SU525906A1 - Способ изготовлени оптического поглощающего фильтра - Google Patents
Способ изготовлени оптического поглощающего фильтраInfo
- Publication number
- SU525906A1 SU525906A1 SU2104110A SU2104110A SU525906A1 SU 525906 A1 SU525906 A1 SU 525906A1 SU 2104110 A SU2104110 A SU 2104110A SU 2104110 A SU2104110 A SU 2104110A SU 525906 A1 SU525906 A1 SU 525906A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- filter
- substrate
- transmittance
- film
- optical element
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 32
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 16
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 14
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 claims description 2
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 7
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 4
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 108010010803 Gelatin Proteins 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 239000013068 control sample Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 229920000159 gelatin Polymers 0.000 description 1
- 239000008273 gelatin Substances 0.000 description 1
- 235000019322 gelatine Nutrition 0.000 description 1
- 235000011852 gelatine desserts Nutrition 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010422 painting Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000002952 polymeric resin Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Filters (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к oптичecкo v приборостроению, а точнее к оптическим элементам приборов, и может быть использовано при создагага устройств, предназначенных дл регулировани интенсивности светового потока по заданному закону
Известны устройства, с помощью которьрс по изменению интенсивности лучистого истока суд т о параметрах исследуемого объекта (концентраци , температура, положение отдельныхэлемш1товит.п.).Однимиз основных узлов таких устройств вл етс поглощающий фильтр, пропускание которого мен етс вдоль его поверхности по заданному закону. От точности воспроизведени требуемого распределени коэффициента пропускани зависит погрешность измерени всего прибора.
Обычно оптические поглощаюшие фильтры изготовл ют путем нанесени на прозрачную подложку, чаще всего из стекла, пленки поглощающего вещества, например, металла. Пропускание фильтра в каждой
точке его поверхности определ етс толщиной пленки. Вещество, образующее пленку, осаждают на подложку в вакууме. Толщину пленки в отдельных точках регулируют либо изменением плотности потока вещества , осаждаемого на различные участки подложки , либо мен длительность осаждени .
Дл получени заданного распределени пропускани по поверхности детали используют экранирующие маски, вращающиес относительно подложки и 2,
При работе с масками достигнутый результат искажаетс краевыми эффектами, св занными с залетом вещества за подвижные экраны, которые Q устанавливают на достаточно большом рассто нии от подложки дл того, чтобы обеспечить возможность независимого одновременного перемещени нескольких масок. Кроме того, результат , полученный с помощью масок, сильно искажаетс непосто нством коэффициента конденсации осаждаемого материала вдоль поверхности.
Это св зано с неравномерным нагревом различных участков подложки. В тех местах которые в процессе напьшени большее врем экранированы от осаждени , нагрев меньше, и, наоборот, в открытых длительное врем участках нагрев более значительный . Коэффициент конденсации сильно зависит от температуры подложки. С увеличением температуры коэффид11ент падает, а с уменьшением - растет.
Эти недостатки оказьшают меньшее вли ние , когда в процессе напылени контролируют пропускание подложки с наносимым слоем поглошающего материала.
Известны способы изготовлени оптического фильтра путем нанесени в вакууме с помощью подвижных масок на подложку пленки, имеющей переменную по поверхности подложки толщину, с одновременным определением по показани м регистрирующего прибора (фотометра) с помощью зондирующего луча пропускани подложки с наносимым покрытием 3j . Зондирующий луч в этом случае направл ют на контрольный образецсвидетель , толщина осаждаемой пленки на котором равна суммарной толщине, соответствующей нанесению покрыти за все врбм изготовлени фильтра.
Работа с образцом-свидетелем предполагает наличие неизменной во времени плотности потока осаждаемого вешества и посто нного коэффициента конденсации в различных точках поверхности подложки. Однако обычно эти услови не вьшолн ютс , поэтому распределение толщины пленки отличаетс от заданного. Кроме того, на точность получени фильтра с требуемыми параметрами при .изготовлении его известным способом существенное вли ние оказывают как указывалось выше, залет вещества и непосто нство коэффициента конденсации.
Другим недостатком известного способа изготовлени фильтра с переменным по поверхности коэффициентом пропускани вл етс больша сложность перестройки всей еистемы с одного вида продукции на друРОй . Особенно это сложно делать, когда приходитс переходить с изготовлени фильтра имеющего один закон изменени пропускани , например линейный, на другой, например, экспоненциальный. В этом случае необходимо рассчитьтать новые услови перемещени масок, мен ть их конфигурацию. Затем экспериментально корректировать и то и другое, чтобы, хот бы частично учесть снижающие точность факторы, о которых гс ворилось выше. Однако достигнуть достаточно высокой степени компенсации погрешностей практически не удаетс , так как факторы, которые приходитс компенсировать , существенно завис т от условий нанесени пленки (темп нанесени количества вещества на испарител х и т.п.).
Цель изобретени - повышение точности получени заданного распределени коэффициента пропускани по поверхности оптического поглощающего фильтра.
Дл этого по предлагаемому способу одновременно С точкой изготавливаемого филра просвечивают зондирующим лучом установленные наЛ подложкой со стороны, противоположной пленке,оптический элемент с пропусканием в каждой точке,обратно пропорциональным заданному коэффициенту пропускани соответствующей точки фильтра, последовательно экранируют от попадани наносимого материала участки фильтра, в которых пленка достигает толщины, соотве твующей посто нному значению показани регистрирующего прибора фотометра, при этом операцию просвечивани начинают с кра оптического элемента, имеющего наименьшее пропускание.
На чертеже изображена зависимость коэффициентов пропускани Т от координаты линейного поглощаюшего оптического фильтра и оптического элемента - технологического поглощающего фильтра.
Фильтр изготовл ют путем нанесени в вакууме на подложку пленки из поглощающего материала. Чаще всего в качестве такого мтериала используют металлы, например платину , никель, хром и т.д.. Пленка имеет переменную по поверхности подложки толщину, величина которой в каждой точке с координатой 6 определ етс заданным коэффициентом пропускани Тф ( К ) Вещество, образук щее пленку, можно наносить различньп 1и методами , например термическим испарением либо катодным распьшением.
Подложку закрепл ют в оправе, котора может перемещатьс от привода, расположенного вне камеры. Перемещение производитс по направлению изменени величины коэффициента пропускани фильтра, т.е. при изготовлении линейного фильтра его перемещают по пр мой,при изготовлении кругового оправу с подложкой поворачивают вокруг оси фильтра.
В процессе напьшени фильтр перемещают так, чтобы та его часть, в которой достигаетс требуемое значени коэффициента пропускани , заходила за край экрана, защищающеп ) от дальнейшего попадани материала , образующего пленку. Экран располагают на Минимально возможном рассто нии от подложки. Над подложкой со стороны, противоположной наносимой пленке, устанавливают оптический элемент, имеющий вдоль йаправлени перемещени такой же размер. как и изготавливаемый фильтр. Оптический элемент закрепл ют в той же оправе, что и фильтр. О достижении требуемой толщины пленки Суд т по показани м регистрирующего прибора фотометра. Осветительна система фотометра формирует узкий зондирующий луч, с помощью которого просвечивают подложку с наносимой пленкой вблизи кра экрана Вместе с данной точкой изготавливаемого фильтра просвечивают расположенную над ней точку оптического элемента. Поэтому в каждый момент нанесени пленки показание Ф регистрирующего прибора пропорционально произведению коэффициентов пропуекани изготавливаемого фильтра Тф и оптического элемента TOJ в точках, которые одновременно просвечивают зондирующим лучом. Оптический элемент выполнен так, что величина Т () дл каждой его точки св зана с заданным значением Т, ( f ) соответствующей точки фильтра, имеющей координату S , соотношением . тф(e)т„(e)coт,st Напыление начинают, когда вс рабоча часть подложки не экранирована от залета вещества, а точка оптического элемента , расположенна вблизи кра экрана, имеет наименьшее пропускание. Вещество образующее поглощающую пленку, нанос т непрерывно. При этом оправу вместе в зак репленными в ней фильтром и оптическим элементом перемещают так, чтобы величина отсчета Ф все врем , пока происходит напы ление, оставалась посто нной. Выбира вел чину Ф, регулируют, не наруша закона изменени пропускани фильтра, отношение между максимальным и минимальным значени ми коэффициента пропускани в пределах изготавливаемого образца. Оптический элемент можно вьшолнить по разному, например в виде диафрагмы, световой размер конторой мен етс вдоль направлени изменени коэффициента пропуска- н ч. В этом случае максимальный световой размер диафрагм должен быть меньше диаметра луча, а распределение светового потока в сечении пучка должно быть равномерным . Наиболее удобно вьшолн ть оптический элемент в виде технологического поглощающего фильтра.коэффидиент пропускани ( которого в каждой точке обратно пропорционален коэффициенту пропускани Т ( ) изготовл емого фильтра. Технологический фильтр можно изготовить как нанос на под ложку пленку металла, так и вырезав его из массивного пр-дощающего материала, на пример нейтрального стекла, либо сформировав из затвердевающего со временем окрашенного вещества, например желатины и и полимерной смолы. Предлагаемый способ изготовлени был испытан при получении линейных фильтров, из платины и паллади . Размеры подложки 25x11 мм. Пропускание фильтра мен етс вдоль длинной стороны: i l-723 мм. Изготавливались фильтры, пропускание которых должно было мен тьс по законам Тф Ке k8 0,015 и К 0,04: . X 0,05 и X 0.25. В качестве примера на чертеже приведены оптические параметры фильтра, заданна характеристика которого Тф 0,04 показана пр мой 1. Измеренные значени коэффициентов пропускани представлены точками. Крива 2 относитс к технологическому поглощающему фильтру - оптическому элементу, с помощью которого производилось изготовление. Фильтр получают путем нанесени пленки паллади методом термического испаретни . Палладий в виде полоски металла шириной 2,5 мм и толщиной 0,5 мм наматывают на семивитковую вольфрамовую спираль , свитую из четырех проволок, диаметром 0,6 мм кажда . Испарение производитс в вакууме 10 мм рт.ст., ток накала испарителей пор дка 90 А. Зондирующий луч имеет круглое сечение диаметром 0,25 мм. Рассто ние от центра испарител до подложки в месте зондировани 2ОО мм а рассто ние от испарителей до плоскости расположени подложек 180 мм. Одновременно в подвижную оправу устанавливают три подложки. Средн подложка просвечиваетс зондирующим, лучом. Зазор между подложкой и краем экрана О, 1 мм. По мере нанесени пленки все подложки одновременно экранируютс . Напыление занимает около 5 мин.У полученных фильтров отклонение значени коэффициента пропускани от заданного в любой точке менее 1%. Предлагаемый способ изготавлени оптического поглощаюшего фильтра по сравнению с известным имеет следующие преимущества . Повьпиаетс точность получени фильтра с заданным распределением пропускани оптической плотности по поверхности, так как контроль в данном случае производитс непосредственно по изготавливаемому образцу и тем самым исключаетс вли ние нестабильности режимов напылени . Врем переналадки оборудовани с производства одного вида фильтра на другой и отработки условий нанесени занимает
не более трех дней. При применении известного способа на это требовалось до двух мес цев.
Существенно упрощаетс процесс производства и понижаютс требовани к стабиль ности технологических режимов. Это позвол ет снизить разр д работ с 5-6 до 3-4, а также повысть производительность установки и коэффициент использовани материалов , потому что стало возможным реже загружать испаритель новым наносимым веществом .
По вл етс возможность автоматизации процесса.
Claims (3)
- Формула изобретениСпособ изготовлени оптического поглощаюшего фильтра путем нанесени в вакууме на подложку пленки, имеющей переменную по поверхности подложки толщину и выполненной из по1лощающего материала например металла, с одновременным определением по показани м регистрирующего прибора фотометра с помощью зон,цирующего луча пропускани подложки, с наносимымпокрытием, отличающийс тем, что, с целью повьщ1ени точности получени заданного распределени коэффициента пропускани по поверхности, одновременно с точкой изготавливаемого фильтра просвечивают зовдирующим лучом установленный над подложкой со стороны, противоположной пленке, оптический элемент с пропусканием в каждой точке обратно пропорциональным заданному коэффициенту пропускани соответствующей точки фильтра, последовательно экранируют от попадани наносимого материала участки фильтра, в которых пленка достигает толщдны, соответствующей посто нному значению показани регистрирующего прибора фотометра, при этом просвечивание начинают с кра оптического элемента, имеющего наименьшее пропускание.Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе:l.Appe.,Opt.l965, 4, № 8, с. 977 (прототип).
- 2.Патент США № 3617Э31, класс 117/33-3, 1968 г.
- 3.Патент Франции № 1371342, класс Q- 02 В 5/28, 1964-.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU2104110A SU525906A1 (ru) | 1975-02-10 | 1975-02-10 | Способ изготовлени оптического поглощающего фильтра |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU2104110A SU525906A1 (ru) | 1975-02-10 | 1975-02-10 | Способ изготовлени оптического поглощающего фильтра |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU525906A1 true SU525906A1 (ru) | 1976-08-25 |
Family
ID=20609751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU2104110A SU525906A1 (ru) | 1975-02-10 | 1975-02-10 | Способ изготовлени оптического поглощающего фильтра |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU525906A1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2418031C2 (ru) * | 2005-11-25 | 2011-05-10 | Секисуй Кемикал Ко., Лтд. | Светорегулирующий материал и светорегулирующая пленка |
-
1975
- 1975-02-10 SU SU2104110A patent/SU525906A1/ru active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2418031C2 (ru) * | 2005-11-25 | 2011-05-10 | Секисуй Кемикал Ко., Лтд. | Светорегулирующий материал и светорегулирующая пленка |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101111705B1 (ko) | Nd 필터 및 개구 조리개 장치 | |
| US6404970B1 (en) | Variable optical attenuator | |
| DE2151709A1 (de) | Vorrichtung zum Messen der Stellung eines Tisches unter Verwendung von Interferenzstreifen | |
| EP0552648B1 (en) | Method of and apparatus for forming a multi-layer film | |
| DE69326928T2 (de) | Verfahren zur Messung des Brechungsindexes einer dünnen Schicht | |
| US2745773A (en) | Apparatus and method for forming juxtaposed as well as superimposed coatings | |
| CN114676520B (zh) | 一种线性渐变滤光片修正挡板的设计方法 | |
| JPH0439004B2 (ru) | ||
| SU525906A1 (ru) | Способ изготовлени оптического поглощающего фильтра | |
| DD143330A5 (de) | Photographisches verfahren zum aufkopieren einer bildstruktur einer kathodenstrahlroehre | |
| US4705359A (en) | Process and apparatus for the production of an orientation layer on a plane surface of a plate, and liquid crystal substrate plate produced thereby | |
| US6235165B1 (en) | Method of making a light quantity correction filter and method of manufacturing a color cathode ray tube using the light quantity correction filter made by the method | |
| US2384209A (en) | Method of producing optical wedges | |
| US2431923A (en) | Photographic record and method of forming same | |
| US2472991A (en) | Optical light wedge | |
| DE69838634T2 (de) | Mechanismus um gleichzeitig zwei seiten wasserabweisend zu machen | |
| DE102021200213A1 (de) | Verwölbungsmessvorrichtung, Gasphasenabscheidungsvorrichtung und Verwölbungsmessverfahren | |
| US4521686A (en) | Linewidth measuring with linearity calibration of the T.V. camera tube | |
| Indutnyi et al. | Holographic diffraction gratings on the base of chalcogenide semiconductors | |
| SU1396008A1 (ru) | Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы | |
| Bright et al. | The Resolving Power and Intensity Relationships of the Fabry Perot Interferometer with Silvered Reflecting Surfaces | |
| CN117248178B (zh) | 一种实时监测镜片面形的镀膜装置及镀膜方法 | |
| JP2727540B2 (ja) | 光学的膜厚制御装置 | |
| DD299826A5 (de) | Verfahren zur dickenkontrolle dielektrischer schichten | |
| JP3413812B2 (ja) | 波長可変光学フィルタの作製方法 |