 도 1의 참조 패턴 발생부에 의해 발생되는 참조 패턴의 예를 나타내는 모식도,
도 4는 도 1의 참조 패턴 발생부에 의해 발생되는 참조 패턴의 예를 나타내는 모식도,
도 5는 도 1의 참조 패턴 발생부에 의해 발생되는 참조 패턴의 예를 나타내는 모식도,
도 6은 도 1의 참조 패턴 발생부에 의해 발생되는 참조 패턴의 예를 나타내는 모식도,
도 7은 도 1의 원호 형상 검출부의 처리를 설명하기 위한 모식도,
도 8은 도 1의 화상 각도 검출 장치를 구비한 주사선 보간 장치의 구성을 나타내는 블럭도,
도 9는 도 8의 주사선 보간 장치에서의 보간 회로의 구성을 나타내는 블럭도,
도 10은 도 1의 화상 각도 검출 장치에 의해 검출된 화상의 각도의 일례를 나타내는 모식도,
도 11은 도 1의 화상 각도 검출 장치에 의해 검출된 화상의 각도 정보 및 원호 형상 정보를 이용한 화소의 보간의 예를 나타내는 모식도,
도 12는 도 1의 화상 각도 검출 장치에 의해 검출된 화상의 각도 정보만을이용한 화소의 보간의 예를 나타내는 모식도이다.
발명을 실시하기 위한 최선의 형태
도 1은 본 발명의 실시예에서의 화상 각도 검출 장치의 구성을 나타내는 블럭도이다.
도 1의 화상 각도 검출 장치(1O)는 라인 메모리(1a), 라인 메모리(1b), 라인 메모리(1c), 2치화부(2), 각도 검출부(3), 원호 형상 검출부(4), 검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5), 참조 패턴 발생부(6) 및 A/D(아날로그ㆍ디지털) 컨버터(7)를 포함한다.
A/D 컨버터(7)는 아날로그의 영상 신호 VA를 아날로그 디지털 변환하여 디지털 영상 신호 VD1을 출력한다. A/D 컨버터(7)로부터 출력되는 영상 신호 VD1은 라인 메모리(1a) 및 검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5)에 입력된다. 라인 메모리(1a)는 A/D 컨버터(7)로부터 출력되는 영상 신호 VD1을 1라인(1주사선) 정도 지연시켜 출력한다. 라인 메모리(1a)로부터 출력되는 영상 신호 VD2는 2치화부(2) 및 검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5)에 인가된다.
본 예에서는 영상 신호 VD1, VD2는 256계조의 휘도를 갖는 것으로 한다. 즉, 영상 신호 VD1, VD2의 휘도의 최소값은 "0"이고, 최대값은 "255"이다.
2치화부(2)는 A/D 컨버터(7)로부터 출력되는 영상 신호 VD1 및 라인 메모리(1a)로부터 출력되는 영상 신호 VD2를, 후술하는 검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5)로부터 인가되는 평균 휘도값 LU를 임계값으로서 2치화하여, "1" 및 "0"으로 이루어지는 2치화 패턴 BI를 출력한다. 2치화 패턴 BI는 검출 윈도우의 사이즈를 갖는다.
여기서, 검출 윈도우는, 예를 들면 영상 신호 VD1의 7화소 및 영상 신호 VD2의 7화소를 포함하는 7 ×2 화소의 직사각형 영역, 영상 신호 VD1의 15화소 및 영상 신호 VD2의 15화소를 포함하는 15 ×2 화소의 직사각형 영역 등이다. 또한, 이하의 설명에서는 검출 윈도우의 사이즈를 9 ×2 화소로 한다. 이 경우, 2치화 패턴 BI의 사이즈는 9 ×2 화소로 된다. 검출 윈도우의 사이즈는 이에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 범위내에서 임의로 설정할 수 있다.
검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5)는 입력되는 영상 신호 VD1 및 라인 메모리(1a)로부터 출력되는 영상 신호 VD2에 검출 윈도우를 설정하고, 검출 윈도우내의 영상 신호 VD1, VD2의 휘도의 평균값을 산출하여, 2치화부(2)에 평균 휘도값 LU를 2치화를 위한 임계값으로서 인가한다.
또한, 본 실시예에서는 검출 윈도우내의 전화소의 휘도의 평균값을 2치화를 위한 임계값으로서 이용하는 것으로 했지만, 이에 한정되지 않고, 검출 윈도우내의 화소의 값의 최대값과 최소값과의 평균값을 2치화를 위한 임계값으로서 이용해도 무방하고, 휘도를 크기 순으로 나열했을 때의 중앙값을 2치화를 위한 임계값으로서 이용해도 무방하며, 휘도를 크기 순으로 나열했을 때의 중앙값에 값이 가까운 복수 화소의 평균값 등을 2치화를 위한 임계값으로서 이용해도 무방하다.
또한, 검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5)는 검출 윈도우내의 영상 신호 VD1, VD2의 수평 방향의 휘도 분포가 단조 증가 또는 단조 감소하고 있는지 여부를판정하여 단조 증가 및 단조 감소하지 않는 경우에는, 2치화부(2)에 임계값으로서 최소값 "0" 또는 최대값 "255"를 인가해도 된다. 그에 의해, 2치화부(2)는 전부 "1" 또는 "0"으로 이루어지는 2치화 패턴 BI를 출력한다. 이 경우, 영상 신호 VD1, VD2가 인접하는 2개의 화소간의 차분값을 순차적으로 산출하여 차분값의 정부(正負)의 부호가 동일하면, 단조 증가 또는 단조 감소하고 있다고 판정할 수 있다.
또한, 검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5)는 검출 윈도우내의 영상 신호 VD1, VD2의 휘도의 최대값과 최소값과의 차를 콘트라스트로서 산출하고, 산출된 콘트라스트가 소정값보다도 낮은 경우에는, 2치화부(2)에 임계값으로서 최소값 "0" 또는 최대값 "255"를 인가한다. 그에 의해, 2치화부(2)는 전부 "1" 또는 "0"으로 이루어지는 2치화 패턴 BI를 출력한다.
참조 패턴 발생부(6)는 "1" 및 "0"으로 이루어지는 복수 및 참조 패턴 RA를 발생하여 각도 검출부(3)에 인가한다. 각 참조 패천 RA의 사이즈는 검출 윈도우의 사이즈와 동등하다.
각도 검출부(3)는 2치화부(2)로부터 인가되는 2치화 패턴 BI를 참조 패턴 발생부(6)로부터 인가되는 복수의 참조 패턴 RA의 각각과 비교하여, 일치한 참조 패턴 RA의 각도를 각도 정보 S1로서 출력한다. 이 각도에 대해서는 후술한다. 이하, 2치화 패턴 BI와 각 참조 패턴 RA와의 비교 동작을 패턴 매칭이라고 부른다.
상기한 바와 같이, 검출 윈도우내의 영상 신호 VD1 및 영상 신호 VD2의 휘도 분포가 함께 단조 증가 및 단조 감소하지 않는 경우에는, 2치화부(2)로부터 전부 "1" 또는 "0"으로 이루어지는 2치화 패턴 BI가 출력되더라도 무방하다. 이 경우,각도 검출부(3)로부터는 각도 정보 S1이 출력되지 않는다.
또한, 검출 윈도우내의 영상 신호 VD1, VD2의 콘트라스트가 소정값보다도 낮은 경우에는, 2치화부(2)로부터 전부 "1" 또는 "0"의 2치화 패턴 BI가 출력되기 때문에, 각도 검출부(3)로부터는 각도 정보 S1이 출력되지 않는다.
영상 신호 VD1, VD2의 콘트라스트가 낮은 경우에는, 경사 방향의 화소를 이용한 보간 처리의 효과는 낮다. 경사 방향의 화소를 이용한 보간 처리에서는, 정확한 각도가 검출되고 있지 않으면 노이즈를 발생해 버리는 경우가 있기 때문에, 효과가 낮은 경우에는 경사 방향의 화소를 이용한 보간 처리가 실행되지 않도록 각도 정보 S1을 출력하지 않는다.
라인 메모리(1b)는 각도 검출부(3)로부터 출력되는 각도 정보 S1을 1라인(1주사선) 정도 지연시킨 각도 정보 S2를 출력하고, 원호 형상 검출부(4) 및 라인 메모리(1c)에 인가된다. 라인 메모리(1c)는 라인 메모리(1b)로부터 출력되는 각도 정보 S2를 1라인(1주사선) 정도 지연시킨 각도 정보 S3를 출력하여 원호 형상 검출부(4)에 인가한다.
여기서, 보간 화소를 포함하는 주사선을 보간 주사선이라고 부른다. 원호 형상 검출부(4)는 대상으로 되는 보간 주사선에 대하여 하나 위의 보간 주사선의 각도 정보 S3, 하나 아래의 보간 주사선의 각도 정보 S1 및 대상으로 되는 보간 주사선의 각도 정보 S2의 조합으로부터 화상의 에지의 각도 정보 T1을 출력하고, 또한, 원호 형상을 인식하여 원호 형상 정보 T2를 출력한다. 또한, 각도 검출 및 원호 형상의 인식에 대해서는 뒤에서 상세하게 설명한다.
도 2는 도 1의 2치화부(2)로부터 출력되는 2치화 패턴 BI의 일례를 나타내는 모식도이다.
도 2에서, IN은 보간 화소를 나타내고, IL은 보간 주사선을 나타낸다. 또한, AL은 보간 주사선 IL의 위의 주사선을 나타내고, BL은 보간 주사선 IL의 아래의 주사선을 나타낸다.
도 2의 예에서는, 휘도가 낮은 부분(어두운 부분)이 "0"로 표시되고, 휘도가 높은 부분(밝은 부분)이 "1"로 표시되어 있다. 2치화 패턴 BI에서는 화상의 에지의 각도가 45°로 되어 있다. 여기서는, 수평 방향의 각도를 0으로 하고, 오른쪽 위의 경사 방향의 각도를 정으로 하고 있다.
도 3, 도 4, 도 5 및 도 6은 도 1의 참조 패턴 발생부(6)에 의해 발생되는 참조 패턴의 예를 나타내는 모식도이다. 음영 처리가 실시되어 있는 화소는 굵은 선으로 표시되는 보간 화소의 값의 산출에 이용하는 상하 주사선의 화소이다.
도 3(a), (b), (c), (d), (e), (f)는 각각 45°, 34°, 27°, 22°, 18° 및 16°의 참조 패턴을 나타낸다. 도 3의 예에서는, 왼쪽 위가 어두운 부분으로 되고, 오른쪽 아래가 밝은 부분으로 되어 있다. 도 4(a), (b), (c), (d), (e), (f)는 45°, 34°, 27°, 22°, 18° 및 16°의 참조 패턴을 나타낸다. 도 4의 예에서는, 왼쪽 위가 밝은 부분으로 되고, 오른쪽 아래가 어두운 부분으로 되어 있다.
도 5(a), (b), (c), (d), (e), (f)는 각각 -45°, -34°, -27°, -22°, -18° 및 -16°의 참조 패턴을 나타낸다. 도 5의 예에서는, 오른쪽 위가 어두운 부분으로 되고, 왼쪽 아래가 밝은 부분으로 되어 있다. 도 6(a), (b), (c), (d), (e),(f)는 -45°, -34°, -27°, -22°, -18° 및 -16°의 참조 패턴을 나타낸다. 도 6의 예에서는, 오른쪽 위가 밝은 부분으로 되고, 왼쪽 아래가 어두운 부분으로 되어 있다.
도 3~도 6에 나타내는 참조 패턴은 각도 검출부(3)에서 2치화부(2)로부터 출력되는 2치화 패턴 BI와 비교되고, 각도 검출부(3)는 일치한 참조 패턴이 가지는 각도 정보 S1을 출력한다.
또한, 도 3~도 6에 나타내는 바와 같이, 2차원의 휘도 분포에 의한 참조 패턴에서는 보간 화소를 중심으로 한 점대칭의 위치의 화소간을 연결하는 직선의 각도뿐만 아니라, 그들 각도간의 각도도 설정할 수 있다. 예를 들면, 45°, 27° 및 18° 사이의 각도인 34° 및 22°을 설정할 수 있다.
예를 들면, 도 2의 2치화 패턴 BI는 도 4(a)의 6개의 참조 패턴 중 하나의 참조 패턴과 일치할 수 있다. 이 경우, 도 1의 각도 검출부(3)는 도 4(a)의 참조 패턴이 나타내는 45°를 각도 정보 S1로서 출력한다.
또한, 도 1의 참조 패턴 발생부(6)에 의해 발생되는 참조 패턴 RA는 도 3~도 6에 나타낸 예에 한정되지 않고, 임의의 사이즈의 참조 패턴을 이용할 수 있다.
도 7은 도 1의 원호 형상 검출부(4)의 처리를 설명하기 위한 도면이다. 도 7은 보간 화소의 검출 각도, 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도 및 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 조합에 따라서 인식되는 원호 형상의 예를 나타낸 것이다.
구체적으로는, 원호 형상은 도 7의 5개의 케이스 A, B, C, D 및 E의 조합으로 분류된다.
도 7의 케이스 A의 조합예에서는, 원호 형상의 에지(원호 에지)의 볼록 형상의 방향이 "오른쪽 아래"이고, 원호 형상의 내측에 대응하는 방향이 "왼쪽"인 것을 나타내고 있다. 이 경우, 보간 화소의 검출 각도의 절대값은 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값과 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값과의 중간값이고, 또한 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값이 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값보다 커서 모든 검출 각도가 정의 값이다.
원호 형상 검출부(4)는 보간 화소의 검출 각도를 각도 정보 T1으로서 출력하고, 또한, 원호 형상을 인식한 경우는 원호 형상의 내측에 대응하는 방향을 원호 형상 정보 T2로서 출력한다.
또한, 도 7의 오른쪽 끝에는 원호 형상의 모식도 및 원호의 내측을 나타내는 예가 도시되어 있다. 작은 복수의 화살표의 관계가 인식된 원호를 나타내고, 작은 각 화살표의 방향이 원호를 따라서 검출된 각도를 나타내며, 굵은 화살표가 원호의 내측을 나타내고 있다.
도 7의 케이스 B, C, D의 각 조합에서도, 도 7의 케이스 A와 마찬가지로, 원호 에지의 볼록 형상의 방향 및 원호 형상의 내측에 대응하는 방향을 나타내고 있다.
도 7의 케이스 B의 조합예에서는, 원호 에지의 볼록 형상의 방향이 "오른쪽 위"이고, 원호 형상의 내측에 대응하는 방향이 "왼쪽"인 것을 나타내고 있다. 이 경우, 보간 화소의 검출 각도의 절대값은 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값과 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값과의 중간값이고, 또한 위의보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값이 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값보다 작아 모든 각도가 부의 값이다.
도 7의 케이스 C의 조합예에서는, 원호 에지의 볼록 형상의 방향이 "왼쪽 위"이고, 원호 형상의 내측에 대응하는 방향이 "오른쪽"인 것을 나타내고 있다. 이 경우, 보간 화소의 검출 각도의 절대값은 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값과 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값과의 중간값이고, 또한 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값이 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값보다 작아 모든 각도가 정의 값이다.
도 7의 케이스 D의 조합예에서는, 원호 에지의 볼록 형상의 방향이 "왼쪽 아래"이고, 원호 형상의 내측에 대응하는 방향이 "오른쪽"인 것을 나타내고 있다. 이 경우, 보간 화소의 검출 각도의 절대값은 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값과 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값과의 중간값이고, 또한 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값이 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 절대값보다 작아 모든 각도가 부의 값이다.
도 7의 케이스 E의 조합예에서는, 원호 에지라고 인식할 수 없는 검출 각도의 조합을 나타내고 있다. 즉, 도 7의 케이스 A, B, C, D의 조합예의 어느 것에도 속하지 않는 조합은 전부 도 7의 케이스 E에 해당한다.
또한, 여기서, 중간값이란, 2개의 수치 X, Y의 사이에 끼워진 값으로서, X<Y라고 하면, X보다 크고, Y보다 작은 값의 전부가 중간값으로 된다.
위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 참조 위치는 위의 보간 주사선에서 보간 화소에 대하여 그 보간 화소의 검출 각도에 의해 결정되는 방향에 위치하는 한 점에 대응하고, 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 참조 위치는 아래의 보간 주사선에서 보간 화소에 대하여 그 보간 화소의 검출 각도에 의해 결정되는 방향에 위치하는 한 점에 대응한다.
위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 참조 위치로서, 위의 보간 주사선에서 보간 화소에 대하여 그 보간 화소의 검출 각도에 의해 결정되는 방향에 위치하는 한 점을 포함하는 수평 방향의 일정 폭의 영역(복수 화소분의 영역)을 이용해도 된다. 또한, 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도의 참조 위치로서, 아래의 보간 주사선에서 보간 화소에 대하여 그 보간 화소의 검출 각도에 의해 결정되는 방향에 위치하는 한 점을 포함하는 수평 방향의 일정 폭의 영역(복수 화소분의 영역)을 이용해도 된다.
또한, 도 7에서의 보간 화소의 검출 각도, 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도 및 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 조합은, 각각 예를 든 것뿐이며, 이에 한정되는 것이 아니라 도시하지 않는 조합도 가능하다.
본 실시예의 화상 각도 검출 장치(10)에서는, 검출 윈도우내의 영상 신호 VD1, VD2의 휘도 분포를 2치화 패턴 BI로 변환하고, 2치화 패턴 BI와 미리 설정된 복수의 참조 패턴 RA와의 패턴 매칭을 실행하는 것에 의해, 적은 회로 규모로 화상의 경사 에지의 각도를 검출할 수 있다.
이 경우, 검출 윈도우내의 평균 휘도값을 2치화의 경계값으로서 이용하고 있기 때문에, 외부로부터 2치화의 경계값을 설정하는 일 없이, 화상의 휘도 레벨에관계없이 반드시 "0" 및 "1"의 양쪽을 포함하는 2치화 패턴 BI를 작성할 수 있다.
또한, 2차원의 휘도 분포에 의한 패턴 매칭을 실행하고 있기 때문에, 두 화소간의 차분값을 이용하는 경우와 비교해서 오류 검출이 억제되고, 경사 방향의 에지를 갖는 화상의 경사 에지의 각도를 정확히 검출할 수 있다.
또한, 2차원의 휘도 분포에 의한 참조 패턴 RA를 이용하는 것에 의해, 검출하는 각도가 보간 화소를 중심으로 하여 점대칭의 위치에 있는 화소를 연결하는 직선의 각도에 한정되지 않고, 그들 각도간의 각도를 검출할 수 있다. 따라서, 적은 용량의 라인 메모리(1a)를 이용하여 보다 미세한 간격으로 각도를 검출할 수 있다.
또한, 보간 화소의 검출 각도, 아래의 보간 주사선에서의 검출 각도 및 위의 보간 주사선에서의 검출 각도의 조합으로부터 원호 형상을 인식할 수 있기 때문에, 3주사선 이상을 필요로 하는 원호 형상을 위한 참조 패턴을 준비하는 것이 필요하지 않다. 따라서, 화상 각도 검출 장치(10)의 회로 규모 또는 계산 규모를 증가시키는 일 없이, 화상의 각도를 검출하고, 또한, 원호 형상을 인식하는 것이 가능해진다.
도 8은 도 1의 화상 각도 검출 장치를 구비한 주사선 보간 장치의 구성을 나타내는 블럭도이다.
도 8에서, 주사선 보간 장치(100)는 화상 각도 검출 장치(10) 및 보간 회로(20)에 의해 구성된다. 화상 각도 검출 장치(10) 및 보간 회로(20)에는 영상 신호 VA가 입력된다.
화상 각도 검출 장치(10)는 도 1의 화상 각도 검출 장치(10)로 이루어진다.화상 각도 검출 장치(10)는 영상 신호 VA에 근거하여 화상의 경사 에지의 각도 및 원호 형상을 검출하여 각도 정보 T1을 출력하고, 또한, 원호 형상 정보 T2를 출력한다. 보간 회로(20)는 각도 정보 T1 및 원호 형상 정보 T2에 근거하여 보간 화소의 경사 방향의 화소를 상하의 주사선으로부터 선택하고, 선택된 화소의 휘도값을 이용하여 보간 화소의 휘도값을 산출하여 보간 영상 신호 VOUT를 출력한다.
도 8의 주사선 보간 장치(100)에서는, 화상 각도 검출 장치(10)에 의해 직선 형상뿐만 아니라 원호 형상을 포함한 경사 방향의 에지를 갖는 화상의 각도를 정확히 검출하고, 또한, 원호 형상을 인식할 수 있다. 따라서, 직선 형상뿐만 아니라 원호 형상을 포함하는 경사 방향의 에지를 갖는 화상에서도, 경사 방향이 적당한 화소를 선택하여 매끄러운 보간 처리를 실행할 수 있다.
도 9는 도 8의 주사선 보간 장치(100)에서의 보간 회로(20)의 구성을 나타내는 블럭도이다.
도 9의 보간 회로(20)는 A/D(아날로그ㆍ디지털) 컨버터(21), 라인 메모리(22), 보간 화소 선택 회로(23) 및 평균값 연산 회로(24)를 포함한다.
A/D 컨버터(21)는 아날로그의 영상 신호 VA를 아날로그 디지털 변환한 디지털 영상 신호 VD1을 출력한다. A/D 컨버터(21)로부터 출력되는 영상 신호 VD1은 라인 메모리(22) 및 보간 화소 선택 회로(23)에 입력된다. 라인 메모리(22)는 A/D 컨버터(21)로부터 출력되는 영상 신호 VD1을 1라인(1주사선) 정도 지연시켜 출력한다. 라인 메모리(22)로부터 출력되는 영상 신호 VD2는 보간 화소 선택 회로(23)에 인가된다.
보간 화소 선택 회로(23)는 인가된 영상 신호 VD1, 영상 신호 VD2, 화상 각도 검출 장치(10)의 각도 정보 T1 및 원호 형상 정보 T2를 이용하여, 위의 주사선으로부터 보간 참조 화소 P1을 선택해서 평균값 연산 회로(24)에 출력하고, 아래의 주사선으로부터 보간 참조 화소 P2를 선택해서 평균값 연산 회로(24)에 출력한다.
평균값 연산 회로(24)는 보간 참조 화소 P1 및 보간 참조 화소 P2로부터 보간 화소의 휘도값을 산출하여 출력한다.
보간 화소 선택 회로(23)에 의한 보간 참조 화소의 선택은, 보간했을 때에 화상에서의 에지가 매끄럽게 되도록 실행한다. 보간 화소 선택 회로(23)는 화상이 직선 형상의 에지를 갖는 경우의 동작과 화상이 원호 형상의 에지를 갖는 경우의 동작을 선택적으로 실행한다. 즉, 보간 화소 선택 회로(23)는 화상이 직선 형상의 에지를 갖는 경우에는, 각도 정보 T1에 근거하여 상하의 주사선으로부터 도 3~도 6에서 나타낸 음영 부분의 화소를 보간 참조 화소로서 선택한다. 보간 참조 화소의 중심 위치가 보간 참조 위치로 된다. 또한, 보간 화소 선택 회로(23)는 화상이 원호 형상의 에지를 갖는 경우에는, 상하의 주사선에서 보간 화소에 대하여 각도 정보 T1에 의해 표시되는 방향의 위치를 특정하고, 그 특정된 위치에 대하여 원호 형상 정보 T2에 근거하여 원호 형상의 내측에서 수평 방향으로 시프트한 위치를 보간 참조 위치로서 선택한다.
도 7을 이용하여 일례를 나타내면, 케이스 A의 원호 형상이 검출된 경우는, 원호 형상의 내측의 방향은 굵은 화살표로 표시되는 바와 같이 좌측이기 때문에, 보간 화소 선택 회로(23)는 상하의 주사선에서 보간 화소에 대하여 각도 정보 T1에의해 표시되는 방향의 위치를 특정하고, 그 특정된 위치에 대하여 좌측으로 시프트한 위치로부터 상하 각각의 보간 참조 위치를 선택한다.
또한, 화상이 원호 형상을 갖을 때에, 보간 참조 위치를, 화상이 직선 형상의 에지를 갖을 때에 선택되는 보간 참조 위치에 대하여 0.5화소 시프트시킨 위치를 보간 참조 위치로서 선택한 경우에, 보간에 의해 원호 형상이 가장 매끄럽게 형성되는 것을 실험에 의해 확인하고 있다.
평균값 연산 회로(24)는 보간 참조 위치가 속하는 화소의 평균 휘도값을 연산하여 보간 화소의 휘도값을 결정한다. 또한, 도시하지 않지만 평균값 연산 회로(24)는 상관 연산 회로를 포함하며, 보간 참조 위치가 속하는 화소끼리의 상관의 크기, 즉 보간 참조 위치가 속하는 화소의 차분의 크기에 따른 보간 연산을 실행해도 된다. 이 경우, 어떤 원인에 의해 각도 및 원호 형상의 오류 검출이 있었던 경우이어도 보간에 의한 노이즈를 저감할 수 있다.
도 10은 도 1의 화상 각도 검출 장치(10)에 의해 검출된 화상의 각도 정보의 일례를 나타내는 도면이다. 도 10에는 원호 형상의 에지를 갖는 화상의 예가 도시된다. 도 11은 도 1의 화상 각도 검출 장치(10)에 의해 검출된 화상의 각도 정보 및 원호 형상 정보를 이용한 화소의 보간의 예를 나타내는 도면이다. 그에 반하여, 도 12는 도 1의 화상 각도 검출 장치(10)에 의해 검출된 화상의 각도 정보만을 이용한 화소의 보간의 예를 나타내는 도면이다.
도 10~도 12에서, IL1, IL2 및 IL3은 보간 주사선을 나타내고, AL, BL, CL 및 DL은 주사선을 나타낸다. 도 10~도 12에 있어서, 주사선 AL, BL, CL, DL상의각 값은 각 화소의 휘도값을 나타낸다. 도 10에서 보간 주사선 IL1, IL2, IL3상의 각 값은 각도 정보를 나타낸다. 도 11 및 도 12에서 보간 주사선 IL1, IL2, IL3상의 각 값은 각 보간 화소의 휘도값을 나타낸다.
여기서, IN을 대상으로 되는 보간 화소라고 한다. 이 경우, IL2가 대상으로 되는 보간 주사선이고, BL은 위의 주사선, CL은 아래의 주사선, IL1이 위의 보간 주사선, IL3이 아래의 보간 주사선이다. 또한, 도 11 및 도 12에서 보간 참조 위치 P1, P2, P3, P4를 ×표로 나타낸다. 도 10의 예에서는 대상으로 되는 보간 화소 IN의 화상에 관한 각도는 27°이다.
도 12의 예에서는 상하의 주사선 BL, CL에서 보간 화소 IN에 대하여 27°의 방향의 위치를 보간 참조 위치 P3, P4로서 선택한다. 보간 참조 위치 P3, P4가 속하는 화소 Q3, Q4의 휘도값은 각각 "100"이기 때문에, 보간 참조 위치 P3, P4가 속하는 화소 Q3, Q4를 이용한 보간 연산에 의해 보간 화소 IN의 휘도값은 "100"으로 된다. 다른 보간 화소의 휘도값도 마찬가지로 해서 산출하는 것에 의해 도 12의 처리 결과를 얻을 수 있다.
도 11의 예에서는 위의 보간 주사선 IL1의 참조 화소를 R1로 하고, 아래의 보간 주사선 IL3의 참조 화소를 R2로 한다. 참조 화소 R1의 각도 정보가 45°이고, 참조 화소 R2의 각도 정보가 18°이기 때문에, 도 11의 예는 도 7의 케이스 A에 해당하며, 원호 형상의 내측에 대응하는 방향은 왼쪽이다. 따라서, 상하의 주사선 BL, CL에서 보간 화소 IN에 대하여 27°의 방향의 위치 p1, p2를 특정하고, 특정된 위치 p1, p2에 대하여 수평 방향의 왼쪽으로 0.5화소 시프트한 위치를 보간참조 위치 P1, P2로서 선택한다. 보간 참조 위치 P1, P2가 속하는 화소의 휘도값은 인접하는 2개의 화소 Q11, Q12 및 화소 Q21, Q22의 휘도값 "100" 및 "0"의 평균 휘도값으로 되어, 각각 "50"으로 된다. 따라서, 보간 참조 위치 P1, P2가 속하는 화소를 이용한 보간 연산에 의해 보간 화소 IL의 휘도값은 "50"으로 된다. 다른 보간 화소의 휘도값도 마찬가지로 해서 산출하는 것에 의해 도 11의 처리 결과를 얻을 수 있다.
또한, 도 11 및 도 12에서 보간 주사선 IL1, IL2, IL3상의 값은 각 보간 화소의 휘도값을 나타내고, 검은 점은 각 주사선마다 휘도의 중앙값을 취하는 점이고, 점선은 각 휘도의 중앙값을 취하는 점을 직선으로 연결한 것이다. 즉, 점선은 화상의 에지를 나타내고 있다. 본 예의 경우, 중앙값은 휘도값 "50"이 된다.
도 11의 처리 결과와 도 12의 처리 결과를 비교하면, 도 12에 나타내는 바와 같이, 화상의 각도 정보만 이용하여 보간 화소의 휘도값을 산출한 경우에는, 보간 후의 화상의 에지의 형상이 꺾은 선 형상으로 되어, 매끄러운 에지를 보간에 의해 얻을 수 없다. 즉, 도 12의 처리는 국소적으로 인식한 각도 방향으로부터의 보간이기 때문에, 대국적인 연속성을 본 경우에, 반드시 매끄러운 보간으로 되어 있지 않다.
이에 반하여, 도 11에 나타내는 바와 같이, 화상의 각도 정보 및 원호 형상 정보에 근거하여 보간 화소의 휘도값을 산출한 경우에는, 원호 형상에 가까운 매끄러운 에지를 표현할 수 있음을 알 수 있다.
또한, 본 예에서는 원호 형상이 인식된 경우의 보간 참조 위치의 시프트량을O.5화소로서 설명했지만, 이에 한정되는 것이 아니라 임의의 시프트량을 설정해도 무방하다.
본 실시예에서는 2치화부(2) 및 검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5)가 2치화 패턴 발생기에 상당하고, 참조 패턴 발생부(6)가 참조 패턴 발생기에 상당하며, 각도 검출부(3)가 비교기에 상당한다. 또한, 원호 형상 검출부(4)가 형상 검출기에 상당한다. 또한, 검출 윈도우내 영상 신호 처리부(5)가 임계값 산출 장치 및 판별기에 상당하고, 2치화부(2)가 2치화 장치에 상당한다.

Claims (11)

  1. 입력된 영상 신호에 근거하여 주사선간의 각 보간 주사선에서의 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 화상 각도 검출 장치로서,
    상기 입력된 영상 신호를 복수의 주사선 및 상기 보간해야 할 화소를 포함하는 소정의 검출 영역내에서 2치화하여 2치화 패턴을 발생하는 2치화 패턴 발생기와,
    상이한 방향을 갖는 2치 화상을 복수의 참조 패턴으로서 발생하는 참조 패턴 발생기와,
    상기 2치화 패턴 발생기에 의해 발생된 2치화 패턴을 상기 참조 패턴 발생기에 의해 발생된 복수의 참조 패턴의 각각과 비교하고, 비교 결과에 근거하여 상기 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 비교기와,
    상기 보간해야 할 화소에 관해서 상기 비교기에 의해 검출된 화상의 각도와 위 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 조합에 근거하여 화상의 형상을 검출하는 형상 검출기
    를 구비한 화상 각도 검출 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 형상 검출기는,
    상기 보간해야 할 화소에 관해서 상기 비교기에 의해 검출된 화상의 각도가 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와, 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 사이에 있고, 또한 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도의 절대값이 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도의 절대값보다 큰 경우에, 상기 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도, 상기 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도 및 상기 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도가 정(正)의 값일 때에, 화상의 형상이 오른쪽 아래 방향으로 볼록의 형상인 것을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고, 상기 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도, 상기 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도 및 상기 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도가 부(負)의 값일 때에, 화상의 형상이 왼쪽 아래 방향으로 볼록의 형상인 것을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고,
    상기 보간해야 할 화소에 관해서 상기 비교기에 의해 검출된 화상의 각도가 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와, 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 사이에 있고, 또한 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도의 절대값이 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도의 절대값보다 작은 경우에,
    상기 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도, 상기 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도 및 상기 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도가 정(正)의 값일 때에, 화상의 형상이 왼쪽 위 방향으로 볼록의 형상인 것을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고, 상기 보간해야 할 화소에 관해서 검출된 화상의 각도, 상기 위의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도 및 상기 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도가 부의 값일 때에, 화상의 형상이 오른쪽 위 방향으로 볼록의 형상인 것을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하는
    화상 각도 검출 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 형상 검출기는 화상의 형상이 원호라고 검출한 경우에, 원호의 내측의 방향을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하는 화상 각도 검출 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 2치화 패턴 발생기는,
    상기 검출 영역내의 영상 신호의 휘도에 근거하여 2치화를 위한 임계값을 산출하는 임계값 산출 장치와,
    상기 임계값 산출 장치에 의해 산출된 임계값을 이용하여 상기 입력된 영상 신호를 2치화하는 것에 의해 상기 2치화 패턴을 발생하는 2치화 장치를 포함하는
    화상 각도 검출 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 검출 영역내의 영상 신호에서 각 주사선의 수평 방향의 휘도 분포가 단조 증가 또는 단조 감소를 하는지 여부를 판정하는 판정기를 더 구비하고,
    상기 비교기는 상기 판정기에 의해 상기 휘도 분포가 단조 증가 및 단조 감소하지 않는다고 판정된 경우에, 상기 2치화 패턴과 상기 복수의 참조 패턴의 각각과의 비교를 실행하지 않는
    화상 각도 검출 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 검출 영역내의 영상 신호의 콘트라스트를 검출하는 콘트라스트 검출기를 더 구비하고,
    상기 비교기는 상기 콘트라스트 검출기에 의해 검출된 콘트라스트가 소정값보다 작은 경우에 상기 2치화 패턴과 상기 복수의 참조 패턴의 각각과의 비교를 실행하지 않는
    화상 각도 검출 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 참조 패턴 발생기에 의해 발생되는 복수의 참조 패턴의 각각은 상기 보간해야 할 화소의 상측의 주사선에 배치되는 제 1 화소열과 상기 보간해야 할 화소의 하측의 주사선에 배치되는 제 2 화소열을 포함하고,
    상기 제 1 화소열은 제 1 화소값으로부터 제 2 화소값으로의 하나의 변화점을 갖고, 상기 제 2 화소열은 제 1 화소값으로부터 제 2 화소값으로의 하나의 변화점을 갖고, 상기 제 1 화소열에서의 제 1 화소값으로부터 제 2 화소값으로의 변화의 방향과 상기 제 2 화소열에서의 제 1 화소값으로부터 제 2 화소값으로의 변화의 방향이 동일한
    화상 각도 검출 장치.
  8. 입력된 영상 신호에 근거하여 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도 및 화상의 형상을 검출하는 화상 각도 검출 장치와,
    상기 화상 각도 검출 장치에 의해 검출된 각도 및 형상에 근거하여 보간 처리에 이용하는 화소를 선택하고, 선택된 화소를 이용하여 상기 보간해야 할 화소의 값을 산출하는 것에 의해 보간 주사선을 생성하는 보간 회로
    를 구비하고,
    상기 화상 각도 검출 장치는,
    상기 입력된 영상 신호를 복수의 주사선 및 각 보간 주사선에서의 상기 보간해야 할 화소를 포함하는 소정의 검출 영역내에서 2치화하여 2치화 패턴을 발생하는 2치화 패턴 발생기와,
    상이한 방향을 갖는 2치 화상을 복수의 참조 패턴으로서 발생하는 참조 패턴발생기와,
    상기 2치화 패턴 발생기에 의해 발생된 2치화 패턴을 상기 참조 패턴 발생기에 의해 발생된 복수의 참조 패턴의 각각과 비교하고, 비교 결과에 근거하여 상기 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 비교기와,
    상기 보간해야 할 화소에 관해서 상기 비교기에 의해 검출된 화상의 각도와 위 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 조합에 근거하여 화상의 형상을 검출하는 형상 검출기
    를 포함하는 주사선 보간 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 형상 검출기는 화상의 형상이 원호라고 검출한 경우에, 원호의 내측의 방향을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고,
    상기 보간 회로는 상기 형상 검출기로부터 출력되는 형상 검출 신호에 근거하여 원호의 내측으로부터 보간 처리에 이용하는 화소를 선택하고, 선택된 화소를 이용하여 상기 보간해야 할 화소의 값을 산출하는 것에 의해 보간 주사선을 생성하는
    주사선 보간 장치.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 형상 검출기는 화상의 형상이 원호라고 검출한 경우에, 원호의 내측의 방향을 나타내는 형상 검출 신호를 출력하고,
    상기 보간 회로는 상기 형상 검출기로부터 출력되는 형상 검출 신호에 근거하여, 보간해야 할 화소에 대하여 검출된 화상의 각도의 방향에서의 위 및 아래의 주사선의 위치에 대하여 0.5화소만큼 원호의 내측의 방향으로 시프트한 위치를 선택하고, 선택된 위치에서의 화소의 값을 이용하여 상기 보간해야 할 화소의 값을 산출하는 것에 의해 보간 주사선을 생성하는
    주사선 보간 장치.
  11. 입력된 영상 신호에 근거하여 주사선간의 각 보간 주사선에서의 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 화상 각도 검출 방법으로서,
    상기 입력된 영상 신호를 복수의 주사선 및 상기 보간해야 할 화소를 포함하는 소정의 검출 영역내에서 2치화하여 2치화 패턴을 발생하는 단계와,
    상이한 방향을 갖는 2치 화상을 복수의 참조 패턴으로서 발생하는 단계와,
    상기 발생된 2치화 패턴을 상기 발생된 복수의 참조 패턴의 각각과 비교하고, 비교 결과에 근거하여 상기 보간해야 할 화소에 관한 화상의 각도를 검출하는 단계와,
    상기 보간해야 할 화소에 관해서 상기 검출된 화상의 각도와 위 및 아래의 보간 주사선에서 검출된 화상의 각도와의 조합에 근거하여 화상의 형상을 검출하는 단계
    를 구비한 화상 각도 검출 방법.
KR1020047017786A 2002-05-07 2003-04-30 화상 각도 검출 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치 Expired - Fee Related KR100962801B1 (ko)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2002-00131230 2002-05-07
JP2002131230 2002-05-07
JPJP-P-2003-00123406 2003-04-28
JP2003123406A JP4060748B2 (ja) 2002-05-07 2003-04-28 画像角度検出装置それを備えた走査線補間装置
PCT/JP2003/005557 WO2003096689A1 (en) 2002-05-07 2003-04-30 Image angle detection device and scan line interpolation device having the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040106470A true KR20040106470A (ko) 2004-12-17
KR100962801B1 KR100962801B1 (ko) 2010-06-09

Family

ID=29422367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020047017786A Expired - Fee Related KR100962801B1 (ko) 2002-05-07 2003-04-30 화상 각도 검출 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7474354B2 (ko)
EP (1) EP1534007A4 (ko)
JP (1) JP4060748B2 (ko)
KR (1) KR100962801B1 (ko)
CN (1) CN100473141C (ko)
MY (1) MY141087A (ko)
WO (1) WO2003096689A1 (ko)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI253848B (en) * 2004-04-09 2006-04-21 Mstar Semiconductor Inc Pixel interpolation method and related pixel interpolation device
JP2007060512A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Pioneer Electronic Corp 走査線補間回路、該走査線補間回路に用いられる走査線補間方法、及び画像表示装置
US8120703B2 (en) * 2005-09-08 2012-02-21 Silicon Image/BSTZ Source-adaptive video deinterlacer
US8004606B2 (en) * 2005-09-08 2011-08-23 Silicon Image, Inc. Original scan line detection
US7982798B2 (en) * 2005-09-08 2011-07-19 Silicon Image, Inc. Edge detection
GB2431803A (en) * 2005-10-31 2007-05-02 Sony Uk Ltd Alias avoidance in image processing
GB2443858A (en) * 2006-11-14 2008-05-21 Sony Uk Ltd Alias avoiding image processing using directional pixel block correlation and predetermined pixel value criteria
JP4870528B2 (ja) * 2006-11-17 2012-02-08 オリンパス株式会社 固体撮像装置
WO2008076566A1 (en) 2006-12-20 2008-06-26 Anchor Bay Technologies, Inc. Noise cancellation
US8717502B2 (en) 2007-03-19 2014-05-06 Sony Computer Entertainment Inc. Methods and apparatuses for upscaling video
CN101415103B (zh) * 2007-10-19 2010-08-11 英华达（南京）科技有限公司 视讯画面的调整方法
US8593572B2 (en) * 2008-01-30 2013-11-26 Csr Technology Inc. Video signal motion detection
US8559746B2 (en) 2008-09-04 2013-10-15 Silicon Image, Inc. System, method, and apparatus for smoothing of edges in images to remove irregularities
CN101729882B (zh) * 2008-10-22 2011-06-08 矽统科技股份有限公司 低角度内插装置及其方法
CN102349107B (zh) 2009-02-10 2015-02-18 晶像股份有限公司 块噪声检测和滤波
US8154617B2 (en) * 2009-09-30 2012-04-10 Sony Corporation Method of detecting the existence of visually sensitive thin lines in a digital image
US8913842B2 (en) * 2010-07-06 2014-12-16 Mitsubishi Electric Corporation Image smoothing method based on content-dependent filtering
JP5654801B2 (ja) * 2010-08-19 2015-01-14 株式会社ミツトヨ 画像測定装置及び画像測定方法
JP2012212287A (ja) * 2011-03-31 2012-11-01 Dainippon Printing Co Ltd 個体識別装置、個体識別方法、及びプログラム
JP2013192094A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Toshiba Corp 映像拡大装置及び映像拡大方法
US9536461B2 (en) 2014-07-01 2017-01-03 Sony Interactive Entertainment Inc. Method and system for use in uprendering multimedia content
CN115837540A (zh) * 2021-09-18 2023-03-24 南通新控自动化设备有限公司 焊枪定位方法及装置、桁车

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11708A (en) * 1854-09-19 Loren j
CA1335794C (en) * 1988-04-07 1995-06-06 Yoshiyuki Okada Process and apparatus for image magnification
JP2732644B2 (ja) 1989-02-13 1998-03-30 株式会社東芝 相関判定回路
IL115166A (en) * 1991-04-30 1997-02-18 Scitex Corp Ltd Apparatus and method for descreening
US5347599A (en) * 1991-06-14 1994-09-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Adaptive interpolation method and apparatus using correlation detection
JPH05153562A (ja) * 1991-12-02 1993-06-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 相関検出補間方法および装置
DE19502997B4 (de) * 1994-02-01 2005-06-30 Ricoh Co., Ltd. Einrichtung und Verfahren zum Verarbeiten von Zweiton-Bilddaten
JPH0937214A (ja) 1995-07-14 1997-02-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 順次走査変換方法及び順次走査変換装置
US5886745A (en) * 1994-12-09 1999-03-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Progressive scanning conversion apparatus
CN1127846C (zh) * 1995-07-31 2003-11-12 华邦电子股份有限公司 均匀伸缩数字图像尺寸的装置
JPH1141565A (ja) 1997-07-23 1999-02-12 Sharp Corp 画像データ補間装置
US6262773B1 (en) * 1997-09-15 2001-07-17 Sharp Laboratories Of America, Inc. System for conversion of interlaced video to progressive video using edge correlation
JPH11146346A (ja) * 1997-11-13 1999-05-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 順次走査変換方法及び順次走査変換装置
JPH11175710A (ja) * 1997-12-16 1999-07-02 Sharp Corp 画像形成装置
JPH11331773A (ja) 1998-05-15 1999-11-30 Victor Co Of Japan Ltd 画像補間方法
US7016539B1 (en) * 1998-07-13 2006-03-21 Cognex Corporation Method for fast, robust, multi-dimensional pattern recognition
JP2000253238A (ja) * 1999-03-01 2000-09-14 Mitsubishi Electric Corp 画像処理装置及び画像処理方法
JP4108969B2 (ja) 2000-12-14 2008-06-25 松下電器産業株式会社 画像角度検出装置およびそれを備えた走査線補間装置
US7245326B2 (en) * 2001-11-19 2007-07-17 Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. Method of edge based interpolation
US6941016B1 (en) * 2001-12-31 2005-09-06 Cognex Technology And Investment Method for finding contours in an image of an object

Also Published As

Publication number Publication date
US20050140664A1 (en) 2005-06-30
EP1534007A1 (en) 2005-05-25
WO2003096689A1 (en) 2003-11-20
US7474354B2 (en) 2009-01-06
EP1534007A4 (en) 2010-09-29
CN100473141C (zh) 2009-03-25
JP2004032708A (ja) 2004-01-29
KR100962801B1 (ko) 2010-06-09
JP4060748B2 (ja) 2008-03-12
CN1653810A (zh) 2005-08-10
MY141087A (en) 2010-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100962801B1 (ko) 화상 각도 검출 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치
KR100495549B1 (ko) 주사선 보간 장치
KR100537235B1 (ko) 화상 각도 검출 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치
KR100505663B1 (ko) 적응형 윤곽 상관 보간에 의한 디스플레이 장치의 순차주사 방법
KR100782812B1 (ko) 에지 적응적 컬러 보간 방법 및 장치
CN100394782C (zh) 基于边缘的图像自适应去除隔行扫描的方法和设备
KR100450808B1 (ko) 정지 판정 장치 및 그것을 구비한 주사선 보간 장치
KR20010015344A (ko) 화상보간장치
JP2003052023A5 (ko)
US6636267B1 (en) Line interpolation apparatus and line interpolation method
US6930729B2 (en) Apparatus and method for deleting sawtooth wave
EP1343043A1 (en) Faraday rotator and optical attenuator
JP2001094951A (ja) 走査線補間方法
KR100601638B1 (ko) 디-인터레이싱 방법, 그 장치, 그 비디오 디코더 및 그재생 장치
JP2658625B2 (ja) 補間信号生成回路
JP2005184307A (ja) 傷画素補正回路及び傷画素補正方法
TWI284478B (en) Image angle detection device and scan line interpolation device having the same
JP2003230109A (ja) 走査線補間方法ならびに走査線変換装置および画像表示装置
JPH07146249A (ja) 欠陥検査装置
JPH10253332A (ja) 周期パターン内の欠陥検査方法と装置
KR100189517B1 (ko) 방향성을 고려한 경사상관 보간방법 및 회로
JP2005286518A (ja) 補間信号生成回路
JP2007142669A (ja) 走査線補間装置

Legal Events

Date Code Title Description
PA0105 International application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A15-nap-PA0105

PG1501 Laying open of application

St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

R18-X000 Changes to party contact information recorded

St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902

E13-X000 Pre-grant limitation requested

St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000

P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002 Payment of registration fee

St.27 status event code: A-2-2-U10-U12-oth-PR1002

Fee payment year number: 1

PG1601 Publication of registration

St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601

LAPS Lapse due to unpaid annual fee
PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903

Not in force date: 20130602

Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

P22-X000 Classification modified

St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000

PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903

Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

Not in force date: 20130602

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301