WO2003050875A2 - Procede de realisation d'un dispositif d'imagerie - Google Patents

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WO2003050875A2
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Daniel Lincot
François MONGELLAZ
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Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
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Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
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    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10—Integrated devices
    • H10F39/12—Image sensors
    • H10F39/191—Photoconductor image sensors
    • H10F39/195—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass

Definitions

  • the present invention relates to a method for producing an imaging device.
  • this imaging device comprises a matrix of pixels made of semiconductor material, for converting the incident X photons into electrical charges.
  • This semiconductor material is deposited on a panel for reading electrical charges based on silicon 11, comprising several electronic devices each integrated at the level of a pixel of the matrix 12.
  • This production process consists of a vapor phase transfer (CSVT or "Closed-
  • a source 21 comprising the semiconductor material 22, which can be solid or in the form of powder, is heated to a temperature T1 of the order of 600 ° C.
  • the semiconductor material used as a source (CdTe, Pbl 2 , Hgl 2 ) is close to the substrate 23 (1 to 10 mm).
  • the substrate temperature is regulated at a lower temperature T2 at Tl. It varies from 200 ° C to 600 ° C depending on the nature of the semiconductor used and the quality of the layer required.
  • the temperature gradient which is created allows material transport between the source 21 and the substrate 23.
  • the physical properties of the semiconductors used associated with the use of the CSVT method make it possible to impose on the substrate a temperature (200 ° C.
  • the X-ray imaging device thus obtained can have dimensions ranging from a few centimeters x a few centimeters to more than 40 centimeters x 40 centimeters. It can be used, in particular, for medical imaging: it is capable of operating in radiography mode or in radioscopy mode.
  • the surface of the substrate, on which the deposition of semiconductor material takes place is a heterogeneous surface.
  • the surface of this substrate 31, which can be amorphous, recrystallized amorphous, polycrystalline or monocrystalline, is composed of a passivation layer 32 (SiO x / or SiN, or SiO x + SiN ), in which openings leave free the metallic surfaces 33 (aluminum or another metal) which ensure the pixelation of each matrix.
  • the semiconductor material must be in electrical contact with these metal surfaces and adhere to them. The deposition of the semiconductor material is therefore carried out on a surface comprising areas of different chemical compositions.
  • the chemical affinity between the materials making up these zones and the semiconductor material to be deposited depends on the conditions of deposition. Obtaining good chemical affinity, which guarantees good adhesion between the silicon substrate and the semiconductor material, imposes deposition conditions: temperatures T1 and T2, growth rate, thermal history, which influence the physical properties of the semiconductor material. The physical properties thus obtained are not necessarily compatible with those sought for the detection of radiation.
  • the object of the invention is to solve such an adhesion problem.
  • the present invention relates to a method of producing an imaging device comprising at least one pixel matrix of photon detector semiconductor material deposited on a substrate integrating electronic devices and having metal surfaces, characterized in that, beforehand when the semiconductor material is deposited on said substrate, a conductive material capable of promoting the adhesion of the semiconductor material is deposited on the metal surfaces of this substrate.
  • the substrate can be made of a material chosen from Si, GaAs, InP and their respective compounds.
  • the semiconductor material can be one of the following materials: CdTe, Se, Pbl 2 , PbO, Hgl 2 , GaAs, TlBr, Bil 3 or TlPbI 3 .
  • the material to promote adhesion can be chosen from Zn, Ti, Pt and Ni.
  • the surface of the substrate is a heterogeneous surface, which is composed of a passivation layer, in which openings leave the metal surfaces free. It can be carried out in one of the following materials: SiO x , or SiN, or SiO ⁇ + SiN.
  • the metal surfaces are for example aluminum, gold or copper.
  • the zones of material capable of promoting the deposited adhesion are contiguous.
  • This material has a thickness of between a few Angstroms and a few micrometers.
  • the material to promote adhesion is deposited by chemical bath.
  • the deposit by chemical bath can be carried out by bringing the metal surface of this substrate into contact with a reactive solution containing the element to be deposited under dissolved form.
  • the element to be deposited reacts with the metal, dissolving it by oxidation and depositing in its place.
  • This element to be deposited is included among the following materials: Zin, Cd, Sn, Se , Cu, Te, Bi and In.
  • the element to be deposited is introduced into the solution with an element capable of depositing it on the substrate.
  • the elements to be deposited are included among the following materials: Ni, Sn, Cu, Au.
  • the material capable of promoting adhesion is deposited by electrodeposition.
  • This material is included among the following materials: a metal: Zn, Cu, Ni, Pb, Te, Se, Cd, Sn, Au, a metallic alloy or a non-metallic compound, such as for example oxide or hydroxide, a metallic chalcogenide ( MS, MSe, MTe where M is a metal).
  • the substrate playing the role of first electrode is immersed in a suitable chemical solution containing the elements to be deposited in the form of ions, a specific function of the substrate making it possible to connect all the metal surfaces together and to bring them all to the same potential.
  • a second electrode is immersed in the solution, itself brought to a potential which is a function of the electrolysis reaction. The passage of a current between the two electrodes makes it possible to obtain redox reactions, and to deposit the compound capable of promoting adhesion to the surface of one of the electrodes
  • the material is deposited in the vapor or gas phase or by spraying.
  • the substrate is introduced into a frame so as to be covered with a layer of material capable of promoting adhesion, this layer being deposited in a non-selective manner and covering the entire surface of the substrate.
  • This material is then selectively etched so as to leave the material present only on the metal surfaces.
  • the material can thus be engraved by photolithography or laser ablation operations.
  • the method of the invention thus uses a material which ensures adhesion between the metal surfaces of the substrate and the semiconductor material. It then allows a deposition of the semiconductor layer on the substrate.
  • the method of the invention is used to obtain an X-ray imaging device which comprises at least one matrix of pixels making it possible to convert incident X photons into electrical charges, in particular in the manufacture of reading for X-ray imaging system in the medical field.
  • FIGS. 1 and 2 illustrate the operation of a method of the known art
  • FIG. 3 illustrates the section of the surface of a reading panel before the deposition of the layer of semiconductor material
  • Figure 4 illustrates the section of a reading panel + non-contiguous adhesion zones + semiconductor layer obtained with the method of the invention
  • Figure 5 illustrates the section of a reading panel + zones assembly of adhesive adhesion + semiconductor layers obtained with the process of the invention
  • FIG. 6 illustrates the operation of the electrolytic method which can be used in the method of the invention. Detailed description of embodiments
  • a matrix of pixels made of photon detector semiconductor material is produced by depositing a layer of this material on a substrate integrating electronic devices and having metal surfaces.
  • the method of the invention consists in depositing, before depositing the semiconductor material on the substrate, a material capable of promoting the adhesion of the semiconductor material subsequently deposited on the metal surfaces of the substrate.
  • the purpose of this material is to provide adhesion and electrical continuity between the metal surfaces of the substrate and the semiconductor layer and thereby between the semiconductor layer and the substrate.
  • the substrate can be made of a material chosen from Si, GaAs, InP and their respective compounds.
  • the semiconductor layer can be deposited by the CSVT method or the CSS method ("Close Space Sublimation") but also by vapor phase transport methods with or without chemical agent, screen printing, or liquid phase epitaxy , as long as the temperature requirements defined above are respected.
  • the semiconductor material used can be chosen from the following materials: CdTe, Pbl 2 , PbO, Hgl 2 , GaAs, Se, TlBr, Bil 3 , TlPbI 3 .
  • the material capable of promoting the adhesion of the semiconductor material to the substrate will be chosen as a function of the material pair of the reading circuit / photon detector material for its crystalline, electrical characteristics. For example, it can be chosen from Zn, Ti, Pt and Ni.
  • the material capable of promoting adhesion can be a homo-germ, that is to say that it is composed of the same chemical compounds as the semiconductor layer to be produced.
  • the homogenous material for the growth of a layer of CdTe is therefore CdTe
  • for a layer of Pbl 2 is Pbl 2
  • for a layer of Hgl 2 is Hgl 2
  • for a layer of PbO is PbO (the same for GaAs, Se, TlBr, Bil 3 , TlPbI 3 ).
  • This material capable of promoting adhesion is deposited on the metal surfaces and has a thickness of between a few Angstroms and a few micrometers.
  • this material 41 must be present on the surface of the substrate 40, be adherent to the metal surfaces 42 of said substrate, ensure electrical continuity with these metal surfaces, and allow the adhesion of the semiconductor material 43.
  • the zones 41 formed by this material deposited on the metal surfaces are non-contiguous.
  • the material capable of promoting adhesion can be deposited using various methods, in particular the chemical bath, the electrodeposition, as described in the document referenced [2], the vapor or gas phase or spraying.
  • This material can thus be deposited by chemical bath.
  • This deposition by chemical bath can be carried out by placing the metal surface of the substrate, for example aluminum, before or without etching to reduce the thickness of the oxide layer, in contact with a reactive solution containing the elements to be deposited under dissolved form.
  • the element to be deposited reacts with the metal, for example aluminum, dissolving it by oxidation and depositing in its place.
  • This deposition method called by displacement, is preferably used for metal ions (or not) whose reduction potential is higher than the oxidation potential of aluminum; these elements can be: Zin, Cd, Pb, Sn, Se, Cu, Te, Bi, In, the preferred element being zinc.
  • the element to be deposited is introduced into the solution with an element capable of depositing it selectively on the substrate, for example of aluminum, previously or not covered with a first layer, produced by the previous method. In this case, there is no attack of the aluminum and the integrity of the aluminum layer can be preserved.
  • the elements to be deposited can be Ni, Sn, Cu, Au ...
  • the preferred elements are Ni and Sn.
  • the chemically deposited layers may comprise several metallic, or non-metallic, elements leading to these alloys or layers (oxides, hydrides, chalcogenides, etc.).
  • the solutions allowing these reactions can be aqueous or nonaqueous.
  • This material can also be deposited, by electrodeposition as illustrated in FIG. 6.
  • This material can be a metal: Zn, Cu, Ni, Pb, Te, Se, Cd, Sn, Au, a metallic alloy, or a non-metallic compound, such as for example an oxide or hydroxide, a metallic chalcogenide (MS, MSe , MTe where M is a metal).
  • the preferred materials are: CdTe, CdSe, ZnTe, ZnSe, CdS, ZnS, PbSe, SnOx; SnSx, SnTex, SnSex, CuX, InX. Ternary alloys are also possible.
  • This deposition can be carried out in an aqueous medium or in a non-aqueous medium, preferably in an aqueous medium. This deposition can be carried out according to the galvanostatic, potentiostatic or any combination of these methods (voltammetry, pulsed deposition).
  • the substrate 61 (first electrode) is immersed in a suitable chemical solution containing the elements to be deposited in the form of ions 62 (electrolyte).
  • a specific function of this substrate 61 makes it possible to connect all the metal surfaces together (short circuit) and makes it possible to bring them all to the same potential.
  • a second electrode 63 is immersed in the solution, itself brought to a potential which is a function of the electrolysis reaction. The passage of a current between the two electrodes makes it possible to obtain redox reactions, and to deposit the desired compound (CdTe, Hgl 2 , Pbl 2 , BpO, Ga, As, Se, TlBr, Bil 3 , TlPbI 3 ) on the surface of an electrode.
  • the deposited zones are not contiguous.
  • the deposited areas can be contiguous.
  • the substrate is introduced into a frame in order to be covered with a layer of material capable of promoting adhesion. This layer is deposited in a non-selective manner and covers the entire surface of the substrate.
  • the material can then be etched selectively so as to leave the material present only on metal surfaces, for example by photolithography operations or by laser ablation or by any etching method.

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Abstract

L'invention concerne un procédé de réalisation d'un dispositif d'imagerie comprenant au moins une matrice de pixels en matériau semi-conducteur 43 détecteur de photons déposé sur un substrat intégrant des dispositifs électroniques et présentant des surfaces métalliques 42, dans lequel, préalablement au dépôt du matériau semi-conducteur 43 sur ledit substrat, un matériau apte à favoriser l'adhérence du matériau semi-conducteur est déposé uniquement sur les surfaces métalliques 42 de ce substrat.

Description

PROCEDE DE REALISATION D'UN DISPOSITIF D'IMAGERIE
DESCRIPTION
Domaine technique La présente invention concerne un procédé de réalisation d'un dispositif d'imagerie.
Etat de la technique
Un procédé de réalisation d'un dispositif d'imagerie de rayonnement X est décrit dans le document référencé [1] en fin de description. Comme illustré sur la figure 1, ce dispositif d'imagerie comprend une matrice de pixels réalisée en matériau semi-conducteur, pour convertir les photons X incidents en charges électriques. Ce matériau semi-conducteur est déposé sur un panneau de lecture de charges électriques à base de silicium 11, comprenant plusieurs dispositifs électroniques intégrés chacun au niveau d'un pixel de la matrice 12.
Ce procédé de réalisation consiste en un transfert par phase vapeur (méthode CSVT ou "Closed-
Spaced Vapor Transport") du matériau semi-conducteur sur un substrat à base de silicium intégrant les dispositifs électroniques.
Comme illustré sur la figure 2, une source 21 comportant le matériau semi-conducteur 22, qui peut être massive ou sous forme de poudre, est chauffée à une température Tl de l'ordre de 600°C. Le matériau semi-conducteur utilisé comme source (CdTe, Pbl2, Hgl2) est proche du substrat 23 (1 à 10 mm) . La température du substrat est régulée à une température T2 inférieure à Tl. Elle varie de 200°C à 600°C selon la nature du semi-conducteur utilisé et la qualité de la couche exigée. Le gradient de température qui est créé permet un transport de matière entre la source 21 et le substrat 23. Les propriétés physiques des semiconducteurs utilisés associées à l'utilisation de la méthode CSVT permettent d'imposer au substrat une température (200°C à 450°C) compatible à la tenue en température des dispositifs électroniques. Le dispositif d'imagerie de rayonnements X ainsi obtenu peut avoir des dimensions allant de quelques centimètres x quelques centimètres à plus de 40 centimètres x 40 centimètres. Il peut être utilisé, en particulier, pour l'imagerie médicale : il est apte à fonctionner en mode radiographie ou en mode radioscopie .
Dans un tel dispositif la surface du substrat, sur laquelle le dépôt de matériau semiconducteur s'effectue, est une surface hétérogène. En effet, comme illustré sur la figure 3, la surface de ce substrat 31, qui peut être amorphe, amorphe recristallisé, polycristallin ou monocristallin, est composée d'une couche de passivation 32 (SiOx/ ou SiN, ou SiOx+SiN) , dans laquelle des ouvertures laissent libres les surfaces métalliques 33 (aluminium ou un autre métal) qui assurent la pixélisation de chaque matrice. Le matériau semi-conducteur doit être en contact électrique avec ces surfaces métalliques et adhérer à celles-ci. Le dépôt du matériau semi-conducteur s'effectue donc sur une surface comportant des zones de compositions chimiques différentes. L'affinité chimique entre les matériaux composant ces zones et le matériau semi-conducteur à déposer est fonction des conditions de dépôt. L'obtention d'une bonne affinité chimique, qui est le garant d'une bonne adhérence entre le substrat de silicium et le matériau semi-conducteur, impose des conditions de dépôt : températures Tl et T2 , vitesse de croissance, histoire thermique, qui influent sur les propriétés physiques du matériau semi- conducteur. Les propriétés physiques ainsi obtenues ne sont pas nécessairement compatibles avec celles recherchées pour la détection de rayonnement.
Il y a donc un problème d'adhérence entre la surface du substrat de silicium et le matériau semi- conducteur.
L'invention a pour objet de résoudre un tel problème d'adhérence.
Exposé de 1 ' invention
La présente invention concerne un procédé de réalisation d'un dispositif d'imagerie comprenant au moins une matrice de pixels en matériau semi-conducteur détecteur de photons déposé sur un substrat intégrant des dispositifs électroniques et présentant des surfaces métalliques, caractérisé en ce que, préalablement au dépôt du matériau semi-conducteur sur ledit substrat, un matériau conducteur apte à favoriser l'adhérence du matériau semi-conducteur est déposé sur les surfaces métalliques de ce substrat.
Le substrat peut être en un matériau choisi parmi Si, GaAs, InP et leurs composés respectifs. Le matériau semi-conducteur peut être l'un des matériaux suivants : CdTe, Se, Pbl2, PbO, Hgl2, GaAs, TlBr, Bil3 ou TlPbI3.
Le matériau pour favoriser l'adhérence peut être choisi parmi Zn, Ti, Pt et Ni.
La surface du substrat est une surface hétérogène, qui est composée d'une couche de passivation, dans laquelle des ouvertures laissent libres les surfaces métalliques. Elle peut être réalisée dans l'un des matériaux suivants : SiOx, ou SiN, ou SiOχ+SiN. Les surfaces métalliques sont par exemple en aluminium, en or ou en cuivre .
Avantageusement les zones de matériau apte à favoriser l'adhérence déposée sont jointives. Ce matériau a une épaisseur comprise entre quelques Angstrôms et quelques micromètres.
Dans un " premier mode de réalisation le matériau pour favoriser l'adhérence est déposé par bain chimique. Le dépôt par bain chimique peut être réalisé en mettant la surface métallique de ce substrat au contact d'une solution réactive contenant l'élément à déposer sous forme dissoute. Dans une première catégorie de solutions l'élément à déposer réagit avec le métal, en le dissolvant par oxydation et en se déposant à sa place. Cet élément à déposer est compris parmi les matériaux suivants : Zin, Cd, Sn, Se, Cu, Te, Bi et In. Dans une deuxième catégorie de solutions, l'élément à déposer est introduit dans la solution avec un élément capable de le déposer sur le substrat . Les éléments à déposer sont compris parmi les matériaux suivants : Ni, Sn, Cu, Au. Dans un deuxième mode de réalisation le matériau apte à favoriser l'adhérence est déposé par électro-dépôt. Ce matériau est compris parmi les matériaux suivants : un métal : Zn, Cu, Ni, Pb, Te, Se, Cd, Sn, Au, un alliage métallique ou un composé non métallique, comme par exemple oxyde ou hydroxide, un chalcogénure métallique (MS, MSe, MTe où M est un métal) .
Le substrat jouant le rôle de première électrode est immergé dans une solution chimique adaptée contenant les éléments à déposer sous forme d'ions, une fonction spécifique du substrat permettant de relier toutes les surfaces métalliques ensemble et de les porter toutes au même potentiel. Une seconde électrode est immergée dans la solution, elle-même portée à un potentiel fonction de la réaction d'électrolyse . Le passage d'un courant entre les deux électrodes permet d'obtenir des réactions d'oxydo- réduction, et de déposer le composé apte à favoriser l'adhérence à la surface d'une des électrodes
Dans un troisième mode de réalisation le matériau est déposé en phase vapeur ou gazeuse ou par pulvérisation. Le substrat est introduit dans un bâti afin d'être recouvert d'une couche de matériau apte à favoriser l'adhérence, cette couche étant déposée de manière non sélective et recouvrant la totalité de la surface du substrat. Ce matériau est alors gravé de manière sélective de façon à ne laisser le matériau présent que sur les surfaces métalliques. Le matériau peut ainsi être gravé par des opérations de photolithographie ou d'ablation laser. Le procédé de l'invention utilise ainsi un matériau qui assure l'adhérence entre les surfaces métalliques du substrat et le matériau semi-conducteur. II permet alors un dépôt de la couche de semiconducteur sur le substrat .
Dans un exemple de réalisation, on utilise le procédé de l'invention pour obtenir un dispositif d'imagerie de rayonnements X qui comprend au moins une matrice de pixels permettant de convertir des photons X incidents en charges électriques, notamment dans la fabrication de panneaux de lecture pour système d'imagerie X dans le domaine médical.
Brève description des figures
Les figures 1 et 2 illustrent le fonctionnement d'un procédé de l'art connu,
La figure 3 illustre la coupe de la surface d'un panneau de lecture avant le dépôt de la couche de matériau semi-conducteur,
La figure 4 illustre la coupe d'un ensemble panneau de lecture + zones d'adhérence non jointive + couche de semi-conducteur obtenu avec le procédé de 1 ' invention, La figure 5 illustre la coupe d'un ensemble panneau de lecture + zones d'adhérence jointive + couches de semi-conducteur obtenu avec le procédé de 1 ' invention,
La figure 6 illustre le fonctionnement de la méthode électrolytique qui peut être utilisée dans le procédé de l'invention. Exposé détaillé de modes de réalisation
Conformément au document référencé [1] , dans le procédé de l'invention, une matrice de pixels en matériau semi-conducteur détecteur de photons est réalisée par le dépôt d'une couche de ce matériau sur un substrat intégrant des dispositifs électroniques et présentant des surfaces métalliques.
Pour résoudre le problème d'adhérence défini précédemment, le procédé de l'invention consiste à déposer, préalablement au dépôt du matériau semiconducteur sur le substrat, un matériau apte à favoriser l'adhérence du matériau semi-conducteur ultérieurement déposé sur les surfaces métalliques du substrat. Ce matériau a pour objet d'assurer l'adhérence et la continuité électrique entre les surfaces métalliques du substrat et la couche de semiconducteur et par là, entre la couche de semiconducteur et le substrat.
Le substrat peut être en un matériau choisi parmi Si, GaAs, InP et leurs composés respectifs.
La couche de semi-conducteur peut être déposée par la méthode CSVT ou la méthode CSS ("Close Space Sublimation") mais aussi par des méthodes de transport par phase vapeur avec ou sans agent chimique, de sérigraphie, ou d'épitaxie en phase liquide, dans la mesure où les impératifs de températures définis précédemment sont respectés.
Le matériau semi-conducteur utilisé peut être choisi parmi les matériaux suivants : CdTe, Pbl2, PbO, Hgl2, GaAs, Se, TlBr, Bil3, TlPbI3. Le matériau apte à favoriser 1 ' adhérence du matériau semi-conducteur sur le substrat sera choisi en fonction du couple matériau du circuit de lecture/matériau détecteur de photons pour ses caractéristiques cristalline, électrique. Par exemple, il pourra être choisi parmi le Zn, Ti, Pt et Ni.
Lorsque la réalisation de la couche de matériau semi-conducteur est envisagée par épitaxie, alors le matériau apte à favoriser l'adhérence peut être un homo-germe, c'est-à-dire qu'il est composé des mêmes composés chimiques que la couche de semiconducteur à réaliser. Le matériau faisant office d' homo-germe pour la croissance d'une couche de CdTe est donc CdTe, pour une couche de Pbl2 est Pbl2, pour une couche de Hgl2 est Hgl2, et pour une couche de PbO est PbO (il en de même pour GaAs, Se, TlBr, Bil3, TlPbI3) .
Pour le choix du matériau apte à favoriser l'adhérence, un homme de métier pourrait aussi être amené à choisir un matériau de structure cristalline différente de celle de la couche de semi-conducteur. Un tel choix permet, en effet, de mettre en évidence la présence du matériau. De plus, on peut s'attendre à ce que ce dernier, de par sa structure cristalline différente, fasse office de barrière de diffusion entre les éléments chimiques constituant les surfaces métalliques et la couche de matériau semi -conducteur, les propriétés électriques de cette dernière étant très sensibles à la présence de dopants, même en faibles quantités (de l'ordre de quelques ppb à quelques ppm). Mais l'utilisation d'un matériau germe de mêmes structures cristallines, ou "homo-germe", selon l'invention élargit le domaine des conditions de croissance compatibles avec l'adhérence, car il y a forcément affinité chimique. Le choix des conditions de croissance conduit nécessairement à l'élaboration d'une couche de semi-conducteur possédant les propriétés physiques requises.
Ce matériau apte à favoriser l'adhérence est déposé sur les surfaces métalliques et a une épaisseur comprise entre quelques d'Angstrôms et quelques micromètres.
Comme illustré sur la figure 4, ce matériau 41 doit être présent à la surface du substrat 40, être adhérent aux surfaces métalliques 42 dudit substrat, assurer une continuité électrique avec ces surfaces métalliques, et permettre l'adhérence du matériau semiconducteur 43. Sur cette figure 4, les zones 41 formées par ce matériau déposé sur les surfaces métalliques sont non jointives.
Mais on peut avoir intérêt, comme illustré sur la figure 5, à ce que ces zones soient jointives pour des raisons de nucléation de la couche de semi- conducteur 43 qui est déposée au-dessus.
Le matériau apte à favoriser l'adhérence peut être déposé en utilisant différentes méthodes, notamment le bain chimique, 1 ' électro-dépôt , comme décrit dans le document référencé [2] , la phase vapeur ou gazeuse ou la pulvérisation. Ce matériau peut ainsi être déposé par bain chimique. Ce dépôt par bain chimique peut être réalisé en mettant la surface métallique du substrat, par exemple en aluminium, préalablement ou non décapée pour diminuer l'épaisseur de la couche d'oxyde, au contact d'une solution réactive contenant les éléments à déposer sous forme dissoute.
Dans une première catégorie de solutions, l'élément à déposer réagit avec le métal, par exemple l'aluminium, le dissolvant par oxydation et en se déposant à sa place. Cette méthode de dépôt, appelée par déplacement, est préférablement utilisée pour les ions métalliques (ou non) dont le potentiel de réduction est plus élevé que le potentiel d'oxydation de l'aluminium ; ces éléments peuvent être : Zin, Cd, Pb, Sn, Se, Cu, Te, Bi, In, l'élément préféré étant le zinc .
Dans une deuxième catégorie de solutions l'élément à déposer est introduit dans la solution avec un élément capable de le déposer sélectivement sur le substrat, par exemple en aluminium, préalablement recouvert ou non d'une première couche, réalisée par la méthode précédente. Dans ce cas, il n'y a pas attaque de l'aluminium et l'intégrité de la couche d'aluminium peut être préservée. Les éléments à déposer peuvent être le Ni, Sn, Cu, Au... Les éléments préférés sont Ni et Sn.
Les couches déposées chimiquement peuvent comporter plusieurs éléments métalliques, ou non métalliques, conduisant à ces alliages ou des couches (oxydes, hydroydes, chalcogénures...) . Les solutions permettant ces réactions peuvent être aqueuses ou non aqueuses .
Ce matériau peut également être déposé, par électro-dépôt comme illustré sur la figure 6.
Ce matériau peut être un métal : Zn, Cu, Ni, Pb, Te, Se, Cd, Sn, Au, un alliage métallique, ou un composé non métallique, comme par exemple un oxyde ou hydroxide, un chalcogénure métallique (MS, MSe, MTe où M est un métal) . Les matériaux préférés sont : CdTe, CdSe, ZnTe, ZnSe, CdS, ZnS, PbSe, SnOx; SnSx, SnTex, SnSex, CuX, InX. Les alliages ternaires sont aussi possibles. Ce dépôt peut être effectué en milieu aqueux ou en milieu non aqueux, de préférence en milieu aqueux. Ce dépôt peut être effectué suivant les modes galvanostatique, potentiostatique ou toute combinaison de ces méthodes (voltamétrie, dépôt puisé) .
Comme illustré sur la figure 6, le substrat 61 (première électrode) est immergé dans une solution chimique adaptée contenant les éléments à déposer sous forme d'ions 62 (électrolyte) . Une fonction spécifique de ce substrat 61 permet de relier toutes les surfaces métalliques ensemble (court-circuit) et permet de les porter toutes au même potentiel . Une seconde électrode 63 est immergée dans la solution, elle-même portée à un potentiel fonction de la réaction d' électrolyse. Le passage d'un courant entre les deux électrodes permet d'obtenir des réactions d' oxydoréduction, et de déposer le composé recherché (CdTe, Hgl2, Pbl2, BpO, Ga, As, Se, TlBr, Bil3, TlPbI3) à la surface d'une électrode. Etant donné que seules les zones libres des surfaces métalliques permettent le passage du courant (donc les échanges d'électrons), seules les surfaces métalliques polarisées sont recouvertes du matériau déposé par electrolyse. Dans ce cas, les zones déposées sont non jointives. Dans les autres méthodes (bain, pulvérisation) , les zones déposées peuvent être jointives. En effet, le substrat est introduit dans un bâti afin d'être recouvert d'une couche de matériau apte à favoriser l'adhérence. Cette couche est déposée de manière non sélective et recouvre la totalité de la surface du substrat. Dans certains cas, le matériau pourra alors être gravé de manière sélective de façon à ne laisser présent le matériau que sur les surfaces métalliques, par exemple par des opérations de photolithographie ou par ablation laser ou par toute méthode de gravure .
REFERENCES
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[2] "Electrochemistry of semiconductors and electronics. Processes and Devices" de John Me Hardy et Franck Ludwig (Noyés Publications, 1992)

Claims

REVENDICATIONS
1. Procédé de réalisation d'un dispositif d'imagerie comprenant au moins une matrice de pixels en matériau semi -conducteur détecteur de photons déposé sur un substrat (40) intégrant des dispositifs électroniques et présentant des surfaces métalliques (42) , caractérisé en ce que, préalablement au dépôt du matériau semi -conducteur (43) sur ledit substrat, un matériau conducteur apte à favoriser l'adhérence du matériau semi -conducteur (43) sur les surfaces métalliques est déposé sur lesdites surfaces métalliques (42) de ce substrat (40) .
2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le substrat est en un matériau choisi parmi Si, GaAs, InP et leurs composés respectifs.
3. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le matériau semi -conducteur (43) est l'un des matériaux suivants : CdTe, Se, Pbl2, PbO, Hgl2, GaAs, TlBr, Bil3 ou TlPbI3.
4. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le matériau pour favoriser l'adhérence est choisi parmi Zn, Ti, Pt et Ni.
5. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la surface du substrat est une surface hétérogène, qui est composée d'une couche de passivation, dans laquelle des ouvertures laissent libres les surfaces métalliques.
6. Procédé selon la revendication 5, dans lequel la couche de passivation est réalisée dans l'un des matériaux suivants : SiOx, ou SiN, ou SiOx+SiN.
7. Procédé selon la revendication 5, dans lequel les surfaces métalliques (42) sont en aluminium, en or ou en cuivre.
8. Procédé selon la revendication 1, dans lequel les zones formées par le matériau pour favoriser l'adhérence déposé (41) sont jointives.
9. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le matériau pour favoriser 1 ' adhérence a une épaisseur comprise entre quelques Angstroms et quelques micromètres .
10. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le matériau pour favoriser l'adhérence est déposé par bain chimique.
11. Procédé selon la revendication 10, dans lequel on met la surface métallique de ce substrat au contact d'une solution réactive contenant l'élément à déposer sous forme dissoute.
12. Procédé selon la revendication 11, dans lequel l'élément à déposer réagit avec le métal, le dissolvant par oxydation et en se déposant à sa place.
13. Procédé selon la revendication 12, dans lequel l'élément à déposer est compris parmi les matériaux suivants : Zin, Cd, Pb, Sn, Se, Cu, Te, Bi, et In.
14. Procédé selon la revendication 11, dans lequel l'élément à déposer est introduit dans la solution avec un élément capable de le déposer sélectivement sur le substrat.
15. Procédé selon la revendication 14, dans lequel les éléments à déposer sont compris parmi les matériaux suivants : Ni, Sn, Cu, Au.
16. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le matériau pour favoriser l'adhérence est déposé par électro-dépôt.
17. Procédé selon la revendication 16, dans lequel ce matériau est compris parmi les matériaux suivants : un métal : Zn, Cu, Ni, Pb, Te, Se, Cd, Sn, Au, un alliage métallique, ou composé non métallique, un chalcogénure métallique.
18. Procédé selon la revendication 17, dans lequel le composé non métallique est un oxyde ou un hydroxide .
19. Procédé selon la revendication 16, dans lequel le substrat, jouant le rôle de première électrode, est immergé dans une solution chimique adaptée contenant les éléments à déposer sous forme d'ions, une fonction spécifique du substrat permettant de relier toutes les surfaces métalliques ensemble et de les porter toutes au même potentiel, dans lequel une seconde électrode est immergée dans la solution, elle- même portée à un potentiel fonction de la réaction d' electrolyse, et dans lequel le passage d'un courant entre les deux électrodes permet d'obtenir des réactions d'oyxdo-réduction, et de déposer le matériau favorisant l'adhérence à la surface de l'une des électrodes.
20. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le matériau pour favoriser l'adhérence est déposé en phase vapeur ou gazeuse ou par pulvérisation.
21. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le substrat est introduit dans un bâti afin d'être recouvert d'une couche de matériau pour favoriser l'adhérence, cette couche étant déposée de manière non sélective et recouvrant la totalité de la surface du substrat, et dans lequel ce matériau est alors gravé de manière sélective de façon à ne laisser ce matériau présent que sur les surfaces métalliques.
22. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le matériau apte à favoriser 1 ' adhérence est identique au matériau semi-conducteur et constitue un homo-germe et dans lequel la couche de matériau semiconducteur est obtenue par croissance cristalline à partir de cet homo-germe.
23. Procédé, selon la revendication 1, de réalisation d'un dispositif d'imagerie de rayonnements
X, comprenant au moins une matrice de pixels permettant de convertir des photons X incidents en charges électriques.
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