RU2012108891A - Лазерная диодная сборка и способ управления лазерной диодной сборкой - Google Patents
Лазерная диодная сборка и способ управления лазерной диодной сборкой Download PDFInfo
- Publication number
- RU2012108891A RU2012108891A RU2012108891/28A RU2012108891A RU2012108891A RU 2012108891 A RU2012108891 A RU 2012108891A RU 2012108891/28 A RU2012108891/28 A RU 2012108891/28A RU 2012108891 A RU2012108891 A RU 2012108891A RU 2012108891 A RU2012108891 A RU 2012108891A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- semiconductor compound
- electrode
- laser diode
- section
- layer
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract 61
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract 60
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract 16
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims 14
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims 4
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/22—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0601—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium comprising an absorbing region
- H01S5/0602—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium comprising an absorbing region which is an umpumped part of the active layer
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S2301/00—Functional characteristics
- H01S2301/16—Semiconductor lasers with special structural design to influence the modes, e.g. specific multimode
- H01S2301/166—Single transverse or lateral mode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0425—Electrodes, e.g. characterised by the structure
- H01S5/04252—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/1053—Comprising an active region having a varying composition or cross-section in a specific direction
- H01S5/1064—Comprising an active region having a varying composition or cross-section in a specific direction varying width along the optical axis
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/1082—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region with a special facet structure, e.g. structured, non planar, oblique
- H01S5/1085—Oblique facets
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/305—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure
- H01S5/3054—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure p-doping
- H01S5/3063—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure p-doping using Mg
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
- H01S5/343—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/34333—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer based on Ga(In)N or Ga(In)P, e.g. blue laser
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geometry (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
1. Лазерная диодная сборка, содержащая:лазерный диод; иотражатель света,при этом лазерный диод включает в себя(a) тело кристалла многослойной структуры, сформированное путем наслоения в следующем порядке: первый слой полупроводникового соединения первого типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, третий слой полупроводникового соединения, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN и включающий область испускания света, и второй слой полупроводникового соединения второго типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, при этом второй тип проводимости отличается от первого типа проводимости,(b) второй электрод, сформированный на втором слое полупроводникового соединения, и(c) первый электрод, электрически соединенный с первым слоем полупроводникового соединения,причем тело кристалла многослойной структуры включает в себя гребневую полосовую структуру,лазерный свет излучается с первой торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, и часть лазерного света отражается отражателем обратно в лазерный диод, а оставшаяся часть лазерного света выходит наружу через отражатель света,лазерный свет отражается второй торцевой поверхностью гребневой полосовой структуры,минимальная ширина Wи максимальная ширина Wгребневой полосовой структуры удовлетворяют условию 1<W/W<3,3 или 6≤W/W≤13,3.2. Лазерная диодная сборка, включающая:лазерный диод; иотражатель света,при этом лазерный диод включает в себя(а) тело многослойной структуры, получаемое путем наслоения в следующем порядке: первый слой полупроводникового соединения первого типа пр
Claims (16)
1. Лазерная диодная сборка, содержащая:
лазерный диод; и
отражатель света,
при этом лазерный диод включает в себя
(a) тело кристалла многослойной структуры, сформированное путем наслоения в следующем порядке: первый слой полупроводникового соединения первого типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, третий слой полупроводникового соединения, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN и включающий область испускания света, и второй слой полупроводникового соединения второго типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, при этом второй тип проводимости отличается от первого типа проводимости,
(b) второй электрод, сформированный на втором слое полупроводникового соединения, и
(c) первый электрод, электрически соединенный с первым слоем полупроводникового соединения,
причем тело кристалла многослойной структуры включает в себя гребневую полосовую структуру,
лазерный свет излучается с первой торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, и часть лазерного света отражается отражателем обратно в лазерный диод, а оставшаяся часть лазерного света выходит наружу через отражатель света,
лазерный свет отражается второй торцевой поверхностью гребневой полосовой структуры,
минимальная ширина Wmin и максимальная ширина Wmax гребневой полосовой структуры удовлетворяют условию 1<Wmax/Wmin<3,3 или 6≤Wmax/Wmin≤13,3.
2. Лазерная диодная сборка, включающая:
лазерный диод; и
отражатель света,
при этом лазерный диод включает в себя
(а) тело многослойной структуры, получаемое путем наслоения в следующем порядке: первый слой полупроводникового соединения первого типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, третий слой полупроводникового соединения, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN и включающий область испускания света, и второй слой полупроводникового соединения второго типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, при этом второй тип проводимости отличается от первого типа проводимости,
(b) второй электрод, сформированный на втором слое полупроводникового соединения, и
(c) первый электрод, электрически соединенный с первым слоем полупроводникового соединения,
причем тело кристалла многослойной структуры включает в себя гребневую полосовую структуру,
лазерный свет излучается с первой торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, и лазерный свет отражается отражателем обратно в лазерный диод,
часть лазерного света выходит наружу из второй торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, и
минимальная ширина Wmin и максимальная ширина Wmax гребневой полосовой структуры удовлетворяют условию 1<Wmax/Wmin<3,3 или 6≤Wmax/Wmin≤13,3.
3. Лазерная диодная сборка, содержащая:
лазерный диод и
внешний резонатор,
при этом лазерный диод включает в себя
(a) тело кристалла многослойной структуры, сформированное путем наслоения в следующем порядке: первый слой полупроводникового соединения первого типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, третий слой полупроводникового соединения, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN и включающий в себя область испускания света, и второй слой полупроводникового соединения второго типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, второй тип проводимости отличается от первого типа проводимости,
(b) второй электрод, сформированный на втором слое полупроводникового соединения, и
(c) первый электрод, электрически соединенный с первым слоем полупроводникового соединения,
причем тело кристалла многослойной структуры включает в себя гребневую полосовую структуру,
лазерный свет излучается с первой торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, и лазерный свет отражается внешним резонатором обратно в лазерный диод,
лазерный свет, излученный с первой торцевой поверхности или со второй торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, выходит наружу, и
минимальная ширина Wmin и максимальная ширина Wmax гребневой полосовой структуры удовлетворяют условию 1<Wmax/Wmin<3,3 или 6≤Wmax/Wmin≤13,3.
4. Лазерная диодная сборка по п.1, в которой
отражатель света выполнен в виде зеркала, чирпированного зеркала, объемной решетки Брэгга или волоконной решетки Брэгга.
5. Лазерная диодная сборка по п.1, в которой
лазерный свет выходит наружу в виде одномодового света.
6. Лазерная диодная сборка по п.1, в которой
удовлетворяется соотношение 1·10-6 м≤Wmin≤3·10-6 м.
7. Лазерная диодная сборка по п.1, в которой
третий слой полупроводникового соединения дополнительно включает в себя область насыщаемого поглощения,
второй электрод имеет первую секцию и вторую секцию, первая секция выполнена с возможностью создавать состояние смещения в прямом направлении путем пропускания тока к первому электроду через область испускания света, вторая секция выполнена с возможностью приложения электрического поля к области насыщаемого поглощения,
причем первая секция и вторая секция второго электрода разделены разделительным пазом.
8. Лазерная диодная сборка по п.7, в которой
область насыщаемого поглощения находится в части тела кристалла многослойной структуры, указанная часть расположена ближе к торцевой поверхности, противоположной торцевой поверхности, из которой лазерный свет выходит наружу.
9. Лазерная диодная сборка по п.7, в которой
лазерный свет, выходящий наружу, является импульсным лазерным светом.
10. Лазерная диодная сборка по п.9, в которой
область насыщаемого поглощения находится в части тела кристалла многослойной структуры, причем указанная часть расположена ближе к торцевой поверхности, противоположной торцевой поверхности, из которой лазерный свет выходит наружу.
11. Лазерная диодная сборка по п.1, в которой
лазерный свет, выходящий наружу, является непрерывным лазерным светом.
12. Лазерная диодная сборка по п.1, в которой
интенсивность Eout лазерного света, излучаемого лазерной диодной сборкой, удовлетворяет условию Eout/Е0>1,5, где интенсивность лазерного света, выходящего наружу при условии, что Wmin=Wmax, равна Е0.
13. Способ управления лазерной диодной сборкой, содержащей лазерный диод и отражатель света, причем лазерный диод включает в себя
(a) тело кристалла многослойной структуры, сформированное путем наслоения в следующем порядке: первый слой полупроводникового соединения первого типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, третий слой полупроводникового соединения, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN и включающий в себя область испускания света, и второй слой полупроводникового соединения второго типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, второй тип проводимости отличается от первого типа проводимости,
(b) второй электрод, сформированный на втором слое полупроводникового соединения, и
(c) первый электрод, электрически соединенный с первым слоем полупроводникового соединения,
третий слой полупроводникового соединения дополнительно включает область насыщаемого поглощения,
при этом второй электрод содержит первую секцию и вторую секцию, первая секция выполнена с возможностью создания состояния смещения в прямом направлении путем пропускания тока к первому электроду через область испускания света, вторая секция выполнена с возможностью приложения электрического поля к области насыщаемого поглощения,
первая секция и вторая секция второго электрода разделены разделительным пазом,
причем тело кристалла многослойной структуры включает в себя гребневую полосовую структуру,
лазерный свет излучается из первой торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, и часть лазерного света отражается отражателем света обратно в лазерный диод, а оставшаяся часть лазерного света выходит наружу через отражатель света,
лазерный свет отражается второй торцевой поверхностью гребневой полосовой структуры,
минимальная ширина Wmin и максимальная ширина Wmax гребневой полосовой структуры удовлетворяют условию 1<Wmax/Wmin<3,3 или 6≤Wmax/Wmin≤13,3,
способ включает:
пропускание тока к первому электроду через первую секцию второго электрода и область испускания света, пропускание тока ко второй секции второго электрода через первый электрод и область насыщаемого поглощения, тем самым создавая условия для импульсной генерации; и
пропускание тока к первому электроду через первую секцию второго электрода и область испускания света, пропускание тока к первому электроду через вторую секцию второго электрода и область испускания света, или не пропускание тока к первому электроду через вторую секцию второго электрода и область испускания света, тем самым создавая условия для непрерывной генерации.
14. Способ управления лазерной диодной сборкой, содержащей лазерный диод и отражатель света, при этом лазерный диод включает в себя
(a) тело кристалла многослойной структуры, сформированное путем наслоения в следующем порядке: первый слой полупроводникового соединения первого типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, третий слой полупроводникового соединения, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN и включающий в себя область испускания света, и второй слой полупроводникового соединения второго типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, второй тип проводимости отличается от первого типа проводимости,
(b) второй электрод, сформированный на втором слое полупроводникового соединения, и
(c) первый электрод, электрически соединенный с первым слоем полупроводникового соединения,
третий слой полупроводникового соединения дополнительно включает область насыщаемого поглощения,
при этом второй электрод содержит первую секцию и вторую секцию, первая секция выполнена с возможностью создания состояния смещения в прямом направлении путем пропускания тока к первому электроду через область испускания света, вторая секция выполнена с возможностью приложения электрического поля к области насыщаемого поглощения,
первая секция и вторая секция второго электрода разделены разделительным пазом,
причем тело кристалла многослойной структуры включает в себя гребневую полосовую структуру,
лазерный свет излучается из первой торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, и лазерный свет отражается отражателем света обратно в лазерный диод,
часть лазерного света выходит наружу из второй торцевой поверхности гребневой полосовой структуры,
минимальная ширина Wmin и максимальная ширина Wmax гребневой полосовой структуры удовлетворяют условию 1<Wmax/Wmin<3,3 или 6≤Wmax/Wmin≤13,3,
способ включает:
пропускание тока к первому электроду через первую секцию второго электрода и область испускания света, пропускание тока ко второй секции второго электрода через первый электрод и область насыщаемого поглощения, тем самым создавая условия для импульсной генерации; и
пропускание тока к первому электроду через первую секцию второго электрода и область испускания света, пропускание тока к первому электроду через вторую секцию второго электрода и область испускания света, или не пропускание тока к первому электроду через вторую секцию второго электрода и область испускания света, тем самым создавая условия для непрерывной генерации.
15. Способ управления лазерной диодной сборкой, содержащей лазерный диод и внешний резонатор, причем лазерный диод включает в себя
(a) тело кристалла многослойной структуры, сформированнное путем наслоения в следующем порядке: первый слой полупроводникового соединения первого типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, третий слой полупроводникового соединения, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN и включающий в себя область испускания света, и второй слой полупроводникового соединения второго типа проводимости, выполненный из полупроводникового соединения на основе GaN, второй тип проводимости отличается от первого типа проводимости,
(b) второй электрод, сформированный на втором слое полупроводникового соединения, и
(c) первый электрод, электрически соединенный с первым слоем полупроводникового соединения,
третий слой полупроводникового соединения дополнительно включает область насыщаемого поглощения,
при этом второй электрод содержит первую секцию и вторую секцию, первая секция выполнена с возможностью создания состояния смещения в прямом направлении путем пропускания тока к первому электроду через область испускания света, вторая секция выполнена с возможностью приложения электрического поля к области насыщаемого поглощения,
первая секция и вторая секция второго электрода разделены разделительным пазом,
причем тело кристалла многослойной структуры включает в себя гребневую полосовую структуру,
лазерный свет излучается из первой торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, и лазерный свет отражается внешним резонатором обратно в лазерный диод,
лазерный свет, излучаемый из первой торцевой поверхности или второй торцевой поверхности гребневой полосовой структуры, выходит наружу,
минимальная ширина Wmin и максимальная ширина Wmax гребневой полосовой структуры удовлетворяют условию 1<Wmax/Wmin<3,3 или 6≤Wmax/Wmin≤13,3,
способ включает:
пропускание тока к первому электроду через первую секцию второго электрода и область испускания света, пропускание тока ко второй секции второго электрода через первый электрод и область насыщаемого поглощения, тем самым создавая условия для импульсной генерации; и
пропускание тока к первому электроду через первую секцию второго электрода и область испускания света, пропускание тока к первому электроду через вторую секцию второго электрода и область испускания света, или не пропускание тока к первому электроду через вторую секцию второго электрода и область испускания света, тем самым создавая условия для непрерывной генерации.
16. Способ управления лазерной диодной сборкой по п.13, в котором
область насыщаемого поглощения находится в части тела кристалла многослойной структуры, причем указанная часть расположена ближе к торцевой поверхности, противоположной торцевой поверхности, из которой лазерный свет выходит наружу.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011-058899 | 2011-03-17 | ||
| JP2011058899A JP5743624B2 (ja) | 2011-03-17 | 2011-03-17 | 半導体レーザ素子組立体及びその駆動方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2012108891A true RU2012108891A (ru) | 2013-09-20 |
Family
ID=46815623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2012108891/28A RU2012108891A (ru) | 2011-03-17 | 2012-03-07 | Лазерная диодная сборка и способ управления лазерной диодной сборкой |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8483256B2 (ru) |
| JP (1) | JP5743624B2 (ru) |
| KR (1) | KR20120106571A (ru) |
| CN (1) | CN102684067B (ru) |
| RU (1) | RU2012108891A (ru) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010027935A (ja) * | 2008-07-23 | 2010-02-04 | Sony Corp | 半導体レーザ、光ディスク装置および光ピックアップ |
| JP2011187580A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Sony Corp | 自励発振型半導体レーザ素子及びその駆動方法 |
| JP5138023B2 (ja) * | 2010-12-08 | 2013-02-06 | ソニー株式会社 | 半導体レーザ素子 |
| JP2014165328A (ja) * | 2013-02-25 | 2014-09-08 | Sony Corp | 半導体発光素子及び表示装置 |
| CN103887704B (zh) * | 2014-03-27 | 2016-06-01 | 北京牡丹电子集团有限责任公司 | 一种用于半导体激光器p面向下封装的热沉及其制作方法 |
| CN104966984A (zh) * | 2015-06-29 | 2015-10-07 | 中国科学院半导体研究所 | 锁模光子晶体半导体激光直接倍频产生短波长激光装置 |
| CN106329310A (zh) * | 2016-11-15 | 2017-01-11 | 中国科学院福建物质结构研究所 | 一种基于多模干涉结构的锁模半导体激光器 |
| US11837838B1 (en) * | 2020-01-31 | 2023-12-05 | Freedom Photonics Llc | Laser having tapered region |
| WO2022261511A1 (en) | 2021-06-10 | 2022-12-15 | Freedom Photonics Llc | Designs for lateral current control in optical amplifiers and lasers |
| CN114975725B (zh) * | 2022-06-02 | 2025-04-11 | 东莞市中麒光电技术有限公司 | Led芯片及其焊接方法 |
| CN115000805B (zh) * | 2022-07-18 | 2022-11-25 | 度亘激光技术(苏州)有限公司 | 芯片及半导体激光器 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0730183A (ja) * | 1993-07-07 | 1995-01-31 | Fuji Photo Film Co Ltd | 半導体レーザー |
| JPH09307190A (ja) * | 1996-05-15 | 1997-11-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | AlInGaN系半導体発光素子および半導体発光装置 |
| JPH1075004A (ja) * | 1996-08-29 | 1998-03-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | 半導体発光装置 |
| JP2000228559A (ja) * | 1999-02-05 | 2000-08-15 | Sony Corp | 光学装置 |
| US6456638B1 (en) * | 1999-02-08 | 2002-09-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | High-power short-wavelength semiconductor light emitting device having active layer with increased indium content |
| JP2001077426A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-03-23 | Fuji Photo Film Co Ltd | 半導体発光装置 |
| JP3726676B2 (ja) * | 2000-11-28 | 2005-12-14 | 日本電気株式会社 | 外部共振器型モード同期半導体レーザ装置 |
| JP5261857B2 (ja) * | 2001-09-21 | 2013-08-14 | 日本電気株式会社 | 端面発光型半導体レーザおよび半導体レーザ・モジュール |
| JP2003152275A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-05-23 | Fuji Photo Film Co Ltd | 外部共振器型波長可変レーザ |
| JP2003218458A (ja) * | 2002-01-23 | 2003-07-31 | Sharp Corp | 半導体発光装置 |
| JP3801073B2 (ja) * | 2002-03-11 | 2006-07-26 | 日本電気株式会社 | 外部共振器型波長可変パルス光源 |
| DE602004024451D1 (de) * | 2003-12-22 | 2010-01-14 | Panasonic Corp | Halbleiterlaser-bauelement und laserprojektor |
| JP4634081B2 (ja) * | 2004-03-04 | 2011-02-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子アレイ |
| JP4408246B2 (ja) | 2004-07-29 | 2010-02-03 | 独立行政法人科学技術振興機構 | モード同期半導体レーザ |
| JP5247444B2 (ja) * | 2006-07-19 | 2013-07-24 | パナソニック株式会社 | 半導体レーザ装置 |
| JP2009231367A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Sharp Corp | 窒化物半導体レーザ素子および外部共振器型半導体レーザ装置 |
| JP2010027935A (ja) * | 2008-07-23 | 2010-02-04 | Sony Corp | 半導体レーザ、光ディスク装置および光ピックアップ |
-
2011
- 2011-03-17 JP JP2011058899A patent/JP5743624B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-03-07 RU RU2012108891/28A patent/RU2012108891A/ru not_active Application Discontinuation
- 2012-03-09 CN CN201210062338.0A patent/CN102684067B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-03-09 KR KR1020120024405A patent/KR20120106571A/ko not_active Withdrawn
- 2012-03-12 US US13/417,998 patent/US8483256B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20120236886A1 (en) | 2012-09-20 |
| KR20120106571A (ko) | 2012-09-26 |
| US8483256B2 (en) | 2013-07-09 |
| JP5743624B2 (ja) | 2015-07-01 |
| CN102684067A (zh) | 2012-09-19 |
| JP2012195475A (ja) | 2012-10-11 |
| CN102684067B (zh) | 2016-05-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2012108891A (ru) | Лазерная диодная сборка и способ управления лазерной диодной сборкой | |
| TWI501560B (zh) | 光學模組及原子振盪器 | |
| Rossetti et al. | Superluminescent light emitting diodes: the best out of two worlds | |
| TW200505119A (en) | Method and apparatus for suppression of spatial-hole burning in second or higher order DFB lasers | |
| JP2006261424A (ja) | 半導体レーザ素子及びガス検知装置 | |
| ATE518257T1 (de) | Lichtemittierende schlitzwellenleiteranordnung | |
| WO2009050876A1 (ja) | 短波長光源及び光学装置 | |
| EP2675024A3 (en) | Electron beam pumped vertical cavity surface emitting laser | |
| KR20100017390A (ko) | 광원 및 장치 | |
| WO2012123997A1 (ja) | 半導体発光素子及びそれを用いた発光装置 | |
| RU2391756C2 (ru) | Диодный лазер, интегральный диодный лазер и интегральный полупроводниковый оптический усилитель | |
| CN103718397A (zh) | 半导体发射器以及用于从激光中产生有效光的方法 | |
| US7639720B2 (en) | Two-dimensional photonic crystal surface emitting laser | |
| US10490692B2 (en) | Semiconductor light-emitting device and display apparatus | |
| US7848379B2 (en) | LED-based optical pumping for laser light generation | |
| JP6646942B2 (ja) | 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計 | |
| RU2008151169A (ru) | Способ получения инфракрасного излучения и устройство для его осуществления | |
| CN109193341A (zh) | 垂直腔面发射激光器及其制作方法 | |
| JP6282485B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
| JP2008311320A (ja) | レーザダイオードチップおよびその製造方法 | |
| JP4872096B2 (ja) | フォトニック結晶発光素子及び発光装置 | |
| JP5221180B2 (ja) | 発光素子 | |
| KR100848759B1 (ko) | 복수개의 도파관이 형성된 반도체 레이저 다이오드 칩 | |
| Suda et al. | Simultaneous utilization of spontaneous emission and laser emission in VCSEL for efficiency improvement of optical wireless power transmission | |
| JP2009503887A (ja) | インジェクションレーザ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FA93 | Acknowledgement of application withdrawn (no request for examination) |
Effective date: 20150310 |