PL117260B1 - Device for simultaneous measurement of several transistorsanzistorov - Google Patents

Description

Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do rów¬ noczesnego pomiaru wielu tranzystorów.

Tranzystory poddawane sa w procesie produkcji licznym operacjom pomiarowo-kontrolnym. Jedna z ostatnich jest pomiar parametrów dynamicznych a nastepnie rozsortowanie na grupy wedlug zada¬ nych kryteriów podzialu. Czynnosci te dokonywane sa za pomoca urzadzen automatycznych zwanych sortownikami.

W dotychczas stosowanych sortownikach tran¬ zystory dostarczane sa podajnikiem wibracyjnym w poblize stanowiska pomiarowego, skad uklad chwytaków sterowanych elektro-pneumatycznie lub mechanicznie wprowadza je pojedynczo do gniazd¬ ka pomiarowego, polaczonego z elektronicznymi ukladami pomiarowymi.

Po dokonaniu pomiaru wartosc mierzonego pa¬ rametru zostaje przetworzona na sygnal sterujacy sortownik, badany element zostaje wycofany z gnia¬ zdka i skierowany prowadnica do odpowiedniego pojemnika. Wydajnosc takich sortowników ogra¬ niczona jest bezwladnoscia mechaniczna chwytaków oraz czasem sortowania, w którym naistotniejszym skladnikiem jest czas przejscia elementu przez prowadnice sortownika ustawiona silnikiem kro¬ kowym.

W niektórych przypadkach o wydajnosci decy¬ duje czas niezbedny do pomiaru parametrów. Moze on wynikac z koniecznosci testowania kolejno róz¬ nymi sygnalami lub tez, jak w przypadku pomiaru1 10 15 20 25 parametrów szumowych wynika on z fizycznego charakteru zmierzonych przebiegów wymagajacych dla prawidlowej oceny usredniania wyniku w za¬ danym przedziale czasu. Pozadana wydajnosc mozna w tych warunkach zapewnic tylko przez równo¬ czesny pomiar wielu tranzystorów.

Urzadzenie wedlug wynalazku polaczone jest z podajnikiem wibracyjnym poprzez pierscieniowy zabierak, który ma odpowiednio wyprofilowane za¬ glebienia usytuowane na zewnetrznym obwodzie zabieraka, który sprzezony jest z prowadnicami przenoszacymi tranzystory do pomiarowego gniazd¬ ka. Wewnatrz zabieraka umieszczony jest prze¬ suwny stozek polaczony z silownikiem do jedno¬ czesnego uruchamiania prowadnic przenoszacych tranzystory do pomiarowego gniazda, poprzez szczeliny usytuowane naprzeciwko zaglebien.

Urzadzenie polaczone jest z ukladem testowym i sortownikiem usytuowanym nad pojemnikiem.

Zaglebienia wyprofilowane sa wedlug ksztaltu obudowy tranzystora i maja plaszczyzne pochyla w kierunku obrotu zabieraka.

Zaleta wynalazku jest mozliwosc automatycznego sprawdzania tranzystorów w czasie produkcji i ich sortowania wedlug otrzymanych parametrów uzyt¬ kowych.

Przedmiot wynalazku jest przedstawiony na ry¬ sunku, na którym fig. 1 przedstawia schematyczny uklad polaczenia zespolów, fig. 2 — szczegól „a" 117 260117 260 polaczenia podajinika z zabierakiem, fig. 3 — widok „w" prowadnicy.

Podajnik wibracyjny 1, na którym przesuwaja sie tranzystory 2 polaczony jest z pierscieniowym zabierakiem 3, który ma odpowiednio wyprofilo¬ wane zaglebienia 4 usytuowane na zewnetrznym obwodzie tego zabieraka. Zabierak 3 sprzezony jest z prowadnicami 5, przenoszacymi tranzystory 2 do pomiarowego gniazda 6 poprzez wyprowadze¬ nie 7. Wewnatrz zabieraka 3 umieszczony jest prze¬ suwny stozek 8, polaczony z silownikiem 9 do jed¬ noczesnego uruchamiania prowadnic 5 przesuwa¬ jacych tranzystory 2, do pomiarowego gniazda 6 poprzez szczeliny 10 usytuowane naprzeciwko za¬ glebien 4.

Urzadzenie polaczone jest tez z ukladem testo¬ wym 11, z listwa oporowa 12 i z sortowmikiem 13 polozonym nad pojemnikiem 14.

Zaglebienia 4 wyprofilowane sa wedlug ksztaltu obudowy tranzystora 2 i posiadaja plaszczyzne po¬ chyla w kierunku obrotu zabieraka 3.

Prowadnice 5 maja wyciecia 15 na koncach obró¬ conych w kierunku oporowego suwadla 16 przesu¬ wanego za pomoca sprezyny 17.

W ukladzie znajduje sie dociskowa listwa 18 podparta sprezyna 19 i przemieszczajaca sie wraz z prowadnica 5.

Przenoszone przez podajnik wibracyjny 1 tran¬ zystory 2 chwytane sa przez obracajacy sie zabie¬ rak 3. Tranzystory te ukladaja sie pojedynczo w za¬ glebieniach 4 i samoczynnie orientowane sa wy¬ pukloscia do scianek tych zaglebien.

Po napelnieniu zabieraka iloscia odpowiadajaca ilosci- prowadnic, zabierak zostaje zatrzymany za pomoca urzadzen elektronicznych nie pokazanych na rysunku, zas stozek 8; przesuwa sie do dolu wypychajac prowadnice 5, które przenosza tran¬ zystory 2 do pomiarowego gniazda 6 pokonujac jednoczesnie opór sprezyny 17 przesuwajac su- wadlo 16.

Po skonczonym pomiarze prowadnice 5 wycofuja sie a tranzystory 2 powtórnie zostaja wprowadzone do zabieraka 3, który przenosi je do strefy sorto¬ wania, gdzie w sortowniiku 13 zostaja rozdzielone i kierowane do pojemnika 14.

Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do równoczesnego pomiaru wielu tranzystorów polaczone z podajnikiem wibracyjnym poprzez pierscieniowy zabierak oraz ukladem tes¬ towym, sortownikiem usytuowanym nad pojemni¬ kiem, znamienne tym, ze pierscieniowy zabierak (3) posiada' odpowiednio wyprofilowane zaglebienia (4) usytuowane na zewnetrznym obwodzie zabieraka (3), który sprzezony jest z prowadnicami (5) prze¬ noszacymi tranzystory (2) do pomiarowego gniazda (6), przy czym wewnatrz zabieraka (3) umieszczony jest przesuwny stozek (8) polaczony z silowni¬ kiem (9) do jednoczesnego uruchamiania prowad¬ nic (5) przesuwajacych tranzystory (2) do pomiaro¬ wego gniazda (6) poprzez szczeliny (10) usytuowane naprzeciwko zaglebien (4). 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze zaglebienia (4) wyprofilowane sa wedlug ksztaltu obudowy tranzystora (2) i posiadaja plaszczyzne 35 pochyla w. kierunku obrotu zabieraka (3). 15 20 25 30117 260 Fi Fi(j.Z LDA — Zaklad 2 — zam. 675/82/11 110 egz.

Cena 100 zl

Claims (2)

Zastrzezenia patentowe

1. Urzadzenie do równoczesnego pomiaru wielu tranzystorów polaczone z podajnikiem wibracyjnym poprzez pierscieniowy zabierak oraz ukladem tes¬ towym, sortownikiem usytuowanym nad pojemni¬ kiem, znamienne tym, ze pierscieniowy zabierak (3) posiada' odpowiednio wyprofilowane zaglebienia (4) usytuowane na zewnetrznym obwodzie zabieraka (3), który sprzezony jest z prowadnicami (5) prze¬ noszacymi tranzystory (2) do pomiarowego gniazda (6), przy czym wewnatrz zabieraka (3) umieszczony jest przesuwny stozek (8) polaczony z silowni¬ kiem (9) do jednoczesnego uruchamiania prowad¬ nic (5) przesuwajacych tranzystory (2) do pomiaro¬ wego gniazda (6) poprzez szczeliny (10) usytuowane naprzeciwko zaglebien (4).

2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze zaglebienia (4) wyprofilowane sa wedlug ksztaltu obudowy tranzystora (2) i posiadaja plaszczyzne 35 pochyla w. kierunku obrotu zabieraka (3). 15 20 25 30117 260 Fi Fi(j.Z LDA — Zaklad 2 — zam. 675/82/11 110 egz. Cena 100 zl