SU752203A1 - Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов - Google Patents

Description

мои величины путем повышени  точности задани  па:ра 1етров тестового импульса nporpaiMMnpyeMoro генератора непосредственно на .Выводах испытуемого прибора. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в анализатор допол нительно введен блок сравнени  и .коррекции тесто.вых импульсов, состо щий из реле времени, устрой.ства ана .лмза и сравнени , устройства пам ти и цифро-аналогового ПреОбразовател , причеМ устройство анализа и сравнени  соединено с реле времени, блоком упра.вленн , устройством авто.сдвига непосредст1венно. а с генерато.ром тактовых импульсов через цифро-аналоговый преобразователь.

Схема описываемого устройства noisa3ai:a на чертеже.

Цифровой анализатор содержит систему автосдвига стробимпульсов /, соединенную с формирователем частоты тестовых импульсов 2, который совместно с систелюй автосдвига стробнмпульсов / задает частоту генератора тестовых импульсов 3. По.следний же, в свою очередь, предназначен дл  ф01р|МНрованн  амплитуды, .сментени , длительности и задержки тестовых им ульсов, подаваемых ,на вход испытуемого прибора, например ИС, помещенного в контактное устройство 4. Блок управлени  измерением 5 своими входами св зан со стробоскопическим дискриминатором 6 гН коммутатором 7. Блок управлени  изме .рением 5 управл ет работой системы автосдвига 1, формирователем частоты тестовых и-мпульсов 2, генератором тестовых импульсов 3 и блоком сравнени  и коррекции параметров генератора тестовых им ульсов 8, включающего в себ  устройства пам ти и цифро-аналогового преобразовани  значений амплитуды 9, смещени  10, длительности фр.онта тестового импульса , устройство анализа и сравнени  12 и реле времени 13. Ком.мутатор 7 осуществл ет подключение выводов испытуемой ИС к стробоскопич.еско.му дискриминатору 6, источникам пита.ни  и нагрузкам (последние На чертеже не показаны). З.начени  измеренных параметров тестового импульса дл  .сра1в.нени  с заданными передаютс  с системы автосдвига стробимпульсов /, в устройство а.нализа и сравнени  12 .и с его выхода через устройства 9, 10, 11 - на генератор тестовых импульсов 3. Анализато .р работает следующим обра.зом.

Тестовый импульс -с частотой следовани , программируе.мой блоком управлени  5 и определ емой системой автосдвига / и фо.рмирователем частоты тестовых пмпульсов 2, по.даетс  на .генератор тестовых импульсов 3.

(Параметры тестового импульса (амплитуда , смещение, длительность ф.ронта) в зависимости от типа измер емой схемы программируютс  в генераторе тестовых импульсов 3 .с бло,ка сравнени  и коррекции параметров генератора тестовых импульсов 5 и с блока управлени  5. Перед началом измерени  тестовый имдульс с заданными параметрами .подаетс  через

коМ(Мутатор 7 на испытуемую схему, а также .и непосредственно на стробо.скопический дискриминатор 6, который стробируетс  стробимпульсами устройства автосдвига /.

Производитс  измерение параметров тесто.вого импульса своим измерителем, имеющим высокую точность из.мерени . Измеренные значени  параметров тестового импульса с устройства автосдвига /

передаютс  в устройство анализа и сравнени  12, где сра(вниваютс  с заданными. При отличии из.меренных и заданных парамет .рав значени  заданных параметров корректируютс  при помощи устройства 9, 10,

//. КоПтроль и .коррекци  пара.метров тестов:ого импульса производитс  периодически . Периодичность контрол  .коррекции определ етс  .реле времени .13 или программой измерени . Точ ность измерени  динамических параметров ИС при этом существенно ловьгшаетс .

Ф о ip м -у л а изобретени 

Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов, содержащий контактное устройство дл  подключени  испытуемого прибора и генератор тестовых импульсов, которые через

Коммутатор подключены «о входу стробоскопического дискриминатора, устройство а ВТО сдвиг а стробимпульса, соединенное со входом носледнег.о .непосредственно и со входом генератора тестовых импульсов через форМирователь частоты тестовых импульсов , блок управлени , соединенный входами со стробоскопическим дискриминатором и коммутатором, а входом - с устройством автосдвига, фо.р-мирователем и

генератор.ом ча.стоты тестовых импульсов, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени , в анализатор дополнительно (введен блок сравнени  и коррекции тестовых импульсов, состо щий

из реле времени, устройства апализа и сравнени , устройства пам ти и цифро-аналогового преобразовател , причем устройство анализа .и сравнени  соединено с реле времени бло1шм управлени , устройством

автосдвига непосредственно, а с генератором тактовых импульсов через цифро-аналотовый преобразователь.

Источники инф.о.рма.ции, пр.ип тые во в.нима.ние л.ри экспертизе:

1.Авторекое свидетельство СССР № 3596.39, кл. G 05 В 23/02, 1972.

2.Авторское свидетельство по за вке № 2518245/25, кл. G 01 R 31/26, 1977 (прототип ).

Claims (1)

1. Ф о р м у л а изобретения

   Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов, содержащий контактное устройство для подключения испытуемого прибора и генератор тестовых импульсов, которые через коммутатор подключены ко .входу стробоскопического дискриминатора, устройство автосдвига стробимпульса, соединенное со входом последнего непосредственно и со входом генератора тестовых импульсов через формирователь частоты тестовых импульсов, блок управления, соединенный входами со стробоскопическим дискриминатором и коммутатором, а входом — с устройством автосдвига, формирователем и генератором частоты тестовых импульсов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, в анализатор дополнительно введен блок сравнения и коррекции тестовых импульсов, состоящий из реле времени, устройства анализа и сравнения, устройства памяти и цифро-аналогового преобразователя, причем устройство анализа и сравнения соединено с реле времени блоком управления, устройством автосдвига непосредственно, а с генератором тактовых импульсов через цифро-аналоговый преобразователь.