TW200843902A - A flexible lapping tool and its manufacturing method - Google Patents

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200843902 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種可撓性研磨工具及其製作方法,尤 才曰一種適用於提高整體精度、增加使用壽命、降低工件 傷機率及生產成本之可撓性研磨工具及其製作方法。, 【先前技術】 (、 10 15 20 研磨拋光係使工件表面粗糙度及平坦度達到可許範 之超精密研磨技術’其常被廣泛使用於硬脆金屬、陶攻 賴及晶圓等材料表面之精密加卫,因此發展種種符^ 紅需求之研磨工具係目前極為重 衣 雖然研磨工具的製造及使用雖二歷史,仍有 ^缺t急需改善(如:、研磨顆粒附著不牢及研磨顆粒分佈 士 :自知利用金屬或陶兗燒結、硬焊方式製作研磨工呈 :开基,容易因高溫製程而發生熱變形,0而必須擇: 變形較小之材質作為其好 ^ ^ -- 何貝作马基材,進而導致選基 :大之傷害高,其對研磨顆粒強度更有 口 丹有白知研磨工具之+厪丁说工n 私,; 士 八 < 孟屬工作面抗化性不 仫口而有研磨工具壽命較短之問題。 請參考mA至圖1B,其係為_習知研磨 程。百先’如圖1A所示,於—基材11G之工作面上 屬層丨2〇,並於該金屬層12〇 金 13。。接著,如_所示,經由二:里=個研磨顆粒 田皿處理使金屬層120熔解, 5 200843902 而該些研磨顆粒130之部分區域因而沉降於金屬層12〇中; 取後,經冷卻後,金屬層120固化,便可固定該些研磨顆粒 130於該金屬層120上,以形成—研磨工具1〇〇。其中,高溫 處理所造成之基材熱變形、研磨顆粒強度減弱、研磨:粒 5露出度控制不易、及金屬财化性不佳等問題仍有待解決。 【發明内容】 〇之主要目的係在提供—種具有較佳精度、較高 耐化性、較低生產成本、且可降丁 10 研磨工具。 ㈣機率之可撓性 為達成上述目的,本發明提供一種可 其包括:-軟基材;一黏著層’係位於該軟基材之表面. 以及禝數個研磨顆粒,係分佈於該黏著層之表面。义 15 本發明所提供之可撓性研磨工具復; 具有一工作面,且該軟其# . 土座,其 且4氣基材係位於該基座之嗲 而研磨顆粒係顯露於外。 Μ作面上, f 纟發明所提供之可撓性研磨工呈 層,係位於該基座與該軟基材之間/以匕括:―緩衝 工具於加工時所產生之康 綾衝该可撓性研磨 20 '皮士 生之應力’減少應力對該此研疳®』 4之損壞,進而降低工件到傷之機率;^研磨顆粒所 材料較佳為具彈性之發泡塑膠。 ”中,緩衝層之 於本發明所提供之可撓性研磨工且 :可為任何—具有高耐化學腐餘能力:料该黏著層之材 研磨工具之使用壽命;其中,較佳為環氧高該可 200843902 於本發明所提供之可撓性研磨工具中,該軟基材可為 =何;:具可撓性之材質,以降低精度誤差;其中,較佳為 聚對苯二甲酸乙二酯(pE丁)。 於本發明所提供之可择祕 之了祝丨生研磨工具中,該些研磨顆粒 可為任何一具高硬度性質之材質,如:氧化紹、碳化石夕、或 鑽石等,較佳為鑽石。 ▲於本务明所提供之可撓性研磨工具中,該黏著層厚 為 80/ζπι 〜300//m〇 10 15 本發明之另一目的係在提供一種可撓性研磨工具之製 =方法’以製得上述之可撓性研磨工具’並同時縮短生產 則置時間、有效降低生產成本及庫存、減少製程對可棱性 研磨工具之傷害、及降低其規格控制之困難度等等。 ,為達成上述目的,本發明提供一種可撓性研磨工具之 製作方法’其包括以下步驟:⑷提供—軟基材;⑼形成一 黏著層於該軟基材之表面上;以及(c)形成複數個研磨顆粒 於該黏著層之表面上。 於本發明所提供之可撓性研磨工具之製作方法中,於 步驟之後’更可包括-步驟(D):提供一基座,並固定該 軟基材於該基座之該工作面上,其中,該軟基材係位於該 基座與该黏著層之間,而該些研磨顆粒係顯露於外。 〜此外’於步驟⑼中更可包括:提供一緩衝層,且固定該 緩衝層於該基座與該軟基材之間,以緩衝可挽性研磨工具 於加工時所產生之應力’減少應力對該些研磨顆粒所造成 20 200843902 之抽壞’進而降低工杜 Μ ^ Λ ^ — 努之機率;其中,緩衝層之材料 季乂佺為具弹性之發泡塑膠。 η 於本發明所提供之可# . ^ j铫14研磨工具之製作方法中,步 知(c)之该些研磨顆粒 y 5 η 10 15 之表面上。該轉印步驟可;由由:轉印步驟,形成於該黏著層 主二 猎由將分佈於一黏性元件(如·®册、 表面之研磨.顆粒黏固於該 几件u幻 粒規則排列之可撓性研磨卫 ^顆 晶型較差之鑽石_,好/、外,祕研磨顆粒可為 :石顆粒’以增加可撓性研磨工具之加工效率。 、本♦明所提供之可撓性研磨工具之 驟(C)之該些研磨顆粒亦可藉 半取衣/ ',步 ^ . g 月文洛步驟’形成於該黏菩 n 表面上。該散落步驟可夢 —' 性之該黏性元件分離^使^研磨顆粒與失去點 上,以製得一呈有古力广亚固疋於該黏著層之表面 衣1于 异百同加工效牽夕"5T U· π — 較佳為,藉由一加埶戋光 70 茗工具。其中, 峨失去黏性。此、外^性元件(如:㈣膠或發 失去黏性之該黏性元件八離粒可错由-震動步驟.與 4 ! 生兀件刀離。该些研磨顆粒可 之鑽石顆粒,以降低因研磨顆粒破裂所造成之工件鮮 機Γ另外,於散落步驟中,該些研磨顆粒會自動^之 以隶小表面積沉降於今女斑装爲 轉向’ ㈣檟/儿P牛於.亥黏者層中,因而形成一 工效率之可撓性研磨工具。 土加 於本發明所提供之可撓性研磨工具之 黏著層可藉由一加熱或光照過程固化,以 此’該 粒於該黏著層上。此外,該黏著層之材料可為任; 20 200843902 回耐化學腐蝕能力之材料, 用壽命L垂… 撓性研磨工具之使 其中,較佳為環氧樹脂。 明所提供之可撓性研磨工具之製作方法中 5 10 15 ί. :需=個研磨顆粒之該軟基材可於需要時,再 β而之規格,以與基座結合,因應 勹 便可減少產品規格數,以有效降低:。見…,如此 軟二::提:;:挽性研磨工_ 中,車父佳為聚對苯二甲酸乙二酉旨(ΡΕτ)。 、 於本發明所提供之可撓性研磨工具之 些研磨顆粒可為任何—具高硬度師之材^厂中,该 碳化石夕、或鑽石等,較佳為鑽石。 、°•氧化ί呂、 於本發明所提供之可撓性研磨工I制 黏著層厚度較佳約為⑽^ 〃衣作方法中,該 直徑較佳約為8。—。心。°^而該些研磨顆粒之 綜上所述,本發明所提供 序少,可有效降低生產成本;此外7 :二:之製作工 免傳統利用硬焊、燒結、或陶莞/、生產&度低,可避 遭破壞及產品變形之問題,並減少;粒強度 力導致研磨顆粒破裂而造成工:保顆粒表面因殘留應 明利用延遲產品規袼差異化之日士駐铸之機率。再者,本發 減少成品庫存。 、 ρ牛低Θ置時間,大量 【實施方式】 20 200843902 實施例1 °月ί考圖2A至圖2C,係為本發明一較佳具體實施例之 可祂性研磨工具之製作流程。本實施例係藉由一轉印步 驟’以製作一可撓性研磨工具2〇〇。 5 如圖2A所示,首先於一軟基材211之表面均勻塗佈一黏 著層212。接著,如圖2B所示,將黏貼於一黏性元件220之 複數個研磨顆粒213直接接觸該黏著層212之表面,隨後以 加熱=式使該黏著層212固化,以固定該些研磨顆粒213於 3黏著層2 12上。最後,如圖2C所示,直接移除該黏性元件 1〇 220,使該黏性元件220與該些研磨顆粒213分離,且該些研 磨顆粒213固定於該黏著層22〇上,以製得一可撓性研磨工 具 200。 本實施例之可撓性研磨工具2 〇 〇係在掃描式電子顯微 鏡(SEM)下進行外觀解析。圖3A、及_分別係本實施例 15單一研磨顆粒之放大影像圖、以及可撓性研磨工具2〇〇之工 作面影像圖。
20 於本實施例中,該黏著層212係—厚度約為1〇〇㈣〜細 之環氧樹脂;該軟基材211之材料為聚對苯二甲酸乙二 酿(PET);該黏性元件22〇係—膠帶;該些研磨顆粒213係為 晶型較差之鑽石顆粒,其直徑約為l3〇#m。 據此,藉由本實施例之轉印步驟,可輕易控制該些研 磨顆粒213於該黏著層212上之排列狀況。此外,本實施例 採用晶型較差之鑽石顆*,可使該可撓性研磨工I·之工 作面2_更具加工效率。再者,本實施例採用環氧樹脂作 10 200843902 為黏著層212,可大幅增加工作面2〇〇&之耐化性,以增加產 品之使用壽命。 實施例2 5 冑參考圖4A至圖4C,係、為本發明另-較佳具體實施例 之可撓I生研磨工具之製作流程。纟實施例係藉由一散落步 驟,以製作一可撓性研磨工具2〇〇。 ^如圖4A所示,首先於一軟基材211之表面均勻塗佈一黏 + 並長:仏表面黏貼有複數個研磨顆粒213之黏性 10兀件220。接著,如圖4B所示,利用一加熱過程,使表面黏 貼有複數個研磨顆粒213之黏性元件2戰去黏性,隨後震 動该黏性元件220,使該些研磨顆粒213與該黏性元件22〇分 離並自動散落於该黏著層212上,其中,該些研磨顆粒 會自動轉向,以最小表面積沉降於該黏著層212中。最後, 15如圖4C所示,藉由一加熱過程,使該黏著層212固化,而該 些研磨顆粒213則固定於該黏著層212上,以製得一可撓性 研磨工具2〇〇。 本實施例之可撓性研磨工具2〇〇係在掃描式電子顯微 鏡(SEM)下進行外觀解析。圖5係本實施例單一研磨顆粒之 20 放大影像圖。 於本貫施例中,該黏著層212係一厚度為1〇〇 # m〜2〇〇 //m之環氧樹脂;該軟基材211之材料為聚對苯二甲酸乙二 醋(PET)’·義性元件220係一發泡# ;該些研磨顆粒213係 為晶型較佳之鑽石顆粒,其直徑約為13〇//m。 11 200843902 據此,藉由本實施例之散落步驟,該些散落於該黏著 層212之研磨顆粒213將自動轉向,以最小表面積之晶面構 成該可撓性研磨工具2〇〇之工作面2〇〇a,使該可撓性研磨工 具200之工作面2〇〇a具更高之加工效率。 5 實施例3 本實施例之可撓性研磨工具之製作流程,與實施例2相 較’本實施例除了所使用之黏性元件22〇係為紫外膠(uv 膠),且利用一光照過程使黏性元件22〇失去黏性外,其餘 10 完全相同於實施例2中圖4A至圖4C所述之製作流程。 如圖4A所示,首先於一軟基材211之表面均勻塗佈一黏 著層212,並提供一表面黏貼有複數個研磨顆粒213之黏性 元件220。接著,如圖4B所示,利用一光照過程,使表面黏 貼有複數個研磨顆粒213之黏性元件220失去黏性,隨後震 15動該黏性元件220,使該些研磨顆粒213與該黏性元件220分 離,並自動散洛於該黏著層212上,其中,該些研磨顆粒2 j 3 會自動轉向,以最小表面積沉降於該黏著層2丨2中。最後, 如圖4C所示,藉由一加熱過程,使該黏著層212固化,而該 些研磨顆粒213則固定於該黏著層212上。 20 實施例4 請參考圖6A〜6C及圖7A〜7B,實施例丨所製得之可撓性 研磨工具200可進一步與一基座23〇結合,以製得一具有一 基座230之可撓性研磨工具3〇〇。 12 200843902 首先,請參考圖6A至6C,將實施例1所製得之可撓性 研磨工具200(如圖6A所示)裁切成所需規格(如圖6B及6C所 示)。 接著,請參考圖7A至圖7B,將該可撓性研磨工具200 5 之該軟基材211直接黏貼於一基座230之工作面230a上,以 製得鑽石顆粒規則排列且具高加工效率之可撓性研磨工具 300,如圖7B所示。 本實施例之可撓性研磨工具300係在掃描式電子顯微 鏡(SEM)下進行外觀解析。圖8係可撓性研磨工具300之外觀 10 影像圖。 於本實施例中,該基座230之工作面230a係一凸曲面, 而該軟基材211因具有極佳之可撓性,故可完全伏貼於該基 座230之工作面230a上,以有效降低精度誤差。 15 實施例5 請參考圖6A〜6C及圖9A〜9B,實施例2所製得之可撓性 研磨工具200可進一步與一基座250及一緩衝層240結合,以 製得一具有一基座250及一緩衝層240之可撓性研磨工具 400 ° 2〇 請參考圖6A至6C,將實施例2所製得之可撓性研磨工 具200,經由如實施例4所述之裁切步驟,裁切成所需規格。 接著,請參考圖9A至圖9B,依序固定一緩衝層240及 實施例2所製得之可撓性研磨工具200於一基座250之平坦 工作面250a上,以得到一具有高加工效率,且具有一基座 25 250及一緩衝層240之可撓性研磨工具400,如圖9B所示。 13 200843902 於本實施例中,該緩衝層24〇 膠,其可有效緩衝該可撓性研磨工^為具彈性之發泡塑 力’以減少應力對該些研磨 、广〇工時所產生之應 傷之機率。 研細立之知破’進而降低工件到 5 综上所述,本發明所提供之可繞 序少,可有效降低生產成本;此外,之製作工 免傳統利用硬焊、燒結、或 ::、產〉皿度低’可避 遭破壞及產品變形H /造成研磨顆粒強度 P力導致研磨顆粒破裂,進而迭成H磨顆粒表面因殘留應 10 本發明利用延遲產品規格差2之傷之機率。再者, 大量減少成品庫存。異化之時點’降低前置時間, 上述實施例僅係為了方# 主張之權利範圍自應以申舉例而已,本發明所 於上述實施例。 I專利孝巳圍所述為準,而非僅限 15 【圖式簡單說明】 圖1A至圖1B係習知研磨工具之製作流程。 圖2A至圖2C係本發明一鲈杜每^ U車又佳貫施例之可撓性研磨 製作流程。 '< 20 圖3A及圖3B分別係本發明—較佳實施例之單—研磨顆 之放大影像圖以及可撓性研磨工具之工作面影像圖。、 圖4A至圖4C係本發明另一鲈杜曰a — 力車乂佳具體實施例之可撓性研声 工具之製作流程。 ^ 14 200843902 圖5係本發明另—較佳實施例之單 圖。 磨顆粒之放大影像 祕至圖㈣本發明可撓性研紅具之俯視圖。 圖7A至圖7B係本發明—較佳實 製作流程。 又了說性研磨工具之 圖8係本發明—較佳實施例之可撓性研磨 1具之外觀影像 圖。 圖9A至圖9B係本發明另一較佳實施例之可撓性研磨工呈 之製作流程。 /、 10 主要元件符號說明
100 研磨工具 110 基材 120 金屬層 130, 213 研磨 顆粒 2〇〇, 300, 400可撓性研磨工具 200a,230a,250a 工作 面 211 軟基材 212 黏著 層 220 黏性元件 230, 250 基座 240 緩衝層 15

Claims (1)

  1. 200843902 十、申請專利範圍: 1· 一種可撓性研磨工具,包括: 一軟基材; 一黏著層,係位於該軟基材之表面;以及 5 複數個研磨顆粒,係分佈於該黏著層之表面。 2·如申請專利範圍第丨項所述之可撓性研磨工具,更包 括-基座,其具有一工作面,且該軟基材係位於該基座之 該工作面上,而該些研磨顆粒係顯露於外。 、 3.如申請專利範圍第2項所述之可撓性研磨工具,更包 10括一緩衝層,係位於該基座與該軟基材之間。 4.如申請專利範圍第丨項所述之可撓性研磨工具,其 中,該黏著層之材料為環氧樹脂。 16 200843902 (B) 形成一黏著層於該軟基材之表面上;以及 (C) 形成複數個研磨顆粒於該黏著層之表面上。 驟二如!請專利範圍第10項所述之方法,其中,於步 材於卞^包括步驟(D)·’提供—基座,並固定該軟基 作面上’其中’該軟基材係位於該基座 ^亥黏者層之間,而該些研磨顆粒係顯露於外。 r ίο 15 20 b 12· μ請專利範圍第11項所述之方法,豆中,於牛 驟(D)中更包括:提供一緩衝層, 、y 該軟基材之間。 且層於該基座與 賢二.^請專利範圍第1〇項所述之方法,其中,於步 層之表面研磨顆粒储由—轉印步驟,形成於該黏著 14. ”請專利範圍第13項所述 印步驟係將分佈於一黏性元件表 /、甲°亥軲 該黏著層之表面上。 4二研磨顆粒黏固於 15·如申請專利範圍第14項所述之方 ^ 性元件係一膠帶。 < 方去’其中’該黏 :·=請:利範圍第i。項所述之方法,其中 層之表面上。 “步驟’形成於該黏著 落步範圍第Μ項所述之方法,其中,_ 固定=:Γ:黏性元件表面之該些研磨顆粒散落且 q义於该黏著層之表面上。 17 200843902 10 15 20 1 8·如申請專利範圍第1 7項所述之方 研磨顆粒係蕤ώ+ α /去’其中,該肽 你错由與失去黏性之該黏性 一 該黏著層之表面上。 件刀離,而散落於 19二如申請專利範圍第…員所述之 兀件係藉由一加熱過程而失去黏性。’/、 ,s亥黏 2〇·如申請專利範圍第18項所述之 性元件係藉由一光照過程而失去黏性。中,該黏 21,如申請專利範圍第18項所述之方土 ^ 研磨顆粒係藉由一震動步 方法,其中,該些 離。 天专黏性之該黏性元件分 22·如請專利範圍第17項所述之方土 元件為紫外膠或發泡膠。 去’其中,該黏性 ^ 23.如申請專利範圍第10項所述之方 著層之材料為環氧樹脂。 / 24.如申請專利範圍第1〇項所述之方 基材之材料為聚對苯二甲酸乙二酯(PET)/ 朴25.如申請專利範圍第10項所述之方 著層之厚度為l〇〇am〜2〇〇// m。 26·如申請專利範圍第1〇項所述之 研磨顆粒為鑽石顆粒。 / 27·如申請專利範圍第1〇項所述之 研磨顆粒直徑為80/zm〜300/zm。 、彳 ;2δ·如申請專利範圍第12項所述之方 衝層材料為具彈性之發泡塑膠。 / 其中,該黏 其中,該軟 其中,該黏 其中,該些 其中,該些 其中,該緩 18
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