TH98874B - วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก - Google Patents

วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก

Info

Publication number
TH98874B
TH98874B TH701004114A TH0701004114A TH98874B TH 98874 B TH98874 B TH 98874B TH 701004114 A TH701004114 A TH 701004114A TH 0701004114 A TH0701004114 A TH 0701004114A TH 98874 B TH98874 B TH 98874B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
assessing
origin
facial contour
contour defects
methods
Prior art date
Application number
TH701004114A
Other languages
English (en)
Other versions
TH174486A (th
TH98874A (th
Inventor
คุวายามะ
ทาคุยะ
ไรเนอร์ไวท์เซล นาย เคียร์สเทนราเด๊า นาย ไมเคิลอเวน นาย
Original Assignee
นิปปอน สตีล คอร์ปอเรชั่น
เบอห์ริงเกอร์ อินเกลไฮม์ อินเตอร์เนชั่นแนล จีเอ็มบีเอช เบอห์ริงเกอร์ อินเกลไฮม์ อินเตอร์เนชั่นแนล จีเอ็มบีเอช
Filing date
Publication date
Publication of TH98874A publication Critical patent/TH98874A/th
Application filed by นิปปอน สตีล คอร์ปอเรชั่น, เบอห์ริงเกอร์ อินเกลไฮม์ อินเตอร์เนชั่นแนล จีเอ็มบีเอช เบอห์ริงเกอร์ อินเกลไฮม์ อินเตอร์เนชั่นแนล จีเอ็มบีเอช filed Critical นิปปอน สตีล คอร์ปอเรชั่น
Publication of TH174486A publication Critical patent/TH174486A/th
Publication of TH98874B publication Critical patent/TH98874B/th

Links

Abstract

OCR การประดิษฐ์นี้ได้จัดให้มีวิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า สำหรับประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้าของผลิตภัณฑ์ที่ผ่านกระบวนการ เปลี่ยนรูปทรงซึ่งได้มาโดยการดำเนินการผ่านกระบวนการเปลี่ยนรูปทรงกับชิ้นงาน โดยที่วิธีการจะรวม ถึง: กระบวนการเข้ารับการกระจายแรงเค้นที่หนึ่งสำหรับเข้ารับการกระจายแรงเนที่หนึ่ง ซิกมา; กระบวน การเข้ารับการกระจายแรงเค้นที่สองสำหรับเข้ารับการกระจายแรงเค้นที่สอง ซิกมา กระบวนการเข้ารับ การกระจายแรงเค้นเปรียบเทียบสำหรับเข้ารับการกระจายแรงเก้นเปรียบเทียบ ซิกมา; กระบวนการเข้า รับการกระจายแรงเค้นเปรียบเทียบหารแบ่งสำหรับเข้ารับการกระจายแรงเค้นเปรียบเทียบหารแบ่ง ซิกมา และกระบวนการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้าสำหรับประเมินว่า บริเวณที่ถูกหารแบ่ง D. แต่ละบริเวณเป็นบริเวณก่อกำเนิดของความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้าหรือไม่

Claims (1)

1. สูตรผสมตัวยา, ที่มีสารประกอบที่มีสูตรทั่วไป 1 หนึ่งชนิดหรือมากกว่าเป็นสารออกฤทธิ์ (สูตรเคมี) 1 ที่ซึ่ง R1 แทนไฮโดรเจน, C1-4-แอลคิล, O-C1-4-แอลคิล หรือ เฮโลเจน; R2 แทนไฮโดรเจน, C1-4-แอลคิล, O-C1-4-แอลคิล หรือ เฮโลเจน; R3 แทนไฮโดรเจน, C1-4-แอลคิล, O-C1-4-แอลคิล, เฮโลเจน, OH, O-C1-4-แอลคิลีน-COOH หรือ O-C1-4-แอลคิลีน-COO-C-1-4-แอลคิล, X แทนแอนไอออนที่มีประจุลบที่ถูกแทนที่หนึ่งครั้งหรือหลายครั้ง, ที่ควรใช้ คือแอนไอออน
TH701004114A 2016-01-22 วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก TH98874B (th)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH98874A TH98874A (th) 2009-11-04
TH174486A TH174486A (th) 2018-03-16
TH98874B true TH98874B (th) 2024-02-12

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3987996A3 (de) Robotergestützte bearbeitung einer oberfläche mittels eines roboters
AT518580A3 (de) Waferbearbeitungsverfahren
IL264960B (en) A metrology device for measuring a structure formed on a substrate using a lithographic process, a lithographic system, and a method for measuring a structure formed on a substrate using a lithographic process
TW201129795A (en) Inspection method, inspection apparatus and electron beam apparatus
WO2015101461A3 (en) Method and apparatus for design of a metrology target
Farooq et al. Cleaner production practices at company level enhance the desire of employees to have a significant positive impact on society through work
EP4306803A3 (en) Device and method for coating surfaces
MX2016017267A (es) Procedimiento y herramienta de conformacion para el conformado en caliente asi como correspondiente pieza de trabajo.
GB2517370A (en) Integrated manufacturing and test process platform
MX2020013585A (es) Control de la calidad de los procesos industriales.
WO2017148716A3 (de) Vorrichtung und verfahren zum aufrauen von substraten
EP4035488A4 (en) Method and apparatus for random access procedure
WO2018088760A3 (ko) 검사체에 대한 양부 판정 조건을 조정하는 방법 및 장치
WO2017013498A3 (en) Crystal forms of tetra-hydro-n, n-dimethyl-2, 2-diphenyl-3-furanmethanamine hydrochloride, processes for making such forms, and their pharmaceutical compositions
MX393055B (es) Metodo de fabricacion de placa de nucleo.
EP3556485C0 (en) METHOD, METHOD MODULE AND APPARATUS FOR ROLLING AN EXTERNAL THREAD OF A TUBE
AT515510A3 (de) Verfahren und Computerprogramm zum Analysieren der Wanddickenverteilung eines Rohres
TH98874B (th) วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก
EP3737679C0 (en) NOVEL PROCESSES AND INTERMEDIATES FOR THE PREPARATION OF SOLUBLE GUANYLATE CYCLASE STIMULATORS
EP3602198C0 (de) Verfahren zum detektieren von partikeln an der oberfläche eines objekts, wafer und maskenblank
EP3881129C0 (en) METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING THE PARAMETERS USED TO MANUFACTURE AN OPTICAL ARTICLE AND THE CORRESPONDING OPTICAL ARTICLE
EP3680354A4 (en) PROCESS FOR COOLING A STEEL PIPE, DEVICE FOR COOLING A STEEL PIPE, AND PROCESS FOR PRODUCING A STEEL PIPE
SA517382116B1 (ar) أمينات معدلة مفيدة كمثبطات للقشور في عملية إنتاج رطب لحمض فوسفوريك
EP3657120A3 (de) Vorrichtung und verfahren für die vermessung von objekten
TH174486A (th) วิธีการประเมินบริเวณก่อกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, วิธีการประเมิน บริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณก่อกำเนิด ความบกพร่องด้านรูปทรงผิวหน้า, อุปกรณ์ประเมินบริเวณแหล่งกำเนิดความบกพร่อง ด้านรูปทรงผิวหน้า, โปรแกรม, และสื่อบันทึก