JPH01295176A - 測定機 - Google Patents
測定機Info
- Publication number
- JPH01295176A JPH01295176A JP63125587A JP12558788A JPH01295176A JP H01295176 A JPH01295176 A JP H01295176A JP 63125587 A JP63125587 A JP 63125587A JP 12558788 A JP12558788 A JP 12558788A JP H01295176 A JPH01295176 A JP H01295176A
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- JP
- Japan
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- turntable
- terminal
- workpiece
- chuck
- charging
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Links
- 238000007600 charging Methods 0.000 claims abstract description 44
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 36
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
■)・・・産業上の利用分野
本発明は、ワーク(主に、チップコンデンサー、小形積
層コンデンサー等)の容量、IR値等を高速自動、連続
的に測定する測定機に係り、多数の測定器ユニットを連
続回転(間欠回転ではない)するターンテーブルに放射
線状に備え、該ターンテーブルに連係してワーク供給装
置、1以上の測定装置、充電装置(充電ゾーン)及び分
離用ターンテーブル等を備えて、ターンテーブルが1回
転する間に、ワークの供給、測定、充電及び分離用テー
ブルへのワーク受渡し等を全て高速自動的かつ連続的に
行うようにしたことを特長とするものである。
層コンデンサー等)の容量、IR値等を高速自動、連続
的に測定する測定機に係り、多数の測定器ユニットを連
続回転(間欠回転ではない)するターンテーブルに放射
線状に備え、該ターンテーブルに連係してワーク供給装
置、1以上の測定装置、充電装置(充電ゾーン)及び分
離用ターンテーブル等を備えて、ターンテーブルが1回
転する間に、ワークの供給、測定、充電及び分離用テー
ブルへのワーク受渡し等を全て高速自動的かつ連続的に
行うようにしたことを特長とするものである。
■)・・・従来の技術とその課題
従来広く行われている測定方式は、
(1)・・・適宜の測定装置または充電装置の端子間に
適宜手段にてワークを1個宛供給し、端子を圧接して測
定、充電を行うものであり、従って、下記のような欠点
があった。
適宜手段にてワークを1個宛供給し、端子を圧接して測
定、充電を行うものであり、従って、下記のような欠点
があった。
(i)、測定、充電毎に、何回もワークに端子を加圧接
触することとなって、ワークの損傷、加圧による悪影響
が生じる。
触することとなって、ワークの損傷、加圧による悪影響
が生じる。
(ii ) 、ワークが極めて小さいためその供給配置
を1個毎に均等精密に行うのが困難であり、よって、測
定、充電値にバラつきを生じる。
を1個毎に均等精密に行うのが困難であり、よって、測
定、充電値にバラつきを生じる。
(iii ) 、所定回数の測定、充電を行うのに時間
がかかって生産効率が悪く、装置も複雑大形で高価とな
る。
がかかって生産効率が悪く、装置も複雑大形で高価とな
る。
(2)・・・また、上記方式をより効率的に行うべく、
1度に10個位のワークを測定装置、充電装置に整列配
置して、順々にまたは同時に測定、充電を行うことを繰
り返す方式も行われているが、装置が大げさで複雑、高
価となる上に、自動機として構成しにくく、また、自動
化したとしてもあくまで間欠的動作であり、よって、生
産効率を高めにくい欠点があった。
1度に10個位のワークを測定装置、充電装置に整列配
置して、順々にまたは同時に測定、充電を行うことを繰
り返す方式も行われているが、装置が大げさで複雑、高
価となる上に、自動機として構成しにくく、また、自動
化したとしてもあくまで間欠的動作であり、よって、生
産効率を高めにくい欠点があった。
そのため、ワークを高速自動、完全連続動で、かつ、1
個1個を均等精密に測定し得るような測定機の開発が強
く要望されてきたものである。
個1個を均等精密に測定し得るような測定機の開発が強
く要望されてきたものである。
■)・・・本発明の構成
本発明は上記従来の課題を解決し、また従来の要望を満
足させ得る測定機を発明したものである。
足させ得る測定機を発明したものである。
(1)・・・即ち、本発明は、ワークを導線を兼ねたス
プリングの弾発力で開閉自在に挾持するチャックと、端
子を結線してなる測定器ユニットを、連続回転する円板
形ターンテーブルに放射状に等間隔に多数個備え、 該ターンテーブルにおける、チャック回動軌跡上の設定
位置にワーク供給装置を、端子回動軌跡上の1以上の設
定位置に測定装置を、端子回動軌跡上の設定角度範囲に
充電装置を夫々備え、 また、ターンテーブルのチャック回動軌跡下における最
後位測定装置とワーク供給装置間の設定位置に、ターン
テーブルと同期回転する分離用ターンテーブルを備えて
構成した測定機である。
プリングの弾発力で開閉自在に挾持するチャックと、端
子を結線してなる測定器ユニットを、連続回転する円板
形ターンテーブルに放射状に等間隔に多数個備え、 該ターンテーブルにおける、チャック回動軌跡上の設定
位置にワーク供給装置を、端子回動軌跡上の1以上の設
定位置に測定装置を、端子回動軌跡上の設定角度範囲に
充電装置を夫々備え、 また、ターンテーブルのチャック回動軌跡下における最
後位測定装置とワーク供給装置間の設定位置に、ターン
テーブルと同期回転する分離用ターンテーブルを備えて
構成した測定機である。
(2)・・・次に、本発明の構成をその実施例(図面)
につき説明すると、ワークW(主にチップコンデンサー
)を導線を兼ねたスプリング1bの弾発力で開閉自在に
挾持するチャック1aと、端子1cを結線してなる測定
器ユニット1を、連続回転する円板形のターンテーブル
2の回転軸2aを中心とした放射線上に放射状に等間隔
に多数個備え、 該ターンテーブル2における、チャック回動軌跡2b上
の設定位置にワーク供給袋M3を、端子回動軌跡2c上
の1以上の設定位置に測定装置を4.4′を、端子回動
軌跡2c上の設定角度範囲に充電装置5を夫々備え、 また、ターンテーブル2のチャック回動軌跡2b下方に
おける最後位測定装置(図示、4′)とワーク供給装置
3間の設定位置に、ターンテーブル2と同期回転する分
離用ターンテーブル6を備えて、測定機を構成したもの
である。
につき説明すると、ワークW(主にチップコンデンサー
)を導線を兼ねたスプリング1bの弾発力で開閉自在に
挾持するチャック1aと、端子1cを結線してなる測定
器ユニット1を、連続回転する円板形のターンテーブル
2の回転軸2aを中心とした放射線上に放射状に等間隔
に多数個備え、 該ターンテーブル2における、チャック回動軌跡2b上
の設定位置にワーク供給袋M3を、端子回動軌跡2c上
の1以上の設定位置に測定装置を4.4′を、端子回動
軌跡2c上の設定角度範囲に充電装置5を夫々備え、 また、ターンテーブル2のチャック回動軌跡2b下方に
おける最後位測定装置(図示、4′)とワーク供給装置
3間の設定位置に、ターンテーブル2と同期回転する分
離用ターンテーブル6を備えて、測定機を構成したもの
である。
(3)・・・測定器ユニット1は、例えば、開閉摺動自
在に備えた一対のプランジャ端子1dを加圧と電気接続
を兼ねたスプリング1bで受けてなるチャック1aと、
離隔して備えた端子1cを結線して設けたものであり、
プランジャ端子1d先端間にワークWの左右端子部を弾
力的にチャックするものである、 (4)・・・ワーク供給装置3は、適宜のフィダー等か
らワークWをターンテーブル2の各測定器ユニット1の
チャックlaに、1個宛整列(表裏、前後、極性等)供
給するものである。
在に備えた一対のプランジャ端子1dを加圧と電気接続
を兼ねたスプリング1bで受けてなるチャック1aと、
離隔して備えた端子1cを結線して設けたものであり、
プランジャ端子1d先端間にワークWの左右端子部を弾
力的にチャックするものである、 (4)・・・ワーク供給装置3は、適宜のフィダー等か
らワークWをターンテーブル2の各測定器ユニット1の
チャックlaに、1個宛整列(表裏、前後、極性等)供
給するものである。
(5)・・・測定装置は、容量測定、IR測定等充電後
)等を行う適宜の測定装置4.4′を用い、その測定端
子4aが、下降してターンテーブル2の端子1cに接触
→端子1c、lc相互間寸法lをターンテーブル2と同
期移動(その間に測定)→上昇→原位置復帰→再び下降
してターンテーブル2の端子1cに接触のサイクル動を
ターンテーブルの回転と同期して行うものである。
)等を行う適宜の測定装置4.4′を用い、その測定端
子4aが、下降してターンテーブル2の端子1cに接触
→端子1c、lc相互間寸法lをターンテーブル2と同
期移動(その間に測定)→上昇→原位置復帰→再び下降
してターンテーブル2の端子1cに接触のサイクル動を
ターンテーブルの回転と同期して行うものである。
(6)・・・充電装置5は、適宜の充電装置を端子回動
軌跡2c上の設定角度α°範囲間備えて、所定の時間及
び電圧の充電を行う充電ゾーン5aを形成したものであ
り、その充電端子が回転するターンテーブル2の各測定
器ユニット1の端子ICに摺動接触するものである。
軌跡2c上の設定角度α°範囲間備えて、所定の時間及
び電圧の充電を行う充電ゾーン5aを形成したものであ
り、その充電端子が回転するターンテーブル2の各測定
器ユニット1の端子ICに摺動接触するものである。
(7)・・・また、分離用ターンテーブル6は、円板周
辺に沿ってシャッター付のワーク受取孔6aを等間隔に
備えたものであり、該受取孔6aの回動軌跡6bの一部
とターンテーブル2のチャック回動軌跡2bの一部を重
合して備え、ターンテーブル2と同期回転して、各チャ
ックlaが開いて釈放落下するワークWを各受取孔6a
に1個宛受取るものであり、 また、該分離用ターンテーブル6の受取孔回動軌跡6b
下方の設定角度β°の範囲に、所定測定値毎にワークW
を分離する複数のシュート7を受取孔6aと等間隔に備
え、受取孔6aが該当測定値のシュート7上にくるとシ
ャッターを開いてワークWをシュート7に落下するよう
にしたものである。
辺に沿ってシャッター付のワーク受取孔6aを等間隔に
備えたものであり、該受取孔6aの回動軌跡6bの一部
とターンテーブル2のチャック回動軌跡2bの一部を重
合して備え、ターンテーブル2と同期回転して、各チャ
ックlaが開いて釈放落下するワークWを各受取孔6a
に1個宛受取るものであり、 また、該分離用ターンテーブル6の受取孔回動軌跡6b
下方の設定角度β°の範囲に、所定測定値毎にワークW
を分離する複数のシュート7を受取孔6aと等間隔に備
え、受取孔6aが該当測定値のシュート7上にくるとシ
ャッターを開いてワークWをシュート7に落下するよう
にしたものである。
(8)・・・なお、測定装置の種類(容量、IR値など
)及び測定回数、また充電装置の種類、設置数及び充電
ゾーンの範囲等は、何れも実施例に限定されず、任意で
ある。
)及び測定回数、また充電装置の種類、設置数及び充電
ゾーンの範囲等は、何れも実施例に限定されず、任意で
ある。
■)・・・作用
(1)・・・設定速度で連続回転するターンテーブル2
の各測定器ユニット1のチャック1aに対し、ワーク供
給装置3からワークWが1個宛供給され、チャック1a
のプランジャ端子16間にスプリング1cの弾発力で次
々とチャックされる。
の各測定器ユニット1のチャック1aに対し、ワーク供
給装置3からワークWが1個宛供給され、チャック1a
のプランジャ端子16間にスプリング1cの弾発力で次
々とチャックされる。
(2)・・・ワークWをチャックした各測定器ユニット
lが1次測定装置4(例、容量測定)の位置に回動する
と、該測定装置4の測定端子4aが下降して端子1cに
接触し、測定器ユニット1対1の端子間寸法2だけ、接
触したままターンテーブル2の回転と同期移動し、その
間接触状態を維持して測定を行い、次いで離隔上昇し、
原位置に復帰し、再び次位の測定器ユニット1の端子1
cに下降接触するサイクル動作を繰り返して、次々とワ
ークの測定を行う。
lが1次測定装置4(例、容量測定)の位置に回動する
と、該測定装置4の測定端子4aが下降して端子1cに
接触し、測定器ユニット1対1の端子間寸法2だけ、接
触したままターンテーブル2の回転と同期移動し、その
間接触状態を維持して測定を行い、次いで離隔上昇し、
原位置に復帰し、再び次位の測定器ユニット1の端子1
cに下降接触するサイクル動作を繰り返して、次々とワ
ークの測定を行う。
(3)・・・続いて、上記各測定器ユニット1が充電装
置5の位置に回動すると、該装置5の充電端子(ばね片
状、ブラシ状等)が端子1cに摺動接触し、充電ゾーン
5aの通過中に所定時間及び所定電圧の充電が行われる
。
置5の位置に回動すると、該装置5の充電端子(ばね片
状、ブラシ状等)が端子1cに摺動接触し、充電ゾーン
5aの通過中に所定時間及び所定電圧の充電が行われる
。
(4)・・・次で、充電済ワークをチャックした各測定
器ユニット1が2次測定装置4′ (例、IR測定等の
位置に回動して、上記(2)項記載と同じく測定端子4
aがサイクル動を繰り返して、ワークWの測定が行われ
る。
器ユニット1が2次測定装置4′ (例、IR測定等の
位置に回動して、上記(2)項記載と同じく測定端子4
aがサイクル動を繰り返して、ワークWの測定が行われ
る。
(5)・・・次に、上記測定器の各測定器ユニット1の
チャック1aが、ターンテーブル2と同期回転する分離
用ターンテーブル6の受取孔6a位置にくると、チャッ
ク1aが開いてワークWを受取孔6a中に釈放落下する
。
チャック1aが、ターンテーブル2と同期回転する分離
用ターンテーブル6の受取孔6a位置にくると、チャッ
ク1aが開いてワークWを受取孔6a中に釈放落下する
。
(6)・・・ワークWを次々と各受取孔6aに受取った
分離用ターンテーブル6が回転して、シュート7位置に
くると、該当測定値シュート位置でシャッターが開き、
よって、ワークWは測定値毎のシュートに分離されて落
下送給される。
分離用ターンテーブル6が回転して、シュート7位置に
くると、該当測定値シュート位置でシャッターが開き、
よって、ワークWは測定値毎のシュートに分離されて落
下送給される。
(7)・・・上記(1)〜(6)項の作用は、連続回転
するターンテーブル2の各測定器ユニット1に対し次々
と行われるワークWの供給に引続いて、全て連続的に行
われ、よって、ターンテーブル2が1回転する間に各ワ
ークWは1個1個、均等精密に測定、充電、測定され、
測定値に従って分類されるものである。
するターンテーブル2の各測定器ユニット1に対し次々
と行われるワークWの供給に引続いて、全て連続的に行
われ、よって、ターンテーブル2が1回転する間に各ワ
ークWは1個1個、均等精密に測定、充電、測定され、
測定値に従って分類されるものである。
■)・・・効果
(1)・・・連続回転する1台のターンテーブル上でワ
ークの測定、充電、そして分類等を、全て高速自動かつ
連続的に行い得るものであるから、1個1個のチップの
測定が精密均等に行われる極めて秀れた特長がある。
ークの測定、充電、そして分類等を、全て高速自動かつ
連続的に行い得るものであるから、1個1個のチップの
測定が精密均等に行われる極めて秀れた特長がある。
(2)・・・よって、ワークの測定等を従来方式に比し
数倍する高速度で高精度に行い得る利点があり、また、
測定機全体を簡潔に、コンパクトに構成し得る。
数倍する高速度で高精度に行い得る利点があり、また、
測定機全体を簡潔に、コンパクトに構成し得る。
(3)・・・各測定器ユニットは、ターンテーブルに放
射状に多数個設置したものであっても、個々に独立した
構成をなしているものであり、該ユニットにワークを供
給して当初にチャックしたままの状態で、ターンテーブ
ルと共に1回転する間に測定、充電、分離等の全操作を
行うものであるので、ワークを安定的に保持したままで
測定その他を行い得て、ワーク毎にハラつきのない、高
精度、高均質の測定等を実現し得る。
射状に多数個設置したものであっても、個々に独立した
構成をなしているものであり、該ユニットにワークを供
給して当初にチャックしたままの状態で、ターンテーブ
ルと共に1回転する間に測定、充電、分離等の全操作を
行うものであるので、ワークを安定的に保持したままで
測定その他を行い得て、ワーク毎にハラつきのない、高
精度、高均質の測定等を実現し得る。
(4)・・・測定装置の測定端子は、前記の如く、下降
接触→同期移動→離隔上昇→復元のサイクル動を、ター
ンテーブルの回転速度と同期して行うようにしたので、
測定端子と測定器ユニットの端子の接触は、いわば静止
位置における下降接触→設定時間接触維持→離隔上昇の
作用と、同等の条件で行われることとなり、よって、均
等で安定的な測定が可能となった。
接触→同期移動→離隔上昇→復元のサイクル動を、ター
ンテーブルの回転速度と同期して行うようにしたので、
測定端子と測定器ユニットの端子の接触は、いわば静止
位置における下降接触→設定時間接触維持→離隔上昇の
作用と、同等の条件で行われることとなり、よって、均
等で安定的な測定が可能となった。
なお、測定のための測定端子と測定器ユニットの端子の
接触を、摺動接触で行うと、ノイズ発生や接触不良、不
均等の恐れがあるが、この点、本発明は上記方式によっ
てその恐れを無くし得た。
接触を、摺動接触で行うと、ノイズ発生や接触不良、不
均等の恐れがあるが、この点、本発明は上記方式によっ
てその恐れを無くし得た。
(5)・・・IR測定等ためのワークの充電は、目的と
する測定値を得るために、所定時間の充電及び所定電圧
の充電が必要とされるが、本発明は連続回転するターン
テーブルの回転速度との関係において、設定角度範囲の
充電ゾーンを適宜設定して充電装置を備えることによっ
て、所期の目的に対応し得る特長がある。
する測定値を得るために、所定時間の充電及び所定電圧
の充電が必要とされるが、本発明は連続回転するターン
テーブルの回転速度との関係において、設定角度範囲の
充電ゾーンを適宜設定して充電装置を備えることによっ
て、所期の目的に対応し得る特長がある。
即ち、ターンテーブルの回転速度の調節、充電ゾーンの
設定角度範囲の調節、更にはターンテーブルの径の大小
、測定器ユニ7)の設置数及び間隔の調節等によって、
如何様な充電時間、電圧にも設定可能な特長がある。
設定角度範囲の調節、更にはターンテーブルの径の大小
、測定器ユニ7)の設置数及び間隔の調節等によって、
如何様な充電時間、電圧にも設定可能な特長がある。
第1図は本発明の構成概略を示す説明平面図、第2図は
測定器ユニットの構成説明図、第3図は測定装置の測定
端子の作用説明図である。 付号 W・・・ワーク(主に1、チップコンデンサー)、P・
・・端子IC1IC間寸法、α°・・・充電ゾーンの設
定角度範囲、β°・・・シュートの設定角度範囲、 1・・・測定器ユニット、1a・・・チャック、1b・
・・スプリング、1c・・・端子、ld・・・プランジ
ャ端子、2・・・ターンテーブル、2a・・・回転軸ミ
2b・・・チャック回転軌跡、2c・・・端子回動軌跡
、3・・・ワーク供給装置、4・・・測定装置(例、容
量)、4′・・・測定装置(例、rR値)、5・・・充
電装置、5a・・・充電ゾーン、6・・・分離用ターン
テーブル、6a・・・受取孔、6b・・・受取孔回動軌
跡、7・・・シュート。
測定器ユニットの構成説明図、第3図は測定装置の測定
端子の作用説明図である。 付号 W・・・ワーク(主に1、チップコンデンサー)、P・
・・端子IC1IC間寸法、α°・・・充電ゾーンの設
定角度範囲、β°・・・シュートの設定角度範囲、 1・・・測定器ユニット、1a・・・チャック、1b・
・・スプリング、1c・・・端子、ld・・・プランジ
ャ端子、2・・・ターンテーブル、2a・・・回転軸ミ
2b・・・チャック回転軌跡、2c・・・端子回動軌跡
、3・・・ワーク供給装置、4・・・測定装置(例、容
量)、4′・・・測定装置(例、rR値)、5・・・充
電装置、5a・・・充電ゾーン、6・・・分離用ターン
テーブル、6a・・・受取孔、6b・・・受取孔回動軌
跡、7・・・シュート。
Claims (6)
- (1)、ワークを導線を兼ねたスプリングの弾発力で開
閉自在に挾持するチャックと、端子を結線している測定
器ユニットを、連続回転する円板形ターンテーブルに放
射状に等間隔に多数個備え、 該ターンテーブルにおける、チャック回動軌跡上の設定
位置にワーク供給装置を、端子回動軌跡上の1以上の設
定位置に測定装置を、端子回動軌跡上の設定角度範囲に
充電装置を夫々備え、また、ターンテーブルのチャック
回動軌跡下における最後位測定装置とワーク供給装置間
の設定位置に、ターンテーブルと同期回転する分離用タ
ーンテーブルを備えた、 測定機。 - (2)、測定器ユニットは、開閉摺動自在に備えた一対
のプランジャ端子を加圧と電気接続を兼ねたスプリング
を受けてなるチャックと、離隔して、備えた端子を結線
して設けたものであり、プランジャ端子先端間にワーク
の左右端を弾力的にチャックするものである、 測定機。 - (3)、チップ供給装置は、適宜のフィダー等からワー
クをターンテーブルの各測定器ユニットのチャックに、
1個宛整列供給するものである、測定機。 - (4)、測定装置は、容量測定、IR測定等を行う適宜
の測定装置を用い、その測定端子が、下降してターンテ
ーブルの端子に接触→端子相互間寸法ターンテーブルと
同期移動(その間に測定)→上昇→原位置復帰→再び下
降してターンテーブルの端子に接触のサイクル動をター
ンテーブルの回転と同期して行うものである、 測定機。 - (5)、充電装置は、適宜の充電装置を端子回動軌跡上
の設定角度範囲間備えて、所定の時間及び電圧の充電を
行う充電ゾーンを形成したものであり、その充電端子が
回転するターンテーブルの各測定器ユニットの端子に摺
動接触するものである、 測定機。 - (6)、分離用ターンテーブルは、円板周辺に沿ってシ
ャッター付のワーク受取孔を等間隔に備えたものであり
、該受取孔の回動軌跡の一部とターンテーブルのチャッ
ク回動軌跡の一部を重合して備え、 ターンテーブルと同期回転して、各チャックが開いて釈
放落下するワークを各受取孔に1個宛受取るものであり
、 また、該分離用ターンテーブルの受取孔回動軌跡下方の
設定角度範囲に、所定測定値毎にワークを分離する複数
のシュートを受取孔と等間隔に備え、受取孔が該当測定
値シュート上にくるとシャッターを開いてワークをシュ
ートに落下するようにしたものである、 測定機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63125587A JPH01295176A (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | 測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63125587A JPH01295176A (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | 測定機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01295176A true JPH01295176A (ja) | 1989-11-28 |
Family
ID=14913868
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63125587A Pending JPH01295176A (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | 測定機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01295176A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0555077U (ja) * | 1991-12-24 | 1993-07-23 | シーケーディ株式会社 | コンデンサ素子の充電、放電、測定用電極装置 |
| US5410261A (en) * | 1991-07-09 | 1995-04-25 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Semiconductor device testing apparatus |
| JP2003337153A (ja) * | 2002-05-20 | 2003-11-28 | Murata Mfg Co Ltd | チップ部品の特性測定方法および特性測定装置 |
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-
1988
- 1988-05-23 JP JP63125587A patent/JPH01295176A/ja active Pending
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