KR20160096676A - 전압 비교기 - Google Patents
전압 비교기 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20160096676A KR20160096676A KR1020167018348A KR20167018348A KR20160096676A KR 20160096676 A KR20160096676 A KR 20160096676A KR 1020167018348 A KR1020167018348 A KR 1020167018348A KR 20167018348 A KR20167018348 A KR 20167018348A KR 20160096676 A KR20160096676 A KR 20160096676A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- transistor
- drain
- source
- gate
- branch circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/22—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
- H03K5/24—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude
- H03K5/2472—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude using field effect transistors
- H03K5/2481—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude using field effect transistors with at least one differential stage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0038—Circuits for comparing several input signals and for indicating the result of this comparison, e.g. equal, different, greater, smaller (comparing pulses or pulse trains according to amplitude)
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/22—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Description
도2는 본 발명 제1 실시예에 따른 전압 비교기 회로도이다.
도3은 본 발명 제2 실시예에 따른 전압 비교기 회로도이다.
도4는 본 발명 제3 실시예에 따른 전압 비교기 회로도이다.
도5는 본 발명 제4 실시예에 따른 전압 비교기 회로도이다.
도6은 본 발명 제5 실시예에 따른 전압 비교기 회로도이다.
도7은 본 발명 제6 실시예에 따른 전압 비교기 회로도이다.
Claims (15)
- 제1 분기 회로, 제2 분기 회로 및 제3 분기 회로를 포함하고,
상기 제1 분기 회로는 제1 트랜지스터, 제2 트랜지스터 및 제3 트랜지스터를 포함하고, 상기 제1 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 드레인에 연결되며 드레인은 상기 제2 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제2 트랜지스터의 게이트는 제1 입력단에 연결되고 소스는 제3 트랜지스터의 드레인에 연결되며, 제3 트랜지스터의 소스는 접지되고 드레인은 게이트에 연결되며,
상기 제2 분기 회로는 제4 트랜지스터, 제5 트랜지스터 및 제6 트랜지스터를 포함하고, 상기 제4 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 드레인에 연결되며 드레인은 상기 제5 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제5 트랜지스터의 게이트는 제2 입력단에 연결되고 소스는 제6트랜지스터의 드레인에 연결되며, 상기 제6 트랜지스터의 소스는 접지되고 드레인은 게이트에 연결되며,
상기 제3 분기 회로는 제7 트랜지스터 및 제8 트랜지스터를 포함하고, 상기 제7트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 상기 제1 트랜지스터 및 제2 트랜지스터의 노드에 연결되며 드레인은 전압 비교기의 출력단 및 상기 제8 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제7트랜지스터 및 상기 제1 트랜지스터는 전류 미러를 구성하고, 상기 제8트랜지스터의 게이트는 상기 제5 트랜지스터 및 제6 트랜지스터의 노드에 연결되며 드레인은 전압 비교기의 출력단에 연결되고 소스는 접지되며, 상기 제8 트랜지스터 및 상기 제6 트랜지스터는 전류 미러를 구성하는 것을 특징으로 하는 전압 비교기. - 제1 항에 있어서, 제1 저항을 더 포함하고, 상기 제1 저항의 일단은 제2 입력단에 연결되고 다른 일단은 접지되는 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제2 항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터, 제4 트랜지스터 및 제7 트랜지스터는 PMOS이고, 상기 제2 트랜지스터, 제3 트랜지스터, 제5 트랜지스터, 제6 트랜지스터 및 제8 트랜지스터는 NMOS인 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제1 항에 있어서, 제1 저항을 더 포함하고, 상기 제1 저항의 일단은 제2 입력단에 연결되고 다른 일단은 전원에 연결되는 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제4항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터, 제2 트랜지스터, 제4 트랜지스터, 제5 트랜지스터 및 제7 트랜지스터는 PMOS이고, 상기 제3 트랜지스터, 제6 트랜지스터 및 제8 트랜지스터는 NMOS인 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제1 분기 회로, 제2 분기 회로 및 제3 분기 회로를 포함하고,
상기 제1 분기 회로는 제1 트랜지스터, 제2 트랜지스터 및 제3 트랜지스터를 포함하고, 상기 제1 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 드레인에 연결되며 드레인은 상기 제2 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제2 트랜지스터의 게이트는 제1 입력단에 연결되고 소스는 상기 제3 트랜지스터의 드레인에 연결되며, 상기 제3 트랜지스터의 소스는 접지되고 드레인은 게이트에 연결되며,
상기 제2 분기 회로는 제4 트랜지스터, 제5 트랜지스터 및 제6 트랜지스터를 포함하고, 상기 제4 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 드레인에 연결되며 드레인은 상기 제5 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제5트랜지스터의 게이트는 제2 입력단에 연결되고 소스는 상기 제6트랜지스터의 드레인에 연결되며, 상기 제6트랜지스터의 소스는 접지되고 드레인은 게이트에 연결되며,
상기 제3 분기 회로는 제7 트랜지스터 및 제8 트랜지스터를 포함하고, 상기 제7 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 상기 제4 트랜지스터 및 제5 트랜지스터의 노드에 연결되며 드레인은 전압 비교기의 출력단 및 상기 제8트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제7 트랜지스터 및 상기 제4 트랜지스터는 전류 미러를 구성하며, 상기 제8 트랜지스터의 게이트는 상기 제2 트랜지스터 및 제3 트랜지스터의 노드에 연결되고 드레인은 전압 비교기의 출력단에 연결되며 소스는 접지되고, 상기 제8 트랜지스터 및 상기 제3 트랜지스터는 전류 미러를 구성하는 것을 특징으로 하는 전압 비교기. - 제6항에 있어서, 제1 저항을 더 포함하고, 상기 제1 저항의 일단은 제2 입력단에 연결되고 다른 일단은 접지되는 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제7항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터, 제4 트랜지스터 및 제7 트랜지스터는 PMOS이고, 상기 제2 트랜지스터, 제3 트랜지스터, 제5 트랜지스터, 제6 트랜지스터 및 제8 트랜지스터는 NMOS인 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제6항에 있어서, 제1 저항을 더 포함하고, 상기 제1 저항의 일단은 제2 입력단에 연결되고 다른 일단은 전원에 연결되는 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제9항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터, 제4 트랜지스터 및 제7 트랜지스터는 PMOS이고, 상기 제2 트랜지스터, 제3 트랜지스터, 제5 트랜지스터, 제6 트랜지스터 및 제8 트랜지스터는 NMOS인 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제1 분기 회로, 제2 분기 회로, 제3 분기 회로 및 제4분기 회로를 포함하고,
상기 제1 분기 회로는 제1 트랜지스터, 제2 트랜지스터 및 제3 트랜지스터를 포함하고, 상기 제1 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 드레인에 연결되며 드레인은 상기 제2 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제2 트랜지스터의 게이트는 제1 입력단에 연결되고 소스는 상기 제3 트랜지스터의 드레인에 연결되며, 상기 제3 트랜지스터의 소스는 접지되고 드레인은 게이트에 연결되며,
상기 제2 분기 회로는 제4 트랜지스터, 제5 트랜지스터 및 제6 트랜지스터를 포함하고, 상기 제4 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 드레인에 연결되며 드레인은 상기 제5 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제5 트랜지스터의 게이트는 제2 입력단에 연결되고 소스는 상기 제6 트랜지스터의 드레인에 연결되며, 상기 제6 트랜지스터의 소스는 접지되고 드레인은 게이트에 연결되고,
상기 제3 분기 회로는 제7 트랜지스터 및 제8 트랜지스터를 포함하고, 상기 제7 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 상기 제1 트랜지스터 및 제2 트랜지스터의 노드에 연결되며 드레인은 전압 비교기의 출력단 및 상기 제8 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제7 트랜지스터 및 상기 제1 트랜지스터는 전류 미러를 구성하며, 상기 제8 트랜지스터의 드레인은 전압 비교기의 출력단에 연결되고 소스는 접지되며, 상기 제7 트랜지스터 및 상기 제8 트랜지스터의 드레인의 노드는 출력단이며,
상기 제4분기 회로는 제9 트랜지스터 및 제10 트랜지스터를 포함하고, 상기 제9 트랜지스터의 소스는 전원에 연결되고 게이트는 상기 제4 트랜지스터의 게이트에 연결되며 드레인은 상기 제10 트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제10 트랜지스터의 게이트는 상기 제8 트랜지스터의 게이트에 연결되며 드레인은 게이트에 연결되고 소스는 접지되는 것을 특징으로 하는 전압 비교기. - 제11항에 있어서, 제1 저항을 더 포함하고, 상기 제1 저항의 일단은 제2 입력단에 연결되고 다른 일단은 접지되는 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제12항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터, 제4 트랜지스터, 제7 트랜지스터 및 제9 트랜지스터는 PMOS이고, 상기 제2 트랜지스터, 제3 트랜지스터, 제5 트랜지스터, 제6 트랜지스터, 제8 트랜지스터 및 제10 트랜지스터는 NMOS인 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제11항에 있어서, 제1 저항을 더 포함하고, 상기 제1 저항의 일단은 제2 입력단에 연결되고 다른 일단은 전원에 연결되는 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
- 제14항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터, 제2 트랜지스터, 제4 트랜지스터, 제5 트랜지스터, 제7 트랜지스터 및 제9 트랜지스터는 PMOS이고, 상기 제3 트랜지스터, 제6 트랜지스터, 제8 트랜지스터 및 제10 트랜지스터는 NMOS인 것을 특징으로 하는 전압 비교기.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410174425.4A CN104158516B (zh) | 2014-04-28 | 2014-04-28 | 电压比较器 |
| CN201410174425.4 | 2014-04-28 | ||
| PCT/CN2014/088469 WO2015165218A1 (zh) | 2014-04-28 | 2014-10-13 | 电压比较器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20160096676A true KR20160096676A (ko) | 2016-08-16 |
| KR101826456B1 KR101826456B1 (ko) | 2018-02-06 |
Family
ID=51883944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020167018348A Active KR101826456B1 (ko) | 2014-04-28 | 2014-10-13 | 전압 비교기 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9742387B2 (ko) |
| EP (1) | EP3096454B1 (ko) |
| KR (1) | KR101826456B1 (ko) |
| CN (1) | CN104158516B (ko) |
| WO (1) | WO2015165218A1 (ko) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109379074A (zh) * | 2018-11-21 | 2019-02-22 | 灿芯半导体(上海)有限公司 | 一种电平转换电路 |
| CN110445482B (zh) * | 2019-08-06 | 2020-11-27 | 电子科技大学 | 一种低功耗高摆率的比较器 |
| CN113364278B (zh) * | 2020-04-08 | 2022-07-12 | 澜起电子科技(昆山)有限公司 | 开关电流源电路及开关电流源快速建立方法 |
| CN114448424B (zh) * | 2022-01-14 | 2023-05-23 | 电子科技大学 | 一种自带偏置的低电压比较器 |
| CN116094501B (zh) | 2022-09-09 | 2025-09-16 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 基于运放的迟滞比较器和芯片 |
| CN115622534B (zh) * | 2022-12-20 | 2023-03-14 | 苏州贝克微电子股份有限公司 | 一种提高运算放大器阻抗的结构及方法 |
| CN116032217A (zh) * | 2022-12-23 | 2023-04-28 | 上海类比半导体技术有限公司 | 振荡器结构及包括振荡器结构的模数转换系统 |
| CN117278004B (zh) * | 2023-11-21 | 2024-02-06 | 拓尔微电子股份有限公司 | 比较电路 |
| CN117792351A (zh) * | 2023-12-20 | 2024-03-29 | 思瑞浦微电子科技(上海)有限责任公司 | 比较器电路和组合比较器电路 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6146613A (ja) * | 1984-08-10 | 1986-03-06 | Nec Corp | レベル検出回路 |
| US4818897A (en) * | 1987-09-25 | 1989-04-04 | Texas Instruments Incorporated | Fast one way amplifier stage |
| JP2002084145A (ja) | 2000-09-08 | 2002-03-22 | Nec Corp | Mos線形トランスコンダクタンスアンプ |
| JP4777861B2 (ja) * | 2006-11-07 | 2011-09-21 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | コンパレータ回路 |
| JP5117950B2 (ja) | 2008-07-18 | 2013-01-16 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | データ読出回路及び半導体記憶装置 |
| CN101764613B (zh) * | 2009-12-18 | 2012-05-16 | 清华大学 | 低功耗反馈控制结构的时域比较器 |
| CN102571044A (zh) * | 2010-12-22 | 2012-07-11 | 无锡华润上华半导体有限公司 | 电压比较器 |
| JP5503671B2 (ja) * | 2012-01-30 | 2014-05-28 | 株式会社半導体理工学研究センター | 差動増幅回路 |
| JP2013187695A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-09-19 | Sony Corp | コンパレータおよびad変換器 |
| CN102769447A (zh) * | 2012-07-12 | 2012-11-07 | 东南大学 | 全差分高速低功耗比较器 |
-
2014
- 2014-04-28 CN CN201410174425.4A patent/CN104158516B/zh active Active
- 2014-10-13 WO PCT/CN2014/088469 patent/WO2015165218A1/zh not_active Ceased
- 2014-10-13 EP EP14891116.7A patent/EP3096454B1/en active Active
- 2014-10-13 KR KR1020167018348A patent/KR101826456B1/ko active Active
-
2016
- 2016-07-07 US US15/203,796 patent/US9742387B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US9742387B2 (en) | 2017-08-22 |
| EP3096454B1 (en) | 2020-02-26 |
| CN104158516B (zh) | 2017-01-11 |
| EP3096454A1 (en) | 2016-11-23 |
| US20160315604A1 (en) | 2016-10-27 |
| EP3096454A4 (en) | 2018-03-21 |
| CN104158516A (zh) | 2014-11-19 |
| WO2015165218A1 (zh) | 2015-11-05 |
| KR101826456B1 (ko) | 2018-02-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101826456B1 (ko) | 전압 비교기 | |
| CN108649939A (zh) | 电源检测电路及方法 | |
| US8405371B2 (en) | Voltage regulator with ripple compensation | |
| US8843093B2 (en) | Low power squelch detector circuit | |
| CN103678012B (zh) | 半导体器件 | |
| US11293954B2 (en) | Voltage sensing circuit | |
| US10401399B2 (en) | Low-power voltage detection circuit | |
| JP5547451B2 (ja) | パワーオンリセット回路 | |
| US10355692B2 (en) | Power source monitoring circuit, power on reset circuit, and semiconductor device | |
| US20150089250A1 (en) | Contention Prevention for Sequenced Power Up of Electronic Systems | |
| KR20140079008A (ko) | 파워 온 리셋 회로 | |
| TWI531801B (zh) | 電壓偵測電路 | |
| JP2009277122A (ja) | 電源電圧監視回路 | |
| CN114144742B (zh) | 跨域功率控制电路 | |
| CN108809080B (zh) | 一种偏置电路、振荡器和电荷泵 | |
| JP2015211345A (ja) | 電源電圧監視回路、および該電源電圧監視回路を備える電子回路 | |
| JP2010153974A (ja) | コンパレータ及び検出回路 | |
| JP5971604B2 (ja) | 電圧検出回路 | |
| CN108776501B (zh) | Ldo和por的复用电路 | |
| US9841443B2 (en) | Detection circuit | |
| US7230456B2 (en) | Low current consumption detector circuit and applications | |
| CN108092648A (zh) | 片内基准时钟自动选择电路 | |
| JP2011188146A (ja) | 可変容量回路及びこれを備える発振回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0105 | International application |
Patent event date: 20160708 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
| PA0201 | Request for examination | ||
| PG1501 | Laying open of application | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20170727 Patent event code: PE09021S01D |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20180130 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20180131 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20180131 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20210122 Year of fee payment: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210122 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20220121 Year of fee payment: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220121 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240119 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20250124 Start annual number: 8 End annual number: 8 |