TW519664B - Method for patterning electro-conductive tin oxide film - Google Patents

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519664 A7 B7 五、發明説明(1) 技術領域 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明爲關於必須以透明顯示電極之觸控面板、等離 子體顯示面板、液晶顯示器、太陽電池等所用之透明導電 性氧化錫膜的圖型化方法。 背景技術 近年’隨著電腦的急速普及,更簡單輸入資料裝置之 觸控面板的重要性亦日漸增加,又,液晶顯示器和等離子 體顯示面板、E L顯.示器亦以取代c R T之新穎的顯示器 型式而受到注目。此類使用透明電極的裝置已被使用於各 種領域,由產業上.之有用性而言可預知其市場日漸擴大。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 透明電極材料爲以摻混氧化錫之氧化銦(I I I )、 和摻混氧化銻之氧化錫(I V )爲其代表。氧化錫(j V )系導電性材料爲比氧化銦(I I丨)系之原料豐富且便 宜,具有耐熱性高且化學性亦安定之優良特徵。但是,其 反面因鈾刻困難’故具有難以取得精度高之圖型之問題點 。因此,現在,於上述用途中,主要使用容易蝕刻之氧化 銦(I I I )系導電性材料,將氧化錫(I V )系材料予 以圖型化乃成爲技術性課題。 先前形成氧化錫(I V )膜圖型之方法已有各種提案 〇 於特開昭5 5 — 1 3 9 7 1 4號公報中,揭示於玻璃 基板上形成氧化錫(I V )之薄膜上塗佈光阻物,形成光 阻圖型’且於全面塗佈鋅粉末並令無光阻物之部分與氧化 -4 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2ΐ〇χ297公釐) 519664 A7 _B7__ 五、發明説明(3 錫(I V )膜接觸後,於鹽酸和磷酸之混合水溶液中浸漬 除去氧化錫(I V )膜,並再除去光阻物則可形成所欲之 氧化錫(I V)薄膜圖型之方法。 於特開昭5 7 - 1 3 6 7 0 5號公報中,揭示於基體 上形成氧化錫(I V )膜,並於其上塗佈光阻物’形成光 阻圖型,且於保持在1 0 0 °C以上之狀態下,於氫等離子 體中曝露令無光阻物之部分還原成爲金屬錫,並以鹽酸將 還原之部分予以溶解,.且在剝離光罩圖型下,取得氧化錫 (I V )薄膜圖型之方法。 於特開平2 — 2 3 4 3 1 0號公報中,揭示對於 4 0 0 °C加熱之基板噴霧四氯化錫和硫酸之水溶液,於基 板上形成硫化錫(I I ),並且恢復至室溫後塗佈光阻物 ,形成圖型,並以氫氧化鈉水溶液將無光阻物部分之硫化 錫(I I )膜予以蝕刻,除去光阻物後,最後進行煅燒, 取得圖型化之氧化錫(I V )膜之方法。 於特開平1 1 一 1 1 1 0 8 2號公報中,揭示將溶解 錫化合物和摻混劑化合物之溶液於基材上塗佈,並將該基 板上所形成之被膜乾燥,形成乾燥膜,且於其上層形成光 * 阻物,令該光阻物部分顯像且形成圖型,並將下層之乾燥 膜予以鈾刻後,剝離未顯像之光阻物,並將其下層之乾燥 膜锻燒作成氧化錫(I V )膜之形成導電性氧化錫膜圖型 之方法中,經由使用將有機溶劑中可溶之錫化合物與摻混 劑化合物於該有機溶劑中溶解之溶液,且令該乾燥膜於對 於顯像液保持溶解性之範圍內乾燥,並將光阻物與乾燥膜 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 冬 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 519664 A7 ___B7_ 五、發明説明(5) 物及摻混劑化合物濃度爲圖型成分濃度爲2〜3 0重量% 〇 包含紫外線區域之光線爲使用含有1 8 0 n m以上 4 0 〇 n m以下波長之光線。 前述顯像液爲使用鹼性顯像液或酸性顯像液。 前述基材上所形成之被膜的乾燥溫度爲室溫〜1 5 0 °C之範圍內爲佳,且特別以5 0〜1 0 0 °C之範圍內爲更 佳。 前述圖型膜之煅燒溫度爲3 5 0 °C以上爲佳。 圖面之簡單說明. 圖1〜圖4爲將本發明之形成導電性氧化錫膜圖型之 方法的實施例1以時序式示出的截面圖。 圖1 :將含有錫化合物之溶液於基板上塗佈,並且乾 燥之截面圖。 圖2 ··透過圖型光罩物,照射紫外線且曝光之截面圖 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝· 訂 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖圖 面 截 之 刻 鈾 以 予 膜 燥 乾 之 β· 立口 光 曝 未 將 液 像 顯 性 驗 以 圖 面 截 之 膜 。 }號 V 符 I 之 ( 4 錫圖 化 ~ 氧 1 成圖 形於 燒關 锻明 : 說. 4 下 圖以 板 表基 照: 對 1 件 元 準 標 家 國 ,國 f中 用 一適 尺 I張 紙 I本 I釐 公 7 9 2 519664 A7 B7
2 :含有錫化合物之圖型膜 3 :光罩物 4 :氧化錫(I V )膜 用以實施發明之最佳型態 本發明所用之錫化合物若爲於有機溶劑中溶解者即可 ’並無特別限定。錫化合物之例可使用氛化錫(I Ϊ )、 氯化錫(I V )、醋酸錫(I I )、辛酸錫(I I )、四 乙醇錫、三氯化單丁,基錫、二氯化二丁基錫、醋酸丁基二 氯基錫、二醋酸丁基氯基錫 '二丁基二丁氧基錫、二丁基 錫氧化物等之一種.或二種以上。 本發明所用之摻混劑化合物於提高氧化錫膜導電性之 目的下,使用銻化合物和/或氟化合物爲佳。 將銻化合物使用做爲摻混劑時,銻化合物之例可使用 三乙醇銻、三丁醇銻等之銻醇鹽類、硝酸銻(I I I )、 氯化銻(I I I )、溴化銻(I I I )等之無機鹽類、醏 酸銻(I I I) 、丁酸銻(I I I)等之有機鹽類等之一 種或二種以上。 I .相對於錫化合物之銻化合物添加量,以相對於錫原子 之銻原子比爲2〜3 0莫耳%之範圍爲佳。未滿2莫耳% 或超過3 0莫耳%之範圍下,無法取得添加銻化合物所造 成之摻混效果優良且導電性提高的氧化錫(I V )膜,故 爲不佳。 使用氟化合物做爲摻混劑時,氟化合物之例可使用氟 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) Γ〇Ί (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝_ 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 519664 Α7 Β7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(7) 化氣、氟化銨、氟化氫銨、氟化錫(I I )、氟化銻 (III)、氟化硼、三氟醋酸、三氟醋酸酐、三氟乙醇 、三氟醋酸乙酯、五氟丙酸之一種或二種以上爲佳。其中 ,特別以使用氟化錫(I V)者因操作容易,故爲佳。 相對於錫化合物之氟化合物添加量,以相對於錫原子 之氟原子比爲2〜6 0莫耳%之範圍爲佳。未滿2莫耳% 或超過6 0莫耳%之範圍下,無法取得添加氟化合物所造 成之摻混效果優良且導電性提高的氧化錫(I V )膜,故 爲不佳。 > 本發明所用之有機溶劑若爲令錫化合物及摻混劑化合 物溶解,且,於煆燒後之膜中不會副生成鹼金屬和碳等之 阻礙導電性之不純物者即可,並無特別限制。有機溶劑之 例可使用甲醇、乙醇、異丙醇、丁醇等之醇類、四氫呋喃 、丙酮、甲基乙基酮、乙醯丙酮、環己酮等之酮類、乙二 醇、己二醇、丙二醇、1 ,4 一丁二醇等之醇類、乙二醇 單甲醚、乙二醇單丁醚、丙二醇單丁醚等之二元醇醚類、 醋酸乙酯、醋酸異丙酯、醋酸丁酯等之有機酸酯類等等一 種或二種以上之組合。 本發明中將錫化合物及摻混劑化合物於有機溶劑中溶 解的溶液爲不含有沈澱物和膠狀物的均勻透明溶液。錫化 合物及摻混劑化合物之固型成分爲以相對·於溶液全重量之 不揮發性氧化物成分之重量比例算出。溶液之固型成分濃 度爲2〜3 0重星%爲佳’且特別以5〜1 5重量%爲佳 。固型成分濃度低於2重量%時’無法以一'回之塗佈取得 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ~\τΓ ' (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝· 訂 線 519664 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _ B7_____ 五、發明説明(8) 充分之膜厚,產生必須以多層且無效率。固型成分濃度若 於3 0重量%時,以一回之塗佈則膜厚過厚,且恐造成裂 縫。 於本發明中,若對在於顯像液保持溶解性之範圍內乾 燥之膜,以含有紫外線區域之光線予以曝光,則引起乾燥 膜中錫化合物之氧化,選擇性地令曝光部之乾燥膜不溶化 。含有紫外線區域之光爲含有1 8 0 nm以上4 0 0 nm 以下波長之光源,可爲市售而輕易取得爲佳。 本發明所用之顯.像液爲用以進行含有錫化合物之乾燥 膜的蝕刻。因此,使用鹼性化合物溶液或酸性化合物溶液 爲佳。鹼性化合物溶液(驗性顯像液)可使用例如驗金屬 、四級銨之氫氧化鈉。矽酸鹽、磷酸鹽、醋酸鹽、胺類等 水溶液。具體例可列舉氫氧化鈉、氫氧化鉀、氫氧化銨、 氫氧化三甲基苄基銨、氫氧化四甲基銨、矽酸鈉、磷酸鈉 、醋酸鈉、單乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺等之水溶液。 酸性化合物溶液(酸性顯像液)以鹽酸、硝酸、硫酸、氟 酸、磷酸等之無機酸、甲酸、醋酸等之有機酸之水溶液爲 佳。但,相對於水量之鹼性化合物或酸性化合物之份量, 以可令曝光部和未曝光部充分產生溶解度差之份量爲佳。 本發明中溶液之塗佈法並無特別限制,可依通常之方 法,例如浸漬法、旋塗法.、刷毛刷塗法、輥塗法、撓性印 刷法、金屬網棒塗法等塗佈基材。 本發明所用之基材若爲容許其上形成密合性被膜者即 可’並無特別限制,但特別於形成氧化錫膜上,使用玻璃 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Μ腦·( 210X;297公釐)" (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) •裝- 訂 線

Claims (1)

  1. 519664 A8 B8 C8 D8 W( f 六、申請專利範圍 1 附件1A: 第901 32578號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 (讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 民國91年12月4日修正 1 . 一種形成導電性氧化錫膜圖型之方法,其特徵爲 使用將有機溶劑中可溶之錫化合物和摻混劑化合物於該有 機溶劑中溶解的溶液,並於該乾燥膜對於顯像液保持溶解 性之範圍內乾燥,經由含有紫外線區域之光線予以曝光令 部分呈現不溶,且以顯像液將未曝光部予以蝕刻。 2 .如申請專利範圍第1項所述之形成導電性氧化錫 膜圖型之方法,其爲由下述步驟(A) 、(B)及(C) 所構成 (A ):形成令有機溶劑中可溶之錫化合物和摻混劑 化合物於該有機溶劑中溶解之溶液之步驟、 (B ):將(A )步驟所得之溶解液於基材上塗佈, 並令該基板上所形成之被膜乾燥,形成乾燥膜之步驟、 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (C ):對(B )步驟所得之乾燥膜以含有紫外線區 域之光線轉印圖型,其次將構成轉印圖型之乾燥膜以顯像 液予以蝕刻,形成部分顯像之圖型膜之步驟,其次將該圖 型膜煅燒,生成氧化錫(I V )膜之.步驟: 3 ·如申請專利範圍第1或2項之形成導電性氧化錫 膜圖型之方法,其中摻混劑化合物爲銻化合物和/或氟化 合物。 · 4 .如申請專利範圍第3項之形成導電性氧化錫膜圖 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )八4規格(210 X 297公釐) ~Γ ~ " 519664 A8 B8 C8 D8 __ 六、申請專利範圍 2 型之方法,其中銻化合物相對於錫化合物,使用原子比爲 2〜3〇莫耳%。 5 .如申請專利範圍第3項之形成導電性氧化錫膜圖 型之方法,其中氟化合物相對於錫化合物,使用原子比爲 2〜6 0莫耳%。 6 .如申請專利範圍第1或2項之形成導電性氧化錫 膜圖型之方法,其中於有機溶劑中溶解之溶液中的錫化合 物及摻混劑化合物濃度以固形成分濃度而言爲2〜3 0重 量% 〇 7 ·如申請專利範圍第1或2項之形成導電性氧化錫 膜圖型之方法,其中含有紫外線區域之光線爲含有1 8 0 n m以上4 0 0 n m以下波長之光線。 8 ·如申請專利範圍第1或2項之形成導電性氧化錫 膜圖型之方法,其中顯像液爲鹼性顯像液或酸性顯像液。 9 ·如申請專利範圍第1或2項之形成導電性氧化錫 膜圖型之方法,其中於基材上所形成之被膜的乾燥溫度爲 在室溫〜1 5 0 °C之範圍內。 1 0 ·如申請專利範圍第1或2項之形成導電性氧化 錫膜圖型之方法,其中該圖型乾燥膜之煅燒溫度爲3 5 0 t:以上。 .‘ 1 1 ·如申請專利範圍第3項之形成導電性氧化錫膜 圖型之方法,其中於有機溶劑中溶解之溶液中的錫化合物 及摻混劑化合物濃度以固形成分濃度而言爲2〜3 0重量 %。 本紙張尺度適财關家標準(CNS ) A4規格(21GX297公釐)~~ : " (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 519664 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 3 1 2 .如申請專利範圍第3項之形成導電性氧化錫膜 圖型之方法,其中含有紫外線區域之光線爲含有1 8 0 n m以上4 0 0 n m以下波長之光線。 1 3 .如申請專利範圍第3項之形成導電性氧化錫膜 圖型之方法,其中顯像液爲鹼性顯像液或酸性顯像液。 1 4 .如申請專利範圍第3項之形成導電性氧化錫膜 圖型之方法,其中於基材上所形成之被膜的乾燥溫度爲在 室溫〜1 5 0 °C之範圍內。 1 5 .如申請專利範圍第3項之形成導電性氧化錫膜 圖型之方法,其中該圖型乾燥膜之煅燒溫度爲3 5 0 °C以 上。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)一3
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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4699140B2 (ja) * 2005-08-29 2011-06-08 東京応化工業株式会社 パターン形成方法
KR100856508B1 (ko) * 2007-06-15 2008-09-04 주식회사 잉크테크 투명도전막 및 이의 제조방법
KR100870425B1 (ko) 2008-04-11 2008-11-25 한밭대학교 산학협력단 유기성 폐기물 처리를 위한 혐기성 통합공정장치
US8445373B2 (en) 2009-05-28 2013-05-21 Guardian Industries Corp. Method of enhancing the conductive and optical properties of deposited indium tin oxide (ITO) thin films
US9176377B2 (en) 2010-06-01 2015-11-03 Inpria Corporation Patterned inorganic layers, radiation based patterning compositions and corresponding methods
JP5559640B2 (ja) * 2010-08-25 2014-07-23 独立行政法人産業技術総合研究所 構造体の製造方法
JP5708521B2 (ja) * 2011-02-15 2015-04-30 信越化学工業株式会社 レジスト材料及びこれを用いたパターン形成方法
US9310684B2 (en) 2013-08-22 2016-04-12 Inpria Corporation Organometallic solution based high resolution patterning compositions
KR102952227B1 (ko) 2014-10-23 2026-04-13 인프리아 코포레이션 유기 금속 용액 기반의 고해상도 패터닝 조성물 및 상응하는 방법
WO2016127533A1 (zh) * 2015-02-11 2016-08-18 佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司 电热膜层的制造方法、电热膜层、电加热盘和烹饪器具
US10011524B2 (en) 2015-06-19 2018-07-03 Guardian Glass, LLC Coated article with sequentially activated low-E coating, and/or method of making the same
KR102508142B1 (ko) 2015-10-13 2023-03-08 인프리아 코포레이션 유기주석 옥사이드 하이드록사이드 패터닝 조성물, 전구체 및 패터닝
TW201905250A (zh) * 2017-06-23 2019-02-01 美商應用材料股份有限公司 抑制金屬沉積之方法
US12211691B2 (en) 2018-12-20 2025-01-28 Lam Research Corporation Dry development of resists
TWI837391B (zh) 2019-06-26 2024-04-01 美商蘭姆研究公司 利用鹵化物化學品的光阻顯影
SG11202108851RA (en) 2020-01-15 2021-09-29 Lam Res Corp Underlayer for photoresist adhesion and dose reduction
EP4078292A4 (en) 2020-07-07 2023-11-22 Lam Research Corporation Integrated dry processes for patterning radiation photoresist patterning
US20230107357A1 (en) 2020-11-13 2023-04-06 Lam Research Corporation Process tool for dry removal of photoresist
JP7681106B2 (ja) 2020-12-08 2025-05-21 ラム リサーチ コーポレーション 有機蒸気によるフォトレジストの現像
KR102725782B1 (ko) 2022-07-01 2024-11-05 램 리써치 코포레이션 에칭 정지 억제 (etch stop deterrence) 를 위한 금속 옥사이드 기반 포토레지스트의 순환적 현상
US12474640B2 (en) 2023-03-17 2025-11-18 Lam Research Corporation Integration of dry development and etch processes for EUV patterning in a single process chamber
JP7852072B2 (ja) 2023-07-27 2026-04-27 ラム リサーチ コーポレーション 金属含有フォトレジストのためのオールインワン乾式現像

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0731951B2 (ja) * 1986-03-03 1995-04-10 凸版印刷株式会社 透明電極基板の製造方法
JP2538043B2 (ja) * 1989-04-05 1996-09-25 松下電器産業株式会社 パタ―ン形成用材料とそれを用いたパタ―ン形成基板の作製方法
JPH0779008B2 (ja) * 1989-04-06 1995-08-23 鐘淵化学工業株式会社 パターン化した酸化錫系透明導電性薄膜の製法およびそれに用いる組成物
JPH0779009B2 (ja) * 1989-04-20 1995-08-23 鐘淵化学工業株式会社 パターン化した酸化錫系透明導電性薄膜の製法およびそれに用いる組成物
JPH046717A (ja) * 1990-04-24 1992-01-10 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd パターン化された金属酸化物薄膜の製法およびそれに用いる組成物
JPH07282653A (ja) * 1994-04-04 1995-10-27 Mitsubishi Materials Corp 透明導電膜の製造方法
JPH0982137A (ja) * 1995-09-08 1997-03-28 Dainippon Printing Co Ltd 透明導電膜形成用組成物及び透明導電膜の形成方法
US5695809A (en) * 1995-11-14 1997-12-09 Micron Display Technology, Inc. Sol-gel phosphors
JPH11111082A (ja) * 1997-10-03 1999-04-23 Nissan Chem Ind Ltd 導電性酸化スズ膜のパターニング方法
US5958624A (en) * 1997-12-18 1999-09-28 Research Corporation Technologies, Inc. Mesostructural metal oxide materials useful as an intercalation cathode or anode

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