TH17939B - วิธีการสร้างแบบรูป - Google Patents
วิธีการสร้างแบบรูปInfo
- Publication number
- TH17939B TH17939B TH9301001359A TH9301001359A TH17939B TH 17939 B TH17939 B TH 17939B TH 9301001359 A TH9301001359 A TH 9301001359A TH 9301001359 A TH9301001359 A TH 9301001359A TH 17939 B TH17939 B TH 17939B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- desired area
- pattern
- film
- vapor deposition
- films
- Prior art date
Links
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract 20
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract 10
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 claims abstract 8
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 claims abstract 8
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims abstract 5
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 31
- 239000010408 film Substances 0.000 claims 24
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims 11
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims 9
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 6
- 125000005234 alkyl aluminium group Chemical group 0.000 claims 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 4
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims 4
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 claims 4
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 claims 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N dimethylalumane Chemical compound C[AlH]C TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims 3
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 claims 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims 2
- 239000012788 optical film Substances 0.000 claims 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims 2
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 claims 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 claims 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
Abstract
วิธีการสร้างแบบรูปที่ประกอบด้วย การกระทำต่อพื้นผิวแก่วัสดุฐานรองสาร กึ่งตัวนำเพื่อให้อะตอมไฮโดรเจนแก่พิ้นผิวของมัน การฉายรังสีในบริเวณที่ต้องการ ของพื้นผิวดังกล่าวด้วยรังสีพลังงาน การสร้างฟิล์มโลหะอย่างเลือกสรรบนบริเวณ ที่ไม่ถูก ฉายรังสี ที่ไม่ใช่บริเวณที่ต้องการ และการกัดกร่อนวัสดุฐานรองสารกึ่งตัวนำ ดังกล่าวโดยใช้ฟิล์มโลหะดังกล่าวเป็นมาสก์
Claims (9)
1. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ซึ่งประกอบรวมด้วย การทำให้พื้นผิวของวัสดุฐานรองสารกึ่งตัวนำได้รับการกระทำต่อพื้นผิวสำหรับการให้ อะตอมไฮโดรเจน การฉายรังสีบริเวณที่ต้องการของพื้นผิวดังกล่าวด้วยลำอิเล็กตรอน การส่งวัสดุฐานรองดังกล่าวไปสู่บรรยากาศ การเลือกสร้างฟิล์มโลหะบางที่มีความหนา 0.09 ถึง 0.5 ไมโครเมตรบนบริเวณที่ไม่ถูกฉาย รังสีนอกเหนือจากบริเวณที่ต้องการ และ การทำให้ฟิล์มโลหะบางดังกล่าวผ่านการออกซิเดชั่นเพื่อเปลี่ยนมันเป็นฟิล์มบางที่ยอมให้ แสงผ่าน 2
2. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ตามข้อถือสิทธิข้อที่ 21 ที่การกระทำต่อพื้นผิวดังกล่าว ถูกกระทำโดยใช้กรดไฮโดรฟลูออริก 2
3. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ตามข้อถือสิทธิข้อที่ 21 ที่ฟิล์มบางดังกล่าว ประกอบ รวมด้วย อลูมินัม 2
4. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ตามข้อถือสิทธิข้อที่ 21 ที่วัสดุฐานรองดังกล่าวคือวัสดุ ฐานรองที่ยอมให้แสงผ่านที่มีฟิล์มกรองแสงที่ถูกสร้างบนพื้นผิวของมัน 2
5. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ตามข้อถือสิทธิข้อที่ 21 ที่ฟิล์มบางดังกล่าวถูกสร้างโดย การสะสมไอทางเคมี 2
6. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ตามข้อถือสิทธิข้อที่ 25 ที่การสะสมไอทางเคมีดังกล่าว ถูกดำเนินการโดยการใช้สารประกอบ โลหะออร์แกนิกเป็นวัตถุดิบ 2
7. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ตามข้อถือสิทธิข้อที่ 26 ที่สารประกอบโลหะออร์แกนิก ดังกล่าวประกอบรวมด้วย อัลคิลอลูมิเนียมไฮไดรด์ 2
8. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ตามข้อถือสิทธิข้อที่ 27 ที่ไดเมธิลอลูมิเนียมไฮไดรด์ อัลคิลอลูมิเนียมไฮไดรด์ ดังกล่าว 2
9. วิธีการของการเตรียมโฟโตมาสก์ตามข้อถือสิทธิข้อที่ 21 ที่ฟิล์มบางที่ยอมให้แสงผ่าน ดังกล่าวคือ อลูมิเนียมออกไซด์
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH18972A TH18972A (th) | 1996-06-07 |
| TH17939B true TH17939B (th) | 2004-12-20 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4615904A (en) | Maskless growth of patterned films | |
| US4608117A (en) | Maskless growth of patterned films | |
| KR940006196A (ko) | 패턴형성방법 | |
| US3122463A (en) | Etching technique for fabricating semiconductor or ceramic devices | |
| JPH057872B2 (th) | ||
| KR930022602A (ko) | 박막형성법 | |
| KR950034481A (ko) | 건식 마이크로리소그래피 처리 | |
| US3799803A (en) | Surface passivation | |
| US4645687A (en) | Deposition of III-V semiconductor materials | |
| JPH077744B2 (ja) | レ−ザ−加熱タ−ゲツトからの蒸発増強方法 | |
| US3095332A (en) | Photosensitive gas phase etching of semiconductors by selective radiation | |
| US5409802A (en) | Method and apparatus for fine processing | |
| TH17939B (th) | วิธีการสร้างแบบรูป | |
| TH18972A (th) | วิธีการสร้างแบบรูป | |
| JP2771472B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| EP0126803A2 (en) | Method for photochemical conversion of silicon monoxide to silicon dioxide | |
| DE69026178D1 (de) | Verfahren zum Herstellen einer abgeschiedenen Schicht, und Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung | |
| JP3950967B2 (ja) | 真空紫外光を用いたSi−O−Si結合を含む固体化合物膜の酸化ケイ素への改質方法及びパターン形成方法 | |
| JPS6049630A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS594848B2 (ja) | 非晶質カルコゲナイドガラス薄膜を用いるフオトエツチングの方法 | |
| Kawai et al. | Laser-Induced Formation of Thin TiO2 Films from TiC14 and Oxygen an a Silicon Surface. | |
| JP3300781B2 (ja) | 酸化膜の形成方法 | |
| Loper et al. | UV laser etching processes for film layers used in silicon integrated circuits | |
| RU2017191C1 (ru) | Способ формирования маскирующего слоя фотошаблона | |
| JPS56140345A (en) | Formation of pattern |