TWI405992B - Test equipment, test method, computer program and electronic component for self-diagnosis of open circuit test or short circuit test related to functional test of test element - Google Patents

Description

進行被試驗元件的機能試驗相關的開路試驗或短路試驗之試驗裝置、試驗方法、電腦程式製品及進行自我診斷之電子元件

本發明係關於一種進行被試驗元件的機能試驗相關的開路試驗或短路試驗之試驗裝置、試驗方法、電腦程式製品及進行自我診斷之電子元件。

已知一種簡易型記憶體測試器，其使用記憶體控制器用的通用介面電路來作為驅動器比較部。這樣的簡易型記憶體測試器，其驅動器的電壓位準及比較器的比較位準是固定的，雖然因此精度及機能受到限制，但是卻能夠減少成本。

然而，較佳的是，記憶體測試器，係在進行機能試驗之前，先實行在被試驗元件和該記憶體試驗器之間的配線是否成為開路之試驗(開路試驗)、及在被試驗元件和該記憶體試驗器之間的配線是否被短路至電源或接地等之試驗(短路試驗)。但是，為了實行開路試驗和短路試驗，記憶體試驗器，必須另外具備DC試驗單元和連接切換用的繼電器，而造成成本變大。

為了解決上述問題，在本發明的一種態樣中，提供一種試驗裝置，是用以試驗被試驗元件之試驗裝置，其具備：電源部，其將電源電壓供給至前述被試驗元件的電源輸入端子；信號供給部，其將試驗信號供給至前述被試驗元件的信號端子；以及檢出部，其在已將比供給至前述信號端子之電壓更低的電源電壓，供給至前述電源輸入端子之狀態下，檢出從前述信號供給部，經過前述被試驗元件內的保護二極體，朝向前述電源輸入端子而流動的電流，該被試驗元件內的保護二極體，是用以使輸入至前述信號端子之過電壓，朝向前述電源輸入端子而流動。進而，提供與這樣的試驗裝置相關聯的試驗方法、程式、及介面電路。

另外，上述的發明概要，並非已列舉本發明的全部的必要特徵。又，這些特徵群組的子組合，也能夠成為發明。

以下，雖然透過發明的實施形態來說明本發明的，但是以下實施形態並非用以限定關於發明的申請專利範圍。又，並非所有的在實施形態中說明的特徵的組合都是發明所必要的解決手段。

第1圖係表示關於本實施形態的試驗裝置10的構成以及被試驗元件20。試驗裝置10，係用以試驗被試驗元件20。

更詳言之，試驗裝置10，係進行被試驗元件20的機能試驗。進而，試驗裝置10，係在進行機能試驗之前，要先實行在該試驗裝置10和被試驗元件20的信號端子24之間是否成為開路之試驗(開路試驗)、及被試驗元件20的信號端子24是否被短路至電源、接地、或其他端子等之試驗(短路試驗)。另外，被試驗元件20的信號端子24，也能夠是輸入端子、輸出端子、或輸入輸入端子的任一個。

試驗裝置10，係具備電源部32、圖案產生部34、信號供給部36、信號接收部38、信號取得部40、切換部42、邏輯比較部44、檢出部46、開路判定部52、短路判定部54、及機能試驗部56。

電源部32，係將電源電壓供給至被試驗元件20的電源輸入端子22。圖案產生部34，係發生要供給至被試驗元件20之試驗信號的邏輯值。又，圖案產生部34，係發生要從被試驗元件20輸出的輸出信號的期待值。

信號供給部36，係產生對應於由圖案產生部34所發生的邏輯值之電壓的試驗信號。然後，信號供給部36，係將試驗信號供給至被試驗元件20的信號端子24。信號供給部36，作為一例，也能夠是驅動器。

信號接收部38，係從信號供給部36和信號端子24之間的配線，接收被試驗元件20的信號端子24所輸出的輸出信號。信號接收部38，作為一例，也能夠是位準比較器。

信號取得部40，係在針對輸出信號而規定的取得時序，取得由信號接收部38所輸出的輸出信號的邏輯值。信號取得部40，作為一例，也能夠是正反器。

在被試驗元件20是來源同步器(source synchronous device)之場合，則信號取得部40，係在已與被試驗元件20所輸出的時脈信號同步的時序，來取得邏輯值。又，在被試驗元件是輸出時脈嵌入(clock embedded)信號之場合，則信號取得部40，係在已與輸出信號所再生的時脈信號同步的時序，取得邏輯值。

切換部42，係進行切換，來將由信號取得部40所取得的邏輯值給予至邏輯比較部44，或者，將信號取得部40加以旁路而將由信號接收部38所輸出的邏輯值給予至邏輯比較部44。在機能試驗中，切換部42，係將由信號取得部40所取得的邏輯值，供給至邏輯比較部44。在短路試驗中，切換部42，係將信號取得部40加以旁路而將由信號接收部38所輸出的輸出信號的邏輯值，供給至邏輯比較部44。

在機能試驗中，邏輯比較部44，係將信號取得部40在取得時序所取得的輸出信號的邏輯值，與藉由圖案產生部34所發生的期待值，加以比較。然後，邏輯比較部44，係將比較結果，給予至藉由控制部50所實現的機能試驗部56。

又，在短路試驗中，係將由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值作為期待值，並給予至邏輯比較部44。在短路試驗中，邏輯比較部44，係將由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值，以及將信號取得部40加以旁路而給予的由信號接收部38所輸出的邏輯值，加以比較。然後，邏輯比較部44，係將比較結果，給予至藉由控制部50所實現的短路判定部54。

在開路試驗中，檢出部46，係在已將比供給至信號端子24之電壓更低的電源電壓，供給至電源輸入端子22之狀態下，檢出能夠從信號供給部36，經過被試驗元件20內的保護二極體，朝向電源輸入端子22而流動的電流，該被試驗元件20內的保護二極體，係用以使輸入至信號端子24之過電壓，朝向電源輸入端子22而流動。

檢出部46，作為一例，係在已將比供給至信號端子24之電壓更低的電源電壓，供給至電源輸入端子22之狀態下，檢出能夠從電源輸入端子22朝向電源部32而流動的電流。藉此，檢出部46，係能夠檢出能夠從信號供給部36朝向電源輸入端子22而流動的電流。然後，檢出部46，係將檢出結果，給予至藉由控制部50所實現的開路判定部52。

控制部50，例如，係用以控制試驗裝置之處理器。控制部50，係藉由實行開路試驗用的程式，而作為開路判定部52來發揮機能。又，控制部50，係藉由實行短路試驗用的程式，而作為短路判定部54來發揮機能。又，控制部50，係藉由實行機能試驗用的程式，而作為機能判定部56來發揮機能。

在開路試驗中，藉由控制部50所實現的開路判定部52，係控制圖案產生部34及電源部32，造成將比供給至信號端子24之電壓更低的電源電壓，供給至電源輸入端子22之狀態。然後，開路判定部52，係從檢出部46接收檢出結果，並在檢出能夠從信號端子24朝向電源輸入端子22而流動的電流之場合，則判定信號供給部36和信號端子24之間並非開路。又，開路判定部52，在沒有檢出能夠從信號端子24朝向電源輸入端子22而流動的電流之場合，則判定信號供給部36和信號端子24之間是開路。

在短路試驗中，藉由控制部50所實現的短路判定部54，係控制電源部32、圖案產生部34、及切換部42，並在不使輸出信號從被試驗元件20輸出的狀態下，從信號供給部36輸出預定的邏輯值的試驗信號。進而，短路判定部54，係將信號取得部40加以旁路而將由信號接收部38所輸出的邏輯值，給予至邏輯比較部44，並將信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值、及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值，加以比較。

然後，短路判定部54，係在不使輸出信號從被試驗元件20輸出的狀態下，基於經過信號接收部38所接收的信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值、以及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值之比較結果，來判定在信號供給部36和信號端子24之間的配線，是否短路至其他配線。

短路判定部54，作為一例，係在信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值、以及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值是一致的場合，則判定為並非短路。又，短路判定部54，作為一例，係在信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值、以及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值並非一致的場合，則判定為短路。

又，短路判定部54，作為一例，係也能夠在預定的時序，將邏輯值是變化的試驗信號，從信號供給部36輸出至信號端子24。此場合，短路判定部54，係在邏輯比較部44中，於預定時序的前後，分別比較在信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值、以及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值。然後，短路判定部54，係基於信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值、以及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值之比較結果，來判定在信號供給部36和信號端子24之間的配線的連接狀態。

在機能試驗中，藉由控制部50所實現的機能試驗部56，係控制圖案產生部34，並將使信號端子24進行動作之試驗信號，從信號供給部36輸出至信號端子24。進而，機能試驗部56，係在輸出信號的取得時序，針對被試驗元件20的對應於試驗信號而從信號端子24進行輸出的輸出信號的邏輯值，加以取得。然後，機能試驗部56，係在邏輯比較部44，將在信號取得部40所取得的輸出信號的邏輯值，與期待值，加以比較，並基於邏輯比較部44的比較結果，來判定被試驗元件20的好壞。

以上這樣構成的試驗裝置10，係能夠實行被試驗元件20的機能試驗、開路試驗、及短路試驗。這樣的試驗裝置10，作為一例，也能夠是在IC晶片內或者模組內所形成的電路。又，信號供給部36、信號接收部38、及信號取得部40，係也能夠藉由用以連接被試驗元件20之通用的介面的智慧財產權核心(IP core)加以實現。

第2圖係表示被試驗元件20的構成的一例。被試驗元件20，係經過信號端子24而連接至外部電路。

被試驗元件20，作為一例，係具備內部電路60、傳送緩衝器62、接收緩衝器64、第一保護二極體66-1、及第二保護二極體66-2。內部電路60，係產生要給予至信號端子24所連接的外部電路之傳送信號。內部電路60，係對應於來自信號端子24所連接的外部電路之接收信號，來進行動作。

傳送緩衝器62，係將藉由內部電路60所產生的傳送信號，經過信號端子24傳送至外部電路。接收緩衝器64，係將外部電路所給予的接收信號，經過信號端子24來接收並給予至內部電路60。

第一保護二極體66-1，係將其陽極連接至接地，將其陰極連接至信號端子24。第二保護二極體66-2，係將其陽極連接至信號端子24，將其陰極連接至電源電壓(Vdd)。

這樣的被試驗元件20，在將過電壓施加至信號端子24之場合，則能夠使由信號端子24所流入的電流，從電源電壓或接地電壓而流出。藉此，被試驗元件20，係能夠保護傳送緩衝器62及接收緩衝器64免於遭受過電壓。因此，這樣的被試驗元件20，在將比電源電位更高的電位，從外部電路給予至信號端子24之場合，則使電流從信號端子24經過第二保護二極體66-2，朝向電源電壓流出。

第3圖係表示關於本實施形態之試驗裝置10的處理流程。首先，試驗裝置10，係實行開路試驗(S11)。試驗裝置10，在開路試驗的結果，判定為信號供給部36和信號端子24之間是開路之場合，則離開該流程並實行被試驗元件20的再次連接。

接著，試驗裝置10，係實行短路試驗(S12)。試驗裝置10，在短路試驗的結果，判定為信號供給部36和信號端子24之間的配線是短路至其他配線之場合，則離開該流程並實行被試驗元件20的再次連接。

接著，試驗裝置10，係以信號供給部36和信號端子24之間是判定為並非開路、以及信號供給部36和信號端子24之間的配線是判定為並非短路至其他配線，來作為必要條件，以實行機能試驗(S13)。

在機能試驗中，信號供給部36，係將使被試驗元件20進行動作之試驗信號，供給至信號端子24。信號取得部40，係在針對輸出信號而規定的取得時序，針對被試驗元件20對應於試驗信號而從信號端子24進行輸出的輸出信號的邏輯值，進行取得。邏輯比較部44，係將在信號取得部40所取得的輸出信號的邏輯值，與期待值，加以比較。然後，機能試驗部56，係基於邏輯比較部44的比較結果，來判定被試驗元件20是否為良品。

第4圖係表示在第3圖的步驟S11中的開路試驗的處理流程。在開路試驗中，首先，電源部32，係將比供給至信號端子24之電壓更低的電源電壓，供給至電源輸入端子22(S21)。電源部32，作為一例，係將接地電壓，供給至電源輸入端子22。

接著，信號供給部36，係將比由電源部32供給至電源輸入端子22之電壓更高的電源電壓的試驗信號，供給至信號端子24(S22)。信號供給部36，作為一例，係將比對應於高的邏輯之電壓(高的電壓)更大的電壓，供給至電源輸入端子22。

接著，檢出部46，係檢出能夠從信號端子24朝向電源輸入端子22而流動的電流(S23)。檢出部46，作為一例，係檢出是否有能夠從電源輸入端子22朝向電源部32而流動且具有預定值以上的電流。

接著，開路判定部52，係基於檢出部46的檢出結果，來判定信號供給部36和信號端子24之間是否為開路(S24)。

此處，於開路試驗中，相較於施加至電源輸入端子22之電壓，係使得施加至信號端子24之電壓處於更高的狀態。因此，信號端子24和電源輸入端子22之間所設置的保護二極體係開啟。

因此，在信號供給部36和信號端子24之間並非開路之場合(亦即，連接的場合)，則能夠經過在信號端子24和電源輸入端子22之間所設置的保護二極體，使電流從信號端子24朝向電源輸入端子22而流動。相反地，在信號供給部36和信號端子24之間是開路之場合，則電流不能夠從信號端子24朝向電源輸入端子22而流動。

因此，開路判定部52，在檢出有能夠從信號端子24朝向電源輸入端子22而流動的電流(S24的是)，則判定為信號供給部36和信號端子24之間並非開路。又，開路判定部52，在沒有檢出能夠從信號端子24朝向電源輸入端子22而流動的電流(S24的否)，則判定為信號供給部36和信號端子24之間是開路。

若依照以上這樣的試驗裝置10，則不須另外具備DC試驗單元及連接切換用的繼電器，也能夠進行開路試驗。藉此，依照試驗裝置10，係能夠以較少的構成來進行開路試驗。

第5圖係表示在第4圖的步驟S12中的短路試驗的處理流程。在短路試驗中，首先，電源部32，係將能夠使被試驗元件20進行動作之通常的電源電壓，供給至電源輸入端子22(S31)。接著，切換部42，係將信號取得部40加以旁路而將信號接收部38的輸出端連接至邏輯比較部44的輸入端(S32)。

接著，信號供給部36，係在不使輸出信號從被試驗元件20輸出的狀態下，將邏輯值是在預定的時序進行變化之試驗信號，輸出至信號端子24(S33)。並且，邏輯比較部44，係針對在信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值、及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值，分別在預定時序的前後，進行比較(S34)。

接著，短路判定部54，係基於邏輯比較部44的比較結果，來判定信號供給部36和信號端子24之間的配線是否短路至其他配線(S35)。

此處，在信號供給部36和信號端子24之間的配線係短路至電源之場合，則無關於從信號供給部36所輸出的試驗信號，而信號供給部36和信號端子24之間的配線的電壓，係固定在電源電壓。又，在信號供給部36和信號端子24之間的配線係短路至接地之場合，則信號供給部36和信號端子24之間的配線，係固定在接地電壓。又，在信號供給部36和信號端子24之間的配線係短路至其他配線之場合，則信號供給部36和信號端子24之間的配線的電壓，係變成已受到短路的其他配線的電壓的影響之電壓。

因此，短路判定部54，係在預定時序的前後，在信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值，以及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值，分別都是一致之場合(S35的是)，則判定為信號供給部36和信號端子24之間的配線，並非短路至其他配線。又，短路判定部54，係在預定時序的前後的任一方，在信號供給部36和信號端子24之間的信號的邏輯值、以及由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值，並非一致之場合(S35的否)，則判定為信號供給部36和信號端子24之間的配線，係短路至其他配線。

若依照以上這樣的試驗裝置10，則不須另外具備DC試驗單元及連接切換用的繼電器，也能夠進行短路試驗。藉此，依照試驗裝置10，係能夠以較少的構成來進行短路試驗。

第6圖係表示關於本實施形態的第一變化例之試驗裝置10的構成以及被試驗元件20。關於本變化例之試驗裝置10，係採用與第1圖所示的試驗裝置10約略相同的構成及機能，所以係將相同的符號，給予至與第1圖所示的試驗裝置10所具備的部件有約略相同的構成及機能之部件，並且省略以下相異點之外的說明。

關於本變化例之試驗裝置10，係試驗具備複數個信號端子24之被試驗元件20。試驗裝置10，係具備電源部32、複數個圖案產生部34、複數個信號供給部36、複數個信號接收部38、複數個信號取得部40、複數個切換部42、複數個邏輯比較部44、檢出部46、及控制部50。

複數個圖案產生部34，係分別對應於複數個信號端子24而設置。各個圖案產生部34，係發生要供給至對應的信號端子24之試驗信號的邏輯值。又，各個圖案產生部34，係發生從對應的信號端子24所輸出的輸出信號的期待值。

複數個信號供給部36，係分別對應於複數個信號端子24而設置。各個信號供給部36，係將對應於從圖案產生部34所發生的邏輯值之電壓的試驗信號，供給至對應的信號端子24。

複數個信號接收部38，係分別對應於複數個信號端子24而設置。各個信號接收部38，係從對應的信號供給部36和對應的信號端子24之間的配線，接收對應的信號端子24所輸出的輸出信號，並輸出接收到的輸出信號的邏輯值。

複數個信號取得部40，係分別對應於複數個信號端子24而設置。各個信號取得部40，係取得對應的信號接收部38所輸出的輸出信號的邏輯值。

複數個切換部42，係分別對應於複數個信號端子24而設置。各個切換部42，係進行切換，來將由對應的信號取得部40所取得的邏輯值給予至對應的邏輯比較部44，或者，將信號取得部40加以旁路而將由對應的信號接收部38所輸出的邏輯值給予至對應的邏輯比較部44。

複數個邏輯比較部44，係分別對應於複數個信號端子24而設置。在機能試驗中，各個邏輯比較部44，係將由對應的信號取得部40所取得的輸出信號的邏輯值、及藉由對定的圖案產生部34所發生的期待值，加以比較。又，在短路試驗中，各個邏輯比較部44，係將由對應的信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值、及將信號取得部40加以旁路而給予的由對應的信號接收部38所輸出的邏輯值，加以比較。

第7圖係表示關於本實施形態的第一變化例之試驗裝置10的處理流程。試驗裝置10，係個別地將複數個信號端子24，依序選擇作為開路試驗的對象，並針對一個已選擇的信號端子24，來試驗該信號端子24和對應的信號供給部36之間是否為開路(S41至S43)。

此處，針對一個已選擇的信號端子24來進行開路試驗之場合，則電源部32，係將接地電壓，供給至電源輸入端子22。進而，信號供給部36，係將高的電壓，供給至複數個信號端子24當中的成為開路試驗的對象之一個信號端子24，並將低的電壓，供給至其他信號端子24。藉此，使得不會有電流，從不是開路試驗的對象之信號端子24朝向電源輸入端子22而流動，而能夠只針對成為開路試驗的對象之信號端子24，進行開路試驗。

又，針對一個已選擇的信號端子24來進行開路試驗之場合，則檢出部46，係藉由檢出能夠從電源輸入端子22朝向電源部32而流動的電流，來檢出能夠通過成為開路試驗的對象之信號端子24並從信號供給部36朝向電源輸入端子22而流動的電流。開路判定部52，係基於檢出部46的檢出結果，來判定成為開路試驗的對象之被試驗元件20的信號端子24和對應的信號供給部36之間是否為開路。開路判定部52，係基於複數個信號端子24的個別的判定結果，來特定出與信號供給部36之間是開路之信號端子24。

一旦所有的端子都完成開路試驗，則試驗裝置10，係接著個別地將複數個信號端子24，依序選擇作為短路試驗的對象，並針對一個已選擇的信號端子24，來試驗信號供給部36和信號端子24之間的配線是否為短路至其他配線(S44至S46)。

此處，針對一個已選擇的信號端子24來進行短路試驗之場合，則複數個信號供給部36，係針對成為短路試驗的對象之信號端子24，供給與其他信號端子24不同的邏輯值的試驗信號。藉此，係藉由成為短路試驗的對象之信號端子24與對應的信號供給部36之間的配線的信號的邏輯值的取得，而在複數個信號供給部36中，針對成為短路試驗的對象之信號端子24與對應的信號供給部36之間的配線，進行是否短路之判定。

又，針對一個已選擇的信號端子24來進行短路試驗之場合，則成為短路試驗的對象之信號端子24所對應的邏輯比較部44，係針對成為短路試驗的對象之信號端子24和信號供給部36之間的信號的邏輯值、以及從對應的信號供給部36所出出的試驗信號的邏輯值，加以比較。然後，短路判定部54，係在成為短路試驗的對象之信號端子24和信號供給部36之間的信號的邏輯值、以及從對應的信號供給部36所出出的試驗信號的邏輯值，是一致之場合，則判定信號供給部36和信號端子24之間的配線沒有短路至其他配線。短路判定部54，係基於複數個信號端子24的各自的判定結果，來特定出與信號供給部36之間的配線會短路至其他配線之信號端子24。

接著，試驗裝置10，係以複數個信號端子24與所分別對應的各個信號供給部36之間都判定為並非開路，以及，複數個信號端子24與所分別對應的信號供給部36之間的配線都判定為並非短路至其他配線，來作為必要條件，以平行地將試驗信號給予至複數個信號端子24，並實行被試驗元件20的機能試驗(S46)。藉由以上處理，試驗裝置10，能夠判定具有複數個信號端子24之被試驗元件20的好壞。

另外，試驗裝置10，係也能夠在進行步驟S41至S43之前，統合複數個信號端子24並進行開路試驗。在統合複數個信號端子24並進行開路試驗之場合，則信號供給部36，係將高的電壓供給至全部的複數個信號端子24。進而，在這個場合，電源部32，係將接地電壓供給至電源輸入端子22。接著，檢出部46，係檢出能夠從電源輸入端子22朝向電源部32流動的電流的大小。然後，開路判定部52，係回應於檢出部46有檢出基準以上的大小的電流，而判定複數個信號端子24任一個都沒有開路。

試驗裝置10，係在判斷複數個信號端子24的任一個是開路之場合，則實行步驟S41至S43的處理，然後，基於複數個信號端子24的各自的檢出結果，來特定出其與信號供給部36之間為開路之至少一個信號端子。

又，試驗裝置10，係在判斷複數個信號端子24的任一個都沒有開路之場合，則省略步驟S41至S43的處理。藉此，試驗裝置10，係在判斷複數個信號端子24的任一個都沒有開路之場合，則能夠省略針對各個信號端子24所各進行的開路試驗。

第8圖係表示關於本實施形態的第二變化例之試驗裝置10以及被試驗元件20。關於本變化例之試驗裝置10，係採用與第1圖所示的試驗裝置10約略相同的構成及機能，所以係將相同的符號，給予至與第1圖所示的試驗裝置10所具備的部件有約略相同的構成及機能之部件，並且省略以下相異點之外的說明。

關於本變化例之試驗裝置10，係具備時序切換部70，以取代切換部42。時序切換部70，係切換用以表示輸出信號的取得時序之信號、及用以表示信號供給部36所輸出的試驗信號的時序之信號，並給予至信號取得部40。在機能試驗中，時序切換部70，係選擇用以表示輸出信號的取得時序之信號，並給予至信號取得部40。又，在短路試驗中，時序切換部70，係選擇用以表示試驗信號的時序之信號，並給予至信號取得部40。

時序切換部70，無論在機能試驗和短路試驗的任一個場合，都會將已取得的信號，給予至信號取得部40。藉此，在短路試驗中，關於本變化例之試驗裝置10，係不須將信號取得部40加以旁路，而能夠比較由信號供給部36所輸出的試驗信號的邏輯值、以及在信號供給部36和信號端子24之間的配線的信號的邏輯值。

第9圖係表示關於本實施形態的第三變化例之電子元件200的構成。關於本變化例之電子元件200，係採用與第1圖所示的試驗裝置10約略相同的構成及機能，所以係將相同的符號，給予至與第1圖所示的試驗裝置10所具備的部件有約略相同的構成及機能之部件，並且省略以下相異點之外的說明。

關於本變化例之電子元件200，係連接至外部電路。進而，電子元件200，係自我診斷該電子元件200和外部電路之間的配線，是否短路至其他配線。

電子元件200，係具備內部電路210及介面電路220。內部電路210，係產生能夠給予至外部電路之傳送信號。又，內部電路210，係對應於由外部電路所給予的接收信號而進行動作。進而，內部電路210，係具有短路判定部54。

介面電路220，係具有傳送緩衝器62、接收緩衝器64、信號取得部40、及切換部42。傳送緩衝器62，係將來自內部電路之傳送信號，朝向連接去處的外部電路進行傳送。接收緩衝器64，係將來自外部電路之接收信號，從外部電路和傳送緩衝器62之間的配線加以接收，並輸出該接收信號的邏輯值。

信號取得部40，係在針對接收信號而規定的取得時序，取得由接收緩衝器64所輸出的接收信號的邏輯值。切換部42，係針對由接收緩衝器64所輸出的接收信號的邏輯值、及由信號取得部40所取得的接收信號的邏輯值的哪一個要輸出，來進行切換。

在通常動作之場合，切換部42，係將由信號取得部40所取得的接收信號的邏輯值，輸出至內部電路210。在試驗傳送緩衝器62和外部電路之間的配線是否短路之場合，切換部42，係將從接收緩衝器64進行輸出的配線所接收的信號的邏輯值，輸出至內部電路210的短路判定部54。藉此，切換部42，係藉由短路判定部54，基於傳送緩衝器62和外部電路之間的信號的邏輯值、及由傳送緩衝器62所輸出的傳送信號的邏輯值之比較結果，來判定在傳送緩衝器62和外部電路之間的配線，是否短路至其他配線。

若依照以上這樣的關於本變化例之電子元件200，則能夠自我診斷該電子元件200和外部電路之間的配線，是否短路至其他配線。

第10圖係表示關於本實施形態之電腦1900的硬體構成的一例。關於本實施形態之電腦1900，係具備藉由主機控制器2082而互相連結的CPU2000、RAM2020、圖形控制器2075及具有顯示裝置2080之CPU週邊部；藉由輸入輸出控制器2084而要被連結至主機控制器2082之通信介面2030、硬碟機2040及具有CD-ROM驅動器2060之輸入輸出部；以及要被連接至輸入輸出控制器2084之ROM2010、軟碟機2050及具有輸入輸出晶片2070之傳統(legacy)輸入輸出部。

主機控制器2082，係連接至RAM2020、利用高傳輸速率而存取RAM2020之CPU2000、及圖形控制器2075。CPU2000，係基於儲存在ROM2010及RAM2020中的程式來進行動作，並進行各部的控制。圖形控制器2075，係取得CPU2000等在RAM2020內所設置的圖框緩衝器(frame buffer)上所產生的影像資料，並表示在顯示裝置2080上。取代這個，圖形控制器2075，也能夠將用以儲存CPU2000等所產生的影像資料之圖框緩衝器，包含在內部。

輸入輸出控制器2084，係連接至主機控制器2082、比較高速的輸入輸出裝置之通信介面2030、硬碟機2040、及CD-ROM驅動器2060。通信介面2030，係透過網路而與其他裝置通信。硬碟機2040，係儲存電腦1900內的CPU2000所使用的程式及資料。CD-ROM驅動器2060，係從CD-ROM2095讀取程式或資料，並透過RAM2020而提供至硬碟機2040。

又，輸入輸出控制器2084，係連接至ROM2010、軟碟機2050、及輸入輸出晶片2070之比較低速的輸入輸出裝置。ROM2010，係儲存電腦1900在啟動時所實行的啟動程式(boot program)、及依存於電腦1900的硬體之程式。軟碟機2050，係從軟碟2090讀取程式或資料，並透過RAM2020而提供至硬碟機2040。輸入輸出晶片2070，係將軟碟機2050連接至輸入輸出控制器2084，同時例如經由並列埠(parallel port)、序列埠(series port)、鍵盤埠、及滑鼠埠等，將各種輸入輸出裝置，連接至輸入輸出控制器2084。

透過RAM2020而提供至硬碟機2040之程式，係儲存在軟碟2090、CD-ROM2095、或IC卡等記錄媒體而藉由利用者所提供。程式，係從記憶媒體讀出，透過RAM2020而安裝至電腦1900內的硬碟機2040，並在CPU2000中加以實行。

安裝至電腦1900，並使電腦1900作為用以控制試驗裝置10之控制部50而發揮機能之程式，係具備開路判定模組、短路判定模組及機能試驗模組。這些程式或模組，係推動CPU2000，並使電腦1900分別作為開路判定部52、短路判定部54及機能試驗部56而發揮機能。

這些程式所記述的資訊處理，係藉由電腦1900加以讀取，並作為軟體與上述的各種硬體資源所進行協同動作的具體設備之開路判定部52、短路判定部54及機能試驗部56而發揮機能。再者，依照這些具體設備，藉由實現因應於本實施形態中的電腦1900的使用目的之資訊的演算或加工，而構築因應於使用目的之特定的試驗裝置10的控制部50。

作為一例，在電腦1900與外部裝置等間進行通信之場合，則CPU2000，係實行上載至RAM2020之通信程式，並基於通信程式所記述的處理內容，對於通信介面2030來指示通信處理。通信介面2030，係接收CPU2000的控制，而讀出被記憶在RAM2020、硬碟機2040、軟碟2090、或CD-ROM2095等記憶裝置上所設置的傳送緩衝器領域等之中的傳送資料，並傳送至網路、或將從網路所接收的接收資料，寫入記憶裝置上所設置的接收緩衝器領域等。這樣，通信介面2030，也能夠藉由DMA(直接記憶體存取)之方式在記憶裝置間針對傳送接收資料加以傳輸，取代這個，CPU2000也能夠從傳輸來源的記憶裝置或通信介面2030讀出資料，並藉由將資料朝向並寫入傳輸去處的通信介面或記憶裝置來針對傳送接收資料加以傳輸。

又，CPU2000，係從硬碟機2040、CD-ROM驅動器2060(CD-ROM2095)、軟碟機2050(軟碟2090)等外部記憶裝置所儲存的檔案或資料庫等中，藉由DMA傳輸等，將全部或必要部分讀入至RAM2020，並對RAM2020上的資料進行各種處理。然後，CPU2000，係將處理完成的資料，藉由DMA傳輸而朝向並寫回外部記憶裝置。在這樣的處理中，因為將RAM2020視為暫時保持外部記憶裝置的內容者，所以在本實施形態中，RAM2020及外部記憶裝置係總稱為記憶體、記憶部、或記憶裝置等。在本實施形態中的各種程式、資料、表格、資料庫等各種資訊，係儲存在這樣的記憶裝置上，並作為資訊處理的對象。另外，CPU2000，係將部分的RAM2020保存在快取記憶體，而也能夠在快取記憶體上進行讀寫。即使在這樣的狀態中，因為快取記憶體係擔任部分的RAM2020的機能，所以在本實施形態中，除了以區別方式來表示之場合，快取記憶體也包含在RAM2020、記憶體、及/或記憶裝置中。

又，CPU2000，係對於從RAM2020所讀出的資料，進行藉由程式的命令列所指定的含有本實施形態中所記載的各種演算、資訊加工、條件判斷、資訊檢索與置換等之各種處理，並朝向且寫回RAM2020。例如，CPU2000，在進行條件判斷之場合中，則將本實施形態中所表示的各種變數，與其他變數或定數相比較，並判斷是否滿足大於、小於、以上、以下、相等等條件，且在條件成立之場合(或在不成立之場合)，則分歧至不同的命令列，或呼叫副常式(subroutine)。

又，CPU2000，能夠檢索記憶裝置內的檔案或資料庫等所儲存的資訊。例如，對於第一屬性的屬性值，第二屬性的屬性值所分別對應關聯的各個的複數個入口點(entry)，係儲存在記憶裝置之場合，則CPU2000，係從記憶裝置所儲存的複數個入口點中，檢索第一屬性的屬性值與指定條件一致之入口點，並藉由讀出該入口點所儲存的第二屬性的屬性值，而能夠得到滿足預定條件之第一屬性所對應關聯的第二屬性的屬性值。

以上所示的程式或模組，也能夠儲存在外部的記憶媒體。除了軟碟2090、CD-ROM2095之外，能夠使用DVD或CD等光學記錄媒體、MO等光磁記錄媒體、磁帶媒體、IC卡等半導體記憶體，來作為記錄媒體。又，也能夠使用在連接至專用通信網路或網際網路之伺服器系統上所設置的硬碟或RAM等記憶裝置，來作為記憶媒體，並透過網路，將程式提供至電腦1900。

以上，雖然使用實施形態來說明本發明，但是本發明的技術範圍並不受限於上述實施形態所記載的範圍。業者係明白能夠將各種變更或改良施加至上述實施形態中。從申請專利範圍的記載能夠明白，施加有這樣的變更或改良之形態也能構包含在本發明的技術範圍中。

在申請專利範圍、說明書、及圖式中所示的裝置、系統、程式、以及方法中的動作、程序、步驟、及階段等各個處理的實行順序，只要不特別明示「更前」、「以前」等，或沒有將前面處理的輸出用在後面處理，則應該留意係能夠以任意順序加以實現。關於在申請專利範圍、說明書、及圖式中的動作流程，即使在方便上係使用「首先」、「接著」等來進行說明，但是並不意味必須以這個順序來實施。

10．．．試驗裝置

20．．．被試驗元件

22．．．電源輸入端子

24．．．信號端子

32．．．電源部

34．．．圖案產生部

36．．．信號供給部

38．．．信號接收部

40．．．信號取得部

42．．．切換部

44．．．邏輯比較部

46．．．檢出部

50．．．控制部

52．．．開路判定部

54．．．短路判定部

56．．．機能試驗部

60．．．內部電路

62．．．傳送緩衝器

64．．．接收緩衝器

66-1．．．第一保護二極體

66-2．．．第二保護二極體

70．．．時序切換部

200．．．電子元件

210．．．內部電路

220．．．介面電路

1900．．．電腦

2000．．．CPU

2010．．．ROM

2020．．．RAM

2030．．．通信介面

2040．．．硬碟機

2050．．．軟碟機

2060．．．CD-ROM驅動器

2070．．．輸入輸出晶片

2075．．．圖形控制器

2080．．．顯示裝置

2082．．．主機控制器

2084．．．輸入輸出控制器

2090．．．軟碟

2095．．．CD-ROM

第1圖係一同表示關於本實施形態的試驗裝置10的構成與被試驗元件20。

第2圖係表示被試驗元件20的構成的一例。

第3圖係表示關於本實施形態之試驗裝置10的處理流程。

第4圖係表示在第3圖的步驟S11中的開路試驗的處理流程。

第5圖係表示在第4圖的步驟S12中的短路試驗的處理流程。

第6圖係表示關於本實施形態的第一變化例之試驗裝置10的構成以及被試驗元件20。

第7圖係表示關於本實施形態的第一變化例之試驗裝置10的處理流程。

第8圖係一同表示關於本實施形態的第二變化例之試驗裝置10與被試驗元件20。

第9圖係表示關於本實施形態之電子元件200的構成。

第10圖係表示關於本實施形態之電腦1900的硬體構成的一例。

10．．．試驗裝置

20．．．被試驗元件

22．．．電源輸入端子

24．．．信號端子

32．．．電源部

34．．．圖案產生部

36．．．信號供給部

38．．．信號接收部

40．．．信號取得部

42．．．切換部

44．．．邏輯比較部

46．．．檢出部

50．．．控制部

52．．．開路判定部

54．．．短路判定部

56．．．機能試驗部

Claims (20)

1. 一種進行被試驗元件的機能試驗相關的開路試驗或短路試驗之試驗裝置，其具備：電源部，其將電源電壓供給至前述被試驗元件的電源輸入端子；信號供給部，其將試驗信號供給至前述被試驗元件的信號端子；以及檢出部，其在已將比供給至前述信號端子之電壓更低的電源電壓，供給至前述電源輸入端子之狀態下，檢出從前述信號供給部，經過前述被試驗元件內的保護二極體，朝向前述電源輸入端子而流動的電流，該被試驗元件內的保護二極體，是用以使輸入至前述信號端子之過電壓，朝向前述電源輸入端子而流動。
2. 如申請專利範圍第1項所述之試驗裝置，其中更具備：開路判定部，其在檢出從前述信號端子朝向前述電源輸入端子而流動的電流之場合，則判定前述信號供給部和前述信號端子之間並非開路。
3. 如申請專利範圍第2項所述之試驗裝置，其中更具備：信號接收部，其從前述信號供給部和前述信號端子之間的配線，接收由前述被試驗元件的前述信號端子所輸出的輸出信號，並輸出該輸出信號的邏輯值；信號取得部，其在針對輸出信號而規定的取得時序，取得輸出信號的邏輯值；以及 短路判定部，其在不使輸出信號從前述被試驗元件輸出的狀態下，基於經過前述信號接收部而接收的前述信號供給部和前述信號端子之間的信號的邏輯值與由前述信號供給部所輸出的前述試驗信號的邏輯值之比較結果，來判定在前述信號供給部和前述信號端子之間的配線，是否短路至其他配線。
4. 如申請專利範圍第2項所述之試驗裝置，其中：以前述信號供給部和前述信號端子之間是判定為並非開路，來作為必要條件，則前述電源部，係將可使前述被試驗元件進行動作之電源電壓，供給至前述電源輸入端子；前述信號供給部，係將使前述被試驗元件進行動作之試驗信號，供給至前述信號端子來進行前述被試驗元件的機能試驗。
5. 如申請專利範圍第2項所述之試驗裝置，其中：前述被試驗元件，係具備複數個前述信號端子；前述信號供給部，係將高的電壓，供給至前述複數個信號端子當中的成為開路試驗的對象之一個前述信號端子，並將低的電壓，供給至其他信號端子；前述電源部，在開路試驗中，係將接地電壓供給至前述電源輸入端子。
6. 如申請專利範圍第5項所述之試驗裝置，其中：該試驗裝置，係個別地將前述複數個信號端子，依序選擇作為開路試驗的對象； 前述信號供給部，係將高的電壓，供給至成為開路試驗的對象之一個前述信號端子，並將低的電壓，供給至其他信號端子；前述檢出部，係針對成為開路試驗的對象之信號端子，檢出從前述信號供給部朝向前述電源輸入端子而流動的電流；以及前述開路判定部，係基於前述成為開路試驗的對象之信號端子的檢出結果，來判定前述信號供給部和成為開路試驗的對象之前述被試驗元件的信號端子之間是否為開路。
7. 如申請專利範圍第5項所述之試驗裝置，其中：前述被試驗元件，係具備複數個前述信號端子；前述信號供給部，係將高的電壓供給至前述複數個信號端子；前述電源部，在開路試驗中，係將接地電壓供給至前述電源輸入端子；前述檢出部，係檢出在前述電源輸入端子流動的電流的大小；前述開路判定部，係回應於前述檢出部有檢出基準以上的大小的電流，而判定前述複數個信號端子沒有開路。
8. 如申請專利範圍第7項所述之試驗裝置，其中：前述信號供給部，係回應於前述檢出部是檢出未滿基準的大小的電流，而個別地將前述複數個信號端子，依序選擇作為開路試驗的對象，並將高的電壓供給至成為開路 試驗的對象之一個前述信號端子，且將低的電壓供給至其他前述信號端子；前述檢出部，係針對前述複數個信號端子，分別檢出從前述信號供給部朝向前述電源輸入端子而流動的電流；前述開路判定部，係基於前述複數個信號端子的個別的判定結果，來特定出與前述信號供給部之間是開路之至少一個前述信號端子。
9. 一種進行被試驗元件的機能試驗相關的短路試驗之試驗裝置，其具備：信號供給部，其將試驗信號供給至前述被試驗元件的信號端子；信號接收部，其從前述信號供給部和前述信號端子之間的配線，接收由前述被試驗元件的前述信號端子所輸出的輸出信號，並輸出該輸出信號的邏輯值；信號取得部，其在針對輸出信號而規定的取得時序，取得輸出信號的邏輯值；以及短路判定部，其在不使輸出信號從前述被試驗元件輸出的狀態下，基於經過前述信號接收部而接收的前述信號供給部和前述信號端子之間的信號的邏輯值與由前述信號供給部所輸出的試驗信號的邏輯值之比較結果，來判定在前述信號供給部和前述信號端子之間的配線，是否短路至其他配線。
10. 如申請專利範圍第9項所述之試驗裝置，其中更具備：邏輯比較部，其將前述信號取得部在前述取得時序所 取得的輸出信號的邏輯值，與期待值，加以比較。
11. 如申請專利範圍第10項所述之試驗裝置，其中：以前述信號供給部和前述信號端子之間是判定為並非短路至其他配線，來作為必要條件，則前述信號供給部，係將使前述被試驗元件進行動作之試驗信號，供給至前述信號端子；前述信號取得部，係在前述取得時序，取得前述被試驗元件對應於前述試驗信號而從前述信號端子進行輸出的輸出信號的邏輯值；前述邏輯比較部，係將前述信號取得部所取得的輸出信號的邏輯值，與期待值，加以比較，來進行前述被試驗元件的機能試驗。
12. 如申請專利範圍第10項所述之試驗裝置，其中：前述被試驗元件，係具備複數個前述信號端子；前述信號供給部，係針對前述複數個信號端子當中的成為短路試驗的對象之一個前述信號端子，供給與其他前述信號端子不同的邏輯值的試驗信號。
13. 如申請專利範圍第12項所述之試驗裝置，其中：前述信號供給部，係針對個別地將前述複數個信號端子依序選擇作為短路試驗的對象而變成短路試驗的對象之一個前述信號端子，供給與其他前述信號端子不同的邏輯值的試驗信號；前述短路判定部，係以前述信號供給部和前述信號端子之間的信號的邏輯值、及由前述信號供給部所輸出的試 驗信號的邏輯值是一致，作為必要條件，來判定前述信號供給部和前述信號端子之間的配線並非短路。
14. 如申請專利範圍第10項所述之試驗裝置，其中：前述信號供給部，在短路試驗中，係將邏輯值是在預定的時序進行變化之試驗信號，輸出至信號端子；前述短路判定部，係基於前述信號供給部和前述信號端子之間的信號的邏輯值的變化、以及由前述信號供給部所輸出的試驗信號的邏輯值的變化之比較結果，來判定前述信號供給部和前述信號端子之間的配線的連接狀態。
15. 如申請專利範圍第10項所述之試驗裝置，其中：更具備切換部，此切換部在機能試驗中，係將前述信號取得部所取得的輸出信號的邏輯值供給至前述邏輯比較部，並且在短路試驗中，將前述信號接收部所輸出的輸出信號的邏輯值供給至前述邏輯比較部；而且，前述短路判定部，係基於前述邏輯比較部的針對前述信號供給部和前述信號端子之間的信號的邏輯值、及由前述信號供給部所輸出的試驗信號的邏輯值之比較結果，來判定在前述信號供給部和前述信號端子之間的配線，是否短路。
16. 一種進行被試驗元件的機能試驗相關的開路試驗或短路試驗之試驗方法，係從電源部，將電源電壓供給至前述被試驗元件的電源輸入端子，且從信號供給部，將試驗信號供給至前述被試驗元件的信號端子， 而在已將比供給至前述信號端子之電壓更低的電源電壓，供給至前述電源輸入端子之狀態下，檢出從前述信號供給部，經過前述被試驗元件內的保護二極體，朝向前述電源輸入端子而流動的電流，該被試驗元件內的保護二極體，是用以使輸入至前述信號端子之過電壓，朝向前述電源輸入端子而流動。
17. 一種電腦程式製品，係使電腦作為申請專利範圍第2至8項中任一項所述之試驗裝置所具備的開路判定部而發揮機能。
18. 一種進行被試驗元件的機能試驗相關的短路試驗之試驗方法，係從信號供給部，將試驗信號供給至前述被試驗元件的信號端子，且藉由信號接收部，而從前述信號供給部和前述信號端子之間的配線，接收前述被試驗元件的前述信號端子所輸出的輸出信號，並輸出該輸出信號的邏輯值，且藉由信號取得部，而在針對輸出信號而規定的取得時序，取得輸出信號的邏輯值，並在不使輸出信號從前述被試驗元件輸出的狀態下，基於經過前述信號接收部而接收的前述信號供給部和前述信號端子之間的信號的邏輯值與由前述信號供給部所輸出的試驗信號的邏輯值之比較結果，來判定在前述信號供給部和前述信號端子之間的配線，是否短路至其他配線。
19. 一種電腦程式製品，係使電腦作為申請專利範圍第9至15項中任一項所述之試驗裝置所具備的短路判定部而 發揮機能。
20. 一種進行自我診斷之電子元件，用以自我診斷該電子元件本身與前述外部電路之間的配線，是否短路至其他配線，該電子元件係具備：傳送緩衝器，其將來自內部電路之傳送信號，朝向連接去處的外部電路進行傳送；接收緩衝器，其將來自前述外部電路之接收信號，從前述外部電路和前述傳送緩衝器之間的配線加以接收，並輸出該接收信號的邏輯值；信號取得部，其在針對接收信號而規定的取得時序，取得接收信號的邏輯值；切換部，其針對前述接收緩衝器所輸出的接收信號的邏輯值、及前述信號取得部所取得的接收信號的邏輯值的哪一個要輸出，來進行切換；以及短路判定部，係判定在前述傳送緩衝器與前述外部電路之間的配線是否短路；其中，在試驗前述傳送緩衝器和前述外部電路之間的配線是否短路之場合，前述切換部，係將從前述接收緩衝器所輸出的在前述配線所接收的信號的邏輯值，加以輸出，並藉由短路判定部，基於前述傳送緩衝器和前述外部電路之間的信號的邏輯值、及由前述傳送緩衝器所輸出的傳送信號的邏輯值之比較結果，來判定在前述傳送緩衝器和前述外部電路之間的配線是否短路。