TH175423A - ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก - Google Patents
ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็กInfo
- Publication number
- TH175423A TH175423A TH1501004612A TH1501004612A TH175423A TH 175423 A TH175423 A TH 175423A TH 1501004612 A TH1501004612 A TH 1501004612A TH 1501004612 A TH1501004612 A TH 1501004612A TH 175423 A TH175423 A TH 175423A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- arrangement
- contact
- connector
- enclosures
- coordinate
- Prior art date
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract 3
Abstract
คำขอใหม่ปรับปรุง วันที่ 26/02/2559 ชุดทดสอบแบบชิ้นส่วนหน้าสัมผัสสำหรับใช้ในการทดสอบวงจรรวม ชุดทดสอบนี้ ประกอบด้วย เปลือกหุ้มที่มีพื้นผิวที่หันหน้าตรงกันข้าม และมีร่องหนึ่งร่องหรือมากกว่าที่ยื่นผ่านทะลุ เปลือกหุ้มในระหว่างพื้นผิวเหล่านั้น โดยในขณะใช้งานชุดทดสอบ วงจรรวมที่จะทดสอบจะเข้ามา ใกล้พื้นผิวที่หนึ่งนั้น และพื้นผิวที่สองที่อยู่ใกล้แผงโหลดที่สถานที่ทดสอบ ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสจะ รับเข้าไว้ในร่อง ซึ่งชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นมีปลายข้างที่หนึ่ง ซึ่งประสานเข้าได้กับขั้วนำไฟฟ้า ของอุปกรณ์วงจรรวม ปลายข้างที่สองของชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นจะประสานนอยู่กับขั้วต่อที่ สมนัยกัน ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นสามารถเคลื่อนที่ได้ระหว่างการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่งซึ่งไม่ ประสานกับขั้วนำไฟฟ้าที่สมนับกันของไอซี และการจัดเรียงลักษณะที่สองซึ่งไอซีประสานเข้ากับ ขั้วนำไฟฟ้าที่สมนัยกันของไอซี และได้รับการผลักดันเข้าไป ในร่องของชิ้นส่วนหน้าสัมผัส ชิ้นส่วนยืดหยุ่นจะทำให้ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสมีลักษณะโน้มเอียงไปสู่ลักษณะการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่ง เมื่อชิ้นส่วนหน้าสัมผัสเคลื่อนที่ไประหว่างลักษณะการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่งและลักษณะที่สอง จะไม่เลื่อนข้ามขั้วต่อของแผงโหลด
Claims (1)
1. อุปกรณ์สำหรับการเชื่อมต่อระหว่างกันทางไฟฟ้าอย่างชั่วคราวของขั้วนำไฟฟ้าของ อุปกรณ์เข้ากับขั้วต่อของอุปกรณ์ทดสอบที่ประกอบรวมด้วย a) เปลือกหุ้มที่มีพื้นผิวที่หนึ่งและสองที่เป็นระนาบที่อยู่ตรงข้ามและขนานกันที่มี &nbแท็ก :
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH175423A true TH175423A (th) | 2018-04-19 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| MY139036A (en) | Improved integrated circuit contact to test apparatus | |
| WO2005065258A3 (en) | Active wafer probe | |
| DK1581111T3 (da) | Sensormodul til måling af overflader | |
| EP1488245A4 (en) | DEVICE FOR AN INTERFACE BETWEEN ELECTRONIC HOUSINGS AND TEST DEVICES | |
| DE60142688D1 (de) | Selbstkonfigurierendes tragbares elektronisches gerät mit mehreren elementen | |
| WO2008019134A3 (en) | A probe head assembly for use in testing multiple wafer die | |
| TW200606543A (en) | Electrical conducting structure and liquid crystal display device comprising the same | |
| ATE421173T1 (de) | Steckverbinder für elektronische bauelemente | |
| GB2446629A (en) | Technique for evaluating local electrical characteristics in semiconductor devices | |
| TH175423A (th) | ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก | |
| TWI234660B (en) | Arch type probe and probe card using same | |
| TW200627618A (en) | Analogue measurement of alignment between layers of a semiconductor device | |
| ATE338278T1 (de) | Vielsondentestkopf und prüfverfahren | |
| US11768223B2 (en) | Testing device and probe elements thereof | |
| ATE382869T1 (de) | Testen integrierter schaltungen | |
| CN109814023A (zh) | 电源板测试装置 | |
| TH47928B (th) | ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก | |
| TH68080A (th) | ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก | |
| US20190204380A1 (en) | Lead guides having a recessed face | |
| TW200734661A (en) | Electronic component device testing apparatus | |
| CN104882434B (zh) | 一种电性测试结构及方法 | |
| TW200620518A (en) | Semiconductor test device and test component tray used for the same | |
| CN205643625U (zh) | 主板测试组件 | |
| MY149802A (en) | Device and method for testing electronic components | |
| TW200506805A (en) | A substrate and a display device incorporating the same |