PL246904B1 - Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej - Google Patents
Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej Download PDFInfo
- Publication number
- PL246904B1 PL246904B1 PL444104A PL44410423A PL246904B1 PL 246904 B1 PL246904 B1 PL 246904B1 PL 444104 A PL444104 A PL 444104A PL 44410423 A PL44410423 A PL 44410423A PL 246904 B1 PL246904 B1 PL 246904B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- lower base
- upper cover
- supports
- millings
- pattern
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
- G01N23/20025—Sample holders or supports therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/02—Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/307—Accessories, mechanical or electrical features cuvettes-sample holders
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, charakteryzuje się tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2) w kształcie kwadratu oraz kątowych wsporników (3), zamocowanych w narożach podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2), przy czym w podstawie dolnej (1) oraz w wewnętrznych powierzchniach wsporników (3) wykonane są podfrezowania o szerokości od 1 mm do 5 mm i głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm, przy czym w pokrywie górnej (2) wykonane są otwory przelotowe odpowiadające rozmieszczeniu i wymiarom podfrezowań podstawy dolnej (1). Pomiędzy podstawą dolną (1), a pokrywą górną (2) osadzone są ścianki boczne w postaci kwadratowych płyt o grubościach 1 mm - 5 mm i krawędziach bocznych odpowiadających wykonanym podfrezowaniom w podstawie dolnej (1) oraz płycie górnej (2), które wsunięte są pomiędzy wsporniki (3), ponadto, w podstawie dolnej (1) wykonanych jest dziewięć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, rozmieszczonych w jednakowych odstępach od siebie i od ścianek bocznych wzorca, przy czym stopy (4) mają postać ściętych stożków o różnych wysokościach, a na powierzchniach szczytowych mają wykonane kuliste wgłębienia o promieniu zaokrąglenia 1 mm - 4 mm, współpracujące z kulistymi wzornikami (5).
Description
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych.
Wynalazek szczególnie przydatny może być do badań nieniszczących w przemyśle kosmicznym lub militarnym. Ponadto, możliwe jest wykorzystanie w badaniach archeologicznych i przemysłowych badaniach tomograficznych przedmiotów nierozbieralnych, wykonanych z jednego lub więcej materiałów o znanym składzie chemicznym. Przez skład chemiczny należy rozumieć skład pierwiastków atomowych tworzących badany materiał.
Promieniowanie rentgenowskie X-Ray oraz gamma mają zdolność do przenikania przez materię. W zależności od rodzaju i grubości prześwietlanych obiektów następuje osłabienie energii promieniowania. Zjawisko to jest spowodowane wzajemnym oddziaływaniem kwantów promieniowania z atomami badanego materiału. Efektem wzajemnego oddziaływania promieniowania rentgenowskiego i materii jest pochłanianie i rozpraszanie promieniowania. Zgodnie z dotychczasową wiedzą osłabienie promieniowania X i gamma przy przejściu przez materię zależy od długości fali oraz od rodzaju prześwietlanego materiału. Wynalazek z tego powodu ma zastosowanie dla źródeł o różnych mocach, a wykorzystywana będzie zależność rodzaju materiału, a dokładniej jego liczby atomowej. W tomografii komputerowej spotkać można zjawisko tzw. scateringu, czyli rozmycia obrazu na skutek zmian przekroju badanego obiektu.
Celem wynalazku określenie wpływu materiału i jego grubości na dokładność rekonstrukcji tomograficznych i określenie wymiarów wewnętrznych badanych obiektów.
Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, charakteryzuje się tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej i pokrywy górnej w kształcie kwadratu oraz kątowych wsporników, zamocowanych w narożach podstawy dolnej i pokrywy górnej. W podstawie dolnej oraz we wewnętrznych powierzchniach wsporników wykonane są podfrezowania o szerokości od 1 mm do 5 mm i głębokościach odpowiednio 1,2, 3, 4 i 5 mm, przy czym w pokrywie górnej wykonane są otwory przelotowe odpowiadające rozmieszczeniu i wymiarom podfrezowań podstawy dolnej, zaś pomiędzy podstawą dolną a pokrywą górną osadzone są ścianki boczne w postaci kwadratowych płyt o grubościach 1-5 mm i krawędziach bocznych odpowiadających wykonanym podfrezowaniom w podstawie dolnej oraz płycie górnej, które wsunięte są pomiędzy wsporniki. Ponadto, w podstawie dolnej wykonanych jest dziewięć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, rozmieszczonych w jednakowych odstępach od siebie i od ścianek bocznych wzorca, przy czym stopy mają postać ściętych stożków o różnych wysokościach a na powierzchniach szczytowych mają wykonane kuliste wgłębienia o promieniu zaokrąglenia 1-4 mm, współpracujące z kulistymi wzornikami.
Korzystnie, podstawa dolna, pokrywa górna, wsporniki oraz stopy wykonane są z poliestru o małej gęstości.
Zaletą wynalazku jest prosta budowa i możliwość wykonania ścianek w postaci płyt z pożądanego materiału o różnej grubości, w zależności od potrzeb użytkownika. Łatwość wymiany ścianek zewnętrznych pozwala na dowolną konfiguracje rodzajów i grubości ścianek.
Przedmiot wynalazku został przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia wzorzec w rzucie perspektywicznym, fig. 2 - przekrój wzorca, a fig. 3 - widok na podstawę dolną wzorca.
Wzorzec zbudowany jest z podstawy dolnej 1 i pokrywy górnej 2 w kształcie kwadratu oraz kątowych wsporników 3, zamocowanych w narożach podstawy dolnej 1 i pokrywy górnej 2, wykonanych z poliestru o małej gęstości. W podstawie dolnej 1 oraz we wewnętrznych powierzchniach wsporników 3 wykonane są podfrezowania o szerokości od 1 mm do 5 mm i głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm. W pokrywie górnej 2 wykonane są otwory przelotowe odpowiadające rozmieszczeniu i wymiarom podfrezowań podstawy dolnej 1. Pomiędzy podstawą dolną 1 a pokrywą górną 2 osadzone są ścianki boczne w postaci kwadratowych płyt o grubościach 1-5 mm i krawędziach bocznych odpowiadających wykonanym podfrezowaniom w podstawie dolnej 1 oraz płycie górnej 2, które wsuwane są pomiędzy wsporniki 3. W podstawie dolnej 1 wykonanych jest dziewięć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, rozmieszczonych w jednakowych odstępach od siebie i od ścianek bocznych wzorca, umożliwiających szybkie i łatwe osadzenie stóp 4. Stopy 4 mają postać ściętych stożków o różnych wysokościach również są wykonane z tego samego materiału co podstawa dolna 1 i pokrywa górna 2. Stopy o średnicy podstawy 12 mm na powierzchni szczytowej mają wykonane kuliste wgłębienia o promieniu zaokrąglenia 1-4 mm w zależności od średnicy kulistego wzornika 5. Umożliwia to posadowienie kulistych wzorników 5 o średnicach 2-8 mm, wykonanych głównie z materiałów stalowych. Wysokości stóp 4 są tak dobrane by zachować w poziomym usytuowaniu podstawy, sytuacje nienakładania się na siebie materiałów wzorców na tej samej wysokości.
Claims (2)
1. Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, znamienny tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2) w kształcie kwadratu oraz kątowych wsporników (3), zamocowanych w narożach podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2), przy czym w podstawie dolnej (1) oraz we wewnętrznych powierzchniach wsporników (3) wykonane są podfrezowania o szerokości od 1 mm do 5 mm i głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm, przy czym w pokrywie górnej (2) wykonane są otwory przelotowe odpowiadające rozmieszczeniu i wymiarom podfrezowań podstawy dolnej (1), zaś pomiędzy podstawą dolną (1) a pokrywą górną (2) osadzone są ścianki boczne w postaci kwadratowych płyt o grubościach 1-5 mm i krawędziach bocznych odpowiadających wykonanym podfrezowaniom w podstawie dolnej (1) oraz płycie górnej (2), które wsunięte są pomiędzy wsporniki (3), ponadto, w podstawie dolnej (1) wykonanych jest dziewięć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, rozmieszczonych w jednakowych odstępach od siebie i od ścianek bocznych wzorca, przy czym stopy (4) mają postać ściętych stożków o różnych wysokościach a na powierzchniach szczytowych mają wykonane kuliste wgłębienia o promieniu zaokrąglenia 1-4 mm, współpracujące z kulistymi wzornikami (5).
2. Wzorzec, według zastrz. 1, znamienny tym, że podstawa dolna (1), pokrywa górna (2), wsporniki (3) oraz stopy (4) wykonane są z poliestru o małej gęstości.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL444104A PL246904B1 (pl) | 2023-03-16 | 2023-03-16 | Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL444104A PL246904B1 (pl) | 2023-03-16 | 2023-03-16 | Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL444104A1 PL444104A1 (pl) | 2023-09-25 |
| PL246904B1 true PL246904B1 (pl) | 2025-03-31 |
Family
ID=88144654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL444104A PL246904B1 (pl) | 2023-03-16 | 2023-03-16 | Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL246904B1 (pl) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL221210B1 (pl) * | 2012-12-05 | 2016-03-31 | Śląski Univ Medyczny W Katowicach | Stabilizator pomiarowy mikrotomografu komputerowego |
| CN108449984A (zh) * | 2015-10-23 | 2018-08-24 | 海克斯康测量技术有限公司 | 三维计算机断层扫描量规 |
| EP3203219B1 (fr) * | 2016-02-02 | 2018-09-05 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Procede de caracterisation d'un echantillon combinant une technique de characterisation par tomgraphie par rayons x et une technique de caracterisation par spectrometrie de masse a ionisation secondaire |
| WO2021209048A1 (en) * | 2020-04-17 | 2021-10-21 | Master Dynamic Limited | Imaging process and system |
| US20220042930A1 (en) * | 2020-08-05 | 2022-02-10 | Faro Technologies, Inc. | Part inspection method using computed tomography |
| FR3116619A1 (fr) * | 2020-11-26 | 2022-05-27 | Safran | Outillage de support d’eprouvettes pour un controle par tomographie |
-
2023
- 2023-03-16 PL PL444104A patent/PL246904B1/pl unknown
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL221210B1 (pl) * | 2012-12-05 | 2016-03-31 | Śląski Univ Medyczny W Katowicach | Stabilizator pomiarowy mikrotomografu komputerowego |
| CN108449984A (zh) * | 2015-10-23 | 2018-08-24 | 海克斯康测量技术有限公司 | 三维计算机断层扫描量规 |
| EP3203219B1 (fr) * | 2016-02-02 | 2018-09-05 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Procede de caracterisation d'un echantillon combinant une technique de characterisation par tomgraphie par rayons x et une technique de caracterisation par spectrometrie de masse a ionisation secondaire |
| WO2021209048A1 (en) * | 2020-04-17 | 2021-10-21 | Master Dynamic Limited | Imaging process and system |
| US20220042930A1 (en) * | 2020-08-05 | 2022-02-10 | Faro Technologies, Inc. | Part inspection method using computed tomography |
| FR3116619A1 (fr) * | 2020-11-26 | 2022-05-27 | Safran | Outillage de support d’eprouvettes pour un controle par tomographie |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL444104A1 (pl) | 2023-09-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Forsberg et al. | Full Three‐dimensional strain measurements on wood exposed to three‐point bending: analysis by use of digital volume correlation applied to synchrotron radiation micro‐computed tomography image data | |
| Hagen et al. | Low‐dose phase contrast tomography with conventional x‐ray sources | |
| CN101796400B (zh) | 用于改善x射线检查设备中的物质可识别度的方法和x射线检查设备 | |
| US8588366B2 (en) | X-ray imaging apparatus and X-ray imaging method | |
| Lundström et al. | X-ray phase contrast for CO2 microangiography | |
| Pelzer et al. | A beam hardening and dispersion correction for x‐ray dark‐field radiography | |
| US20150110247A1 (en) | Surrogate phantom for differential phase contrast imaging | |
| US20110064196A1 (en) | X-ray imaging apparatus and method of x-ray imaging | |
| Koenig et al. | On the origin and nature of the grating interferometric dark-field contrast obtained with low-brilliance x-ray sources | |
| BRPI0716681B1 (pt) | "métodos e arranjo para melhoria de determinações tomográficas, especificamente adequadas para inspeção de barras de reforço de aço em estruturas de concreto." | |
| PL246904B1 (pl) | Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej | |
| Reischig et al. | High-resolution non-invasive 3D imaging of paint microstructure by synchrotron-based X-ray laminography | |
| AU2025200611A1 (en) | Sample holder | |
| US20190307414A1 (en) | Test object for calibration of an x-ray imaging device | |
| US20110103549A1 (en) | X-ray imaging apparatus and method of x-ray imaging | |
| PL246903B1 (pl) | Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej | |
| Fittschen et al. | Confocal MXRF in environmental applications | |
| US2812440A (en) | Gamma ray wall thickness measuring device | |
| JP6574996B2 (ja) | ガンマ線測定用収納容器、ガンマ線測定装置、及びガンマ線測定方法 | |
| Shashev et al. | Improving the visibility of phase gratings for Talbot-Lau X-ray imaging | |
| WO2013183470A1 (en) | X-ray apparatus and method of measuring x-rays | |
| Zakharova et al. | Bulk morphology of porous materials at submicrometer scale studied by dark-field x-ray imaging with Hartmann masks | |
| Herzen | A grating interferometer for materials science imaging at a second-generation synchrotron radiation source | |
| Jaenisch et al. | Scatter Imaging-Simulation of Aperture Focusing by Deconvolution | |
| Chiaghanam et al. | Safety of Ionizing Radiation in selected Conventional X-ray Diagnostic centres in Calabar and Uyo metropolises, Nigeria |