KR20170045268A - 신호들을 분석하기 위해 주파수 변환기 및 goertzel 필터를 가지는 유도 위치 센서 - Google Patents

신호들을 분석하기 위해 주파수 변환기 및 goertzel 필터를 가지는 유도 위치 센서 Download PDF

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KR20170045268A KR1020177007406A KR20177007406A KR20170045268A KR 20170045268 A KR20170045268 A KR 20170045268A KR 1020177007406 A KR1020177007406 A KR 1020177007406A KR 20177007406 A KR20177007406 A KR 20177007406A KR 20170045268 A KR20170045268 A KR 20170045268A
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Abstract

본 발명은 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서 (100) 에 관한 것이다. 위치 센서 (100) 는 제 1 주파수를 가지는 제 1 전기 신호를 출력하기 위해 제 1 전기 신호 소스에, 그리고, 제 2 주파수를 가지는 제 2 전기 신호를 출력하기 위해 제 2 전기 신호 소스에 접속될 수 있다. 위치 센서는, 제 1 주파수를 가지는 자기 교번 필드를 발생시키는 1차 코일 (101); 위치 송신기에 의해 1차 코일 (101) 에 각각 자기적으로 커플링될 수 있는 제 1 의 2차 코일 (103) 및 제 2 의 2차 코일 (105) 로서, 발생된 자기 교번 필드에 의해 제 3 전기 신호가 제 1 의 2차 코일 (103) 에서 유도될 수 있고 제 4 전기 신호가 제 2 의 2차 코일 (105) 에서 유도될 수 있는, 상기 제 1 의 2차 코일 (103) 및 제 2 의 2차 코일 (105); 제 2 전기 신호 소스에 접속가능한, 제 3 전기 신호를 제 1 중간 주파수 신호로 변환하고 제 4 전기 신호를 제 2 중간 주파수 신호로 변환하는 주파수 변환기 (107); 및 제 1 복조된 신호를 획득하기 위해 제 1 중간 주파수 신호를 복조하고, 제 2 복조된 신호를 획득하기 위해 제 2 중간 주파수 신호를 복조하는 Goertzel 필터 뱅크 (109) 를 포함한다.

Description

신호들을 분석하기 위해 주파수 변환기 및 GOERTZEL 필터를 가지는 유도 위치 센서{INDUCTIVE POSITION SENSOR WITH FREQUENCY CONVERTER AND GOERTZEL FILTER FOR ANALYZING SIGNALS}
본 발명은 바로, 위치 센서에 관한 것이다.
자동차 (motor vehicle) 는 종종 복수의 가동 물체들을 포함하며, 그의 위치는 위치 센서들에 의해 검출된다. 가동 물체의 위치를 검출하기 위해, 종종 가동 물체 상에, 수동 공진 회로 또는 금속 엘리먼트와 같은, 위치 송신기가 배열된다. 위치 송신기의 위치를 검출하기 위해, 1차 코일 및 2개의 2차 코일들을 포함하는 차동 변압기가 종종 사용되며, 여기서, 1차 코일 및 2차 코일들은 위치 센서를 통해서 자기적으로 커플링될 수 있다.
이에 의해, 2차 코일들에서 전기 신호들을 유도하기 위해 1차 코일이 캐리어 신호에 의해 여기될 수 있다. 유도된 전기 신호들은, 예를 들어, 프로세서 또는 마이크로제어기에 의해, 위치 송신기의 위치를 결정하기 위해 평가될 수 있다. 캐리어 신호는 종종 이 목적을 위해 광범위하게 재발생된다.
본 발명이 기초하는 목적은 좀더 효율적인 위치 센서를 규정하는 것이다.
이 목적은 독립항에 따른 특징들을 포함하는 기술요지에 의해 해결된다. 본 발명의 유리한 실시형태들은 도면들, 명세서 및 종속항들의 기술요지이다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 그 목적은 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서에 의해 해결되며, 상기 위치 센서는 제 1 주파수를 가지는 제 1 전기 신호를 출력하기 위해 제 1 전기 신호 소스에, 그리고 제 2 주파수를 가지는 제 2 전기 신호를 출력하기 위해 제 2 전기 신호 소스에 접속될 수 있고, 그 위치 센서는, 제 1 주파수를 가지는 교번 자기장을 발생시키는 1차 코일; 제 1 의 2차 코일 및 제 2 의 2차 코일로서, 제 1 의 2차 코일 및 제 2 의 2차 코일은 각각 위치 송신기에 의해 1차 코일에 자기적으로 커플링될 수 있으며, 발생된 교번 자기장에 의해 제 1 의 2차 코일에서 제 3 전기 신호가 유도될 수 있으며 제 2 의 2차 코일에서 제 4 전기 신호가 유도될 수 있는, 상기 제 1 의 2차 코일 및 제 2 의 2차 코일; 제 3 전기 신호를 제 1 중간 주파수 신호로 변환하고 제 4 전기 신호를 제 2 중간 주파수 신호로 변환하는 주파수 변환기로서, 주파수 변환기는 제 2 전기 신호 소스에 접속가능한, 상기 상기 주파수 변환기; 및 제 1 복조된 신호를 획득하기 위해 제 1 중간 주파수 신호의 복조를 위한 그리고 제 2 복조된 신호를 획득하기 위해 제 2 중간 주파수 신호의 복조를 위한 Goertzel 필터 뱅크를 포함한다. 제 1 전기 신호의 광범위한 재발생이 생략될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
위치 송신기는 수동 공진 회로 및/또는 금속 엘리먼트, 예컨대 금속 타겟을 포함할 수 있거나, 또는 수동 공진 회로 및/또는 금속 엘리먼트, 예컨대, 금속 타겟으로 형성될 수 있다. 제 1 전기 신호 소스는 또한 캐리어 주파수 발생기를 포함하거나 또는 형성할 수 있다. 제 2 전기 신호 소스는 또한 로컬 발진기 (LO) 를 포함하거나 또는 형성할 수 있다. 예를 들어, 개별 전기 신호 소스는 주파수 발생기, 공진 회로 및/또는 전압-제어형 발진기, 예컨대 전압 제어형 발진기 (VCO) 를 포함한다. 일 실시형태에 따르면, 제 1 전기 신호 소스 및 제 2 전기 신호 소스는 마스터 발진기에 접속될 수 있거나 접속가능할 수 있으며, 이에 의해 기준 신호가 발생될 수 있다.
개별 주파수는 개별 전기 신호 소스의 액츄에이션 엘리먼트, 예컨대 스위치, 회전식 노브 또는 이중 인-라인 패키지 (DIP) 스위칭 엘리먼트에 의해 미리 결정될 수 있거나 또는 조정될 수 있다. 예를 들어, 개별 주파수는 100 kHz, 250 kHz, 500 kHz, 750 kHz, 1 MHz, 2.5 MHz, 5 MHz, 7.5 MHz, 10 MHz, 25 MHz, 50 MHz, 75 MHz, 100 MHz, 250 MHz, 500 MHz, 750 MHz 또는 1 GHz 이다. 일 실시형태에 따르면, 제 2 주파수는 제 1 주파수보다 작거나 또는 클 수 있다.
1차 코일 및 개별 2차 코일들은 차동 변압기를 형성할 수 있거나 또는 차동 변압기에 포함될 수 있다.
주파수 변환기는 제 3 전기 신호 및/또는 제 4 전기 신호를 하부 중간 주파수 범위로 변환하는 믹서를 포함할 수 있다. Goertzel 필터 뱅크는 또한 Goertzel 알고리즘에 따른 제 1 중간 주파수 신호 및/또는 제 2 전기 중간 주파수 신호의 복조를 위해, Goertzel 필터와 같은, 필터 엘리먼트를 포함할 수 있다.
유리한 실시형태에서, 위치 센서는 위치 송신기의 위치를 제 1 복조된 신호 또는 제 2 복조된 신호의 함수로서 결정하는 프로세서에 의해 구현된다. 위치 송신기의 위치가 효율적으로 검출될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 아날로그-디지털 변환기가 Goertzel 필터 뱅크의 상류에 접속된다. Goertzel 필터 뱅크가 디지털 신호 프로세싱을 위해 비용-효율적인 마이크로프로세서에 의해 형성될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 신호 윈도우잉 (signal windowing) 을 위한 디바이스가 Goertzel 필터 뱅크의 상류에 접속된다. 위치 송신기의 위치의 검출의 정확도가 증가될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
신호 윈도우잉 (signal windowing) 을 위한 디바이스는 제 1 중간 주파수 신호 및/또는 제 2 중간 주파수 신호에 대해 윈도우 함수를 이용하기 위해 구현될 수 있다. 예를 들어, 윈도우 함수는 정사각형 윈도우 함수, Hamming 윈도우 함수, Hanning 윈도우 함수, Von-Hann 윈도우 함수, Blackman 윈도우 함수, Bartlett 윈도우 함수, 코사인 윈도우 함수, Tukey 윈도우 함수, Lanczos 윈도우 함수, Kaiser 윈도우 함수 또는 Gauß 윈도우 함수이다.
추가적인 유리한 실시형태에서, Goertzel 필터 뱅크는 제 1 중간 주파수 신호의 복조를 위한 제 1 Goertzel 필터 및 제 2 중간 주파수 신호의 복조를 위한 제 2 Goertzel 필터를 포함한다. 개별 중간 주파수 신호가 효율적으로 복조될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 위치 센서는 제 1 복조된 신호 또는 제 2 복조된 신호를 출력하는 신호 출력에 의해 구현된다. 개별 복조된 신호가 위치 송신기의 위치를 결정하기 위해 외부 프로세서로 전송될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 제 1 복조된 신호 또는 제 2 복조된 신호를 선형화하는 디바이스는 Goertzel 필터 뱅크로부터 하류에 접속된다. 개별 복조된 신호가 효율적으로 추가로 프로세싱될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 대역통과 필터는 주파수 변환기로부터 하류에 접속된다. 개별 중간 주파수 신호가 주파수 변환기의 출력 신호에서 효율적으로 필터링될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 증폭기가 주파수 변환기로부터 하류에 접속된다. 개별 중간 주파수 신호의 레벨 적응이 실행될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 주파수 변환기는 제 3 전기 신호를 제 2 전기 신호와 믹싱하는 제 1 믹서, 및 제 4 전기 신호를 제 2 전기 신호와 믹싱하는 제 2 믹서를 포함한다. 개별 중간 주파수 신호가 효율적으로 발생될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 위치 센서는 제 1 전기 신호 소스 및 제 2 전기 신호 소스로 구현된다. 위치 센서의 어셈블리가 단순화될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 증폭기는 제 1 전기 신호 소스 또는 제 2 전기 신호 소스로부터 하류에 접속된다. 제 1 전기 신호 또는 제 2 전기 신호의 레벨 적응이 실행될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 위치 센서는 제 3 주파수를 가지는 추가적인 전기 신호를 발생시키는 주파수 발생기로 구현되며, 제 1 전기 신호 소스는 추가적인 전기 신호에 기초하여 제 1 전기 신호를 발생시키기 위해 구현되며, 제 2 전기 신호 소스는 추가적인 전기 신호에 기초하여 제 2 전기 신호를 발생시키기 위해 구현된다. 제 1 전기 신호 및 제 2 전기 신호를 발생시키는 마스터 신호가 제공될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다. 예를 들어, 주파수 발생기는 마스터 발진기를 포함하며, 제 3 주파수는 100 kHz, 250 kHz, 500 kHz, 750 kHz, 1 MHz, 2.5 MHz, 5 MHz, 7.5 MHz, 10 MHz, 25 MHz, 50 MHz, 75 MHz, 100 MHz, 250 MHz, 500 MHz, 750 MHz 또는 1 GHz 이다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 제 1 주파수 또는 제 2 주파수는 제 3 주파수의 정수배 (integral multiple) 이거나, 또는 제 3 주파수는 제 1 주파수 또는 제 2 주파수의 정수배이다. 제 1 전기 신호 또는 제 2 전기 신호가 주파수 제곱 (duplication) 에 의해 또는 주파수 분할에 의해 효율적으로 발생될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
추가적인 유리한 실시형태에서, 제 1 전기 신호 소스는 추가적인 전기 신호에 기초하여 제 1 주파수를 가지는 제 1 전기 신호를 발생시키는 신시사이저를 포함하거나, 또는 제 2 전기 신호 소스는 추가적인 전기 신호에 기초하여 제 2 주파수를 가지는 제 2 전기 신호를 발생시키는 신시사이저를 포함한다. 제 1 전기 신호 또는 제 2 전기 신호가 효율적으로 발생될 수 있는 이점이 이를 통해서 달성된다.
본 발명의 예시적인 실시형태들이 도면들에서 예시되며 아래에서 더 자세히 설명될 것이다.
도 1 은 일 실시형태에 따른, 위치 센서의 개략 예시도를 나타낸다.
도 2 는 캐리어 및 동일한 주파수 및 위상 위치의 추가된 캐리어를 가진 양측파대 AM 의 적합한 위상 곱셈에 의한, 동기 복조의 변환 프로세스의 스펙트럼의 질적 예시도를 나타낸다.
도 3 은 주파수 변환기의 동작 원리를 나타낸다.
도 4 는 회로 보드 및 위치 송신기를 포함하는 배열을 나타낸다.
도 5 는 추가적인 실시형태에 따른, 위치 센서의 개략 예시도를 나타낸다.
도 6 은 높은-주파수 범위로부터 중간 주파수 범위로의 주파수 변환의 스펙트럼의 질적 예시도를 나타낸다.
도 7 은 일 실시형태에 따른 신시사이저의 개략 예시도를 나타낸다
도 8 은 추가적인 실시형태에 따른, 신시사이저의 개략 예시도를 나타낸다.
도 9 는 높은-주파수 범위로부터 중간 주파수 범위로의 2-스테이지 주파수 변환의 스펙트럼의 질적 예시도를 나타낸다.
도 10 은 추가 실시형태에 따른, 위치 센서의 개략 예시도를 나타낸다.
도 1 은 일 실시형태에 따른, 위치 센서 (100) 의 개략 예시도를 나타낸다. 위치 센서 (100) 는 1차 코일 (101), 제 1 의 2차 코일 (103), 제 2 의 2차 코일 (105), 주파수 변환기 (107) 및 Goertzel 필터 뱅크 (109) 를 포함한다.
위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서 (100) 로서, 상기 위치 센서 (100) 는 제 1 주파수를 가지는 제 1 전기 신호를 출력하기 위해서 제 1 전기 신호 소스에, 그리고 제 2 주파수를 가지는 제 2 전기 신호를 출력하기 위해 제 2 전기 신호 소스에 접속될 수 있으며, 상기 위치 센서 (100) 는 제 1 주파수를 가지는 교번 자기장을 발생시키는 1차 코일 (101); 1차 코일 (101) 에 위치 송신기에 의해 각각 자기적으로 커플링될 수 있는, 제 1 의 2차 코일 (103) 및 제 2 의 2차 코일 (105) 로서, 발생된 교번 자기장에 의해 제 1 의 2차 코일 (103) 에서 제 3 전기 신호가 유도될 수 있으며 제 2 의 2차 코일 (105) 에서 제 4 전기 신호가 유도될 수 있는, 상기 제 1 의 2차 코일 (103) 및 제 2 의 2차 코일 (105); 제 3 전기 신호를 제 1 중간 주파수 신호로 변환하고 제 4 전기 신호를 제 2 중간 주파수 신호로 변환하며, 제 2 전기 신호 소스에 접속가능한, 주파수 변환기 (107); 및 제 1 복조된 신호를 획득하기 위해 제 1 중간 주파수 신호의 복조를 위한, 그리고 제 2 복조된 신호를 획득하기 위해 제 2 중간 주파수 신호의 복조를 위한 Goertzel 필터 뱅크 (109) 로 구현될 수 있다.
위치 송신기는 수동 공진 회로 및/또는 금속 엘리먼트, 예컨대, 금속 타겟을 포함할 수 있거나, 또는 수동 공진 회로 및/또는 금속 엘리먼트, 예컨대, 금속 타겟으로 형성될 수 있다. 제 1 전기 신호 소스는 또한 캐리어 주파수 발생기를 포함하거나 또는 형성할 수 있다. 제 2 전기 신호 소스는 또한 로컬 발진기 (LO) 를 포함하거나 또는 형성할 수 있다. 예를 들어, 개별 전기 신호 소스는 주파수 발생기, 공진 회로 및/또는 전압-제어형 발진기, 예컨대, 전압 제어형 발진기 (VCO) 를 포함한다. 일 실시형태에 따르면, 제 1 전기 신호 소스와 제 2 전기 신호 소스는 접속될 수 있거나 또는 마스터 발진기에 접속가능할 수 있으며, 이에 의해 기준 신호가 발생될 수 있다.
개별 주파수는 미리 결정될 수 있거나 또는 개별 전기 신호 소스의 액츄에이션 엘리먼트, 예컨대 스위치, 회전식 노브 또는 이중 인-라인 패키지 (DIP) 스위칭 엘리먼트에 의해 조정될 수 있다. 예를 들어, 개별 주파수는 100 kHz, 250 kHz, 500 kHz, 750 kHz, 1 MHz, 2.5 MHz, 5 MHz, 7.5 MHz, 10 MHz, 25 MHz, 50 MHz, 75 MHz, 100 MHz, 250 MHz, 500 MHz, 750 MHz 또는 1 GHz 이다. 일 실시형태에 따르면, 제 2 주파수는 제 1 주파수보다 작거나 또는 클 수 있다.
1차 코일 (101) 및 개별 2차 코일들 (103, 105) 은 차동 변압기를 형성할 수 있거나 또는 차동 변압기에 포함될 수 있다.
주파수 변환기 (107) 는 제 3 전기 신호 및/또는 제 4 전기 신호를 하부 중간 주파수 범위로 변환하는 믹서를 포함할 수 있다. Goertzel 필터 뱅크 (109) 는 또한 Goertzel 알고리즘에 따른 제 1 중간 주파수 신호 및/또는 제 2 전기 중간 주파수 신호의 복조를 위한, Goertzel 필터와 같은, 필터 엘리먼트를 포함할 수 있다.
일 실시형태에 따르면, 2차 출력 변수가 제 1 주파수와 같은 1차-측 캐리어 주파수의, 위치 송신기 또는 각도 송신기의 함수로서 진폭-변조된 전압을 나타내는 송신기들에 기초한 센서가, 유도 위치 및 각도 센서 기술에서, 예컨대, 위치 센서 (100) 의 경우에 사용될 수 있다. 캐리어들을 가진 소위 양측파대 진폭 변조 (AM) 는 따라서 2차측 상에 생성될 수 있다. 따라서, 선택된 특정의 측정 방법들에 따른 진폭-변조된 2차 전압들의 정밀 복조 및 추가적인 프로세싱에 의해 절대 거리 또는 각도에 관해 결론이 도출될 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 위치 센서 (100) 의 동작의 모드는 예를 들어, 커플링하는 소프트-자기 코어의 위치가 위치 송신기로서 기능할 수 있는 영구 자석 선형 비접촉 변위 (PLCD) 방법의 경우, 또는 소프트-자기 코어에서의 영구 자석 또는 포화 존 (saturation zone) 이 위치를 규정할 수 있는 선형 유도 위치 센서 (LIPS) 의 경우에서와 같이, 2차 전압들의 차이의 평가에 기초할 수 있다. 이들 센서들은 종종 코어 재료로 인해, kHz 범위에서, 제 1 주파수와 같은, 상대적으로 낮은 캐리어 주파수들로, 동작된다.
추가 실시형태에 따르면, 위치 센서 (100) 의 동작의 모드는, 캐리어를 가진 양측파대 AM 의 엄격한 위상 관계를 가지는 사인파 및 코사인파 엔벨로프들이 대응하는 위치 송신기 또는 위치 인코더, 예를 들어, 와전류 효과를 가지는 단락 회로 (short-circuit) 플레이트에 의해 2차측 상에 초래할 수 있도록, 1차 코일 (101) 및/또는 개별 2차 코일들 (103, 105) 의 권선 (windings) 이 특정 클리어 패턴에 따라서 구현되는 방법에 기초할 수 있다. 위치 송신기의 위치 또는 로케이션은 지원되는 사인 및 코사인 함수의 AM 복조에 의해 아크 탄젠트 함수들을 통해서 계산될 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 1차 코일 (101) 또는 사용된 송신기는 코어 없이 그리고 예를 들어, 프린트 코일로서 적은 1차 권선으로 구현될 수 있다. 대부분의 경우, 제 1 주파수 또는 캐리어 주파수는 도달되는 작은 1차 메인 인덕턴스로 인해 낮은 MHz 범위일 수 있으며, 이에 의해 1차 코일 (100) 또는 송신기의 최소의 송신 효율이 보존된다. 낮은 캐리어 주파수들의 경우, 전압 변환 비는 현저하게 더 나쁜 것으로 나타날 수 있으며, 더 이상은 주로 1차/2차 권선 비 및 커플링 레벨과 같은, 기계 설계에 의해 결정되지 않고, 주로 예컨대, 1차 메인 인덕턴스 또는 그의 임피던스의 1차 코일 (101) 의 사이즈에 의해 결정될 수 있다. 고주파수 (HF) 범위, 즉, 1 MHz 이상에서의 이 제 1 주파수 또는 캐리어 주파수의 사용이 아래에서 고려될 것이다.
추가 실시형태에 따르면, 아날로그 승산기의 유형인 코히런트 (coherent) 복조하는 동기 복조기가 정밀 복조기로서 사용될 수 있다. 전자는 고려되는 높은-주파수 범위에서 기술적인 및 경제적인 이점들을 제공할 수 있는데, 한편으로는, 그것이 상대적으로 용이하게 제조되어 통합될 수 있기 때문에, 그리고 다른 한편으로는, 아날로그 정밀 복조가 이 주파수 범위에서 그에 의해 가능해질 수 있기 때문이다. 이 상황에서, 정밀 복조는, AM 신호의 변조 레벨이 아주 크더라도, 캐리어로부터의 메시지 정보의 왜곡-없는 분리를 의미하며, 따라서 2차-측 신호 혼합물이 어떤 시점들에서 아주 작은 것으로 나타날 수 있다. 캐리어를 가진 양측파대 AM 이 주파수 및 위상 위치가 캐리어를 가진 양측파대 AM 에서 원래 주파수 및 위상 위치에 대응하는 추가된 반송파에 의해 변조된다는 점에서, 이 복조기에서, 동기적 변조 프로세스가 일어날 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 승산기는 다음 전달 함수를 가질 수 있다:
Figure pct00001
여기서, uDe 는 승산기에 의해 출력된 전기 신호의 전압 값을 식별하고, uM 은 제 3 전기 신호 또는 제 4 전기 신호의 전압 값을 식별하며, uLO 는 제 2 전기 신호의 전압 값을 식별하고, t 는 시간을 식별한다.
추가 실시형태에 따르면, 캐리어를 가진, 복조될, AM 신호는 다음과 같이 주어질 수 있으며,
Figure pct00002
여기서, m 은 변조의 레벨을 식별한다. 더욱이, 제 2 전기 신호, 또는 원래 반송파에 대비하여 추정되는 위상 시프트 φLO 를 가지는 추가된 반송파 uLO(t) 는 다음과 같이 주어질 수 있다
Figure pct00003
추가 실시형태에 따르면, uDe(t) 및 uLO(t) 가 동기 복조기에 공급될 수 있다. 그의 출력 신호는 다음과 같이 주어질 수 있다
Figure pct00004
그 계산은 복조 결과물의 스펙트럼에서의 변조 신호 파에 더해서, 반송파의 2배 주파수에 대한 횡파들 (lateral waves) 이 또한 나타날 수 있다는 것을 보여 준다. 추가적인 신호 프로세싱의 과정에서, 그들은 저역 통과 필터들에 의해 억제될 수 있다. 또한, 이와 같이 획득된 신호 파의 진폭이 원래 변조 신호의 함수일 뿐만 아니라 원래 캐리어와 비교하여 추가된 캐리어의 위상 시프트 φLO 의 함수일 수 있다는 것을 볼 수 있다. 위상 차이의 요동들은 개별 복조된 신호의 경우에 진폭 변화들로서 인지될 수 있다. 90° 의 홀수 배수들의 위상 시프트에 응답하여, 신호 진폭은 제로가 될 수 있다. 이로부터, 코히런트한 동기 복조에 응답한 위상 위치의 유의도를 알 수 있다. 위상 조건을 무시할 때, 복조 에러들이 또한 나타날 수 있다.
도 2 는 캐리어 및 동일한 주파수 및 위상 위치의 추가된 캐리어를 가진 양측파대 AM 의 적합한 위상 곱셈에 의한, 동기 복조의 변환 프로세스의 스펙트럼의 질적 예시도를 나타낸다.
변환 프로세스의 스펙트럼의 예시도가 도 2 에 규정된다. 2차측 상에 캐리어 신호들을 가진 2개의 양측파대 AM들이 동기 복조기를 통해서 복조될 수 있다. 동기 복조기의 입력 신호 (201) 및 출력 신호 (203) 가 또한 예시된다.
제 1 대안에서, 추가된 캐리어가 1차 캐리어 신호로부터 유도된다. 이 대안에서는, 위상 에러들에 관련한 에러없는 복조는, 바로, 1차 코일 (101) 및 개별 2차 코일들 (103, 105) 에 의해 형성될 수 있는, 송신기의 송신 경로가 어떻든간에 임의의 위상 시프트를 발생시키지 않을 때이다. 물론 또한 거리, 각도, 온도 또는 시간의 함수일 수 있는 캐리어 위상 위치에 대한, 2차측 상의 위상 위치의 임의의 변화가 복조 결과를 왜곡할 수 있다.
제 2 대안에서, 2차-측 상에 캐리어 신호를 가진 양측파대 AM 으로부터의 추가된 캐리어가 재발생되며, 이에 의해 송신기에 의해 초래되는 위상 에러들이 원칙적으로 더 이상 영향을 미치지 않을 수 있다. 이에 의해, 특히, 변조의 레벨이 아주 커지면, 예를 들어, 1 에 가까워지면, 따라서 신호 혼합물이 간헐적으로 재발생이 좀더 어려워질 수 있는 정도로 아주 작아지면, AM 신호로부터 캐리어의 재발생이 광범위할 수 있으며, 이에 의해, 실제로 유리한, 동기 복조기는 따라서 간단한 비코히런트 (incoherent) 엔벨로프 곡선 복조기의 거동 및 정밀도를 실제로 채택할 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 언급된 보조 조건들이 정확하게 설정된다는 조건으로, 보조 캐리어와는 완전히 독립적으로, 따라서 위상-독립적으로 동작할 수 있지만, 그럼에도 불구하고 동기 복조기가 역시 가질 수 있는 정밀도를 제공할 수 있는 AM 복조 방법이, 위치 센서 (100) 에서 사용될 수 있다. 이 옵션을 제공하는 방법들이, 소위 비코히런트 AM 복조 방법들이다.
도 3 은 주파수 변환기 (107) 의 동작 원리를 나타낸다. 캐리어 발진기 (301), 로컬 발진기 (303) 및 선택적 중간 주파수 증폭기 (305) 가 또한 예시된다. 캐리어 발진기 (301) 는 주파수 fT 를 가지는 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수도 있다. 로컬 발진기 (303) 는 또한 주파수 fLO 를 가지는 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다. 주파수 변환기 (107) 는 또한 믹서를 포함할 수 있으며, 믹싱된 주파수들 fMisch 을 가지는 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다. 선택적 중간 주파수 증폭기 (305) 는 또한 대역통과 필터를 포함할 수 있으며, 주파수 fZF 를 가지는 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다.
일 실시형태에 따르면, 주파수 변환이 하부 중간 주파수 범위 ZF 에서 주파수 변환기 (107) 또는 믹서의 도움으로 사용될 수 있으며 그리고 후속 AM 복조가 비코히런트 복조 방법의 도움으로 사용될 수 있다. 구형파 신호들로 동작하고 그 구형파 신호들에 의해 프로세싱이 또한 낮은 주파수들에서 가능해 지는, 관련된 주파수 분할과는 대조적으로, 원래 변조된 정보는 주파수 믹싱에 응답하여 완전히 유지될 수 있다.
도 3 은 블록도에 의해 동작 원리를 나타낸다: 로컬 발진기 (300) 의 코사인파 캐리어 주파수 fT 및 코사인파 보조 주파수 fLO 가 주파수 변환기 (107) 에서 믹싱된다. 주파수 변환기 (107) 는 믹싱 주파수들 fMisch 이 출력 측 상에 입력 주파수들의 합 및 차동 주파수로서 나타나는 경우에, 이상적인 승산기처럼 거동할 수 있다.
일 실시형태에 따르면, 주파수 변환기 (107) 는 로컬 발진기 신호가 믹서 효율을 최적화하기 위해 시간-대칭적인 구형파 신호를 나타내는 스위칭 믹서로서 설계될 수 있다.
코사인파 캐리어 신호를 곱한, 시간-대칭적인 구형파의 푸리에 급수를 고려해 볼 때, 따라서 비변조된 코사인 신호가 여기서 가정되며, 주파수 변환기 (107) 의 출력 신호는 시간적으로 다음과 같이 표현될 수 있다:
Figure pct00005
Figure pct00006
덧셈 정리들을 이용하면, 다음과 같다:
Figure pct00007
일단 중간 주파수 (ZF) 범위로 변환되면, 간단한 및 비용-효율적인 증폭, 필터링 및 복조의 모든 옵션들이 이용가능할 수 있다. 고차 및 가능한 캐리어와 LO 나머지들의 믹싱된 결과물들은 ZF 대역 필터, 예컨대 선택적 중간 증폭기 (305) 의 대역통과 필터에 의해 억제될 수 있다.
위치 센서 (100) 의 원하는 주파수 범위에 있어 위에서 언급된 이상적인 믹서에 가장 가까워지는 대칭적인 푸시-풀 스위칭 믹서가, 개개의 이점들 및 단점들과 함께 실제로 이용가능한 복수의 믹서 원리들 중에서 예시적인 방법으로 이하에 사용될 것이다.
fT 및 fLO 의 대칭적인 신호 공급의 경우, 높은 캐리어 억제, 낮은 믹싱 손실들, 및 큰 입력 신호들의 경우에도, 예상된 믹싱된 결과물들에 더해서, ZF 범위에서 어쩌면 나타날 수도 있는 임의의 추가적인, 새로운 주파수들을 발생시키지 않는 능력을 특징으로 하는 주파수 변환기 (107) 또는 믹서가 아주 낮은 비용으로 획득될 수 있으며, 따라서 주파수 변환기 또는 믹서는 높은 큰 신호 안정성을 갖는다.
도 4 는 회로 보드 (401) 및 위치 송신기 (403) 를 포함하는 배열을 나타낸다. 1차 코일 (101), 제 1 의 2차 코일 (103) 및 제 2 의 2차 코일 (105) 은 회로 보드 (401) 상에 배열된다. 위치 송신기 (403) 는, 타겟 처럼, 또한 코일 (405) 및 커패시터 (407) 를 포함하는 공진 병렬 공진 회로를 포함한다.
배열은 철이 없는 평면 변압기이다. 1차 코일 (101), 예를 들어, 여기 권선, 및 개별 2차 코일들 (103, 105), 예를 들어, 센서 권선이, 정지된 회로 보드 (401) 에 부착된다.
개별 2차 코일들 (103, 105), 예컨대 센서 코일들은, 위치 송신기 (403) 가 미싱 (missing) 일 때 1차 코일 (101) 또는 1차 권선의 유도된 전압들이 서로 상쇄하는 방식으로 개별적으로 각각 배열된다. 이것은 바람직하게는, 위상이 반전하는 권선에 의해 실현될 수 있다. 각각의 폐쇄된 (enclosed) 권선의 표면 영역들은 항상 동일할 수 있다. 고주파수 AC 전압이, 예를 들어, 하부 MHz 범위에서, 여기 권선에 지금 인가되고 있다. 개별 2차 코일들 (103, 105) 은 그의 출력 신호들이 사인 및 코사인 파 패턴을 나타내는 방식으로 기하학적으로 배열될 수 있다.
일 실시형태에 따르면, 센서 기하학적 구조에 적응된, 금속 타겟과 같은, 금속 엘리먼트가, 개별 2차 코일들 (103, 105) 의 센서 권선의 어떤 영역들을 감쇠시키기 위해, 위치를 결정하기 위해 회로 보드 (401) 를 가로질러 안내될 수 있다. 이 감쇠는 금속 엘리먼트에서의 유도된 와전류들에 의해 생성된다. 개별 출력 신호는 미감쇠된 개별 2차 코일들 (103, 105) 의 부분으로부터 뒤따를 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 위치 송신기 (403) 는 수동 공진 회로를 포함한다. 후자는 평면 코일과 같은 코일 (405), 및 커패시턴스와 같은 커패시터 (407) 를 포함할 수 있다. 수동 공진 회로의 공진 주파수는 또한 1차 코일 (101) 의 여기 주파수와 같은, 제 1 주파수에 적응될 수 있다. 이 기술은 여러 이점들을 가질 수 있다. 2차 권선과 같은 개별 2차 코일들 (103, 105) 의 출력 신호들이 미감쇠된 부분으로부터 유래하지 않는다는 점에서 하나의 이점이 제공될 수 있다. 향상된 신호 송신이 타겟과 같은, 위치 송신기 (403) 의 설계에 의해, 제 1 주파수를 가지는 공진으로, 얻어질 수 있다. 이에 의해 큐 인자 (quality factor) 가 금속 엘리먼트 또는 금속 타겟의 경우에서 보다 10배 더 높을 수 있다. 이 배열의 추가적인 이점은 낮은 거리 감도에 의해 제공될 수 있다. 이미 설명한 바와 같이, LC 타겟과 같은, 위치 송신기 (403) 의 공진 주파수는 제 1 주파수용으로 설계된다. 상대적으로 좁은-대역 주파수 범위에서, 센서 코일들과 같은, 개별 2차 코일들 (103, 105) 은 타겟과 같은, 위치 송신기 (403) 의 위치 및 변화에 반응한다. 제 1 주파수가 변경되고 공진 회로의 공진 주파수를 벗어나면, 위치 센서 (100) 는 그의 효과를 상실할 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 제 1 주파수는 1.5 MHz 과 6 MHz 사이의 범위일 수 있다. 이에 따라서, 1.5 MHz 는 당면한 변압기 설계를 포함하는 유도 측정 원리의 하부 기능적 한계를 대략 표시할 수 있지만, 예시적인 방법에서 본원에서 사용되는 대칭적인 푸시-풀 스위칭 믹서는 대략 6 MHz 까지 사용될 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 주파수 변환기 (107) 에서 변환 프로세스를 초래하는 중간 주파수 (ZF) 주파수는 fZF < 200 kHz 일 수 있다. 작은 ZF 주파수들이 간단한, 따라서 비용-효율적인 아날로그 신호 사전 프로세싱에 현저하게 기여할 수 있기 때문에, ZF 주파수는 바람직하게는 fZF < 100 kHz 일 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 비코히런트 AM 복조와 같은, 대부분의 신호 프로세싱은 디지털 형태로 일어날 수 있다. μC 와 같은, 마이크로제어기가 이 목적에 이용될 수 있으며 최적으로 즉, 디지털 신호 프로세싱에 더해서, 이용될 수 있으며, 상기 마이크로제어기는 또한 추가적인 태스크들, 예를 들어, 캐리어 및 로컬 발진기 주파수와 같은, 제 1 주파수 및 제 2 주파수의 발생을 위해 이용될 수 있다. 아날로그 복조기가 또한 일정한 원리에 따라 이용될 수 있더라도, 마이크로제어기를 이용함으로써 비용 감소가 달성될 수 있다.
도 5 는 추가 실시형태에 따른, 위치 센서 (100) 의 개략 예시도를 나타낸다. 위치 센서 (100) 는 1차 코일 (101), 개별 2차 코일들 (103, 105), 2개의 믹서들 (501) 을 포함하는 주파수 변환기 (107), 대역통과 필터를 각각의 경우에 포함하는 2개의 선택적 중간 주파수 증폭기들 (305), 아날로그-디지털 변환기 (503), 신호 윈도우잉을 위한 2개의 디바이스들 (505), 2개의 Goertzel 필터들 (507) 을 포함하는 Goertzel 필터 뱅크 (109), 선형화를 위한 2개의 디바이스들 (509), 2개의 신호 출력들 (511), 증폭기 (513), 마스터 발진기 (515), 2개의 타이머들 (517, 519), 및 신시사이저 (521) 를 포함한다. 아날로그-디지털 변환기 (503), 신호 윈도우잉을 위한 디바이스들 (505), Goertzel 필터 뱅크 (109), 선형화를 위한 디바이스들 (509), 신호 출력들 (511), 마스터 발진기 (515), 및 타이머들 (517, 519) 은 디지털 신호 프로세싱을 가지는 μC 와 같은 마이크로제어기 (523) 에 배열된다. 1차 코일 (101) 및 개별 2차 코일들 (103, 105) 이 또한 회로 보드 (401) 상에 배열된다.
증폭기 (513) 는 1차 제어기를 형성할 수 있다. 타이머 (519) 는 또한 제 1 전기 신호 소스를 형성할 수 있다. 타이머 (517) 및 신시사이저 (521) 는 또한 제 2 전기 신호 소스를 형성할 수 있다. 마스터 발진기 (515) 는 또한 제 3 주파수를 가지는 추가적인 전기 신호를 발생시키는 주파수 발생기를 형성할 수 있다. 선형화를 위한 디바이스들 (509) 은 또한 특성 곡선 보정을 수행하기 위해 구현될 수 있다. 신호 출력들 (511) 은 또한 디지털 또는 아날로그 출력 인터페이스들일 수 있다. 제 1 의 2차 코일 (103) 에서 시작하는 신호 프로세싱 경로는, 또한 사인 경로일 수 있으며; 제 2 의 2차 코일 (105) 에서 시작하는 신호 프로세싱 경로는, 또한 코사인 경로일 수 있다. 회로 보드 (401), 1차 코일 (101) 및 개별 2차 코일들 (103, 105) 은 또한 사인/코사인 송신기를 형성할 수 있다.
타이머 (519) 는 제 1 주파수 fT 를 가지는 제 1 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다. 신시사이저는 또한 제 2 주파수 fLO 를 가지는 제 2 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다. 선택적 중간 주파수 증폭기들 (305) 은 각각의 경우 또한 주파수 fZF 를 가지는 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다. 타이머 (517) 는 또한 주파수 fh 를 가지는 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다.
일 실시형태에 따르면, 도 5 에 나타낸 위치 센서 (100) 는 소위 추가적인 디지털 신호 프로세싱의 베이스 대역으로의 주파수 변환을 가지는 실현 옵션을 나타낼 수 있다. 이 상황에서, 베이스 대역은 측방향 주파수들에 더해서, 변환 프로세스에 의해 발생된 ZF 주파수가 0 내지 사용된 아날로그-디지털 변환기 (503) 의 샘플링 주파수의 절반의 범위일 수 있는 주파수 범위 내에서 나타난다는 것을 의미한다. 따라서, 샘플링 프로세스가 일반적인 샘플링 정리에 따라서 에러없는 방법으로 일어날 수 있다. 이 신호 흐름에 뒤이어서, 비-예시된 위치 송신기 (403) 를 이동시킴으로써 반송파의 사인파 또는 코사인파 엔벨로프가, 각각, 일시적으로 발생하는 방식으로 그의 개별 2차 코일들 (103, 105) 이 구현되는 이미 설명된 송신기가 처음에는 도 5 에서 좌측 영역에 배열된다. 1차 측 상에서, 제어는 캐리어 주파수 발생기에 의해 발생할 수 있다. 사인파 또는 코사인파 엔벨로프들을 각각 가지는 신호들의 추가적인 아날로그 프로세싱이 동일한 특성들을 각각 가질 수 있는, 대응하는 사인 경로에서 또는 코사인 경로에서, 각각의 신호에 대해 별개로 발생한다. 지원된 사인 신호는 후속 믹서 (501) 에서 제 2 주파수를 가지는 제 2 전기 신호의 도움으로 중간 주파수 범위로 처음에 변환된다. 후속 선택적 중간 주파수 증폭기 (305) 는 한편 원하지 않는 더 높은 믹싱된 결과물들로부터 그 신호를 제거하며, 아날로그-디지털 변환기 (503) 에서의 후속 샘플링 프로세스에 대해 안티-에일리어싱 필터로서 또한 기능할 수 있다. 레벨 적응이 또한 후속 아날로그-디지털 변환기 (503) 가 충분히 제어될 수 있도록 발생한다.
도 6 은 높은-주파수 범위로부터 중간 주파수 범위로의 주파수 변환의 스펙트럼의 질적 예시도를 나타낸다. 예를 들어, 중간 주파수 범위는 베이스 대역을 정의한다.
일 실시형태에 따르면, 신호 프로세싱은 아날로그 대 디지털 변환에 의해 디지털 방식으로 일어날 수 있다. 상기 신호 프로세싱은 또한 2개의 위상들에서, 예를 들어, 마이크로제어기 (523) 또는 μC 에서의 시분할에 의해 발생할 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 1-지점 이산 푸리에 변환 (DFT) 과 같은, Goertzel 알고리즘이 디지털 AM 복조 방법으로서 이용될 수 있다. 1-지점 DFT 의 계산에 의해, 진폭-변조된 ZF 신호의 정밀 복조가 아주 간단한 방법으로 실행될 수 있다. 게다가, 그의 사용은 추가적인 이점들을 초래한다:
Figure pct00008
선택적 복조 프로세스가 일어날 수 있으며, 한번 고정적으로 선택되고 변경할 수 없게 설정된 파라미터들을 포함하는, 그의 디지털 필터는 아날로그 ZF 필터에의 추가를 나타낼 수 있다.
Figure pct00009
오버샘플링 및 데시메이션 (decimation) 의 원리에 기초하여, 상당한 전체 신호 품질의 향상은 파라미터화의 함수로서, Goertzel 알고리즘과 연관될 수 있다. 더 높은 효과적인 디지털 해상도는 측정 변수의 신호-대-잡음비의 이득을 수반할 수 있다.
Figure pct00010
Goertzel 파라미터들: 예컨대, 블록 사이즈 N 과 같은, DFT 의 중요한 파라미터들의 유연한 선택은 오버샘플링의 레벨, 따라서 신호 품질 뿐만 아니라 Goertzel 필터의 대역폭에 직접 영향을 미칠 수 있다. 이와 전혀 다른 것은 예를 들어, AM-ZF 신호의 최대 프로세싱가능한 변조 주파수 또는 프로세싱 시간, 예컨대 그룹 지연과 같은, 중요한 센서 파라미터들이다. 이것은 측정 결과로서 물리적인 변수의 변화를 디스플레이하도록 요구되는 시간이며, 그의 에러없는 검출은 또한, 예를 들어, 블록 사이즈 N 의 함수이다. Goertzel 파라미터들의 유연한 정의로 인해, 타협안을 찾는 것이 이에 의해 용이해질 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 신호 블록 "윈도우잉" 과 같은, 신호 윈도우잉을 위한 디바이스 (505) 를, Goertzel 필터 뱅크 (109) 또는 Goertzel 필터 (507) 의 상류에 접속하는 것이 유리할 수 있다. 심지어 예컨대, ZF 평면에서의 변환된 캐리어와 같은, 발생된 주파수들은 그의 주파수가 항상 샘플링 주파수의 정수배 또는 디바이더 (integral multiple or divider) 인 방법으로 선택될 수 있으며, 따라서 특정의 윈도우 함수 없이 에러없는 방법으로 프로세싱될 수 있지만, 이것은 종종 ZF 위치에서 AM 신호의 측방향 주파수들 (lateral frequencies) 에 대해 적용되지 않는다.
추가 실시형태에 따르면, 측방향 주파수들은 감지되는 물리적인 변수에 의해 결정될 수 있으며, 따라서 샘플링 주파수에 대한 임의의 비일 수 있다. 이것은 특히, AM 의 캐리어로부터, 측방향 주파수들과 같은, 더 높은 변조 주파수들의 경우에, 어떤 특정의 윈도우 함수도 없는 것과 같은 것을 의미하는, 구형파 윈도우를 이용할 때, 선형 왜곡들을 초래할 수 있다: AM 변조 주파수의 함수로서, 캐리어 근처에서의 낮은 주파수들은 높은 진폭으로 복조되지만, 캐리어로부터 멀리 떨어져 로케이트된 더 높은 주파수들은 종종 현저하게 낮은 진폭으로 복조되도록, Goertzel 필터 (507) 에 의해 가중이 이루어질 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 윈도우 함수의 유형은 에지 경사도 (steepness) 와 같은, 선택도에 대한 Goertzel 필터 (507) 의 투과율과, 그러나 또한 통과 대역 영역의 사용가능한 폭을 중요하게 공동 결정할 수 있다. 다시 말해서, 정확하게 선택된 블록 길이 N 에 더해서, 윈도우 함수가 Goertzel 필터 (505) 의 유형으로 디지털 AM 복조기의 진폭 출력을 결정한다고 요약하여, 확언될 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 추가적인 디지털 신호 프로세싱은 선형화를 위한 디바이스들 (509), 또는 특히 디지털 형태로 용이하게 수행될 수 있는 복조된 사인 또는 코사인 함수의 선형화를 위한 스테이지에 의해, 달성될 수 있다. 예컨대, 단편 단위 (piece by piece) 선형 근사와 같은, 간단한 방법들은 관리가능한 추가적인 컴퓨팅 시간을 나타낼 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 복조된 사인 및 코사인 신호들은 신호 출력들 (511) 상에서, 예컨대, 출력 인터페이스들 상에서의 추가적인 프로세싱을 위해 아날로그로 또는 디지털로 출력될 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 이용되거나 또는 발견될 수 있는 주파수들은 다음 지점들에 기초하여, 복조 방법으로서 Goertzel 알고리즘의 사용에 기초하여 선택될 수 있다:
Figure pct00011
개별 전기 신호들의 개별 주파수들, 캐리어 주파수, 로컬 발진기 주파수, 샘플링 주파수, 및/또는 디지털 신호 프로세싱의 스위칭 주파수들과 같은, 신호 프로세싱 프로세스에 수반되는 주파수들의 모두가 마스터 발진기 (515) 와 같은, 공통 시간 베이스로부터 유도될 수 있다. Goertzel 알고리즘과 결합하여, 이로부터 얻어질 수 있는 이점은, 마스터 발진기 (515) 의 주파수 편차들이 ZF 주파수의 절대값에 영향을 미치더라도, 궁극적으로 그 복조의 결과에 기초하여 어떤 영향도 미치지 않는다는 점이다. 발생된 주파수들의 서로 간의 엄격한 커플링으로 인해, Goertzel 필터 (507) 의 중심 주파수는 ZF 주파수와 일치시키는 방식으로 비례하여 조정될 수 있다. 이 콘스텔레이션에서, Goertzel 필터 (507) 는 ZF 주파수를 따라서 얼마간 진행하고 ZF 주파수로 조정되는 필터를 나타낼 수 있다.
Figure pct00012
베이스 대역에서의 신호 프로세싱의 경우, 믹싱에 의해 발생된 ZF 주파수는 샘플링 정리를 만족시키기 위해, 주파수 범위 0 < fZF < FS/2 이내일 수 있다. 0 에 가깝거나 또는 샘플링 주파수의 절반에 가깝게 배열될 때, ZF 신호가 상기 조건들을 또한 만족시킬 수 있는 측방향 주파수들을 가지는 변조된 신호라고 간주될 수 있다.
Figure pct00013
샘플링 주파수는 ZF 주파수의 정수배일 수 있다. 따라서 Goertzel 필터 (507) 의 치수화 (dimensioning) 가 용이해 질 수 있다. 또한, ZF 위치로 변환되는 캐리어가, Goertzel 필터 (507) 의 통과 대역의 중심 주파수와 항상 일치한다는 것이 달성될 수 있다. 이에 의해, Goertzel 필터 (507) 의 통과-대역에 대한 ZF 신호에서의 측방향 주파수들의 비대칭 위치에 의해 유발되는 복조된 신호의 비선형 왜곡들은 회피되거나 또는 적어도 감소될 수 있다.
예를 들어, 다음 값들이 조정된다. 그들은 따라서 그로부터 유도되고 적응되는 추가적인 주파수들에 대한 베이스로서 기능한다:
마스터 발진기 (515) 의 메인 스위칭 주파수: fmc= 24 MHz.
양쪽의 경로들에 대한 샘플링 주파수: fS= 160 kHz.
추가 실시형태에 따르면, 위치 센서 (100) 는 특히, 도 5 에 예시된 마이크로제어기 (523) 의 타이머들 (517, 519) 이 캐리어 주파수 fT 및 로컬 발진기와 같은 신시사이저 (521) 의 주파수 fLO 를 발생시키기 위해 직접 사용될 수 있을 때, 마이크로제어기 (523) 에 이들 어셈블리들을 통합함으로써, 더욱 비용-효율적인 방법으로 제조될 수 있다. 마이크로제어기 (523)-내부 타이머들 (517, 519) 이 단지 메인 스위칭 주파수를 적분 디바이더 인자들 (integral divider factors) 로 나눈 주파수들을 발생시킨다는 사실로 인해, 어림 계산은 ZF 주파수 및 최소 캐리어 주파수의 위치에 대한 상기 조건들이 추가적인 노력 없이는 만족될 수 없다는 점을 이미 나타낸다. 위에서 언급된 이유들로 얻을려고 노력하는 실현가능한 작은 ZF 주파수가 다음의 경우에 얻어질 수 있다:
Figure pct00014
관계들
Figure pct00015
및
Figure pct00016
에 따라서 fT 및 fLO 를 발생시키기 위한 디바이더 인자들 div1 및 div2 이 가능한 한 큰 경우; 및
Figure pct00017
div1 및 div2 가 1 의 양 차이를 초래하는 경우:
Figure pct00018
.
심지어 선택된 인자
Figure pct00019
및
Figure pct00020
와 함께, 낮은 캐리어 주파수 및 div1 과 div2 사이의 1 의 양 차이에 따라서, ZF 주파수 0<fZF<fS/2 에 대한 요구사항은, 그것이 fZF = fT - fLO = 1.5 MHz - 1.412 MHz
Figure pct00021
88.24 kHz 을 따르기 때문에, 어쩌면 이미 미싱되었다는 것을 알 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, "p-q 주파수 합성" 이 충분히 작은 ZF 주파수에 도달하기 위해 사용될 수 있다. 이에 의해, 매칭 LO 주파수가, 얻을려고 하는 ZF 주파수 fh 와 동일한 주파수를 가지는 보조 주파수의 적분 인자 q 에 의한 제곱에 의해 획득된다. 보조 주파수는 캐리어 주파수로부터 인자 p 에 의한 주파수 분할에 의해 먼저 획득될 수 있으며, 여기서, 다음이 적용된다: Ip-qI = 1. 상기 조건들에 대응하는 주파수 콘스텔레이션 (frequency constellation) 을 발견하기 위해, 다음과 같이 진행할 수 있다:
Figure pct00022
요구사항들에 대응하는 ZF 주파수를 선택하고;
Figure pct00023
요구사항들을 만족시키고 선택된 ZF 주파수의 정수배를 나타내는 제 1 주파수 또는 캐리어 주파수 fT 를 선택하고; 그리고
Figure pct00024
적분 인자들
Figure pct00025
및
Figure pct00026
를 계산한다;
상기 플로우 차트는 제한들 없이 사용될 수 있지만, 현저하게 더 작은 제곱 인자 q 로 조건들의 모두를 또한 만족시킬 수 있는 일부 주파수 조합들이 복수의 가능한 주파수 조합들 간에 발견될 수 있다. 더 작은 인자 q 는 스위칭 노력을 감소시킬 수 있으며 따라서 비용들을 절감할 수 있다.
예를 들어, 주파수들 fT = 4 MHz 및 fZF = 32 kHz 는 이러한 조합을 나타낸다. 보조 주파수는 여기서 32 kHz 가 아니며, 그러나 제곱은 또한 fLO = 4.032 MHz 의 LO 주파수를 얻기 위해 192 kHz 에서 시작할 수 있다. 그 관련된 주파수들에 대한 요구사항들의 모두가 따라서 만족될 수 있다.
도 7 은 일 실시형태에 따른, 신시사이저 (521) 의 개략 예시도를 나타낸다. 신시사이저 (521) 는 주파수 제곱기 (duplicator) 로서 그리고 신호 및 시간-대칭적인 구형파 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다. 신시사이저는 또한 위상 검출기 (701), 저역 통과 필터와 같은 루프 필터 (703), 전압-제어형 발진기 (705), 예컨대, 전압 제어형 발진기 (VCO), D-플립-플롭과 같은 플립-플롭 (707), 및 주파수 디바이더 (709) 를 포함한다.
위상 검출기 (701) 는 주파수 fH 를 가지는 전기 신호를 수신할 수 있다. 전압-제어형 발진기 (705) 는 또한 주파수 42fH 를 가지는 전기 신호를 출력할 수 있다. 플립-플롭 (707) 은 또한 주파수 21fH 를 가지는 2개의 전기 신호들을 출력할 수 있다. 주파수 디바이더 (709) 는 또한 인입하는 전기 신호의 주파수를 인자 42 로 나누도록 구현될 수도 있다.
캐리어 주파수 fT = 4 MHz 및 보조 주파수 fh = 192 kHz 는, 도 5 에 예시된 바와 같이, 마이크로제어기 (523) 의 타이머들 (517, 519) 을 경유하여 직접 발생될 수 있지만, 192 kHz 내지 4.032 MHz = fLO 의 제곱은 예컨대, PLL 주파수 신시사이저와 같은, 도 7 에 예시된 신시사이저 (521) 에 의해 일어날 수 있다. 이에 의해, 전압-제어형 발진기 (705) 의 출력 주파수가 표준 주파수 fh 의 정수배일 수 있으며, 여기서, 제곱 인자는 피드백 루프에 로케이트된 주파수 디바이더의 분할 인자에 의해 결정된다. 순수 실현가능한 이유들로 인해, 인자 q 는 요구되는 바와 같이, q=21 이 아니라, q=42 이다. 이것은 신호- 및 시간-대칭적인 구형파 신호가 바람직하게는 믹서 (501) 를 제어하는데 사용된다는 사실에 기인한다. 신시사이저 (523) 의 출력에 로케이트된 플립-플롭 (707) 은 상기 구형파 신호를 조정-없는 방식으로 제공할 수 있다. 인자 2 에 의한 주파수 분할이 플립-플롭 (707) 의 사용과 연관될 수 있다는 사실로 인해, 플립-플롭 (707) 의 출력에서의 LO 신호는 올바른 주파수 및 신호 형태로 이용가능할 수 있다.
도 8 은 추가 실시형태에 따른, 신시사이저 (521) 의 개략 예시도를 나타낸다. 신시사이저 (521) 는 고조파 주파수 제곱기로서, 그리고 신호- 및 시간-대칭적인 구형파 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다. 신시사이저는 또한 대역통과 필터를 각각의 경우에 포함할 수 있는 2개의 선택 제한기-증폭기들 (801, 803), 및 플립-플롭 (707) 을 포함한다.
선택 제한기-증폭기 (801) 는 주파수 fh 를 가지는 전기 신호를 수신할 수 있으며, 중심 주파수 fmitte = 7 fh 를 가질 수 있으며, 그리고 주파수 7fh 를 가지는 전기 신호를 출력할 수 있다. 선택 제한기-증폭기 (803) 는 또한 중심 주파수 fmitte = 6*7 fh 를 가질 수 있으며 주파수 42fh 를 가지는 전기 신호를 출력할 수 있다.
일 실시형태에 따르면, 적분 주파수 제곱 (integral frequency duplication) 을 위한 효율적인 방법은 특히, 단지 고정된 주파수만이 발생될 때 고조파 주파수 제곱기에 의해 수행될 수 있다. 스펙트럼으로 보인, ≠50% 의 펄스 듀티 인자의 경우에, 기본 주파수 fh 의 짝수 및 홀수 배수들이 종종 또한 펄스-형상의 보조 주파수 fh 에 포함될 수 있다는 사실이, 여기서 이용될 수 있다. 이것은 또한 특히, LO 주파수 fLO 를 포함할 수 있다. 선택 제한기-증폭기들 (801, 803) 과 같은, 선택적으로 조정된 증폭기 스테이지들에 의해, 이 고조파는 분리될 수 있으며 추가로 프로세싱될 수 있다. 선택 제한기-증폭기들 (801, 803) 의 선택도에 관한 요구 사항들을 작게 유지하기 위해, 제곱이 스테이지들에서 일어날 수 있다. 본원에서 예시된 예에 기초한 사용이 도 8 에 도시된다. 제곱 인자들은 fh·6·7= fh·42 = 2·fLO 로 나눠진다. 여기서, 플립-플롭 (707) 은 또한 2 의 주파수 디바이더 인자를 이용함으로써, 올바른 로컬 발진기 주파수 fLO 를 가지는 완전히 대칭적인 구형파 신호들을 보장할 수 있다.
도 9 는 높은-주파수 범위로부터 중간 주파수 범위로의 2-스테이지 주파수 변환의 스펙트럼의 질적 예시도를 나타낸다. 예시도는 제 1 개략적인 스펙트럼 (901), 제 2 개략적인 스펙트럼 (903) 및 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 을 포함한다.
이에 의해, 제 1 개략적인 스펙트럼 (901) 으로부터 제 2 개략적인 스펙트럼 (903) 으로의 전이, 그리고 그후 제 1 중간 주파수 범위로부터 제 2 중간 주파수 범위, 예컨대, 디지털 베이스 대역으로의 변환으로 나타낸 바와 같이, 높은-주파수 범위로부터 제 1 중간 주파수 범위로의 주파수 변환이 서브-샘플링에 의해 일어난다. 이것은 제 2 개략적인 스펙트럼 (903) 으로부터 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 으로의 전이로 도시된다. 도 9 에 나타낸 예시도에서, 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 은 제 1 개략적인 스펙트럼 (901) 및 제 2 개략적인 스펙트럼 (903) 과 비교하여 상이한 주파수 스케일을 갖는다.
일 실시형태에 따르면, 위치 센서 (100) 의 유효성이 다운믹싱된 ZF 주파수가 디지털 베이스 대역에서 직접 나타나지 않는 서브-샘플링 방법을 이용함으로써 추가로 증가될 수 있다. 이에 의해 신시사이저 (521) 는, 별개의 주파수 신시사이저처럼, 아래에서 나타내는 바와 같이 생략될 수 있다. 서브-샘플링 방법의 기초는 0 과 fs/2 사이의 주파수 존을 포괄하는 베이스 대역에서 뿐만 아니라, 주파수 폭 fs/2 의 끊김없이 정렬된 별개로 돌아오는 더 높은 주파수 존들에서, 샘플링에 의해 일반적으로 초래되는 아날로그-디지털 변환기 (503) 의 감도이다. 이전에 이용된 직접 베이스 대역 프로세싱의 경우, 이들 더 높은 존들에서의 신호 주파수들은, 그들이 충분히 억제되지 않는다면, 정보의 변질을 초래할 수 있는 소위 에일리어스 주파수들 (alias frequencies) 을 나타내었다. 서브-샘플링이 일어나면, 신호들은 고주파수 신호들이 저-주파수 샘플링 주파수에도 불구하고 디지털 신호 프로세싱에 액세스가능하게 될 수 있는 더 높은 주파수 존으로 의도적으로 배치된다. 서브-샘플링의 프로세스는 또한 주파수 변환으로서 이해될 수 있다. 이 경우, 샘플러는 믹싱 스테이지와 같은, 주파수 변환기 (107) 를 나타낸다. 샘플링 주파수 fs 로 나타낸 펄스-형상의 로컬 발진기 주파수에 의해, 변환이 fZF2 = Ifs-fZF1I 에 따라서 일어날 수 있으며, 여기서, fZF1 은 서브-샘플링된 신호를 나타내고 fZF2 는 서브-샘플링에 의해 디지털 베이스 대역으로 변환된 신호를 나타낸다. 이 방정식은, fZF1 이 제 3 개략적 스펙트럼 (905) 에서 2개 또는 3개의 주파수 존들 내에 있다는 조건으로, 유효할 수 있다. 더 높은 주파수 존들에서는, 개별 존들에 속하는, n-번째 샘플링 주파수가 고려될 수 있다. 디지털 베이스 대역으로의 변환이 샘플링 주파수의 고조파 배수들의 경우에 적분 인자 n 에 의해 일어난다는 사실로 인해, 서브-샘플링은 또한 고조파 샘플링으로서 지칭된다. 방금 언급된 수반된 주파수들 및 변환 프로세스의 상황이 도 9 에 예시된다: 제 1 개략적인 스펙트럼 (901) 으로부터 제 2 개략적인 스펙트럼 (903) 으로의 전이는 로컬 발진기 주파수와 믹싱하는 것에 의한 변환 프로세스를 나타내며, 여기서 제 1 (아날로그) 중간 주파수 fZF1 이 생성되지만, 서브-샘플링 프로세스는 변화된 주파수 스케일링에 응답하여 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 에 예시되며, 이때, 존 3 에 로케이트되고 따라서 샘플링 주파수보다 위인 fZF1 이 서브-샘플링에 의해 디지털 베이스 대역으로 전이된다. 방정식 fZF2=Ifs-fZF1I 가 적용된다. 발생된 제 2 중간 주파수 fZF2 는 추가적인 디지털 신호 프로세싱에 관련된 주파수이며, 그 주파수 상에서, 조정될 파라미터들이 그들 자신들을 오리엔테이트 (orientate) 할 수 있다. 제 2 ZF 가 처음에 아날로그 방식으로 제공되는 제 1 ZF 와 어떤 관계가 없지만 단지 샘플링 주파수 fs 와 fZF1 의 위치의 관계에 의해 결정된다는 사실로 인해, fZF2 는 또한 fZF1 의 해석된 주파수로서 식별될 수 있다. 서브-샘플링 방법 또는 샘플링이 일반적으로 간섭들 없이 그리고 정보 변조없이 이용될 수 있도록, 일부 조건들이 만족될 수 있다:
Figure pct00027
Nyquist 에 따른 일반적인 샘플링 정리는 이 애플리케이션에 전달된, 언급하는 것들: fs > 2·BfZF1 에 추종되어야 하며, 여기서, BfZF1 는 fZF1 의 대역폭을 나타낸다.
Figure pct00028
어떤 스테이트먼트도, 결정적인 양태라도, 스펙트럼에서 제 1 ZF 주파수의 위치에 대한 샘플링 정리와 매치하지 않는다. 여기서 적용되는 것은 ZF 신호가 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 의 주파수 존 내에서, 가능한 경우, 중심에 배열될 뿐만 아니라, 중앙에 배치될 수 있다는 것이다. 존 경계들을 지나서 측방향 주파수들과의 fZF1 의 중첩이 허용되지 않으며 유지된 대역폭 조건 fs > 2·BfZF1 에도 불구하고 정보 변조를 초래할 것이다.
도 9 에서 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 에 또한 예시된 서브-샘플링 존들 내 백색 비대칭 사다리꼴들 (trapezes) 은, 한편으로는 존 경계들을 넘어섬이 없이 광대역 신호의 올바른 위치를 상징화한 것이다. 다른 한편으로는, 서브-샘플링과 연관된 주파수 반전 (frequency inversion) 은, 주파수 존 이내이고 여기서 짝수 인 서브-샘플링된 신호들의 경우에, 베이스 대역으로의 변환으로 인식될 수 있다. 주파수 반전의 효과는 스펙트럼으로 보인, AM 변조된 ZF 신호가 항상 대칭적이기 때문에, 여기서 설명된 위치 센서 (100) 또는 위치/각도 센서에 대해 중요하지 않을 수 있다. 그 이론에 따르면, 이상적인 샘플링에 응답하여 더 높은 주파수들에 대한 서브-샘플링의 레벨에 대해 어떤 제한도 없다. HF 위치에 있는 양측파대 AM 의 직접 서브-샘플링은 또한 제 1 전기 신호 또는 캐리어 신호에 의해 수행될 수 있다. 이전에 수행된 주파수 변환은, 제 1 개략적인 스펙트럼 (901) 으로부터 제 2 개략적인 스펙트럼 (903) 으로의 변환처럼, 그후 생략될 수 있다. HF 위치에서의 신호는 서브-샘플링에 의해 디지털 베이스 대역으로 직접 변환될 수 있다. 그러나, 서브-샘플링 방법을 이용할 때, 매우 많은 한계들이 종종 고려되어야 한다:
Figure pct00029
샘플러 및 아날로그-디지털 변환기 (503) 의 아날로그 부분은 부분들에서 현저하게 더 높은 입력 주파수들을, 서브-샘플링에 응답하여, 에러없는 방법으로 프로세싱하기 위해 구현될 수 있다. 서브-샘플링용으로 명시적으로 지정되지 않은 아날로그-디지털 변환기들의 경우, 이것은 종종 만족되지 않는다.
Figure pct00030
샘플링 사이클의 지터들은 아날로그-디지털 변환기 (503) 의 효과적인 트리거링의 감소를 유발할 수 있다. 서브-샘플링을 이용할 때, 이것은 특히, 메시지 신호가 결국, 원래 지터의 배수를 또한 가질 수 있는 샘플링 사이클의 다수의 고조파로 여기서 프로세싱되기 때문에, 고려될 수 있다. 그 결과, 유효 해상도의 민감한 감소가 그와 연관될 수 있거나 또는, 즉, 동적 범위가 제한될 수 있다.
Figure pct00031
위에서 이미 규정된 바와 같이, 서브-샘플링 존에의 메시지 신호의 제한이 서브-샘플링 방법의 파괴없는 사용을 위해 수행될 수 있다. 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 에서보다 더 높은 서브-샘플링 존의 경우에서와 같이, 증가하는 서브-샘플링 인자에 의해, 에일리어스 대역 필터는 비견할만한 아날로그 필터보다 더 비효율적이고 더 비용-집약적일 수 있다. 이것은, 서브-샘플링의 레벨에 관계없이, 존 범위의 폭이 항상 fs/2 이기 때문에, 그렇다.
위에서 설명한 한계들로 인해, 1 과 2 사이의 서브-샘플링 인자가 바람직하게 선택될 수 있으며, 이에 의해 샘플링될 신호가 일반적으로 도 9 의 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 에서 주파수 존 2 내지 3 에서 나타난다.
도 10 은 추가 실시형태에 따른, 위치 센서 (100) 의 개략 예시도를 나타낸다. 도 10 에 나타낸 위치 센서 (100) 의 실시형태는 단지 신시사이저 (521) 의 생략에 의해, 도 5 에 나타낸 위치 센서 (100) 의 실시형태와 상이하다. 타이머 (517) 는 또한 예를 들어, 주파수 fLO 를 가지는 제 2 전기 신호를 출력하기 위해 구현될 수 있다.
도 10 은 또한 유도 위치 센서와 같은 위치 센서 (100) 의 기능적 그룹들을 예시하며, 그 위치 센서의 아날로그-디지털 변환기 (503) 는 ZF-평면 상에서의 AM 신호와 같은 제 1 ZF 를 여기서 서브-샘플링된 방법으로 디지털적으로 추가로 프로세싱할 수 있다. 동작의 모드에서, 그것은 도 5 에 예시된 원리의 블록도 상에 일정한 법칙에 따라서 적응된다.
도 10 은 또한 주파수 변환 및 후속 디지털 신호 복조와 함께, 고주파수 위치 센서와 같은 위치 센서 (100) 의 블록도를 나타낸다. 캐리어 및 LO 주파수의 매우 간단한 발생이 서브-샘플링에 의해 달성될 수 있다.
일 실시형태에 따르면, 외부 주파수들의 모두는 마이크로제어기 (523) 에 통합된 타이머들 (517, 519) 에 의해 발생될 수 있다.
추가 실시형태에 따르면, 위에서 규정된 바와 같은, 유사하게 요구하는 요구사항들이, 발생된 캐리어 및 로컬 발진기 주파수들 및 추가적인 내부 주파수들에 대한 참조에 대해서, 에러들을 피하기 위해 AM 복조기로서 본원에서 유사하게 사용되는 Goertzel 알고리즘에 의해, 이루어질 수 있다. 서브-샘플링에 응답한 주파수 프로세싱에 대한 예시적인 요구들이 다음과 같이 제공된다:
Figure pct00032
캐리어 주파수 범위: 1.5 MHz < fT < 6 MHz.
Figure pct00033
제 1 ZF fZF1 의 위치와 같은, ZF 범위: fZF1 < 200 kHz, 바람직하게는: fZF1 < 100 kHz.
Figure pct00034
신호 프로세싱 프로세스에서 수반되는 주파수들의 모두가 중앙 시간 베이스로부터 유도될 수 있다. 엄격한 주파수 커플링은 또한 Goertzel 필터 (507) 가 여기서 역시 ZF-동기적 방식으로 실행하는 필터로서 기능할 수 있게 한다.
Figure pct00035
마스터 발진기 (515) 의 메인 스위칭 주파수: fmc = 24 MHz.
추가 실시형태에 따르면, 추가적인 또는 적응된 요구들이 더욱더 존재할 수 있는데, 이것은 특히 서브-샘플링 방법을 이용할 때 파괴 없는 동작을 보장한다:
Figure pct00036
유사하게 위에서 설명한 바와 같이, 샘플링 주파수 fs 는 ZF 주파수의, 여기서는 특히 제 2 ZF fZF2 또는 해석된 주파수의 정수배를 나타낼 수 있다. 조정될 파라미터들이 그들 자신을 오리엔테이트할 수 있는, 서브-샘플링 방법에 응답한 디지털 신호 프로세싱을 위한 중요한 주파수가 fZF2 라는 사실로 인해, 올바른 치수화는 또한 제 2 ZF 위치로 변환되는 캐리어가 Goertzel 필터 (507) 의 통과-대역의 중심 주파수와 항상 일치할 수 있다는 것을 여기서 보장한다.
Figure pct00037
추가적인 요구사항이 소위 존 대칭 (ZS) 에 의해 제공될 수 있다. 이미 위에서 제안된 바와 같이, 제 1 ZF 주파수 fZF1 은 제 3 개략적인 스펙트럼 (905) 에 나타낸 바와 같이, 가능한 경우, 서브-샘플링 존 중심으로 변환될 수 있다. 금지된 인접한 존들, 예컨대 그로부터 초래하는 에일리어스 주파수들 각각에 대한 중심 위치 또는 대칭적인 거리는 사인 또는 코사인 엔벨로프의 주파수에 따라서 ZF 캐리어를 변조하는, 메시지 신호에 대한 최대 가능한 대역폭을 의미할 수 있다. 더욱이, 서브-샘플링 존 내 fZF1 의 중심 위치는, fZF1 가 존 경계에 가까웠던 경우보다 덜 까다로울 수 있는, 아날로그 fZF1 안티-에일리어싱 대역통과 필터의 더 간단한, 따라서, 더 비용-효율적인 설계를 가능하게 한다. 샘플링 주파수 fs 및 제 2 ZF 주파수 fZF2 의 몫이 해석된 주파수처럼 형성된다는 점에서, 존 대칭은 수치적으로 규정될 수 있으며 따라서 미리 정의될 수 있다. 적용할 수 있는 것은 다음과 같다:
Figure pct00038
. 관련된, 후속하는 주파수들의 치수화에서, ZS 는 값들 3, 4 또는 5 를 취할 수 있다. 예를 들어, ZS=4 는 fZF1 의 존-중앙 위치와의 최적 조건을 나타내며, 한편 ZS=3 또는 ZS=5 는 존 범위 내 약간의 중심 오프셋을 가지는 제 1 ZF 를 식별한다. 이 값들은, 사용가능한 결과들의 개수가 매칭하는 주파수 조합들에 대한 후속 탐색에 응답하여 너무 작아 지지 않도록, 허용될 수도 있다.
추가 실시형태에 따르면, 1차 제어를 위한 제 1 주파수 또는 캐리어 주파수 fT 뿐만 아니라 로컬 발진기의 제 2 주파수 또는 중첩 주파수 fLO 가 마이크로제어기 (523) 의 내부 타이머들 (517, 519) 에 의해 발생된다는 것에 기초하여, 고주파수 위치 센서의 치수화가 이루어질 수 있다. 이 가정이 알맞은지 여부를 체크하기 위해, 모든 가능한 주파수 조합들이 위에서 이루어진 요구들에 기초하여 체계적인 탐색 프로시저에 의해 쿼리될 수 있다. 이에 의해, 최적의
Figure pct00039
조합이 결정될 수 있다. 가능한 솔루션들의 개수를 여기서 불필요하게 제한하지 않도록 하기 위해서, 사용된 아날로그-디지털 변환기의, 명확히 조정될 수 있는, 샘플링 주파수들 fs 의 모두가 허용될 수 있다.
예를 들어, 파라미터들은 위치 센서 (100) 의 효율적인 동작을 제공하기 위해 다음과 같이 선택된다:
Figure pct00040
캐리어 주파수 fT = 1.5 MHz = fmc/16; 로컬 발진기 주파수 fLO
Figure pct00041
1.412 MHz;
Figure pct00042
제 1 ZF 주파수: fZF1
Figure pct00043
88.2353 kHz;
Figure pct00044
샘플링 주파수 fZF1
Figure pct00045
117.647 kHz;
Figure pct00046
fZF2
Figure pct00047
29.411 kHz; 및
Figure pct00048
존 대칭 ZS = 4.
100 위치 센서 101 1차 코일
103 제 1 의 2차 코일 105 제 2 의 2차 코일
107 주파수 변환기 109 Goertzel 필터 뱅크
201 입력 신호 203 출력 신호
301 캐리어 발진기 303 로컬 발진기
305 선택적 중간 주파수 증폭기 401 회로 보드
403 위치 송신기 405 코일
407 커패시터 501 믹서
503 아날로그-디지털 변환기 505 신호 윈도우잉을 위한 디바이스
507 Goertzel 필터 509 선형화를 위한 디바이스
511 신호 출력 513 증폭기
515 마스터 발진기 517 타이머
519 타이머 521 신시사이저
523 마이크로제어기 701 위상 검출기
703 루프 필터 705 전압-제어형 발진기
707 플립-플롭 709 주파수 디바이더
801 선택 제한기-증폭기 803 선택 제한기-증폭기
901 제 1 개략적 스펙트럼 903 제 2 개략적 스펙트럼
905 제 3 개략적 스펙트럼

Claims (15)

  1. 위치 송신기 (403) 의 위치를 검출하는 위치 센서 (100) 로서,
    상기 위치 센서 (100) 는 제 1 주파수를 가지는 제 1 전기 신호를 출력하기 위해 제 1 전기 신호 소스에, 그리고, 제 2 주파수를 가지는 제 2 전기 신호를 출력하기 위해 제 2 전기 신호 소스에 접속될 수 있으며,
    상기 제 1 주파수를 가지는 교번 자기장을 발생시키는 1차 코일 (101);
    상기 위치 송신기 (403) 에 의해 상기 1차 코일 (101) 에 각각 자기적으로 커플링될 수 있는, 제 1 의 2차 코일 (103) 및 제 2 의 2차 코일 (105) 로서, 발생된 상기 교번 자기장에 의해 제 3 전기 신호가 상기 제 1 의 2차 코일 (103) 에서 유도될 수 있고 제 4 전기 신호가 상기 제 2 의 2차 코일 (105) 에서 유도될 수 있는, 상기 제 1 의 2차 코일 (103) 및 제 2 의 2차 코일 (105);
    상기 제 2 전기 신호 소스에 접속가능한, 상기 제 3 전기 신호를 제 1 중간 주파수 신호로 변환하고 상기 제 4 전기 신호를 제 2 중간 주파수 신호로 변환하는 주파수 변환기 (107); 및
    제 1 복조된 신호를 획득하기 위해 상기 제 1 중간 주파수 신호의 복조를 위한, 그리고 제 2 복조된 신호를 획득하기 위해 상기 제 2 중간 주파수 신호의 복조를 위한 Goertzel 필터 뱅크 (109) 를 포함하는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 위치 송신기 (403) 의 위치를 상기 제 1 복조된 신호 또는 상기 제 2 복조된 신호의 함수로서 결정하는 프로세서를 포함하는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    아날로그-디지털 변환기 (503) 는 상기 Goertzel 필터 뱅크 (109) 의 상류에 접속되는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    신호 윈도우잉을 위한 디바이스 (505) 는 상기 Goertzel 필터 뱅크 (109) 의 상류에 접속되는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 Goertzel 필터 뱅크 (109) 는 상기 제 1 중간 주파수 신호의 복조를 위한 제 1 Goertzel 필터 (507) 및 상기 제 2 중간 주파수 신호의 복조를 위한 제 2 Goertzel 필터 (507) 를 포함하는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  6. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 복조된 신호 또는 상기 제 2 복조된 신호를 출력하는 신호 출력 (511) 을 포함하는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 복조된 신호 또는 상기 제 2 복조된 신호를 선형화하는 디바이스 (509) 는 상기 Goertzel 필터 뱅크 (109) 의 하류에 접속되는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
    대역통과 필터는 상기 주파수 변환기 (107) 로부터 하류에 접속되는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  9. 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
    증폭기는 상기 주파수 변환기 (107) 로부터 하류에 접속되는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  10. 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 주파수 변환기 (107) 는 상기 제 3 전기 신호를 상기 제 2 전기 신호와 믹싱하는 제 1 믹서 (501), 및 상기 제 4 전기 신호를 상기 제 2 전기 신호와 믹싱하는 제 2 믹서 (501) 를 포함하는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  11. 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 전기 신호 소스 및 상기 제 2 전기 신호 소스를 포함하는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  12. 제 11 항에 있어서,
    증폭기는 상기 제 1 전기 신호 소스 또는 상기 제 2 전기 신호 소스로부터 하류에 접속되는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  13. 제 11 항 또는 제 12 항에 있어서,
    제 3 주파수를 가지는 추가적인 전기 신호를 발생시키는 주파수 발생기를 포함하며,
    상기 제 1 전기 신호 소스는 상기 추가적인 전기 신호에 기초하여 상기 제 1 전기 신호를 발생시키기 위해 구현되며, 상기 제 2 전기 신호 소스는 상기 추가적인 전기 신호에 기초하여 상기 제 2 전기 신호를 발생시키기 위해 구현되는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 제 1 주파수 또는 상기 제 2 주파수는 상기 제 3 주파수의 정수배이거나, 또는 상기 제 3 주파수는 상기 제 1 주파수 또는 상기 제 2 주파수의 정수배인, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
  15. 제 13 항 또는 제 14 항에 있어서,
    상기 제 1 전기 신호 소스는 상기 추가적인 전기 신호에 기초하여 상기 제 1 주파수를 가지는 상기 제 1 전기 신호를 발생시키는 신시사이저 (521) 를 포함하거나, 또는 상기 제 2 전기 신호 소스는 상기 추가적인 전기 신호에 기초하여 상기 제 2 주파수를 가지는 상기 제 2 전기 신호를 발생시키는 신시사이저 (521) 를 포함하는, 위치 송신기의 위치를 검출하는 위치 센서.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10771167B2 (en) 2017-11-02 2020-09-08 Covidien Lp System and methods for mitigating interferences between electrosurgical systems
DE102017127114A1 (de) * 2017-11-17 2019-05-23 Beckhoff Automation Gmbh Konzept zum erfassen einer position eines schlittens eines linearen transportsystems
US11333529B2 (en) 2018-05-22 2022-05-17 Swoboda Schorndorf KG Magnetic position sensor
DE102018222288A1 (de) 2018-12-19 2020-06-25 Continental Teves Ag & Co. Ohg Hochfrequenzgenerator
DE102018222287A1 (de) 2018-12-19 2020-06-25 Continental Teves Ag & Co. Ohg Induktiver Sensor
DE102018222292A1 (de) 2018-12-19 2020-07-09 Continental Teves Ag & Co. Ohg Induktiver Sensor
DE102020209601A1 (de) 2020-07-30 2022-02-03 SUMIDA Components & Modules GmbH Erfassungsvorrichtung für einen Lagegeber und Erfassungssystem mit einer solchen Erfassungsvorrichtung
US11333532B1 (en) * 2020-12-10 2022-05-17 Pixart Imaging Inc. Light control circuit adapting to input signal frequency and operating method thereof

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62123352A (ja) * 1985-11-22 1987-06-04 Nippon Steel Corp 回転磁界型磁気探傷方法
US5818296A (en) * 1997-06-17 1998-10-06 Hughes Electronics Corporation FSK demodulator using goertzel's discrete fourier transform
JP2003198366A (ja) * 2001-12-12 2003-07-11 Sony Internatl Europ Gmbh 周波数シンセサイザ及び移動端末装置
EP2552070A2 (en) * 2011-07-26 2013-01-30 Silver Spring Networks, Inc. Systems and methods for multimode signal acquisition
KR20140077907A (ko) * 2011-09-09 2014-06-24 콘티넨탈 테베스 아게 운트 코. 오하게 차동 변압기 변위 센서에서의 괴르첼 알고리즘에 의한 진폭 평가

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2305518B (en) * 1995-09-26 1999-11-03 Custom Dev Ltd Electronic actuator position control
DE102006055409A1 (de) * 2006-11-22 2008-05-29 Ab Elektronik Gmbh Induktiver Sensor zur Erfassung von zwei Koppelelementen
CN202109877U (zh) * 2011-06-17 2012-01-11 江阴盈誉科技有限公司 一种差动变压式位移传感器
DE102013019168B4 (de) * 2013-08-02 2015-11-12 Hahn-Schickard-Gesellschaft für angewandte Forschung e.V. Sensor zum anzeigen einer position oder einer positionsänderung eines kopplungselementes und verfahren zum betrieb des sensors

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62123352A (ja) * 1985-11-22 1987-06-04 Nippon Steel Corp 回転磁界型磁気探傷方法
US5818296A (en) * 1997-06-17 1998-10-06 Hughes Electronics Corporation FSK demodulator using goertzel's discrete fourier transform
JP2003198366A (ja) * 2001-12-12 2003-07-11 Sony Internatl Europ Gmbh 周波数シンセサイザ及び移動端末装置
EP2552070A2 (en) * 2011-07-26 2013-01-30 Silver Spring Networks, Inc. Systems and methods for multimode signal acquisition
KR20140077907A (ko) * 2011-09-09 2014-06-24 콘티넨탈 테베스 아게 운트 코. 오하게 차동 변압기 변위 센서에서의 괴르첼 알고리즘에 의한 진폭 평가

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