PL403813A1 - Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką - Google Patents
Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramkąInfo
- Publication number
- PL403813A1 PL403813A1 PL403813A PL40381313A PL403813A1 PL 403813 A1 PL403813 A1 PL 403813A1 PL 403813 A PL403813 A PL 403813A PL 40381313 A PL40381313 A PL 40381313A PL 403813 A1 PL403813 A1 PL 403813A1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- transistor
- gate
- emitter
- collector
- thermal resistance
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 3
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL403813A PL224783B1 (pl) | 2013-05-09 | 2013-05-09 | Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL403813A PL224783B1 (pl) | 2013-05-09 | 2013-05-09 | Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL403813A1 true PL403813A1 (pl) | 2014-11-10 |
| PL224783B1 PL224783B1 (pl) | 2017-01-31 |
Family
ID=51866461
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL403813A PL224783B1 (pl) | 2013-05-09 | 2013-05-09 | Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL224783B1 (pl) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114384385A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-04-22 | 南方电网科学研究院有限责任公司 | 一种压接型功率模块igbt热阻测试方法 |
-
2013
- 2013-05-09 PL PL403813A patent/PL224783B1/pl unknown
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114384385A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-04-22 | 南方电网科学研究院有限责任公司 | 一种压接型功率模块igbt热阻测试方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL224783B1 (pl) | 2017-01-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103822731B (zh) | 一种vdmos器件结温的测试方法 | |
| CN107783022B (zh) | 高电子迁移率晶体管的热可靠性评估方法 | |
| CN107621599B (zh) | 一种测量igbt在高温反偏试验中结温变化的方法 | |
| CN107833840B (zh) | AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管的结温测试方法 | |
| Blackburn et al. | Power MOSFET temperature measurements | |
| CN106501699B (zh) | 一种饱和状态下双极晶体管结温的实时测量方法 | |
| CN103941172B (zh) | 半导体测试装置及测试方法 | |
| CN105371991B (zh) | 温度传感器芯片测试装置及测试方法 | |
| CN106771942A (zh) | 双极型晶体管工作在放大区的结温实时测量方法 | |
| CN103954899B (zh) | 一种实时测量二极管瞬态温升的方法 | |
| CN103050423A (zh) | 晶圆温度的检测方法 | |
| CN107024294A (zh) | 一种多通道芯片温度测量电路及方法 | |
| WO2019146460A1 (ja) | 電流電圧特性の測定方法 | |
| CN109709141A (zh) | 一种igbt温升和热阻构成测试装置和方法 | |
| PL403813A1 (pl) | Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką | |
| CN107576422A (zh) | 一种在线测量双极型晶体管器件结温的方法 | |
| TW200731661A (en) | Accurate temperature measurement method for low beta transistors | |
| CN203908700U (zh) | 一种铂电阻测量温度电路 | |
| CN102520753B (zh) | 一种肖特基二极管的等效电路 | |
| CN203479427U (zh) | 一种多通道温度巡检仪校准装置 | |
| CN103575304A (zh) | 霍尔效应传感器工作温度补偿电路 | |
| CN108121378B (zh) | 温控点可修调的智能温控电路及修调方法 | |
| Farkas et al. | Thermal Transient Measurements on Various Electronic Components | |
| PL424110A1 (pl) | Sposób i układ do pomiaru własnych i wzajemnych rezystancji termicznych w module elektroizolowanym | |
| RU2547882C2 (ru) | Способ измерения температуры среды |