SU1176754A1 - Способ определени распределени радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий - Google Patents
Способ определени распределени радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий Download PDFInfo
- Publication number
- SU1176754A1 SU1176754A1 SU833679337A SU3679337A SU1176754A1 SU 1176754 A1 SU1176754 A1 SU 1176754A1 SU 833679337 A SU833679337 A SU 833679337A SU 3679337 A SU3679337 A SU 3679337A SU 1176754 A1 SU1176754 A1 SU 1176754A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- products
- depth
- distribution
- radionuclides
- determining
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 6
- 230000004913 activation Effects 0.000 title claims abstract 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 claims abstract 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИОНУКЛИДОВ ПО ГЛУБИНЕ ,ПРИ ПОВЕРХНОСТНОЙ АКТИВАЦИИ ИЗДЕЛИЙ, включающий в себ облучение эталонного образца издели пучком ускоренных зар женных частиц под углом Q к поверхности и определение распределени наведенных радионуклидов по глубине X методом послойного анализа , отличающийс тем, что, с целью повьппени точности, дополнительно облучают по крайней мере еще одно изделие, расположенное под заданным углом if относительно первого издели , измер ют интент сивность рентгеновского N,, гамма-излучени N, N дл обоих изделий в одинаковых дл каждого вида излучени услови х, рассчитывают „ NX, , NX, отношение к -- / -- , вычисл ют углы S, и Sj, между направлением падающего излучени и поверхност ми изделий по величине отношени R и углу if между поверхност ми изде ий из системы уравнений (б,,ег) (О ,+ в. где 9 (). градуировочна зависимость , и определ ют распределение радионуклидов по глубиW не дл обоих изделий f, (х) и ff (х) соответственно из следующих соотношений; ,(х)(х)81пв,, (2) f(x)-fo(x)sinej. где fд(х) - распределение радионукли9д да по глубине дл эталона , облученного перпен 1 дикул рно поверхности.
Description
Изобретение относитс к использованию излучений от радиоактивных источников в качестве след щего индикатора и может быть применено при активации изделий, исследуемых на сопротивление механическому износу и истиранию.
Цель изобретени - повьппение точности .
Изобретение .по сн етс чертежом , где hepBoe изделие 1, второе изделие 2, эталон 3, пучок зар женных частиц 4,
Способ осуществл етс следующим образом.
Издели 1 и 2 устанавливают под заданным малым углом tp между их поверхност ми , а биссектрису этого угла располагают вдоль оси ионопровода ускорител . Между издели ми 1 н 2 под углом 90° к указанной биссертрисе устанавливают эталон в виде стопки фольг. Провод т облучение пучком зар женных частиц 4. Из-за наличи углового разброса пучка зар женных частиц дл всех существующих конструкдай ускорителей при активации на малые углы значени углов облучени первого и второго изделий в, и в с достаточной степенью точности не .известны. Поэтому дл их определени порле облучени в одинаковых услови х измер ют интенсивность N, NX рентгеновского и Ny, Ny гамма-излучений дл первого и второго изделий соответственно . Определ ют величину отношени
N,
N,
R, i- / Sii. . Ny, N,,
В общем виде это отношение дл заданного материала определ етс только величинами углов 0, и в г . Поэтому до осуществлени насто ще способа определ ют градуировочную функцию
(0,, I /
Ny Ny,j
по всему диапазону изменени углов дл исследуемых материалов.
Точные значени углов 6, и б,, вычисл ют из следующей системы уравнеНИИ:
fR(e,,0,)
l4-V9z
По полученным значени м 9, и 5.j и измеренному методом послойного анализа наведенной активности радионукли дов по глубине (х), где х - глубина , определ ют распределение радионуклидов по глубине дл первого и второго изделий по следующим соотношени м:
f
Лх)Лх)81пе,,
fj(x)-f(x)sine2.
Claims (1)
- СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИОНУКЛИДОВ ПО ГЛУБИНЕ ПРИ ПОВЕРХНОСТНОЙ АКТИВАЦИИИЗДЕЛИЙ, включающий в себя облучение эталонного образца изделия пучком ускоренных заряженных частиц под углом 9, к поверхности и определение распределения наведенных радионуклидов по глубине х методом 'послойного анализа, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительно облучают по крайней мере еще одно изделие, расположенное под заданным углом (f относительно первого изделия, измеряют интент сивность рентгеновского ΝΧ), Νχ2Η гамма-излучения для’ обоих изделий в одинаковых для каждого вида излучения условиях, рассчитывают отношение R= углы 9, и δζΝχ,· , Νχι-— / -— , вычисляют между направлением пада ющего излучения и поверхностями изделий по величине отношения R и углу (f между' поверхностями изделий из системы уравнений где 9 (б, , ®4). - градуировочная зависимость, и определяют распределение радионуклидов по глубине для обоих изделий f, (х) и f4 (х) соответственно из следующих соотношений:(x)_f o(x)sin Θ,, . .f t(x)«fo (x)sin ег, ' где f0(x) - распределение радионуклида по глубине для эталона, облученного перпендикулярно поверхности.SU,, 1176754
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU833679337A SU1176754A1 (ru) | 1983-12-23 | 1983-12-23 | Способ определени распределени радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU833679337A SU1176754A1 (ru) | 1983-12-23 | 1983-12-23 | Способ определени распределени радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1176754A1 true SU1176754A1 (ru) | 1986-09-07 |
Family
ID=21095426
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU833679337A SU1176754A1 (ru) | 1983-12-23 | 1983-12-23 | Способ определени распределени радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1176754A1 (ru) |
-
1983
- 1983-12-23 SU SU833679337A patent/SU1176754A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 148501, кл. G 01 N 3/56, 1965. Метод поверхностной активации в промышленности. / .Под ред. В.И.Постникова, М.: Атомиздат, 1975, с. 39. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Gershwin et al. | Asymmetry Parameter and Branching Ratio of Σ+→ p γ | |
| Chen et al. | Attenuation cross sections for 860-Mev protons | |
| Motz et al. | Compton scattering by k-shell electrons | |
| US20070096036A1 (en) | Method and equipment for discriminating materials by employing fast neutron and continuous spectral X-ray | |
| Bidmead et al. | Beam data measurements for dynamic wedges on Varian 600C (6 MV) and 2100C (6 and 10 MV) linear accelerators | |
| SU1176754A1 (ru) | Способ определени распределени радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий | |
| Ashmore et al. | The Elastic scattering of 350 MeV neutrons by complex nuclei | |
| EP0206735A3 (en) | Coating weight and thickness gauges | |
| Schrewe et al. | Dosimetry in mixed neutron-photon fields with tissue-equivalent proportional counters | |
| JPH02226057A (ja) | 碍子汚損量測定方法 | |
| JPS5582006A (en) | Measuring method for thickness | |
| Helb et al. | Elastic scattering of 13C from 13C | |
| Ma et al. | Application of a video-optical beam imaging system for quality assurance of medical accelerators | |
| DE19603000A1 (de) | Verfahren zum Kalibrieren einer Anordnung zur Ermittlung des Impulsübertragsspektrums und Kalibriereinheit zur Durchführung des Verfahrens | |
| Onori et al. | Proton response of alanine based pellets and films | |
| GB1565429A (en) | Method of measuring unit area weights of individual layers in materials combinations | |
| Murthy et al. | Measurements of backscatter and transmission factors for beta rays using thermoluminescence dosemeters | |
| SU886660A1 (ru) | Устройство дл измерени энергии пучка ускоренных электронов в поле облучени | |
| Zikovsky | Correction factors for the self-absorption of gamma-rays in a cylindrical sample | |
| RU1403775C (ru) | Способ контроля качества листовых материалов с низким атомным номером | |
| SU1474461A1 (ru) | Способ измерени толщины | |
| JP2599368B2 (ja) | Ｘ線による被測定物の非破壊測定方法 | |
| JPS6298242A (ja) | Ｘ線による被測定物の非破壊測定方法 | |
| Chassende-Baroz et al. | Fast neutron TL dosimetry by knock-on protons: energy deposition in thin dosemeter layers | |
| Valente et al. | Fricke gel dosimeter tissue-equivalence: A Monte Carlo study |