PL109825B1 - Apparatus for measuring wave length,especially the one of a colour laser - Google Patents

Description

Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do po¬ miaru dlugosci fali, zwlaszcza do pomiaru dlu¬ gosci fal promieniowania laserowego umozliwiaja¬ ce kalibracyjny, nadajacy sie do zautomatyzowa¬ nia pomiaru dlugosci fali.Znany sposób pomiaru dlugosci fal odbywa sie za pomoca ukladów dyspersyjnych takich, jak pryzmaty lub siatki z mechanicznym wskazywa¬ niem kata ustawienia pryzmatu lub siatki, a tym samym odpowiadajacej mu dlugosci fali.Wady tej metody pomiarowej polegaja na tym, ze nie jest mozliwe otrzymanie w prosty sposób nieizfbadnych do aiulucimaityzacji, -ewentualnie dalszej cyfrowej obróbki sygnalów elektrycznych i ze zdolnosc rozdzielcza okreslona jest. wylacznie ka¬ tem dyfrakcji siatki badz katem odchylenia pry¬ zmatu.Celem wynalazku jest opracowanie urzadzenia do pomiaru . dlugosci fali, zwlaszcza promienio¬ wania laserowego o podwyzszonej zdolnosci roz¬ dzielczej, jak równiez umozliwiajacego elektrycz¬ ny odczyt dlugosci fali i tym samym automa¬ tyczna ocene wyników pomiaru.Zadaniem technicznym wynalaizku jest zapro¬ jektowanie urzadzenia do pomiaru dlugosci fali, zwlaszcza do pomiaru dlugosci fal promieniowa¬ nia laserowego, które przy powiekszonej zdolno¬ sci rozdzielczej pozwala na korzystna elektrycz- ¦ na ocene wyników pomiarów dlugosci fal.Zadanie to wedlug wynalazku jest rozwiazane 20 w ten sposób, ze uklad zawiera znajdujaca sie w jednym z ognisk elipsy odbijajaca siatke dyfrak¬ cyjna i znajdujace sie w drugim ognisku tej samej elipsy pierwsze zwierciadlo, ze do odwzo¬ rowania punktów powierzchni odbijajacej siatki dyfrakcyjnej na pierwszym zwierciadle zastoso¬ wane jest drugie zwierciadlo, którego wklesla powierzchnia ma krzywizne odpowiadajaca krzy- wiznie elipsy wspólnej dla obu ognisk i ze do po¬ miaru promienia odbitego od pierwszego zwiercia¬ dla sluzy fotoodbiornik.Przy zactcis-owa-niu rozwiazania wedlug wynalaz¬ ku, na zasadzie odbicia promienia od zwiercia¬ dla eliptycznego zdolnosc rozdzielcza jest mniej wiecej dwa razy wieksza od zdolnosci rozdziel¬ czej, odpowiadajacej pierwotnemu katowi ugiecia.Dzieki umieszczeniu czynnej czesci powierzchni siatki i pierwszego zwierciadla w ogniskach elip¬ sy odczytywany kat jest jednoznacznie przypo¬ rzadkowany dlugosci fali i pozbawiony bledów wy¬ nikajacych z równoleglego przesuniecia promieni, co odpowiada równoleglemu przesunieciu róznych punktów padania oraz zwiazanemu z tym prze¬ sunieciu promieni padajacych na pierwsze zwier¬ ciadlo, gdyz elipsa dokladnie odwzorowuje pierw¬ sze ognisko (w obszarze siatki) w drugie (w obsza¬ rze pierwszego zwierciadla).Powierzchnia pierwszego zwierciadla jest po¬ wierzchnia -obrotowa wzgladem linii ogniskowej cylindra eliptycznego. Pierwsze zwierciadlo moze 109 825l 109 825 3 byc zwierciadlem plaskim. Moze równiez miec powierzchnie wypukla lub wklesla.Fotoodbiornik jest przesuwany wokól linii ogni¬ skowej walca eliptycznego po luku kola. Rózne punkty padania promieni na fotoodbiornik odpo¬ wiadaja dzieki temu jednoznacznie róznym dlu- goscim fal przy podwójnej zdolnosci rozdzielczej.Polozenie fotoodbiornika przy maksymalnej inten¬ sywnosci sygnalu odpowiada sredniej dlugosci fa¬ li badanego swiatla, a przez przesuwanie foto¬ odbiornika (lub przeslony przed odbiornikiem) ba¬ da sie ksztalt charakterystyki widmowej swiat¬ la, co umozliwia okreslenie szerokosci pasma na poziroimie polowy wantos'ci mafcsymaiinej.Wynalazek jest omówiony na podstawie przy¬ kladu wykonania przedstawionego na zalaczonym rysunku.Uklad sklada sie w zasadzie z siatki odbijajacej 4, reflektora 5 o powierzchni stanowiacej wycinek elipsy 1 o ogniskach 2, 3, obrotowego' zwiercia¬ dla 6 i fotoodbiornika 7. Badane swiatlo 8 pada pod katem prostym 18 na siatke odbijajaca (se¬ ktor dlugosci fal) 4 w punkcie bedacym pierwszym ogniskiem 2 elipsy 1. Odbite przez siatke odbijaja¬ ca 4 promienie zadanego rzedu 9, 10, 11 o róznych dlugosciach fal Xi, %2,h. dochodza poprzez prze¬ slone 12 do zwierciadla 5 odpowiadajacego wycin¬ kowi elipsy 1.Zwierciadlo eliptyczne 5 sluzy za uklad zbiera¬ jacy, tak ze odbite od niego promienie 13, 14, 15 schodza sie w jednym punkcie obrotowego zwier¬ ciadla (bedacymi drugim O^niislkiieim 3 eiliipsy 1. Zwier¬ ciadlo 6 jest obracane w ten sposób, ze ,pr;zy po¬ miarze okreslonej dlugosci fali zajmuje okreslona pozycje katowa 16. Odbity w ten sposób promien 17 swiatla o okreslonej dlugosci fali trafia naste¬ pnie na fotoodbiornik 7. Kat obrotu 16 zwiercia- 10 15 20 25 30 39 dla 6 jest zatem bezposrednia miara dlugosci fali %. odbitego przez nie do fotoodbiornika 7 swiatla 17.Za pomoca bloku elektromechanicznego, który nie jest przedstawiony na rysunku mozna ten kat ohroitiu przyporzadkowac okreslonej wielkosci elektrycznej (prad, napiecie, pojemnosc, opornosc itp.) sluzacej jako sygnal do automatycznej ana¬ logowej lub cyfrowej indykacji.Zastrzezenia p a. !te nitowie 1. Urzadzenie do pomiaru dlugosci fali, zwlaszcza do pomiaru dlugosci fali promieniowania lasero¬ wego, znamienne tym, ze zawiera znajdujaca sie w jednym z ognisk elipsy odbijajaca siatke dyfra¬ kcyjna i znajdujace sie w drugim ognisku tej sa¬ mej elipsy pieorwsize zwierciadlo, przy czym do od¬ wzorowania punktów powierzchni odbijajacej siat¬ ki dyfrakcyjnej na pierwszym zwierciadle stoso¬ wane jest drugie zwierciadlo, którego wklesla powierzchnia ma krzywizne odpowiadajaca krzywiz- nie elipsy wspólnej dla obu ognisk, a do pomia¬ ru promienia odbitego od pierwszego zwierciadla sluzy fotoodbiornik. 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym,, ze powierzchnia pierwszego zwierciadla jest po¬ wierzchnia obrotowa wzgledem linii ogniskowej walca eliptycznego, przy czym to zwierciadlo jest zwierciadlem plaskim. 3. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze fotoodbiornik jest przesuwany wokól linii og¬ niskowej walca eliptycznego po luku kola. 4. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze pierwsze zwierciadlo ma powierzchnie wypu¬ kla lub wklesla.PZG-raf. Koszalin D-0i24 95 egz. A-4 Cena 45 zl PL

Claims (4)

1. Zastrzezenia p a. !te nitowie 1. Urzadzenie do pomiaru dlugosci fali, zwlaszcza do pomiaru dlugosci fali promieniowania lasero¬ wego, znamienne tym, ze zawiera znajdujaca sie w jednym z ognisk elipsy odbijajaca siatke dyfra¬ kcyjna i znajdujace sie w drugim ognisku tej sa¬ mej elipsy pieorwsize zwierciadlo, przy czym do od¬ wzorowania punktów powierzchni odbijajacej siat¬ ki dyfrakcyjnej na pierwszym zwierciadle stoso¬ wane jest drugie zwierciadlo, którego wklesla powierzchnia ma krzywizne odpowiadajaca krzywiz- nie elipsy wspólnej dla obu ognisk, a do pomia¬ ru promienia odbitego od pierwszego zwierciadla sluzy fotoodbiornik.
2. 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym,, ze powierzchnia pierwszego zwierciadla jest po¬ wierzchnia obrotowa wzgledem linii ogniskowej walca eliptycznego, przy czym to zwierciadlo jest zwierciadlem plaskim.
3. 3. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze fotoodbiornik jest przesuwany wokól linii og¬ niskowej walca eliptycznego po luku kola.
4. 4. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze pierwsze zwierciadlo ma powierzchnie wypu¬ kla lub wklesla. PZG-raf. Koszalin D-0i24 95 egz. A-4 Cena 45 zl PL