Изобретение относитс к прикладной оптике и может быть использовано , а частности, в квантовых магнитометрах с оптической накачкой, где необходимо обеспечивать высокий коэффициент эллиптичности потока на качки. Известен способ изготовлени цир кул рного пол ризатора света, основанный на использовании линейного пол ризатора и четвертьволновой дну преломл ющей пластинки, оптическую ось которой ориентируют под углом 45 к оси пол ризатора tl. Недостаток указанного способа относительно низкое значение коэфф циента эллиптичности изготовленного пол ризатора, что обусловлено трудностью точного выполнени двупрелом ющей пластинки с заданной толщиной. наиболее близким к предлагаемому по своей технической сущности вл етс способ изготовлени циркул рного пол ризатора света, включающий измерение параметров партии двупреломл ющих пластинок, выбор из этой партии двух пластинок, измеренные п раметры которых удовлетвор ют их заданному соотношению, установку ли нейного пол ризатора и выбранных пластинок перпендикул рно оси свето вого пучка, независимый разворот оптических осей пластинок вокруг оси светового пучка до получени максимального коэффициента эллиптич ности света на выходе из последней пластинки и фиксацию найденного положени . Согласно известному способу в партии двупреломл ющих пластинок дл каждой из них в отдельности измер ют набег фазы между компонентам световой вол1ны, пол ризованными во взаимно перпендикул рных направлени х, после чего из промеренной парти выбирают две пластинки, которые соз дают набеги фаз и лЧг Удовлетвор ющие условию a;i:M |5A f,-huV,, 2.ХИ1-15Д( -дф Z ), где m - 0,1, 2. ., , и которые благодар этому могут дополн ть друг друга до четвертьволно вой пластинки. При взаимном разворо те оптических осей выбранных таким образом двупреломл ющих пластинок вокруг оси светового пучка можно с высокой сте.пенью точности добитьс 90 набега фазы, реализуемого в сое тавной пластинке. Это соответствует применению идеальной четвертьволновой пластинки и позвол ет доводить коэффициент эллиптичности света до значений О,97-0,99 Г 2. Недостатком известного способа вл етс то, что в процессе изготовлени циркул рного пол ризатора требуетс измер ть два параметра эллиптичного пол ризованного света - набег фазы в двупреломл ющих пластинках и коэффициент эллиптичности света , который определ етс при настройке циркул рного пол ризатора. Дл этого несэбходимо использовать две различные методики измерени и две измерительные установки, отличающиес наличием компенсатора в установке дл измерени набега фазы. Кроме того, при измерении набега фазы требуетс определ ть азимуты, т.е. направлени оптических осей пол ризующих элементов, точность измерени которых св зана с. точностью угломерных устройств установки. Точные угломерные устройства, содержащие микроскоп и нониус или микрометр, значительно усложн ют измерительную установку и увеличивают ее стоимость. Цель изобретени - упрощение способа путем упрощени процесса измерени параметров двупреломл ющих пластинок. Поставленна цель достигаетс тем, что согласно способу изготовлени циркул рного пол ризатора света, включающему измерение параметров партии двупреломл ющих пластинок, вы ,бор из этой партии двух пластинок, измеренные параметгры которых удовлетвор ют их заданному соотношению, установку линейного пол ризатора и выбранных пластинок перпендикул рно оси светового пучка, независимый разворот оптических осей пластинок вокруг оси светового nsrqKa до получени максимального коэффициента эллиптичности света на выходе из последней пластинки и фиксацию найденного полож€ши , измер ют максимальные коэффициенты эллиптичности пластинок, а выбор двух соответствующих пластинок из промеренной партии осуществл ют, исход из услови QKCг /U-KмQкc,)И+K,,oкc), гдеК,сдкс1 .- максимальные коэффициенты эллиптичности первой и второй пластинок соответственно. На фиг. 1 представлена оптическа схема примен емой в предлагаемом способе установки дли измерени коэффициентов эллиптичности света на фиг, 2 - график, по сн ющий соотношение между коэффициентами эллиптичности двух пластинок; на фиг. 3конструкци циркул рного пол ризатора света, изготовленного согласно предлагаемому способу. Способ осуществл ют следующим образом . Сначала на установке (фиг. 1), с держащей спектральный источник 1 ., света, линейный пол ризатор 2 и ана лизатор 3, установленные с возможностью разворота вокруг оси светово го пучка, фотоприемник 4 и измерительный прибор 5, определ ют максимальные коэффициенты эллиптичности партии двупреломл кнцих пластинок. Дл этого каждую пластинку 6 в отде ности устанавливают между элементами 2 и 3 и путем разворота анализатора 3 на 360 наход т ее коэффициент эллиптичности К дл данного положени , отсчитыва показани прибора 5. При условии линейности фотоприем ника 4 коэффициент эллиптичности равен ,„|V гдeVдl y„ и VIWOKC соответственно ми нимальное и максимальное показани Измерительного прибора 5 при вращении анализатора 3. Максимальный коэффициент эллиптичности света К пластинка 6 дает в том случае, когда ее оптическа ось составл ет с оптической осью пол ризатора 2 угол 45 . При этом максимальный коэффициент эллиптичности св зан с набегом фазы в пластинке. 6 соотношением V M«vic--tir(). (1) Максимального коэффициента эллиптич ности добиваютс поворотом ппастинки 6 вокруг оси светового пучка при одновременном измерении коэФФициента эллиптичности. Затем из полученной партии пласти с измеренными коэффициентами эллипти ности света Кд,ац выбирают дл изго товлени циркул рного пол ризатора две пластинки, коэффициенты эллиптич ности которых св заны соотношением K o cCi7/(.кc,H Kмoкc,), С .., и ..z. максимальные ко эффициенты эллиптичности света, полученные с помощью первой и второй пластинок соответственно. Выбранные таким образом пластинк могут дополн ть друг друга до четвертьволновой пластинки, поскольку соотношение (3), по которому производ т выбор подход щих пластинок, адекватно соотношени м (1) и получе но с использованием равенства (2). Соотношенир (3) удобно провер ть по графику (фиг. 2). -Люба точ.ка, лежа ща в заштрихорлинпй области, показываёт значени максимальных коэффициентов эллиптичности света, удорлетнор ювдих соотношению (3) Если коэффициенты эллиптичности пласТИН .ОК не удовлетвор ют этому соотношению , пластинки не могут образовать составную четвертьволновую пластинку при любой ориентации их оптических осей и непригодны дл изготовлени циркул рного пол ризатора . Далее пол ризатор 2 и выбранные пластинки 6 и 7 устанавливают в оправы 8 перпендикул рно оси светового пучка и производ т взаимную ориентацию их оптических осей путем вращени пластинок 6 и 7 вбкруг оси светового пучка до получени максимального коэффициента эллиптичности на выходе из пластинки 7. Измерение коэффициента эллиптичности, как и в операции измерени параметров пластинок , производ т на установке, изображенной на фиг. 1. Повороты пластинок 6 и 7 производ т независимо друг от друга при одновременном измерении коэффициента эллиптичности. Найденное взаимное положение пол ризатора 2 и пластинок 6 и 7 с максимальным коэффициентом эллиптичности света на выходе фиксируют какимлибо способом, например, склеиванием. Предлагаемый способ используют при изготовлении циркул рного пол ризатора света дл квантового магнитомера на парах цези , нормальную работу которого обеспечивает световой поток накачки, имеющий коэффициент эллиптичности не менее 0,95. В качестве двупреломл ющих пластинок 6 и 7 используют слюду марки СТ толщиной 0,02-0,05 мм. Измерение коэффициента эллиптичности пластинок и настройку циркул рного пол ризатора производ т на установке(фиг.1), в которой источником 1 света служит цезиева лампа (длина волны излучени 890 нм), в качестве фотоприемника 4 -используют фотодиод ФД-7Кр а в качестве измерительного прибора5 вольтметр ВЗ-38. Световой поток модулируют механическим прерывателем с частотой 1 кГц. Две пластинки 6 и 7 слюды, измеренные коэффициенты эллиптичности которых удовлетвор ют соотношению (3), и пол ризатор 2 устанавливают в оправы 8 из оргстекла Взаимной ориентацией оптических осей пол ризатора 2 и пластинок 6 и 7 добиваютс коэффициента эллиптичности света на выходе 0,97-0,99, что удовлетвор ет требовани м квантового магнитометра. Найденное положение фиксир -к т путем склеивани оправ -8 пол риэ н обеих пластинок дихлорэтаном. Предлагаемый способ дает хорошие результаты (коэффициент л.;;нпти ност не менее 0,97) во сех случа х применени . Таким образом, использование изоб ретени обеспечивает по сравнению с изаестньт способом следующие преимуBtecTBat .в операции измерени парамет ров пластинок и в операции иастройки циркул рного пол ризатора измер ют только К{ эффициент эллиптичности света по единой методике на одной из Мерительной установке, что упрощает процесс изготовлени циркул рного пол ризатора в целом; операци измере- . ни коэффициента эллиптичности заключаетс а измерении электрических величин и не содержит угловых измерений/ что упрощает операцию измерени параметров двупреломл ющих пластинок; исключение из измерительной установки компенсатора и точных угломерных устройств упрощает установку и снижает ее стоимость.
0.5
moff