TH66699A - Methods for coating metal layers on semiconductor bridging structures. - Google Patents
Methods for coating metal layers on semiconductor bridging structures.Info
- Publication number
- TH66699A TH66699A TH301004088A TH0301004088A TH66699A TH 66699 A TH66699 A TH 66699A TH 301004088 A TH301004088 A TH 301004088A TH 0301004088 A TH0301004088 A TH 0301004088A TH 66699 A TH66699 A TH 66699A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- metal
- layer
- pattern
- coated
- secondary layer
- Prior art date
Links
Abstract
DC60 (27/01/47) ได้เปิดเผยถึงวิธีการสำหรับการเคลือบชั้นโลหะอยู่บนโครงสร้างเชื่อมต่อของเวเฟอร์สารกึ่ง ตัวนำ ในวิธีการ ตัวนำโลหะ จะถูกหุ้มโดยชั้นไดอิเล็กตริก ชั้นไดอิเล็กตริกจะถูกสร้าง เป็นแพทเทิร์น ให้เปิดตัวนำโลหะ ชั้นรองจะถูกเคลือบหลังจาก นั้นลงบนแพทเทิร์น หลังจากนั้นชั้นรองจะถูกกัดขึ้น รอยฉาบ ด้วยโลหะอาร์กอนเพื่อนำชั้นรองออกและเปิดตัวนำโลหะ ใน กระบวนการของการกัดขึ้นรอย ฉาบด้วยโลหะอาร์กอน ชั้นรองจะถูก เคลือบซ้ำลงบนผนังด้านข้างของแพทเทิร์น สุดท้าย ชั้นเพิ่ม เติม จะถูกเคลือบอยู่ในแพทเทิร์นและหุ้มชั้นรองที่เคลือบซ้ำ ได้เปิดเผยถึงวิธีการสำหรับการเคลือบชั้นโลหะอยู่บนโครงสร้างเชื่อมต่อของเวเฟอร์สารกึ่ง ตัวนำ ในวิธีการ ตัวนำโลหะ จะถูกหุ้มโดยชั้นไดอิเล็กตริก ชั้นไดอิเล็กตริกจะถูกสร้าง เป็นแพทเทิร์น ให้เปิดตัวนำโลหะ ชั้นรองจะถูกเคลือบหลังจาก นั้นลงบนแพทเทิร์น หลังจากนั้นชั้นรองจะถูกกัดขึ้น รอยฉาบ ด้วยโลหะอาร์กอนเพื่อนำชั้นรองออกและเปิดตัวนำโลหะ ใน กระบวนการของการกัดขึ้นรอย ฉาบด้วยโลหะอาร์กอน ชั้นรองจะถูก เคลือบซ้ำลงบนผนังด้านข้างของแพทเทิร์น สุดท้าย ชั้นเพิ่ม เติม จะถูกเคลือบอยู่ในแพทเทิร์นและหุ้มชั้นรองที่เคลือบซ้ำ DC60 (27/01/47) has disclosed a method for coating the metal layer on the bridging structure of the semiconductor wafer. In the method, the metal conductors are shielded by a dielectric layer. The dielectric layer will be created. As a pattern To open the metal conductors The secondary layer will be coated after That onto the pattern The secondary layer is then etched with argon metal to remove the secondary layer and open the metal guide in the process of incrementing. Putting it with argon metal, a secondary layer is applied over the side wall of the final pattern, an additional layer is coated in the pattern and the secondary layer is re-coated. It has revealed a method for coating the metal layer on the bridging structure of the semiconductor wafer. In the method, the metal conductors are covered by a dielectric layer. The dielectric layer will be created. As a pattern To open the metal conductors The secondary layer will be coated after That onto the pattern The secondary layer is then etched with argon metal to remove the secondary layer and open the metal guide in the process of incrementing. Putting it with argon metal, a secondary layer is applied over the side wall of the final pattern, an additional layer is coated in the pattern and the secondary layer is re-coated.
Claims (1)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH66699A true TH66699A (en) | 2005-01-24 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO2003049186A3 (en) | Transistor metal gate structure that minimizes non-planarity effects and method of formation | |
| ATE470237T1 (en) | A METHOD FOR DEPOSING A METAL LAYER ON A SEMICONDUCTOR INTERCONNECT STRUCTURE WITH A TOP LAYER | |
| ATE492146T1 (en) | HIGHLY RELIABLE MULTILAYER CIRCUIT SUBSTRATES AND METHOD FOR FORMING THEM | |
| TWI256723B (en) | Process for manufacturing multiple layer wiring substrate onto which thin film capacitor is incorporated | |
| TW429581B (en) | A method of fabricating a multi-layered wiring system of a semiconductor device | |
| WO2003100825A3 (en) | Multiple thickness semiconductor interconnect and method therefor | |
| SG125931A1 (en) | Method of forming copper interconnects | |
| WO2010002736A3 (en) | Methods for fabricating line/space routing between c4 pads | |
| WO2007031930A3 (en) | Method of manufacturing semiconductor device with different metallic gates | |
| TW200518265A (en) | Copper damascene structure and semiconductor device including the structure and method of fabricating the same | |
| TW200715475A (en) | A phase-change semiconductor device and methods of manufacturing the same | |
| TW200503271A (en) | Semiconductor device, manufacturing method thereof, and manufacturing method of metallic compound thin film | |
| WO2005122254A3 (en) | Gate stack and gate stack etch sequence for metal gate integration | |
| TH66699A (en) | Methods for coating metal layers on semiconductor bridging structures. | |
| WO2003003413A3 (en) | Growing copper vias or lines within a patterned resist using a copper seed layer | |
| TW200512926A (en) | Method of manufacturing semiconductor device | |
| TH66698A (en) | Methods for coating metal layers on covered semiconductor structures | |
| TW200631097A (en) | Semiconductor structures and method of passivating sidewalls of metal structures | |
| TW428248B (en) | Structure and method of metal conductive layer and dielectric layer | |
| JPH01192137A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| KR100480913B1 (en) | Method for burying contact using stacked Ti/TiN | |
| TW200705611A (en) | Damascene process and mthod for fabricating bit line for memory | |
| TW200515851A (en) | Patterned circuit layer of semiconductor package substrate and method for fabricating the same | |
| TW366565B (en) | Manufacturing method of damascene interconnect structures | |
| KR920007342B1 (en) | Manufacturing method of semiconductor |