TH66699A - Methods for coating metal layers on semiconductor bridging structures. - Google Patents

Methods for coating metal layers on semiconductor bridging structures.

Info

Publication number
TH66699A
TH66699A TH301004088A TH0301004088A TH66699A TH 66699 A TH66699 A TH 66699A TH 301004088 A TH301004088 A TH 301004088A TH 0301004088 A TH0301004088 A TH 0301004088A TH 66699 A TH66699 A TH 66699A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
metal
layer
pattern
coated
secondary layer
Prior art date
Application number
TH301004088A
Other languages
Thai (th)
Inventor
จี. มัลโฮตรา นายแซนดรา
เอช. ไซม่อน นายแอนดรูว์
Original Assignee
นายดำเนิน การเด่น
นายต่อพงศ์ โทณะวณิก
นายวิรัช ศรีเอนกราธา
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
Filing date
Publication date
Application filed by นายดำเนิน การเด่น, นายต่อพงศ์ โทณะวณิก, นายวิรัช ศรีเอนกราธา, นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์ filed Critical นายดำเนิน การเด่น
Publication of TH66699A publication Critical patent/TH66699A/en

Links

Abstract

DC60 (27/01/47) ได้เปิดเผยถึงวิธีการสำหรับการเคลือบชั้นโลหะอยู่บนโครงสร้างเชื่อมต่อของเวเฟอร์สารกึ่ง ตัวนำ ในวิธีการ ตัวนำโลหะ จะถูกหุ้มโดยชั้นไดอิเล็กตริก ชั้นไดอิเล็กตริกจะถูกสร้าง เป็นแพทเทิร์น ให้เปิดตัวนำโลหะ ชั้นรองจะถูกเคลือบหลังจาก นั้นลงบนแพทเทิร์น หลังจากนั้นชั้นรองจะถูกกัดขึ้น รอยฉาบ ด้วยโลหะอาร์กอนเพื่อนำชั้นรองออกและเปิดตัวนำโลหะ ใน กระบวนการของการกัดขึ้นรอย ฉาบด้วยโลหะอาร์กอน ชั้นรองจะถูก เคลือบซ้ำลงบนผนังด้านข้างของแพทเทิร์น สุดท้าย ชั้นเพิ่ม เติม จะถูกเคลือบอยู่ในแพทเทิร์นและหุ้มชั้นรองที่เคลือบซ้ำ ได้เปิดเผยถึงวิธีการสำหรับการเคลือบชั้นโลหะอยู่บนโครงสร้างเชื่อมต่อของเวเฟอร์สารกึ่ง ตัวนำ ในวิธีการ ตัวนำโลหะ จะถูกหุ้มโดยชั้นไดอิเล็กตริก ชั้นไดอิเล็กตริกจะถูกสร้าง เป็นแพทเทิร์น ให้เปิดตัวนำโลหะ ชั้นรองจะถูกเคลือบหลังจาก นั้นลงบนแพทเทิร์น หลังจากนั้นชั้นรองจะถูกกัดขึ้น รอยฉาบ ด้วยโลหะอาร์กอนเพื่อนำชั้นรองออกและเปิดตัวนำโลหะ ใน กระบวนการของการกัดขึ้นรอย ฉาบด้วยโลหะอาร์กอน ชั้นรองจะถูก เคลือบซ้ำลงบนผนังด้านข้างของแพทเทิร์น สุดท้าย ชั้นเพิ่ม เติม จะถูกเคลือบอยู่ในแพทเทิร์นและหุ้มชั้นรองที่เคลือบซ้ำ DC60 (27/01/47) has disclosed a method for coating the metal layer on the bridging structure of the semiconductor wafer. In the method, the metal conductors are shielded by a dielectric layer. The dielectric layer will be created. As a pattern To open the metal conductors The secondary layer will be coated after That onto the pattern The secondary layer is then etched with argon metal to remove the secondary layer and open the metal guide in the process of incrementing. Putting it with argon metal, a secondary layer is applied over the side wall of the final pattern, an additional layer is coated in the pattern and the secondary layer is re-coated. It has revealed a method for coating the metal layer on the bridging structure of the semiconductor wafer. In the method, the metal conductors are covered by a dielectric layer. The dielectric layer will be created. As a pattern To open the metal conductors The secondary layer will be coated after That onto the pattern The secondary layer is then etched with argon metal to remove the secondary layer and open the metal guide in the process of incrementing. Putting it with argon metal, a secondary layer is applied over the side wall of the final pattern, an additional layer is coated in the pattern and the secondary layer is re-coated.

Claims (1)

1. วิธีการสำหรับการเคลือบชั้นโลหะบนโครงสร้างเชื่อมต่อสำหรับเวเฟอร์สารกึ่งตัวนำ วิธีการประกอบด้วยขั้นตอนของ: (a) การจัดให้มีโครงสร้างเชื่อมต่อซึ่งประกอบด้วยตัวนำ โลหะที่ถูกหุ้มโดยชั้นไดอิเล็กตริก (b) การสร้างแพทเทิร์นชั้นไดอิเล็กคริกเพื่อขึ้นรูปช่อง เปิดที่เปิดตัวนำโลหะ (c) การเคลือบชั้นรองอยู่บนผนังและด้านล่างของช่องเปิด (d) การกัดขึ้นรอยฉาบด้วยโลหะชั้นรองเพื่อเปิดตัวนำโลหะ และอย่างน้อยที่สุดเคลือบซ้ำชั้น รองเป็นบางส่วนอยู่บนผนัง แท็ก :1. Method for coating metal layers on connector structures for semiconductor wafers. The method consists of steps of: (a) providing a connecting structure consisting of a conductor. Metal covered by a dielectric layer (b) forming a dielectric layer pattern to form a channel. Open the metal guide opener (c) The secondary coating is on the wall and bottom of the opening (d) milling up the metal substrate to open the metal conductor. And at the very least, double coat A partial vice is on the wall tags:
TH301004088A 2003-10-31 Methods for coating metal layers on semiconductor bridging structures. TH66699A (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TH66699A true TH66699A (en) 2005-01-24

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2003049186A3 (en) Transistor metal gate structure that minimizes non-planarity effects and method of formation
ATE470237T1 (en) A METHOD FOR DEPOSING A METAL LAYER ON A SEMICONDUCTOR INTERCONNECT STRUCTURE WITH A TOP LAYER
ATE492146T1 (en) HIGHLY RELIABLE MULTILAYER CIRCUIT SUBSTRATES AND METHOD FOR FORMING THEM
TWI256723B (en) Process for manufacturing multiple layer wiring substrate onto which thin film capacitor is incorporated
TW429581B (en) A method of fabricating a multi-layered wiring system of a semiconductor device
WO2003100825A3 (en) Multiple thickness semiconductor interconnect and method therefor
SG125931A1 (en) Method of forming copper interconnects
WO2010002736A3 (en) Methods for fabricating line/space routing between c4 pads
WO2007031930A3 (en) Method of manufacturing semiconductor device with different metallic gates
TW200518265A (en) Copper damascene structure and semiconductor device including the structure and method of fabricating the same
TW200715475A (en) A phase-change semiconductor device and methods of manufacturing the same
TW200503271A (en) Semiconductor device, manufacturing method thereof, and manufacturing method of metallic compound thin film
WO2005122254A3 (en) Gate stack and gate stack etch sequence for metal gate integration
TH66699A (en) Methods for coating metal layers on semiconductor bridging structures.
WO2003003413A3 (en) Growing copper vias or lines within a patterned resist using a copper seed layer
TW200512926A (en) Method of manufacturing semiconductor device
TH66698A (en) Methods for coating metal layers on covered semiconductor structures
TW200631097A (en) Semiconductor structures and method of passivating sidewalls of metal structures
TW428248B (en) Structure and method of metal conductive layer and dielectric layer
JPH01192137A (en) Manufacture of semiconductor device
KR100480913B1 (en) Method for burying contact using stacked Ti/TiN
TW200705611A (en) Damascene process and mthod for fabricating bit line for memory
TW200515851A (en) Patterned circuit layer of semiconductor package substrate and method for fabricating the same
TW366565B (en) Manufacturing method of damascene interconnect structures
KR920007342B1 (en) Manufacturing method of semiconductor