PL437308A1 - Układ do kontroli promieniowaniem - Google Patents

Układ do kontroli promieniowaniem

Info

Publication number
PL437308A1
PL437308A1 PL437308A PL43730819A PL437308A1 PL 437308 A1 PL437308 A1 PL 437308A1 PL 437308 A PL437308 A PL 437308A PL 43730819 A PL43730819 A PL 43730819A PL 437308 A1 PL437308 A1 PL 437308A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
radiation
control system
platform
detector
radiation source
Prior art date
Application number
PL437308A
Other languages
English (en)
Other versions
PL242104B1 (pl
Inventor
Quanwei Song
Ying Li
Maohui XIA
Weizhen Wang
Hao Yu
Jianmin Li
Junping Shi
Yulan Li
Chunguang ZONG
Zhiqiang Chen
Yuanjing Li
Li Zhang
Original Assignee
Nuctech Company Limited
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nuctech Company Limited filed Critical Nuctech Company Limited
Publication of PL437308A1 publication Critical patent/PL437308A1/pl
Publication of PL242104B1 publication Critical patent/PL242104B1/pl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
    • G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
    • G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
    • G01V5/232—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays having relative motion between the source, detector and object other than by conveyor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Niniejsze zgłoszenie dotyczy układu do kontroli promieniowaniem, zawierającego: platformę (1), której część górna jest przystosowana do przenoszenia obiektu; ramę ruchomą względem platformy, przy czym rama tworzy przejście, przez które przechodzi obiekt przenoszony na platformie; źródło promieniowania oraz pierwszy detektor do odbierania promieniowania emitowanego ze źródła promieniowania; przy czym jedno spośród źródła promieniowania i pierwszego detektora jest umieszczone na części górnej ramy; a drugie spośród źródła promieniowania i pierwszego detektora jest umieszczone ruchomo w części dolnej platformy. Dzięki zastosowaniu układu do kontroli promieniowaniem, zapewnionego przez niniejsze ujawnienie, zmniejszona jest powierzchnia podłoża układu do kontroli promieniowaniem oraz zmniejszona jest strefa obszaru ochrony przed promieniowaniem; oraz układ do kontroli promieniowaniem jest skonfigurowany do szybkiego montażu i jest przystosowany do rozpoczęcia skanowania tak szybko, jak to możliwe.
PL437308A 2018-07-11 2019-06-06 Układ do kontroli promieniowaniem PL242104B1 (pl)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810756262.9A CN108614301A (zh) 2018-07-11 2018-07-11 辐射检查系统
CN201810756262.9 2018-07-11
PCT/CN2019/090298 WO2020010970A1 (zh) 2018-07-11 2019-06-06 辐射检查系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL437308A1 true PL437308A1 (pl) 2022-01-10
PL242104B1 PL242104B1 (pl) 2023-01-16

Family

ID=63666230

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL437308A PL242104B1 (pl) 2018-07-11 2019-06-06 Układ do kontroli promieniowaniem

Country Status (4)

Country Link
CN (1) CN108614301A (pl)
BR (1) BR102019014290A2 (pl)
PL (1) PL242104B1 (pl)
WO (1) WO2020010970A1 (pl)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108614301A (zh) * 2018-07-11 2018-10-02 同方威视技术股份有限公司 辐射检查系统
CN108614302B (zh) * 2018-07-11 2024-07-05 同方威视技术股份有限公司 辐射检查系统
CN112666188A (zh) * 2019-10-16 2021-04-16 同方威视技术股份有限公司 辐射扫描检查设备
CN112666620A (zh) * 2019-10-16 2021-04-16 同方威视技术股份有限公司 辐射扫描检查设备
CN113834832A (zh) * 2020-06-23 2021-12-24 同方威视技术股份有限公司 移动式检测装置及检测方法
CN115113287B (zh) * 2021-07-07 2024-09-20 清华大学 检查系统和方法
CN115793079B (zh) * 2021-09-09 2024-04-09 同方威视技术股份有限公司 辐射检查设备
CN115789410B (zh) * 2021-09-09 2024-03-12 同方威视技术股份有限公司 支撑平台和辐射检查设备

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2251683C2 (ru) * 2000-03-01 2005-05-10 Тсинхуа Юниверсити Устройство для осмотра контейнеров
CN2567568Y (zh) * 2002-09-23 2003-08-20 清华大学 一种可组合拆装的移动式γ射线集装箱检测装置
US6928141B2 (en) * 2003-06-20 2005-08-09 Rapiscan, Inc. Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers
CN1627061A (zh) * 2003-12-10 2005-06-15 清华同方威视技术股份有限公司 一种组合移动式低靶点集装箱检查系统
CN2840027Y (zh) * 2005-09-20 2006-11-22 赵景岐 一种双通道组合移动式集装箱或车辆检查系统
CN102147485B (zh) * 2006-10-13 2012-08-29 同方威视技术股份有限公司 移动式车辆检查系统
CN103529060B (zh) * 2012-07-04 2015-11-25 同方威视技术股份有限公司 用于组合移动式辐射检查系统的龙门结构
CN106053497B (zh) * 2016-05-30 2018-12-28 清华大学 安全检测系统
CN106680301A (zh) * 2016-12-23 2017-05-17 清华大学 用于汽车辐射成像检测系统的装置及辐射成像检测系统
CN108614301A (zh) * 2018-07-11 2018-10-02 同方威视技术股份有限公司 辐射检查系统
CN108614302B (zh) * 2018-07-11 2024-07-05 同方威视技术股份有限公司 辐射检查系统
CN208547727U (zh) * 2018-07-11 2019-02-26 同方威视技术股份有限公司 辐射检查系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN108614301A (zh) 2018-10-02
WO2020010970A1 (zh) 2020-01-16
BR102019014290A2 (pt) 2020-06-09
PL242104B1 (pl) 2023-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL437308A1 (pl) Układ do kontroli promieniowaniem
ECSP21073266A (es) Compuestos, composiciones y métodos para el tratamiento de enfermedad
MX2019008347A (es) Secuenciamiento de canal bioptico, de una sola fuente de luz.
TW201614706A (en) Multi electron beam inspection apparatus
NZ777370A (en) Bicyclic derivatives
MX360408B (es) Aparato de inspeccion.
MX2015013690A (es) Aparato para inspeccion de porciones soldadas y metodo de inspeccion de las mismas.
WO2016132222A3 (en) Scanning infrared measurement system
MX2021007540A (es) Derivados biciclicos.
EA201490247A1 (ru) Устройство для маркировки с множеством газовых лазеров с резонаторными трубками и индивидуально настраиваемыми отклоняющими средствами
WO2020131217A3 (en) Methods and systems for mapping retroreflectors
PL404561A1 (pl) Analizator do spektroskopii laserowo indukowanego rozpadu
MX374810B (es) Anticuerpos 4-1bb anti-humano y usos de los mismos
ATE540263T1 (de) Strahlungsemittierende vorrichtung
BR112015024725B8 (pt) Aparelho para inspeção de porção soldada e método de inspeção da mesma
TW201613710A (en) Method and device for laser-based machining of planar, crystalline substrates, in particular of semiconductor substrates
RU2015143268A (ru) Устройство контроля сварного участка и способ его контроля с выделяющим участком для выделения свечения испарения и теплового излучения
MX2023006606A (es) Derivados biciclicos.
MY145353A (en) Laser machining apparatus
WO2016193315A3 (en) Improved raman spectroscopy system
EA201490246A1 (ru) Устройство для маркировки с множеством лазеров и индивидуально настраиваемыми наборами отклоняющих средств
WO2019158765A3 (en) X-ray source and x-ray imaging apparatus
WO2012018674A3 (en) Optics symmetrization for metrology
MX2021014990A (es) Invernadero con sistema fotovoltaico.
FR3102886B1 (fr) Dispositif optoélectronique