PL449150A1 - Urządzenie do wyznaczania równoległości płaszczyzny i odległości pomiędzy dwoma obiektami - Google Patents

Urządzenie do wyznaczania równoległości płaszczyzny i odległości pomiędzy dwoma obiektami

Info

Publication number
PL449150A1
PL449150A1 PL449150A PL44915024A PL449150A1 PL 449150 A1 PL449150 A1 PL 449150A1 PL 449150 A PL449150 A PL 449150A PL 44915024 A PL44915024 A PL 44915024A PL 449150 A1 PL449150 A1 PL 449150A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
laser emitters
parallelism
objects
plane
determining
Prior art date
Application number
PL449150A
Other languages
English (en)
Inventor
Rafał Nowak
Czesław Suchocki
Original Assignee
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny W Szczecinie
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny W Szczecinie filed Critical Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny W Szczecinie
Priority to PL449150A priority Critical patent/PL449150A1/pl
Publication of PL449150A1 publication Critical patent/PL449150A1/pl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Urządzenie do wyznaczania równoległości płaszczyzny i odległości pomiędzy dwoma obiektami, charakteryzuje się tym, że ma jedno ramię (1) z trzema parami emiterów laserowych (2, 3, 4) usytuowanych jeden obok drugiego, przy czym każda z par emiterów laserowych (2, 3, 4) ułożona jest względem siebie pod kątem, a kąt między wiązkami laserowymi (5, 6, 7, 8, 9, 10) dla każdej pary emiterów laserowych (2, 3, 4) jest taki sam, natomiast wiązki laserowe (5, 6, 7, 8, 9, 10) z poszczególnych par emiterów laserowych (2, 3, 4) przecinają się w jednym punkcie na obiekcie pomiarowym (11), przy czym jedna z par emiterów laserowych jest przesunięta w pionie względem dwóch pozostałych par emiterów laserowych.
PL449150A 2024-07-08 2024-07-08 Urządzenie do wyznaczania równoległości płaszczyzny i odległości pomiędzy dwoma obiektami PL449150A1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL449150A PL449150A1 (pl) 2024-07-08 2024-07-08 Urządzenie do wyznaczania równoległości płaszczyzny i odległości pomiędzy dwoma obiektami

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL449150A PL449150A1 (pl) 2024-07-08 2024-07-08 Urządzenie do wyznaczania równoległości płaszczyzny i odległości pomiędzy dwoma obiektami

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL449150A1 true PL449150A1 (pl) 2026-01-12

Family

ID=98366713

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL449150A PL449150A1 (pl) 2024-07-08 2024-07-08 Urządzenie do wyznaczania równoległości płaszczyzny i odległości pomiędzy dwoma obiektami

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL449150A1 (pl)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3187185A (en) * 1960-12-22 1965-06-01 United States Steel Corp Apparatus for determining surface contour
CA2067400A1 (en) * 1992-04-28 1993-10-29 Robert E. Bredberg Laser thickness gauge
US20110276308A1 (en) * 2006-01-10 2011-11-10 Alliant Techsystems Inc. Non-Contact Deviation Measurement System
CN107121079A (zh) * 2017-06-14 2017-09-01 华中科技大学 一种基于单目视觉的曲面高度信息测量装置及方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3187185A (en) * 1960-12-22 1965-06-01 United States Steel Corp Apparatus for determining surface contour
CA2067400A1 (en) * 1992-04-28 1993-10-29 Robert E. Bredberg Laser thickness gauge
US20110276308A1 (en) * 2006-01-10 2011-11-10 Alliant Techsystems Inc. Non-Contact Deviation Measurement System
CN107121079A (zh) * 2017-06-14 2017-09-01 华中科技大学 一种基于单目视觉的曲面高度信息测量装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101339012B (zh) 一种基于光栅的滚转角测量方法与装置
CN105424322B (zh) 自校准光轴平行性检测仪及检测方法
CN109470176B (zh) 基于双光栅的高精度三维角度测量方法与装置
BR112022020803A2 (pt) Calibração estática e dinâmica para sistemas e métodos de medição de imagem de coerência
CN205102782U (zh) 一种激光跟踪仪测长精度标定装置
MY192237A (en) Laser processing apparatus and output power checking method
CN107643055A (zh) 基于偏振光束的自参考准直光路系统及计算被测角度方法
CN110031093A (zh) 大范围激光功率传递探测装置
CN202097193U (zh) 一种在线激光测厚装置
CN113310434B (zh) 一种二维线性运动平台垂直度的测量方法
CN118424156A (zh) 一种基于正交十字多狭缝组的自准直仪装置
CN102589484A (zh) 自准直仪示值误差检测方法及应用该方法的装置
PL449150A1 (pl) Urządzenie do wyznaczania równoległości płaszczyzny i odległości pomiędzy dwoma obiektami
PL449152A1 (pl) Urządzenie do wyznaczania równoległości linii i odległości względem obiektu
CN207623524U (zh) 一种基于阵列及单体光电器件的激光雷达
CN207423124U (zh) 基于偏振光束的自参考准直光路系统及光电自准直仪
PL449151A1 (pl) Urządzenie do mierzenia odległości względem obiektu
US10436636B2 (en) Optical measuring device
CN204924614U (zh) 激光入射角调试及角漂监测装置
CN207851278U (zh) 一种光电器件多排排布的多线激光雷达
CN110666592B (zh) 带光路漂移补偿的收发分体式五自由度测量装置及方法
CN207894589U (zh) 大口径反射光学系统检测装置
CN114486200B (zh) 一种半导体激光器偏振测试方法及测试系统
CN209559122U (zh) 一种激光干涉仪
CN105004285A (zh) 激光线位置调节装置