TH47928B - ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก - Google Patents
ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็กInfo
- Publication number
- TH47928B TH47928B TH401001450A TH0401001450A TH47928B TH 47928 B TH47928 B TH 47928B TH 401001450 A TH401001450 A TH 401001450A TH 0401001450 A TH0401001450 A TH 0401001450A TH 47928 B TH47928 B TH 47928B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- contact
- integrated circuit
- parts
- grooves
- contact parts
- Prior art date
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract 1
Abstract
DC60 (19/05/53) ชุดทดสอบแบบชิ้นส่วนหน้าสัมผัสสำหรับใช้ในการทดสอบวงจรรวม ชุดทดสอบนี้ ประกอบด้วย เปลือกหุ้มที่มีพื้นผิวที่หันหน้า ตรงกันข้าม และมีร่องหนึ่งร่องหรือมากกว่าที่ยื่นผ่านทะลุ เปลือกหุ้มในระหว่างพื้นผิวเหล่านั้น โดยในขณะใช้งานชุดทด สอบ วงจรรวมที่จะทดสอบจะเข้ามา ใกล้พื้นผิวที่หนึ่งนั้น และ พื้นผิวที่สองที่อยู่ใกล้แผงโหลดที่สถานที่ทดสอบ ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสจะ รับเข้าไว้ในร่อง ซึ่งชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นมีปลายข้างที่หนึ่ง ซึ่งประสานเข้าได้กับขั้วนำไฟฟ้า ของอุปกรณ์วงจร รวม ปลายข้างที่สองของชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นจะประสา นอยู่กับขั้วต่อที่ สมนัยกัน ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละ ชิ้นสามารถเคลื่อนที่ได้ระหว่างการจัดเรียงลักษณะที่ หนึ่งซึ่งไม่ ประสานกับขั้วนำไฟฟ้าที่สมนัยกันของไอซี และ การจัดเรียงลักษณะที่สองซึ่งไอซีประสานเข้ากับ ขั้วนำ ไฟฟ้าที่สมนัยกันของ ไอซี และได้รับการผลักดันเข้าไป ในร่องของชิ้นส่วนหน้า สัมผัส ชิ้นส่วนยืดหยุ่นจะทำให้ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสมีลักษณะ โน้มเอียงไปสู่ลักษณะการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่ง เมื่อ ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสเคลื่อนที่ไประหว่างลักษณะการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่งและลักษณะที่สอง จะไม่เลื่อนข้ามขั้วต่อของแผงโหลด ชุดทดสอบแบบชิ้นส่วนหน้าสัมผัสสำหรับใช้ในการทดสอบวงจรรวม ชุดทดสอบนี้ ประกอบด้วย เปลือกหุ้มที่มีพื้นผิวที่หันหน้า ตรงกันข้าม และมีร่องหนึ่งร่องหรือมากกว่าที่ยื่นผ่านทะลุ เปลือกหุ้มในระหว่างพื้นผิวเหล่านั้น โดยในขณะใช้งานชุดทด สอบ วงจรรวมที่จะทดสอบจะเข้ามา ใกล้พื้นผิวที่หนึ่งนั้น และ พื้นผิวที่สองที่อยู่ใกล้แผงโหลดที่สถานที่เฉพาะเพื่อทดสอบ ชิ้นส่วน หน้าสัมผัสจะรับเข้าไว้ในร่อง ซึ่งชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นมีปลายข้างที่หนึ่ง ซึ่งประสานเข้าได้กับ ขั้วนำไฟฟ้าของอุปกรณ์วงจร รวม ปลายข้างที่สองของชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นจะประสา น อยุ่กับขั่วตอนปลายที่สมนัยกัน ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละ ชิ้นสามารถเคลื่อนที่ได้ระหว่างการกำหนด ทิศทางลักษณะที่ หนึ่งซึ่งไม่ประสานกับขั้วนำไฟฟ้าที่สมนัยกันของไอซี และ การกำหนดทิศทาง ลักษณะที่สองซึ่งไอซีประสานเข้ากับขั้วนำ ไฟฟ้าที่สมนัยกันของ ไอซี และได้รับการผลักดันเข้าไป ในร่องของชิ้นส่วนหน้า สัมผัส ชิ้นส่วนยืดหยุ่นจะทำให้ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสมีลักษณะ โน้มเอียงไปสู่ ลักษณะการกำหนดทิศทางลักษณะที่หนึ่ง เมื่อ ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสเคลื่อนที่ไประหว่างลักษณะการ กำหนดทิศ ทางลักษณะที่หนึ่งและลักษณะที่สอง จะไม่เลื่อนข้ามขั้วตอน ปลายของแผงโหลด
Claims (1)
1. ข้อถือสิทธฺ์ (ทั้งหมด) ซึ่งจะไม่ปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา :
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH68080A TH68080A (th) | 2005-03-24 |
| TH47928B true TH47928B (th) | 2016-02-05 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100547096B1 (ko) | 고정구와 전기적 접속기의 결합체를 가진 무선 전화기 | |
| MY139036A (en) | Improved integrated circuit contact to test apparatus | |
| ATE468632T1 (de) | Zwischenverbinder um zwei übereinanderliegende elektronikschaltungen zu verbinden und dessem montageverfahren | |
| EP1740492A4 (en) | ELECTRICAL CONNECTING DEVICE FOR USE WITH ELEVATOR LOAD SUPPORTS | |
| SG166782A1 (en) | Planar voltage contrast test structure and method | |
| RU94019412A (ru) | Электрохимический источник тока и электронное устройство, имеющее чувствительный к влажности компонент | |
| WO2004008163A3 (en) | Assembly for connecting a test device to an object to be tested | |
| ATE421173T1 (de) | Steckverbinder für elektronische bauelemente | |
| ATE511212T1 (de) | Schaltungsanordnung | |
| TWI294713B (en) | Dual contact electrical compression connector | |
| MY112140A (en) | Jig for measuring the characteristics of a semiconductor, manufacturing method for the same, and usage of the same | |
| DE60315954D1 (de) | Laminierte kontakte in sockel | |
| CN201127100Y (zh) | 一种用于手机测试的转接治具 | |
| TH47928B (th) | ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก | |
| TH68080A (th) | ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก | |
| TW200729373A (en) | Test module for wafer | |
| TW200620518A (en) | Semiconductor test device and test component tray used for the same | |
| TW200734661A (en) | Electronic component device testing apparatus | |
| TH175423A (th) | ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก | |
| CN207301293U (zh) | 多路电源测试机构 | |
| FR3094577B3 (fr) | Micro interrupteur à pont rotatif | |
| SE9904184D0 (sv) | A test fixture | |
| DK1105897T3 (da) | Indretning til Kortslutning | |
| CN219912976U (zh) | 一种cob霓虹灯条免焊接堵头 | |
| TW200629657A (en) | Connecting component and multilayer substrate |