KR20200039360A - 유도결합 플라즈마 처리장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 상측에 개구부가 형성되는 챔버본체(100)와; 상기 개구부를 복개하여 처리공간(S)을 형성하도록 설치되는 하나 이상의 유전체(210)와, 상기 유전체(210)를 지지하는 지지프레임(220)을 포함하는 유전체조립체(200)와; 상기 챔버본체(100)에 설치되어 기판(10)을 지지하는 기판지지부(300)와; 상기 처리공간(S)으로 가스를 분사하는 가스분사부(400)와; 상기 유전체조립체(200)의 상측에 설치되어 상기 처리공간(S)에 유도전계를 형성하는 안테나부(500)와; 상기 유전체조립체(200) 상면에 영역별로 설치되며, 열매체가 흐르는 유로(602)를 형성하는 복수의 금속유로부(600)들을 포함하며, 상기 복수의 금속유로부(600)들 각각은, 전기적으로 플로팅(floating)상태, 접지상태, 및 전원이 인가되는 전원인가상태 중 어느 하나의 상태로 설치되는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치를 개시한다.
Description
도 2는, 도 1의 유도결합 플라즈마 처리장치의 구성 일부를 보여주는 평면도이다.
도 3은, 도 1의 A의 확대도이다.
도 4는, 도 1의 유도결합 플라즈마 처리장치의 변형례를 보여주는 도면이다.
도 5는, 본 발명에 따른 유도결합 플라즈마 처리장치의 금속유로부들의 전기적 상태를 보여주는 도면이다.
도 6a 내지 도 6h는, 본 발명에 따른 유도결합 플라즈마 처리장치의 금속유로부들의 전기적 상태 및 금속유로부들 사이의 전기적 연결상태의 실시예들을 설명하는 도면이다.
도 7은, 본 발명에 따른 유도결합 플라즈마 처리장치의 구성일부를 보여주는 평면도로, 복수의 금속유로부들에 의해 형성되는 온도제어영역을 보여주는 도면이다.
도 8은, 본 발명에 따른 유도결합 플라즈마 처리장치의 구성일부를 보여주는 평면도로, 복수의 금속유로부들에 의해 형성되는 플라즈마제어영역을 보여주는 도면이다.
도 9는, 본 발명에 따른 유도결합 플라즈마 처리장치에서 복수의 금속유로부들에 의해 처리공간의 플라즈마가 제어되는 원리를 설명하는 개념도이다.
300 : 기판지지부 400 : 가스분사부
500 : 안테나부
Claims (15)
- 상측에 개구부가 형성되는 챔버본체(100)와;
상기 개구부를 복개하여 처리공간(S)을 형성하도록 설치되는 하나 이상의 유전체(210)와, 상기 유전체(210)를 지지하는 지지프레임(220)을 포함하는 유전체조립체(200)와;
상기 챔버본체(100)에 설치되어 기판(10)을 지지하는 기판지지부(300)와;
상기 처리공간(S)으로 가스를 분사하는 가스분사부(400)와;
상기 유전체조립체(200)의 상측에 설치되어 상기 처리공간(S)에 유도전계를 형성하는 안테나부(500)와;
상기 유전체조립체(200) 상면에 영역별로 설치되며, 열매체가 흐르는 유로(602)를 형성하는 복수의 금속유로부(600)들을 포함하며,
상기 복수의 금속유로부(600)들 각각은, 전기적으로 플로팅(floating)상태, 접지상태, 및 전원이 인가되는 전원인가상태 중 어느 하나의 상태로 설치되는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 유도전계 플라즈마 처리장치는,
상기 복수의 금속유로부(600)들 중 적어도 하나를 상기 접지상태로 설치하기 위하여 일단에서 상기 복수의 금속유로부(600)들 중 적어도 하나와 연결되고 타단에서 접지되는 커패시터(630)를 포함하는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 2에 있어서,
상기 커패시터(630)는, 가변커패시터인 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 복수의 금속유로부(600)들 중 적어도 두 개는, 공통되는 온도제어영역을 형성하기 위하여 서로 유체연통되는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 유도전계 플라즈마 처리장치는,
상기 복수의 금속유로부(600)들 중 적어도 두 개를 서로 절연된 상태로 유체연통시키는 절연유로부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 금속유로부(600)는, 직상부에 위치되는 안테나부(500)와 평면상 수직 또는 경사를 이루는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 복수의 금속유로부(600)들 중 적어도 하나는, 공통되는 플라즈마제어영역을 형성하기 위하여 다른 금속유로부(600)와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 7에 있어서,
상기 유도전계 플라즈마 처리장치는,
상기 복수의 금속유로부(600)들 중 적어도 하나를 다른 금속유로부(600)와 전기적으로 연결시키면서 유체연통은 차단하는 연결부(640)를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 4에 있어서,
상기 복수의 금속유로부(600)들 중 적어도 하나는, 공통되는 플라즈마제어영역을 형성하기 위하여 다른 금속유로부(600)와 전기적으로 연결되며,
상기 온도제어영역과 상기 플라즈마제어영역은 서로 독립적으로 정의되는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 유도전계 플라즈마 처리장치는, 상기 안테나부(500)와의 절연을 위하여 상기 금속유로부(600)를 복개하는 절연커버부(800)를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 금속유로부(600)는, 상자성체로 이루어지는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 금속유로부(600)는,
내부에 상기 유로(602)가 형성되는 금속관부(610)를 포함하는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 12에 있어서,
상기 금속관부(610)는, 단면이 각형을 이루어 상기 유전체(210) 상면과 면접촉되도록 설치되는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 12에 있어서,
상기 금속유로부(600)는,
상기 유전체(210)로의 열확산을 위하여 상기 금속관부(610) 및 상기 유전체(210) 사이에 게재되는 열확산블록(620)을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 금속유로부(600)는, 양단에 열매체가 유입되는 유입구(604)와 열매체가 유출되는 유출구(606)가 각각 형성되는 개루프패턴을 이루며,
상기 유도전계 플라즈마 처리장치는, 상기 개루프패턴의 개방부를 전기적으로 연결하는 보조연결부재(608)를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 유도전계 플라즈마 처리장치.
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| KR20230089946A (ko) * | 2021-12-14 | 2023-06-21 | 주식회사 원익아이피에스 | 기판처리장치 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08203873A (ja) * | 1995-01-25 | 1996-08-09 | Sony Corp | プラズマ処理装置 |
| KR20110095843A (ko) * | 2009-01-14 | 2011-08-25 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 유도 결합 플라즈마 처리 장치 |
| KR20130139779A (ko) * | 2012-06-13 | 2013-12-23 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 플라즈마 처리 장치, 플라즈마 생성 장치, 안테나 구조체, 및 플라즈마 생성 방법 |
| KR20150078404A (ko) * | 2013-12-30 | 2015-07-08 | 엘아이지인베니아 주식회사 | 기판 처리장치 |
| KR20160129520A (ko) * | 2015-04-30 | 2016-11-09 | 주식회사 에이씨엔 | 기상식각 및 세정을 위한 플라즈마 장치 |
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08203873A (ja) * | 1995-01-25 | 1996-08-09 | Sony Corp | プラズマ処理装置 |
| KR20110095843A (ko) * | 2009-01-14 | 2011-08-25 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 유도 결합 플라즈마 처리 장치 |
| KR20130139779A (ko) * | 2012-06-13 | 2013-12-23 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 플라즈마 처리 장치, 플라즈마 생성 장치, 안테나 구조체, 및 플라즈마 생성 방법 |
| KR20150078404A (ko) * | 2013-12-30 | 2015-07-08 | 엘아이지인베니아 주식회사 | 기판 처리장치 |
| KR20160129520A (ko) * | 2015-04-30 | 2016-11-09 | 주식회사 에이씨엔 | 기상식각 및 세정을 위한 플라즈마 장치 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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