SU99083A1 - Ультразвуковой микроскоп-дефектоскоп - Google Patents

Description

Предметом изобретени   вл етс  ультразвуковой микроскоп-дефектоскоп , в котором видимое изображение объекта получаетс  на экраие телевизионного кинескопа. В известных ультразвуковых микроскопахдефектоскопах электромагнитные колебани  подвод тс  к передающей кварцевой пластинке через нанесенные по всей ее плошади электроды. Ультразвуко-вые колебани , излучаемые с передающей кварцевой пластинки , наход щейс  в жидкой среде , проход т через исследуемый объект , отрал аютс  от дефектов и перенос т его изображение иа приемную кварцевзю пластинку, смонтированную в электроннолучевой трубке.

Пьезоэлектрические зар ды, распределенные на приемной пластинке, соответственно контуру дефекта, вызывают изменени  во вторичной электронной эмиссии, образующейс  на противоположной стороне пластинки под, действием электрониого луча трубки. Эти изменени  эмиссии после соответствующего усилени  синхронно перенос тс  на экран кинескопа.

Недостатком этих известных устройств  вл етс  значительна  потер  ультразвуковой энергии Па отражени  на границах раздела сред и на поглощение и рассеивание в этих

средах. Ничтожно малой мощностью ультразвуковой энергии, доход щей до приемной кварцевой пластинки, весьма затруднительно модулировать вторичную эмиссию, вызываемую электронным лучом на ее поверхности .

С такой мощностью на приемной пластинке невозможно также получить развертку изображени  с помощью устройства, подобного диску Нипкова.

Особенностью предлагаемого ультразвукового микроскопа-дефектоскопа  вл етс  применение в нем бегающего ультразвзкового луча, производ щего разложение изображени  подлежащего наблюдению объекта синхронно с разверткой луча телевизионного кинескопа. Бегающий ультразвуковой луч получаетс  с помощью сфокусирОВанпого электронного луча или механическим путем при помощи диска Нипкова. Подача на передающую кварцевую пластинку напр жени  посредством сфокусированного электронного луча, передвигающегос  по пластинке с больщой скоростью, обеспечивает лучщее использование мощности ультразвукового излучени  и допускает возможность больщих по амплитуде механических колебаний передающей кварцевой пластинки, так как в каждый данный момент времени колеблетс  только одна элементарна  ее площадка , равна  площади поперечного сечени  электронного луча.

При механической развертке мощные колебани , подаваемые на контактное устройство, дают большое отношение «сигнал - щум и позвол ют легче практически осуществить развертку.

Дл  обеспечени  возможности иослойпого рассмотрени  внутреннего состо ни  наблюдаемого объекта по всей его толодине в предлагаемом микроскопе-дефектоскопе применена звукова  линза, фокусирующа  ультразвуковой луч в любой заданной точке объекта.

На чертеже показана принципиальна  схема предлагаемого ультразвукового микроскопа-дефектоскопа.

Исследуемый образец /, имеющий дефект 2, подвергаетс  воздействию ультразвукового бегающего луча 3, излучаемого передающей кварцевой пластинкой 4, вмонтированной в электроннолучевую трубку 5. Электромагнитные колебани  подаютс  электронным лучом 6 не на всю площадь кварцевой пластинки 4, а на отдельные ее точки.

Контактный электрод 7 на передающей пьезоэлектрической пластинке 4 находитс  только со стороны, обращенной к контролируемому объекту.

Ультразвуковой бегающий луч 3, пройд  через исследуемый образец /, попадает на приемную пьезоэлектрическую пластинку 8, приводит ее в колебани  и вызывает образование пьезоэлектрических зар дов, расиростран ющихс  благодар  сплошным электродам 9, покрывающим пластинку 8 с обеих сторон, по всей ее площади. Эти зар ды снимаютс  проводом 10, усиливаютс  усилителем 11 и подаютс  через провод 12 иа управл ющий электрод телевизионного кинескопа 13. Развертка электронного луча кинескопа 13 син .хроиизирована с разверткой бегающего ультразвукового луча при помощи передающей электроннолучевой трубки 5.

Дл  послойного рассматривани  исследуемого образца / по всей его толщине с точной отметкой места расположени  дефекта служит фокусирующа  ультразвукова  линза 14. Линза 14 расположена между исследуемым объектом / и передающей кварцевой пластинкой 4 и с ее помощью ультразвуковой луч может быть сфокусирован в любой заданной точке по толщине контролируемого объекта.

В случае использовани  электронной развертки дл  получени  бегающего ультразвукового луча могут быть применены различные варианты выполнени  электроннолучевой трубки с вделанной в ее дно кварцевой пластинкой.

Предлагаемый ультразвуковой микроскоп-дефектоскоп может быть без переделки использован дл  наблюдени  объекта по «теневому методу .

Предмет изобретени 

Claims (2)

1.Ультразвуковой микроскоп-дефектоскоп , в котором видимое изображение подлежащего наблюдению объекта получаетс  на экране телевизионного кинескопа, отличающийс  тем, что, с целью лучшего использовани  мощности ультразвукового излучени , в нем применено разложение изображени  объекта бегающим ультразвуковым лучом, образуемым подачей электрических зар дов переменного знака иа отдельные элементарные площадки передающей кварцевой пластинки синхронно с разверткой луча кинескопа.

2.В микроскопе-дефектоскопе по п. 1 применение, с целью послойного рассмотрени  впутреинего состо ни  объекта по всей его толщине, ультразвуковой линзы, расположенной между передающей кварцевой пластинкой и объектом и фокусирующей ультразвуковой луч в любой заданной точке по толщине объекта