SU1185193A1 - Способ измерени влажности - Google Patents

Способ измерени влажности Download PDF

Info

Publication number
SU1185193A1
SU1185193A1 SU833597370A SU3597370A SU1185193A1 SU 1185193 A1 SU1185193 A1 SU 1185193A1 SU 833597370 A SU833597370 A SU 833597370A SU 3597370 A SU3597370 A SU 3597370A SU 1185193 A1 SU1185193 A1 SU 1185193A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
image
hole
embankment
height
Prior art date
Application number
SU833597370A
Other languages
English (en)
Inventor
Гурам Владимирович Шуглиашвили
Коба Павлович Чкония
Original Assignee
Научно-Исследовательский Институт Автоматизации Производственных Процессов В Промышленности
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Институт Автоматизации Производственных Процессов В Промышленности filed Critical Научно-Исследовательский Институт Автоматизации Производственных Процессов В Промышленности
Priority to SU833597370A priority Critical patent/SU1185193A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1185193A1 publication Critical patent/SU1185193A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ, преимущественно сыпучих материалов в потоке, включающий облучение материала параллельным световым потоком, выделение в отраженном от материала излучении посредством вращающегос  диска со светофильтрами двух интервалов длин волн, соответствующих поглощению и пропусканию излучени  водой, и регистрацию в указанных интервалах интенсивностей отраженного излучени , по отношению которых суд т о влажности материала, отличающийс  тем, что, с целью повьшхени  точности измерени  за счет уменьшени  погрешности, обусловленной зависимостью индикатрисы отражени  излучени  от высоты насыпи в потоке, в плоскости диска, в котором выполнено отверстие , проецируют изображение облучаемо1 о участка поверхности материала i и дополнительно регистрируют длительность светового потока, прошедшего (Л через отверстие, соответствующую длительности перемещени  отверсти  по изображению, по которой суд т о диаметре изображени  и св занной с ним высотой насыпи, и корректируют результаты измерений. 00 ел со 00

Description

111 Изобретение отноститс  к способам ИК влагометрии и может быть использовано дл  изг-ерени  влажности сыпучих материалов в потоке, транспорт руемых в виде насыпи с разными, высотеми . Целью изобретени   вл етс  повьше ние точности измерени  за счет умень шени  погрешности, обусловленной зависимостью индикатрисы отражени  излучени  от высоты насыпи в потоке. На фиг.1 изображены примеры индикатрис отражени  сухого и влажного хлористого кали ; на фиг,2 - оптическа  схема устройства, реализующег предложенный способ; на фиг.З - вращающийс  диск устройства. Кривые 1 и 2 соответствуют индика рисам отражени  сухого материала в интервалах длин волн, соответствующих поглощению и пропусканию излучени  водой, 3 и 4 - то же, дл  влажного материала соответственно. Оптическа  схема устройства содержит последовательно расположенные по ходу отраженного потока излучени  объектив 5, вращающийс  диск 6, коническое зеркало 7 и приемник 8 излучени , а также источник 9 параллельного потока излучени . Плоскости 10 и 11 соответствуют зоне колебаний высоты насыпи материала. Вращак цийс  диск 6 содержит интерференционные светофильтры 12 и 13, дополнительное отверстие 14, перемещающеес  по полю изображени  облучаемого участка 15 поверхности материала. Оптический преобразователь, реали зующий предлагаемый способ, работает следук цим образом. Объект измерени  - транспортируемый сьшучий материал в виде насыпи облучают источником 9 параллельного потока излучени , затем отраженный поток проходит через объектив 5 и дает изображение на вращающемс  диске 6, который с помощью интерференционных светофильтров 12,13 и отвср1сти  14 поочередно ввдел ет три импульса измерени : первый - монохроматический , аналитической длины волны Дд, второй - монохроматический, сравнительной длины волны Лс и тре32 . тий - интегральный. Под аналитической и сравнительными длинами волн понимаютс  интервалы, соответствующие поглощению и пропусканию излучени  водой. Величина первого импульса пропорциальна отражательной способности при аналитической длине волны, величина второго импульса пропорциональна отражательной способности при сравнительной длине волны, а продолжительность третьего импульса пропорциональна величине изображени  облученного пол  материала, котора  со своей стороны находитс  в функциональной зависимости с диаметром изображени  облучаемого на поверхности материала с высотой насыпи и служит параметром дл  внесени  коррекции по уменьшению погрешности, обусловленной отличием форм индикатрис отражени  при А и влажного материала. Вьщеленные импульсы фокусируютс  коническим зеркалом 7, в веошине которого установлен приемник 8 излучени . Последний световые потоки преобразует в электрические, которые обрабатываютс  электронной схемой (не показана ), дава  отношение интенсивностей отраженного от материала излучени  с аналитической и сравнительной длиной волны с поправкой в зависимости от высоты насыпи материала. Поправка осуществл етс  с помощью третьего импульса, продолжительность которого  вл етс  функцией высоты насыпи: чем больше высота насыпи, тем больше площадь изображени  облучаемого участка 15 материала на вращающемс  диске 6 и соответственно длительность перемещени  отверсти  по изображению . При этом уменьшаетс  погрешность , обусловленна  тем, что формы Индикатрис отражени  дл  аналитической и реперной длин волн, которые дл  сухого материала практически одинаковы , дл  влажных материалов станов тс  разными, в частности индикатриса отражени  материала при с увеличением поглощени , обусловленного водой, становитс  более диффузной . иг. i

Claims (1)

  1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ, преимущественно сыпучих материалов в потоке, включающий облучение материала параллельным световым потоком, выделение в отраженном от материала излучении посредством вращающегося диска со светофильтрами двух интервалов длин волн, соответствующих поглощению и пропусканию излучения водой, и регистрацию в указанных интервалах интенсивностей отраженного излучения, по отношению которых судят о влажности материала, о т л и ч а тощи й с я тем, что, с целью повышения точности измерения за счет уменьшения погрешности, обусловленной зависимостью индикатрисы отражения излучения от высоты насыпи в потоке, в плоскости диска, в котором выполнено отверстие, проецируют изображение облучаемого участка поверхности материала ” и дополнительно регистрируют длитель- § ность светового потока, прошедшего через отверстие, соответствующую длительности перемещения отверстия по изображению, по которой судят о диаметре изображения и связанной с ним высотой насыпи, и корректируют результаты измерений.
SU833597370A 1983-05-30 1983-05-30 Способ измерени влажности SU1185193A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833597370A SU1185193A1 (ru) 1983-05-30 1983-05-30 Способ измерени влажности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833597370A SU1185193A1 (ru) 1983-05-30 1983-05-30 Способ измерени влажности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1185193A1 true SU1185193A1 (ru) 1985-10-15

Family

ID=21065605

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833597370A SU1185193A1 (ru) 1983-05-30 1983-05-30 Способ измерени влажности

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1185193A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Справочник по приборам инфракрасной техники. Под ред. Л.З.Криксунова. Киев: Техника, 1980, с.18. Авторское свидетельство СССР № 1004878, кл. G 01 N 33/36, 1980. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4254337A (en) Infrared interference type film thickness measuring method and instrument therefor
US7719669B2 (en) Surface inspection method and surface inspection apparatus
FR2360150A1 (fr) Appareil de mise au point automatique
CA2115859A1 (en) Method and apparatus for optimizing sub-pixel resolution in a triangulation based distance measuring device
US3740144A (en) Method and apparatus for optically detecting the presence of an element in a substance
JPS5849819B2 (ja) ソウサシキケンサソウチ
JPS5483848A (en) Automatic focusing device
JPH1183628A (ja) 土壌の光学特性測定装置
SU1185193A1 (ru) Способ измерени влажности
JPS5483853A (en) Measuring device
SU1276268A3 (ru) Способ контрол полосы прозрачного материала на наличие дефектор и устройство дл его осуществлени
JPS57101709A (en) Film thickness gauge with infrared ray
JPS5985918A (ja) 直接比率式の分光光度計
WO1995002179B1 (en) Misalignment detection apparatus for transmissometer with underfilled reflector
JPS57165704A (en) Detecting system for light spot position
JPS5767815A (en) Measuring method for position of reflector using light
JPS5752807A (en) Device for measuring film thickness
SU1619015A1 (ru) Способ контрол толщины материала
SU1303816A1 (ru) Устройство дл измерени толщины слоев многослойной движущейс полимерной пленки
JPS55117946A (en) Flaw detection method of hollow shaft inside surface
RU1789851C (ru) Устройство дл контрол толщины плоских объектов
SU1140017A1 (ru) Оптическое устройство дл контрол качества покрытий
JP2657868B2 (ja) ヘッド浮上量測定における干渉波較正方法
SU951070A1 (ru) Устройство дл контрол качества поверхности деталей
SU1109610A1 (ru) Способ измерени влажности