PL246904B1 - Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej - Google Patents

Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej Download PDF

Info

Publication number
PL246904B1
PL246904B1 PL444104A PL44410423A PL246904B1 PL 246904 B1 PL246904 B1 PL 246904B1 PL 444104 A PL444104 A PL 444104A PL 44410423 A PL44410423 A PL 44410423A PL 246904 B1 PL246904 B1 PL 246904B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
lower base
upper cover
supports
millings
pattern
Prior art date
Application number
PL444104A
Other languages
English (en)
Other versions
PL444104A1 (pl
Inventor
Piotr Młynarczyk
Damian Bańkowski
Wojciech Depczyński
Kazimierz Bolanowski
Albert Bilski
Original Assignee
Politechnika Swietokrzyska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Swietokrzyska filed Critical Politechnika Swietokrzyska
Priority to PL444104A priority Critical patent/PL246904B1/pl
Publication of PL444104A1 publication Critical patent/PL444104A1/pl
Publication of PL246904B1 publication Critical patent/PL246904B1/pl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/20025Sample holders or supports therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T7/00Details of radiation-measuring instruments
    • G01T7/02Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/307Accessories, mechanical or electrical features cuvettes-sample holders

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, charakteryzuje się tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2) w kształcie kwadratu oraz kątowych wsporników (3), zamocowanych w narożach podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2), przy czym w podstawie dolnej (1) oraz w wewnętrznych powierzchniach wsporników (3) wykonane są podfrezowania o szerokości od 1 mm do 5 mm i głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm, przy czym w pokrywie górnej (2) wykonane są otwory przelotowe odpowiadające rozmieszczeniu i wymiarom podfrezowań podstawy dolnej (1). Pomiędzy podstawą dolną (1), a pokrywą górną (2) osadzone są ścianki boczne w postaci kwadratowych płyt o grubościach 1 mm - 5 mm i krawędziach bocznych odpowiadających wykonanym podfrezowaniom w podstawie dolnej (1) oraz płycie górnej (2), które wsunięte są pomiędzy wsporniki (3), ponadto, w podstawie dolnej (1) wykonanych jest dziewięć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, rozmieszczonych w jednakowych odstępach od siebie i od ścianek bocznych wzorca, przy czym stopy (4) mają postać ściętych stożków o różnych wysokościach, a na powierzchniach szczytowych mają wykonane kuliste wgłębienia o promieniu zaokrąglenia 1 mm - 4 mm, współpracujące z kulistymi wzornikami (5).

Description

Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych.
Wynalazek szczególnie przydatny może być do badań nieniszczących w przemyśle kosmicznym lub militarnym. Ponadto, możliwe jest wykorzystanie w badaniach archeologicznych i przemysłowych badaniach tomograficznych przedmiotów nierozbieralnych, wykonanych z jednego lub więcej materiałów o znanym składzie chemicznym. Przez skład chemiczny należy rozumieć skład pierwiastków atomowych tworzących badany materiał.
Promieniowanie rentgenowskie X-Ray oraz gamma mają zdolność do przenikania przez materię. W zależności od rodzaju i grubości prześwietlanych obiektów następuje osłabienie energii promieniowania. Zjawisko to jest spowodowane wzajemnym oddziaływaniem kwantów promieniowania z atomami badanego materiału. Efektem wzajemnego oddziaływania promieniowania rentgenowskiego i materii jest pochłanianie i rozpraszanie promieniowania. Zgodnie z dotychczasową wiedzą osłabienie promieniowania X i gamma przy przejściu przez materię zależy od długości fali oraz od rodzaju prześwietlanego materiału. Wynalazek z tego powodu ma zastosowanie dla źródeł o różnych mocach, a wykorzystywana będzie zależność rodzaju materiału, a dokładniej jego liczby atomowej. W tomografii komputerowej spotkać można zjawisko tzw. scateringu, czyli rozmycia obrazu na skutek zmian przekroju badanego obiektu.
Celem wynalazku określenie wpływu materiału i jego grubości na dokładność rekonstrukcji tomograficznych i określenie wymiarów wewnętrznych badanych obiektów.
Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, charakteryzuje się tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej i pokrywy górnej w kształcie kwadratu oraz kątowych wsporników, zamocowanych w narożach podstawy dolnej i pokrywy górnej. W podstawie dolnej oraz we wewnętrznych powierzchniach wsporników wykonane są podfrezowania o szerokości od 1 mm do 5 mm i głębokościach odpowiednio 1,2, 3, 4 i 5 mm, przy czym w pokrywie górnej wykonane są otwory przelotowe odpowiadające rozmieszczeniu i wymiarom podfrezowań podstawy dolnej, zaś pomiędzy podstawą dolną a pokrywą górną osadzone są ścianki boczne w postaci kwadratowych płyt o grubościach 1-5 mm i krawędziach bocznych odpowiadających wykonanym podfrezowaniom w podstawie dolnej oraz płycie górnej, które wsunięte są pomiędzy wsporniki. Ponadto, w podstawie dolnej wykonanych jest dziewięć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, rozmieszczonych w jednakowych odstępach od siebie i od ścianek bocznych wzorca, przy czym stopy mają postać ściętych stożków o różnych wysokościach a na powierzchniach szczytowych mają wykonane kuliste wgłębienia o promieniu zaokrąglenia 1-4 mm, współpracujące z kulistymi wzornikami.
Korzystnie, podstawa dolna, pokrywa górna, wsporniki oraz stopy wykonane są z poliestru o małej gęstości.
Zaletą wynalazku jest prosta budowa i możliwość wykonania ścianek w postaci płyt z pożądanego materiału o różnej grubości, w zależności od potrzeb użytkownika. Łatwość wymiany ścianek zewnętrznych pozwala na dowolną konfiguracje rodzajów i grubości ścianek.
Przedmiot wynalazku został przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia wzorzec w rzucie perspektywicznym, fig. 2 - przekrój wzorca, a fig. 3 - widok na podstawę dolną wzorca.
Wzorzec zbudowany jest z podstawy dolnej 1 i pokrywy górnej 2 w kształcie kwadratu oraz kątowych wsporników 3, zamocowanych w narożach podstawy dolnej 1 i pokrywy górnej 2, wykonanych z poliestru o małej gęstości. W podstawie dolnej 1 oraz we wewnętrznych powierzchniach wsporników 3 wykonane są podfrezowania o szerokości od 1 mm do 5 mm i głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm. W pokrywie górnej 2 wykonane są otwory przelotowe odpowiadające rozmieszczeniu i wymiarom podfrezowań podstawy dolnej 1. Pomiędzy podstawą dolną 1 a pokrywą górną 2 osadzone są ścianki boczne w postaci kwadratowych płyt o grubościach 1-5 mm i krawędziach bocznych odpowiadających wykonanym podfrezowaniom w podstawie dolnej 1 oraz płycie górnej 2, które wsuwane są pomiędzy wsporniki 3. W podstawie dolnej 1 wykonanych jest dziewięć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, rozmieszczonych w jednakowych odstępach od siebie i od ścianek bocznych wzorca, umożliwiających szybkie i łatwe osadzenie stóp 4. Stopy 4 mają postać ściętych stożków o różnych wysokościach również są wykonane z tego samego materiału co podstawa dolna 1 i pokrywa górna 2. Stopy o średnicy podstawy 12 mm na powierzchni szczytowej mają wykonane kuliste wgłębienia o promieniu zaokrąglenia 1-4 mm w zależności od średnicy kulistego wzornika 5. Umożliwia to posadowienie kulistych wzorników 5 o średnicach 2-8 mm, wykonanych głównie z materiałów stalowych. Wysokości stóp 4 są tak dobrane by zachować w poziomym usytuowaniu podstawy, sytuacje nienakładania się na siebie materiałów wzorców na tej samej wysokości.

Claims (2)

1. Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej, służący do oceny wpływu rodzaju materiału i jego grubości na dokładność wymiarowo kształtową przedmiotów zamkniętych, znamienny tym, że zbudowany jest z podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2) w kształcie kwadratu oraz kątowych wsporników (3), zamocowanych w narożach podstawy dolnej (1) i pokrywy górnej (2), przy czym w podstawie dolnej (1) oraz we wewnętrznych powierzchniach wsporników (3) wykonane są podfrezowania o szerokości od 1 mm do 5 mm i głębokościach odpowiednio 1, 2, 3, 4 i 5 mm, przy czym w pokrywie górnej (2) wykonane są otwory przelotowe odpowiadające rozmieszczeniu i wymiarom podfrezowań podstawy dolnej (1), zaś pomiędzy podstawą dolną (1) a pokrywą górną (2) osadzone są ścianki boczne w postaci kwadratowych płyt o grubościach 1-5 mm i krawędziach bocznych odpowiadających wykonanym podfrezowaniom w podstawie dolnej (1) oraz płycie górnej (2), które wsunięte są pomiędzy wsporniki (3), ponadto, w podstawie dolnej (1) wykonanych jest dziewięć okrągłych gniazd o średnicy 6 mm i głębokości 4 mm, rozmieszczonych w jednakowych odstępach od siebie i od ścianek bocznych wzorca, przy czym stopy (4) mają postać ściętych stożków o różnych wysokościach a na powierzchniach szczytowych mają wykonane kuliste wgłębienia o promieniu zaokrąglenia 1-4 mm, współpracujące z kulistymi wzornikami (5).
2. Wzorzec, według zastrz. 1, znamienny tym, że podstawa dolna (1), pokrywa górna (2), wsporniki (3) oraz stopy (4) wykonane są z poliestru o małej gęstości.
PL444104A 2023-03-16 2023-03-16 Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej PL246904B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL444104A PL246904B1 (pl) 2023-03-16 2023-03-16 Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL444104A PL246904B1 (pl) 2023-03-16 2023-03-16 Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL444104A1 PL444104A1 (pl) 2023-09-25
PL246904B1 true PL246904B1 (pl) 2025-03-31

Family

ID=88144654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL444104A PL246904B1 (pl) 2023-03-16 2023-03-16 Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL246904B1 (pl)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL221210B1 (pl) * 2012-12-05 2016-03-31 Śląski Univ Medyczny W Katowicach Stabilizator pomiarowy mikrotomografu komputerowego
CN108449984A (zh) * 2015-10-23 2018-08-24 海克斯康测量技术有限公司 三维计算机断层扫描量规
EP3203219B1 (fr) * 2016-02-02 2018-09-05 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Procede de caracterisation d'un echantillon combinant une technique de characterisation par tomgraphie par rayons x et une technique de caracterisation par spectrometrie de masse a ionisation secondaire
WO2021209048A1 (en) * 2020-04-17 2021-10-21 Master Dynamic Limited Imaging process and system
US20220042930A1 (en) * 2020-08-05 2022-02-10 Faro Technologies, Inc. Part inspection method using computed tomography
FR3116619A1 (fr) * 2020-11-26 2022-05-27 Safran Outillage de support d’eprouvettes pour un controle par tomographie

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL221210B1 (pl) * 2012-12-05 2016-03-31 Śląski Univ Medyczny W Katowicach Stabilizator pomiarowy mikrotomografu komputerowego
CN108449984A (zh) * 2015-10-23 2018-08-24 海克斯康测量技术有限公司 三维计算机断层扫描量规
EP3203219B1 (fr) * 2016-02-02 2018-09-05 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Procede de caracterisation d'un echantillon combinant une technique de characterisation par tomgraphie par rayons x et une technique de caracterisation par spectrometrie de masse a ionisation secondaire
WO2021209048A1 (en) * 2020-04-17 2021-10-21 Master Dynamic Limited Imaging process and system
US20220042930A1 (en) * 2020-08-05 2022-02-10 Faro Technologies, Inc. Part inspection method using computed tomography
FR3116619A1 (fr) * 2020-11-26 2022-05-27 Safran Outillage de support d’eprouvettes pour un controle par tomographie

Also Published As

Publication number Publication date
PL444104A1 (pl) 2023-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Forsberg et al. Full Three‐dimensional strain measurements on wood exposed to three‐point bending: analysis by use of digital volume correlation applied to synchrotron radiation micro‐computed tomography image data
Hagen et al. Low‐dose phase contrast tomography with conventional x‐ray sources
CN101796400B (zh) 用于改善x射线检查设备中的物质可识别度的方法和x射线检查设备
US8588366B2 (en) X-ray imaging apparatus and X-ray imaging method
Lundström et al. X-ray phase contrast for CO2 microangiography
Pelzer et al. A beam hardening and dispersion correction for x‐ray dark‐field radiography
US20150110247A1 (en) Surrogate phantom for differential phase contrast imaging
US20110064196A1 (en) X-ray imaging apparatus and method of x-ray imaging
Koenig et al. On the origin and nature of the grating interferometric dark-field contrast obtained with low-brilliance x-ray sources
BRPI0716681B1 (pt) "métodos e arranjo para melhoria de determinações tomográficas, especificamente adequadas para inspeção de barras de reforço de aço em estruturas de concreto."
PL246904B1 (pl) Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej
Reischig et al. High-resolution non-invasive 3D imaging of paint microstructure by synchrotron-based X-ray laminography
AU2025200611A1 (en) Sample holder
US20190307414A1 (en) Test object for calibration of an x-ray imaging device
US20110103549A1 (en) X-ray imaging apparatus and method of x-ray imaging
PL246903B1 (pl) Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej
Fittschen et al. Confocal MXRF in environmental applications
US2812440A (en) Gamma ray wall thickness measuring device
JP6574996B2 (ja) ガンマ線測定用収納容器、ガンマ線測定装置、及びガンマ線測定方法
Shashev et al. Improving the visibility of phase gratings for Talbot-Lau X-ray imaging
WO2013183470A1 (en) X-ray apparatus and method of measuring x-rays
Zakharova et al. Bulk morphology of porous materials at submicrometer scale studied by dark-field x-ray imaging with Hartmann masks
Herzen A grating interferometer for materials science imaging at a second-generation synchrotron radiation source
Jaenisch et al. Scatter Imaging-Simulation of Aperture Focusing by Deconvolution
Chiaghanam et al. Safety of Ionizing Radiation in selected Conventional X-ray Diagnostic centres in Calabar and Uyo metropolises, Nigeria