PL246903B1 - Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej - Google Patents

Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej Download PDF

Info

Publication number
PL246903B1
PL246903B1 PL444103A PL44410323A PL246903B1 PL 246903 B1 PL246903 B1 PL 246903B1 PL 444103 A PL444103 A PL 444103A PL 44410323 A PL44410323 A PL 44410323A PL 246903 B1 PL246903 B1 PL 246903B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
lower base
shape
feet
upper cover
top cover
Prior art date
Application number
PL444103A
Other languages
English (en)
Other versions
PL444103A1 (pl
Inventor
Damian Bańkowski
Piotr Młynarczyk
Wojciech Depczyński
Kazimierz Bolanowski
Original Assignee
Politechnika Swietokrzyska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Swietokrzyska filed Critical Politechnika Swietokrzyska
Priority to PL444103A priority Critical patent/PL246903B1/pl
Publication of PL444103A1 publication Critical patent/PL444103A1/pl
Publication of PL246903B1 publication Critical patent/PL246903B1/pl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/20025Sample holders or supports therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T7/00Details of radiation-measuring instruments
    • G01T7/02Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/307Accessories, mechanical or electrical features cuvettes-sample holders

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, charakteryzuje się tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2) w kształcie koła, przy czym w podstawie dolnej (1) i pokrywie górnej (2) wykonane są obwodowo przy krawędziach podfrezowania o szerokościach od 1 mm do 5 mm i stopniowanych głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm, przy czym pomiędzy podstawą dolną (1), a pokrywą górną (2) zamocowane są cylindryczne ścianki (3) w postaci rur o grubościach od 1 mm do 5 mm, przy czym promieniowo w równych odstępach w podstawie dolnej (1) wykonanych jest sześć okrągłych gniazd, w których osadzone są stopy (4), mające kształt ściętego stożka o różnych wysokościach z wykonanym na powierzchni szczytowej kolistym wgłębieniu, na którym osadzona jest kulka wzorcowa (5). Korzystnie, podstawa dolna (1), pokrywa górna (2) i stopy (4) wykonane są z poliestru o małej gęstości.

Description

Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych.
Wynalazek szczególnie przydatny może być do badań nieniszczących w przemyśle kosmicznym lub militarnym. Ponadto, możliwe jest wykorzystanie w badaniach archeologicznych i przemysłowych badaniach tomograficznych przedmiotów nierozbieralnych, wykonanych z jednego lub więcej materiałów o znanym składzie chemicznym. Przez skład chemiczny należy rozumieć skład pierwiastków atomowych tworzących badany materiał.
Promieniowanie rentgenowskie X-Ray oraz gamma mają zdolność do przenikania przez materię. W zależności od rodzaju i grubości prześwietlanych obiektów następuje osłabienie energii promieniowania. Zjawisko to jest spowodowane wzajemnym oddziaływaniem kwantów promieniowania z atomami badanego materiału. Efektem wzajemnego oddziaływania promieniowania rentgenowskiego i materii jest pochłanianie i rozpraszanie promieniowania. Zgodnie z dotychczasową wiedzą osłabienie promieniowania X i gamma przy przejściu przez materię zależy od długości fali oraz od rodzaju prześwietlanego materiału. Wynalazek z tego powodu ma zastosowanie dla źródeł o różnych mocach, a wykorzystywana będzie zależność rodzaju materiału, a dokładniej jego liczby atomowej. W tomografii komputerowej spotkać można zjawisko tzw. scateringu, czyli rozmycia obrazu na skutek zmian przekroju badanego obiektu.
Celem wynalazku określenie wpływu materiału i jego grubości na dokładność rekonstrukcji tomograficznych i określenie wymiarów wewnętrznych badanych obiektów.
Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, charakteryzuje się tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej i pokrywy górnej w kształcie koła, przy czym w podstawie dolnej i pokrywie górnej wykonane są obwodowo przy krawędziach podfrezowania o szerokościach od 1 do 5 mm i stopniowanych głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm. Pomiędzy podstawą dolną a pokrywą górną zamocowane są wsporniki w postaci rur o grubościach od 1 do 5 mm, przy czym promieniowo w równych odstępach w podstawie dolnej wykonanych jest sześć okrągłych gniazd, w których osadzone są stopy, mające kształt ściętego stożka o różnych wysokościach z wykonanym na powierzchni szczytowej kolistym wgłębieniu, na którym osadzona jest kulka wzorcowa.
Korzystnie, podstawa dolna pokrywa górna i stopy wykonane są z poliestru o małej gęstości.
Zaletą wynalazku jest prosta budowa i możliwość wykonania ścianek wzorca w postaci rur o określonej grubości z żądanego materiału, w zależności od potrzeb użytkownika. Łatwość wymiany ścianek zewnętrznych pozwala na dowolną konfiguracje rodzajów i ich grubości.
Przedmiot wynalazku został przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia wzorzec w rzucie perspektywicznym, fig. 2 - przekrój wzorca, a fig. 3 - wzorzec w widoku 3D.
Wzorzec zbudowany jest z podstawy dolnej 1 i pokrywy górnej 2 wykonanych z poliestru o małej gęstości, w kształcie koła. W podstawie dolnej 1 i pokrywie górnej 2 wykonane są obwodowo przy krawędziach podfrezowania o szerokościach 1-5 mm i głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm. Pomiędzy podstawą dolną a pokrywą górną zamocowane są cylindryczne ścianki 3 w postaci rur o grubościach od 1 do 5 mm. Promieniowo w równych odstępach w podstawie dolnej 1 wykonanych jest sześć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, umożliwiających szybkie i łatwe zamocowanie stóp 4. Stopy w kształcie ściętego stożka charakteryzują się różnymi wysokościami i również są wykonane z tego samego materiału co podstawa dolna 1. Stopy 4 o średnicy podstawy 12 mm posiadają u szczytu koliste wgłębienia o promieniu od 1 do 4 mm. Umożliwiają one zamocowanie kulek wzorcowych 5 o średnicach od 2 do 8 mm. Wysokości stóp są tak dobrane by zachować w poziomym usytuowaniu podstawy, sytuacje nienakładania się na siebie materiałów wzorców na tej samej wysokości.

Claims (2)

1. Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, znamienny tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2)
PL 246903 Β1 w kształcie koła, przy czym w podstawie dolnej (1) i pokrywie górnej (2) wykonane są obwodowo przy krawędziach podfrezowania o szerokościach od 1 do 5 mm i stopniowanych głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm, przy czym pomiędzy podstawą dolną (1) a pokrywą górną (2) zamocowane są cylindryczne ścianki (3) w postaci rur o grubościach od 1 do 5 mm, przy czym promieniowo w równych odstępach w podstawie dolnej (1) wykonanych jest sześć okrągłych gniazd, w których osadzone są stopy (4), mające kształt ściętego stożka o różnych wysokościach z wykonanym na powierzchni szczytowej kolistym wgłębieniu, na którym osadzona jest kulka wzorcowa (5).
2. Wzorzec, według zastrz. 1, znamienny tym, że podstawa dolna (1), pokrywa górna (2) i stopy (4) wykonane są z poliestru o małej gęstości.
PL444103A 2023-03-16 2023-03-16 Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej PL246903B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL444103A PL246903B1 (pl) 2023-03-16 2023-03-16 Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL444103A PL246903B1 (pl) 2023-03-16 2023-03-16 Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL444103A1 PL444103A1 (pl) 2023-09-25
PL246903B1 true PL246903B1 (pl) 2025-03-31

Family

ID=88144663

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL444103A PL246903B1 (pl) 2023-03-16 2023-03-16 Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL246903B1 (pl)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL221210B1 (pl) * 2012-12-05 2016-03-31 Śląski Univ Medyczny W Katowicach Stabilizator pomiarowy mikrotomografu komputerowego
CN108449984A (zh) * 2015-10-23 2018-08-24 海克斯康测量技术有限公司 三维计算机断层扫描量规
EP3203219B1 (fr) * 2016-02-02 2018-09-05 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Procede de caracterisation d'un echantillon combinant une technique de characterisation par tomgraphie par rayons x et une technique de caracterisation par spectrometrie de masse a ionisation secondaire
WO2021209048A1 (en) * 2020-04-17 2021-10-21 Master Dynamic Limited Imaging process and system
US20220042930A1 (en) * 2020-08-05 2022-02-10 Faro Technologies, Inc. Part inspection method using computed tomography
FR3116619A1 (fr) * 2020-11-26 2022-05-27 Safran Outillage de support d’eprouvettes pour un controle par tomographie

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL221210B1 (pl) * 2012-12-05 2016-03-31 Śląski Univ Medyczny W Katowicach Stabilizator pomiarowy mikrotomografu komputerowego
CN108449984A (zh) * 2015-10-23 2018-08-24 海克斯康测量技术有限公司 三维计算机断层扫描量规
EP3203219B1 (fr) * 2016-02-02 2018-09-05 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Procede de caracterisation d'un echantillon combinant une technique de characterisation par tomgraphie par rayons x et une technique de caracterisation par spectrometrie de masse a ionisation secondaire
WO2021209048A1 (en) * 2020-04-17 2021-10-21 Master Dynamic Limited Imaging process and system
US20220042930A1 (en) * 2020-08-05 2022-02-10 Faro Technologies, Inc. Part inspection method using computed tomography
FR3116619A1 (fr) * 2020-11-26 2022-05-27 Safran Outillage de support d’eprouvettes pour un controle par tomographie

Also Published As

Publication number Publication date
PL444103A1 (pl) 2023-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Gapinski et al. Comparison of different method of measurement geometry using CMM, optical scanner and computed tomography 3D
Harding Inelastic photon scattering: effects and applications in biomedical science and industry
RU2428680C2 (ru) Способ определения характеристик объекта
CA2348150A1 (en) Non-rotating x-ray system for three-dimensional, three-parameter imaging
KR20140029745A (ko) 물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치
Kolkoori et al. Novel X-ray backscatter technique for detection of dangerous materials: application to aviation and port security
BRPI0716681B1 (pt) "métodos e arranjo para melhoria de determinações tomográficas, especificamente adequadas para inspeção de barras de reforço de aço em estruturas de concreto."
AU2025200611A1 (en) Sample holder
PL246903B1 (pl) Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej
Ewert et al. Corrosion monitoring with tangential radiography and limited view computed tomography
Wajid et al. X-ray backscattering: design, applications, and prospects in non-destructive evaluation
PL246904B1 (pl) Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej
JP6574996B2 (ja) ガンマ線測定用収納容器、ガンマ線測定装置、及びガンマ線測定方法
ES3047696T3 (en) Density analysis of geological sample
Lee et al. Thickness evaluation of pipes using density profile on radiographs
Rapaport et al. Application of gamma ray computed tomography to nondestructive testing
CN115793076A (zh) 辐射防护布置和安检设备
US2975281A (en) Method and apparatus for measuring wall thickness
JP2015227868A5 (ja) 放射線の遮蔽能力試験方法及びこれに用いる容器
Notea Film-based industrial tomography
Kronenberg et al. Locating and imaging sources of gamma and X-radiation directly or through thick shields
JPH039011Y2 (pl)
Islami Rad Optimization of energy window for gamma densitometer based backscatter method in oil industry
Miyoshi et al. The evaluation of SCC defects of steel pipe using a high-energy X-ray CT sc anner
Yacout et al. A limited-scan backscatter technique for detection of hidden corrosion