RU2012102492A - Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта - Google Patents

Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта Download PDF

Info

Publication number
RU2012102492A
RU2012102492A RU2012102492/28A RU2012102492A RU2012102492A RU 2012102492 A RU2012102492 A RU 2012102492A RU 2012102492/28 A RU2012102492/28 A RU 2012102492/28A RU 2012102492 A RU2012102492 A RU 2012102492A RU 2012102492 A RU2012102492 A RU 2012102492A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
drive
probe microscope
sample
microscope according
scanning probe
Prior art date
Application number
RU2012102492/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2572522C2 (ru
Inventor
Антон Евгеньевич Ефимов
Надежда Борисовна Мацко
Фердинанд Хофер
Дмитрий Юрьевич Соколов
Original Assignee
Антон Евгеньевич Ефимов
Надежда Борисовна Мацко
Фердинанд Хофер
Дмитрий Юрьевич Соколов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Антон Евгеньевич Ефимов, Надежда Борисовна Мацко, Фердинанд Хофер, Дмитрий Юрьевич Соколов filed Critical Антон Евгеньевич Ефимов
Publication of RU2012102492A publication Critical patent/RU2012102492A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2572522C2 publication Critical patent/RU2572522C2/ru

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

1. Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности образца (40), содержащий:- основание (1), на котором установлены:- пуансон (2) с первым приводом (4), адаптированный по меньшей мере для модификации поверхности образца (40), и- механизм (6) перемещения образца (40) со вторым приводом (7),- сканирующее устройство (33), установленое на механизме (6) перемещения образца (40),- образец (40), закрепленный на сканирующем устройстве (33),- первый зажим (27) с зондом (28), адаптированным для зондирования образца (6), и- блок управления (107), адаптированный для управления по меньшей мере сканирующим устройством (33) и зондом (28),характеризующийся тем, что он содержит платформу (18) с первой и второй направляющими (22), (23), на которых установлена подвижная каретка (26),тем, что платформа (18) закреплена на механизме (6) перемещения образца (40), итем, что первый зажим (27) с зондом (28) установлены на подвижной каретке (26).2. Сканирующий зондовый микроскоп по п.1, характеризующийся тем, что он содержит третий привод (31), сопряженный с подвижной кареткой (26) и тем, что блок управления (107) адаптирован для управления третьим приводом (31).3. Сканирующий зондовый микроскоп по п.2, характеризующийся тем, что третий привод (31) установлен на платформе (18).4. Сканирующий зондовый микроскоп по п.2, характеризующийся тем, что третий привод (31) установлен на основании (1).5. Сканирующий зондовый микроскоп по п.1, характеризующийся тем, что первый привод (4) сопряжен с подвижной кареткой (26), и тем, что блок управления (107) адаптирован для управления первым приводом (4).6. Сканирующий зондовый микроскоп по любому одному из пп.1-5, характеризующийся тем, что он содержит перв

Claims (11)

1. Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности образца (40), содержащий:
- основание (1), на котором установлены:
- пуансон (2) с первым приводом (4), адаптированный по меньшей мере для модификации поверхности образца (40), и
- механизм (6) перемещения образца (40) со вторым приводом (7),
- сканирующее устройство (33), установленое на механизме (6) перемещения образца (40),
- образец (40), закрепленный на сканирующем устройстве (33),
- первый зажим (27) с зондом (28), адаптированным для зондирования образца (6), и
- блок управления (107), адаптированный для управления по меньшей мере сканирующим устройством (33) и зондом (28),
характеризующийся тем, что он содержит платформу (18) с первой и второй направляющими (22), (23), на которых установлена подвижная каретка (26),
тем, что платформа (18) закреплена на механизме (6) перемещения образца (40), и
тем, что первый зажим (27) с зондом (28) установлены на подвижной каретке (26).
2. Сканирующий зондовый микроскоп по п.1, характеризующийся тем, что он содержит третий привод (31), сопряженный с подвижной кареткой (26) и тем, что блок управления (107) адаптирован для управления третьим приводом (31).
3. Сканирующий зондовый микроскоп по п.2, характеризующийся тем, что третий привод (31) установлен на платформе (18).
4. Сканирующий зондовый микроскоп по п.2, характеризующийся тем, что третий привод (31) установлен на основании (1).
5. Сканирующий зондовый микроскоп по п.1, характеризующийся тем, что первый привод (4) сопряжен с подвижной кареткой (26), и тем, что блок управления (107) адаптирован для управления первым приводом (4).
6. Сканирующий зондовый микроскоп по любому одному из пп.1-5, характеризующийся тем, что он содержит первый экран (42), установленный на платформе (18) с возможностью подвижки относительно нее.
7. Сканирующий зондовый микроскоп по п.6, характеризующийся тем, что он содержит второй экран (95), установленный на платформе (18) с возможностью подвижки относительно нее.
8. Сканирующий зондовый микроскоп по п.1, характеризующийся тем, что сканирующее устройство (33) закреплено на платформе (18).
9. Сканирующий зондовый микроскоп по п.1, характеризующийся тем, что на первом приводе (4) установлен модуль воздействия на зонд (28), и тем, что блок управления (107) адаптирован для управления первым приводом (4).
10. Сканирующий зондовый микроскоп по п.9, характеризующийся тем, что модуль воздействия на зонд (28) содержит держатель (3) и кольцевой электрод (57) с электролитом (58), и тем, что кольцевой электрод (57) закреплен в держателе (3).
11. Сканирующий зондовый микроскоп по п.1, характеризующийся тем, что пуансон (2), первый зажим (27) с зондом (28) и сканирующее устройство (33) с образцом (40) расположены в криогенной камере (103) с возможностью их охлаждения.
RU2012102492/28A 2011-01-31 2012-01-26 Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта RU2572522C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP1115796 2011-01-31
EP2011015796 2011-01-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012102492A true RU2012102492A (ru) 2014-03-27
RU2572522C2 RU2572522C2 (ru) 2016-01-20

Family

ID=50342562

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012102492/28A RU2572522C2 (ru) 2011-01-31 2012-01-26 Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2572522C2 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10690698B2 (en) 2016-05-18 2020-06-23 Chastnoe Uchrezhdenie “Nazarbayev University Research And Innovation System” Scanning probe microscope combined with a device for acting on a probe and a specimen
US11150266B2 (en) 2016-05-18 2021-10-19 Nazarbayev University Research and Innovation System Scanning probe nanotomograph comprising an optical analysis module
US11237186B2 (en) 2016-05-18 2022-02-01 Chastnoe Uchrezhdenie Nazarbayev University Research And Innovation System Wide-field scanning probe microscope combined with an apparatus for modifying an object

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2653190C1 (ru) * 2017-02-06 2018-05-07 Константин Евгеньевич Мочалов Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности образца
RU2703607C1 (ru) * 2019-04-09 2019-10-21 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет" Устройство компенсации собственных колебаний иглы зонда сканирующего микроскопа

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5672816A (en) * 1992-03-13 1997-09-30 Park Scientific Instruments Large stage system for scanning probe microscopes and other instruments
JP2002062243A (ja) * 2000-08-18 2002-02-28 Seiko Instruments Inc 走査型プローブ顕微鏡およびその試料ステージ
RU2282257C1 (ru) * 2005-08-24 2006-08-20 Зао "Нт-Мдт" Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта
RU2389032C2 (ru) * 2008-07-24 2010-05-10 Антон Евгеньевич Ефимов Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10690698B2 (en) 2016-05-18 2020-06-23 Chastnoe Uchrezhdenie “Nazarbayev University Research And Innovation System” Scanning probe microscope combined with a device for acting on a probe and a specimen
US11150266B2 (en) 2016-05-18 2021-10-19 Nazarbayev University Research and Innovation System Scanning probe nanotomograph comprising an optical analysis module
US11237186B2 (en) 2016-05-18 2022-02-01 Chastnoe Uchrezhdenie Nazarbayev University Research And Innovation System Wide-field scanning probe microscope combined with an apparatus for modifying an object

Also Published As

Publication number Publication date
RU2572522C2 (ru) 2016-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2012102492A (ru) Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта
ES2658709T3 (es) Aparato para medir el potencial oxidación-reducción
CN208398802U (zh) 一种后壳尺寸测量设备
IN2014DN03134A (ru)
CN104729912A (zh) 一种可调节式多功能实验夹具装置
ATE519139T1 (de) Bilderfassungsvorrichtung für biologische proben, bilderfassungsverfahren für biologische proben und programm
MX2009000759A (es) Aparato para capturar una imagen.
JP2015083310A (ja) 被溶接物固定装置
EP2636481A3 (en) Apparatus having cup attaching unit
CN205333011U (zh) 手机成品检测装置
JP2014056783A5 (ru)
CN203037445U (zh) 移动工作台
JP5806537B2 (ja) 顕微鏡セット
ES2634088T3 (es) Dispositivo sistema y procedimiento para su utilización en máquinas para la replicación electroquímica de patrones
TW200951539A (en) Lighting inspection apparatus
RU2012147674A (ru) Устройство для исследования материалов в деформированных состояниях методом атомно-силового микроскопа
CN104569863A (zh) 灯具的点亮测试工装及点亮测试方法
CN101629808A (zh) 探针卡校正设备
CN205448995U (zh) 手机成品检测装置
CN204007522U (zh) 一种激光厚度测量设备
CN204594577U8 (zh) 一种激光辐射测试装置
RU2010153396A (ru) Способ оценки энергии активации пластической деформации поверхностного слоя и переносной склерометр для его осуществления
TW201129789A (en) Goniophotometry testing apparatus
CN206311511U (zh) 一种镜面投影式减震衬套检测装置
CN203054447U (zh) 摄像机滤光片检测治具

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20180127